摘 要：K型熱電偶溫度傳感器在工業(yè)航空領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。K型熱電偶溫度傳感器的熱端直接裸露在被測(cè)環(huán)境內(nèi)極易受到外界環(huán)境的影響，所以，熱電偶的熱端也需要封裝。但是封裝后的K型熱電偶的響應(yīng)時(shí)間延遲。該文詳細(xì)闡述了K型熱電偶熱端暴露在被測(cè)環(huán)境內(nèi)會(huì)受到的外界影響從而引起輸出誤差，封裝避免外界影響及可實(shí)施方案。

關(guān)鍵詞：K型熱電偶 熱端封裝 響應(yīng)延遲

中圖分類號(hào)：TP2 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼：A 文章編號(hào)：1672-3791（2013）04（b）-0114-03

K型熱電偶溫度傳感器測(cè)溫范圍為-200 ℃～1300 ℃，它具有測(cè)量溫度高，靈敏度較高，線性度好，抗氧化能力強(qiáng)，穩(wěn)定性和均勻性好的優(yōu)點(diǎn)。因此，K型熱電偶溫度傳感器在工業(yè)上應(yīng)用廣泛。然而由于熱端極易受到外界環(huán)境的干擾，對(duì)數(shù)據(jù)的采集產(chǎn)生不可忽視的影響，從而產(chǎn)生嚴(yán)重失真。因此目前市場(chǎng)上的熱電偶傳感器的熱端實(shí)施金屬封裝，避免了熱端直接與外界接觸帶來的影響。但是，熱端的封裝由于熱能傳導(dǎo)會(huì)延遲數(shù)據(jù)采集的響應(yīng)時(shí)間。本文系統(tǒng)闡述熱端受到外界的種種影響及其原因，解決封裝帶來的響應(yīng)時(shí)間的延遲。

1 熱電偶溫度傳感器熱端受外界影響

熱端直接插入到被測(cè)環(huán)境中，極易受到外界電場(chǎng)的影響，使熱電偶產(chǎn)生不定向失真；另外熱端與外界導(dǎo)體接觸會(huì)產(chǎn)生短路現(xiàn)象；熱電偶的劣化也是使傳感器失真的重要原因之一。

1.1 外界電場(chǎng)對(duì)熱電偶的影響

1.1.1 塞貝克效應(yīng)

1.1.2 電介質(zhì)的極化

根據(jù)電介質(zhì)中束縛電荷的特征，把電介質(zhì)的分子分為無極分子和有極分子兩類。無極分子的正負(fù)點(diǎn)和中心重合，對(duì)外產(chǎn)生的合成電場(chǎng)為零。有極分子的正負(fù)電荷中心不場(chǎng)合，構(gòu)成一個(gè)電偶極子。但由于許許多多電偶極子雜亂無章地排列，使得合成電偶極矩相抵消。因此，在無外電場(chǎng)的情況下，有極分子和無極分子對(duì)外產(chǎn)生的合成電場(chǎng)都為零。

在外電場(chǎng)的作用下，無極分子中的正電荷沿電場(chǎng)方向移動(dòng)，負(fù)1a0f647165f0678f00c28b8934c6bfc6bb34ff1bf0402fa978126a290a7b2bff電荷逆電場(chǎng)方向移動(dòng)，導(dǎo)致正負(fù)電荷動(dòng)心不再重合，形成許多排列方向與外界電場(chǎng)大體一致的電偶極子，它們對(duì)瓦產(chǎn)生的電場(chǎng)不再為零。這種電介質(zhì)中的束縛電荷在外電場(chǎng)作用下發(fā)生位移的現(xiàn)象，稱為電介質(zhì)的極化，束縛電荷也稱為極化電荷。電介質(zhì)極化的結(jié)果是電介質(zhì)內(nèi)部出現(xiàn)許許多多順著外電場(chǎng)方向排列的電偶極子，這些電偶極子產(chǎn)生的電場(chǎng)講改變?cè)瓉淼碾妶?chǎng)分布。這樣，電介質(zhì)對(duì)電場(chǎng)的影響課歸結(jié)為極化電荷產(chǎn)生的附加電場(chǎng)的影響。因此，電介質(zhì)內(nèi)的電場(chǎng)強(qiáng)度E可視為自由點(diǎn)和產(chǎn)生的外電場(chǎng)與極化電荷產(chǎn)生的附加電場(chǎng)的疊加，

1.2 熱端與外界接觸造成的影響

根據(jù)熱電偶工作原理，當(dāng)熱端與冷端形成電壓差時(shí)，若熱端與外界的導(dǎo)體接觸，熱端將產(chǎn)生分流誤差。國內(nèi)的一些專家為此做過實(shí)驗(yàn)。一根長60 m、直徑52 mm、304不銹鋼套管和MgO絕緣的K型鎧裝熱電偶，熱電偶符合日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（JIS），將熱電偶熱端焊于一鋼帶上，牽引鋼帶進(jìn)入鋼件加熱爐中，經(jīng)800 ℃預(yù)熱區(qū)至1200 ℃加熱區(qū)。同時(shí)以爐子冷卻區(qū)引入另一熱電偶于加熱區(qū)相同位置，以便進(jìn)行比較，二者的指示溫度相差約200 ℃，取出熱電偶檢查，除了套管表面的輕微氧化以外并未損壞。在該實(shí)驗(yàn)中，從鎧裝熱電偶的測(cè)量端至參考端，爐內(nèi)的實(shí)際溫場(chǎng)呈一定梯度分布。如（圖2）所示。

