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密集閱讀器環(huán)境下RFID系統(tǒng)識(shí)別性能研究

2014-06-19 17:53:39王宇佘開(kāi)唐志軍
現(xiàn)代電子技術(shù) 2014年9期
關(guān)鍵詞:射頻識(shí)別

王宇 佘開(kāi) 唐志軍

摘 要: 密集閱讀器環(huán)境下的同信道干擾將顯著降低閱讀器識(shí)別性能,基于Nakagami?m多徑信道模型和最大比合并(MRC)算法,推導(dǎo)了多天線分集RFID系統(tǒng)反向識(shí)別距離的數(shù)學(xué)期望值閉合表達(dá)式,并遵循ISO18000?6C標(biāo)準(zhǔn)的空口參數(shù)進(jìn)行數(shù)值仿真,驗(yàn)證了推導(dǎo)的結(jié)論。

關(guān)鍵詞: 射頻識(shí)別; 同信道干擾; 多天線分集; 空口參數(shù)

中圖分類號(hào): TN015?34 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A 文章編號(hào): 1004?373X(2014)09?0043?04

0 引 言

作為物聯(lián)網(wǎng)重要應(yīng)用之一的超高頻(UHF)射頻識(shí)別(RFID)技術(shù)被認(rèn)為能作為電子條碼,替代目前廣泛使用的光學(xué)條形碼,因而備受關(guān)注[1]。一次成功的識(shí)別要求閱讀器激活無(wú)源標(biāo)簽,且正確解碼標(biāo)簽的反向散射調(diào)制信號(hào)[2]。反向鏈路為級(jí)聯(lián)的多徑隨機(jī)信道,標(biāo)簽信號(hào)微弱,極易受密集閱讀器環(huán)境下同頻信號(hào)的干擾。

Do?Yun Kim分析了閱讀器空中接口的射頻參數(shù),通過(guò)公式推導(dǎo)和數(shù)值仿真,給出了多閱讀器下識(shí)別距離的變化情況[3]。Papapostolou A研究了干擾對(duì)RFID定位應(yīng)用的影響[4]。Ferrero R通過(guò)改進(jìn)友鄰閱讀器防碰撞(Neighbor Friendly Reader Anticollision)協(xié)議,來(lái)減小閱讀器間干擾發(fā)生[5]。多天線分集技術(shù)能有效提高多徑信道下RFID系統(tǒng)識(shí)別性能。C.Angerer設(shè)計(jì)了采用陣列天線和最大比合并算法的RFID閱讀器,實(shí)際測(cè)試表明該RFID系統(tǒng)能獲得更大的識(shí)別范圍[6]。J.D Griffin和Kim分別采用移動(dòng)無(wú)線通信中成熟的隨機(jī)信道模型,推導(dǎo)了采用多天線分集技術(shù)的RFID系統(tǒng)識(shí)別距離的改善效果計(jì)算公式[7?8]。

本文基于Nakagami?m信道和最大比合并算法,研究密集閱讀器環(huán)境下多天線分集RFID系統(tǒng)的識(shí)別性能,推導(dǎo)識(shí)別距離的計(jì)算公式,并將符合ISO 18000?6C標(biāo)準(zhǔn)[9]射頻參數(shù)的同道干擾仿真與計(jì)算式結(jié)果進(jìn)行了對(duì)比驗(yàn)證。

1 密集閱讀器環(huán)境分析及系統(tǒng)模型

UHF RFID系統(tǒng)的同信道干擾存在三種情形:

(1) 多個(gè)標(biāo)簽散射信號(hào)干擾閱讀器解碼;

(2) 其他閱讀器信號(hào)干擾單個(gè)標(biāo)簽解碼;