1.3 K型熱電偶的正常氧化和擇優(yōu)氧化

1.3.1 正常氧化

1.3.2 擇優(yōu)氧化

因此，熱端探頭直接放于被測(cè)環(huán)境中，會(huì)受到外接電場(chǎng)影，外界導(dǎo)體分流，熱端探頭氧化等影響，會(huì)使傳感器的靈敏度大大下降。

為了解決外界環(huán)境帶來的影響，將K型熱efb9231ab8dd00b69dca539ca20f30b4792975efe76468947fbea4c5c43014fb電偶熱端探頭封裝。將探頭封裝在金屬內(nèi)，中間有高溫膠隔離，避免探頭與金屬接觸。這樣，金屬對(duì)探頭產(chǎn)生靜電屏蔽，探頭不受外界電場(chǎng)的影響，并且避免探頭與外界直接接觸，防止分流誤差和探頭氧化。

2 熱電偶熱端探頭封裝后引起的響應(yīng)延遲及解決辦法

2.1 熱傳導(dǎo)原理

如果使兩物體產(chǎn)生熱能的交換，兩物體必須有熱量的差，則組成這一物體的每一分子會(huì)從離它極近的分子那里得到熱，或者傳熱給它們。如果兩物體具有相同的溫度，那么他們之間的相互作用可以看作為零。由點(diǎn)A傳遞給點(diǎn)B的熱量取決于這一時(shí)刻的長短，取決于這兩個(gè)點(diǎn)的有效溫度，并且取決于物體的質(zhì)。目前實(shí)驗(yàn)在這一方面已經(jīng)揭示出一個(gè)一般的結(jié)果：它在于所有其他環(huán)境保持不變，這兩個(gè)分子中的一個(gè)從另一個(gè)那里所得到的熱量與這兩個(gè)分子的溫差成正比。

因此，封裝后的熱電偶需要從封轉(zhuǎn)材料那里得到熱量，感應(yīng)溫度，這樣，會(huì)延遲傳感器響應(yīng)時(shí)間，從而降低溫度傳感器的靈敏度。

2.2 減小響應(yīng)時(shí)間的關(guān)鍵因素—— 熱傳導(dǎo)率

一種典型的熱量傳遞過程是熱量通過固體壁面從溫度較高的流體傳遞給另一側(cè)溫度較低的流體。傳熱過程的熱流量可以表示為

其中K是傳熱系數(shù)，A是面積，是溫差。

熱電偶試驗(yàn)中，熱端探頭接觸面積變化很小，與冷端的溫差是不變的，而材料的傳熱系數(shù)為傳熱過程中傳遞熱流量的決定因素。

2.3 封裝解決誤差問題

封裝后的熱電偶響應(yīng)延遲是否很大，會(huì)影響其使用價(jià)值。我們將封裝后的熱電偶與標(biāo)準(zhǔn)熱電偶用高溫膠粘在一起，保證兩傳感器測(cè)同一空間的溫度，放在馬弗爐腔內(nèi)，每隔十秒記錄一次數(shù)據(jù)，多次測(cè)量取其平均值，分別測(cè)量了、、環(huán)境用origin軟件繪圖，如（圖3～圖5）所示。

試驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示，在封裝后傳感器的響應(yīng)時(shí)間有一定的延遲，是由于被測(cè)環(huán)境的熱量需要通過封裝材料傳導(dǎo)給熱端探頭，延遲了感應(yīng)時(shí)間，但是誤差能控制在1%～2%之內(nèi)。

因?yàn)闊犭娕紵岫颂筋^的封裝一般是使用不銹鋼或者是銅等金屬外殼，金屬的熱傳是電子導(dǎo)熱機(jī)理，金屬中的自由電子之間的相互作用和碰撞是金屬導(dǎo)熱的主要因素，聲子導(dǎo)熱一般可以忽略不計(jì)，金屬熱導(dǎo)率達(dá)到了幾十到幾百，很好的將熱量傳遞給熱電偶熱端探頭。

另外，一般封裝金屬與熱電偶熱端探頭中間有高溫膠隔離，高溫膠的作用使隔離探頭和金屬的直接接觸。一般來說，高溫膠的體積電阻率是十的十四次方歐姆級(jí)，有優(yōu)良的絕緣性，這樣，避免了熱端受外界電場(chǎng)和分流的影響。

3 結(jié)語

（1）K型熱電偶溫度傳感器熱端探頭直接裸露在被測(cè)環(huán)境內(nèi)，容易受到外界電場(chǎng)，外界導(dǎo)體，易氧化等影響。

（2）為解決外界環(huán)境對(duì)熱端探頭的影響，將探頭封裝，解決了外界對(duì)探頭的干擾。

（3）探頭封裝后會(huì)增大探頭對(duì)溫度的響應(yīng)時(shí)間，大量實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示，封裝后的熱電偶誤差可以控制在1%～2%之內(nèi)。

參考文獻(xiàn)

[1] 郭銳，徐玉斌.K型熱電偶冷端補(bǔ)償方案[J].儀器儀表學(xué)報(bào)，2006（z1）.

[2] 魏元，吳璋，徐岱.K型熱電偶冷端補(bǔ)償研究[J].計(jì)測(cè)技術(shù)，2011（6）.