(3) 密集閱讀器時(shí)彼此互相干擾。

情形1最常見(jiàn),當(dāng)閱讀器同時(shí)識(shí)別多個(gè)標(biāo)簽時(shí)即出現(xiàn),已有大量文獻(xiàn)通過(guò)改進(jìn)經(jīng)典的ALOHA和樹(shù)狀搜索等算法解決此種干擾,并已在ISO18000?6C等主流國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)中采用。UHF RFID系統(tǒng)采用無(wú)線功率傳輸和無(wú)源標(biāo)簽使得情形2幾乎不會(huì)對(duì)系統(tǒng)識(shí)別性能產(chǎn)生影響,這是因?yàn)閷?shí)際應(yīng)用時(shí)閱讀器均負(fù)責(zé)各自識(shí)別區(qū)域,標(biāo)簽接收的主閱讀器信號(hào)功率遠(yuǎn)大于干擾閱讀器的信號(hào)功率,否則根本不能被激活。情形3通常出現(xiàn)在超市和倉(cāng)儲(chǔ)等密集閱讀器環(huán)境,主閱讀器接收的標(biāo)簽反向散射調(diào)制信號(hào)極其微弱,其他閱讀器將對(duì)主閱讀器產(chǎn)生同頻干擾,本文主要針對(duì)此情形,通過(guò)研究此種干擾對(duì)多天線RFID系統(tǒng)的反向識(shí)別距離(RIR)均值的影響,度量系統(tǒng)抗擾能力。

圖1給出了雙站天線類型的多天線分集UHF RFID系統(tǒng)模型[7]。

圖1 多天線分集UHF RFID系統(tǒng)模型(雙站天線類型)

模型中[Mt]和[Mr]分別表示閱讀器發(fā)送和接收陣列子天線數(shù),且要求[Mt≥]2、[Mr≥]2,[N]為標(biāo)簽子天線數(shù),[N≥2。]使用[wf(i)](或[wb(m))]表示第[i]個(gè)發(fā)射(或第[m]個(gè)接收)子天線的權(quán)值,則[wf=[wf(1),wf(2),…,wf(Mt)]T](或[wb=][[wb(1),wb(2),…,wb(Mr)]T)]為發(fā)送天線(或接收天線)的權(quán)值向量,[T]為轉(zhuǎn)置運(yùn)算。[hf(i,j)](或[hb(j,m))]表示發(fā)送子天線[i](或接收子天線[m])與標(biāo)簽子天線[j]之間的信道參數(shù),則[hf=[hf(1),hf(2),…,hf(Mt)]](或[hb=[hb(1),hb(2),…,hb(Mr)])]為前向反向信道參數(shù)向量。閱讀器的連續(xù)載波和指令信號(hào)經(jīng)[wf]加權(quán)后從陣列天線發(fā)射出去,然后通過(guò)參數(shù)為[hf]的矢量信道衰減,最后被標(biāo)簽接收。標(biāo)簽采用等增益合并算法,以期獲得最大射頻能量,通過(guò)反向散射調(diào)制,將數(shù)據(jù)發(fā)給閱讀器,反射信號(hào)也經(jīng)歷參數(shù)為[hb]的矢量信道后,才被閱讀器陣列天線接收。閱讀器采用最大比合并算法[11],將接收信號(hào)經(jīng)[wb]系數(shù)加權(quán)后,作后續(xù)判決處理。對(duì)于雙站類型,發(fā)射天線與接收天線間隔一定距離布置,有[hf≠hb。]

2 密集閱讀器環(huán)境識(shí)別距離

文獻(xiàn)[2?3]對(duì)UHF RFID系統(tǒng)的反向鏈路信噪比進(jìn)行了研究,給出了閱讀器接收信噪比可由式(1)計(jì)算:

[SNR(db,t)=βPtGtGrGtagMP20d-γfd-γbhf(t)2hb(t)2N0] (1)

式中:[β]表示閱讀器接收與實(shí)際標(biāo)簽散射信號(hào)功率比值; [Pt,][Gt,][Gr]為閱讀器發(fā)送功率及發(fā)送接收天線的增益;[Gtag]為標(biāo)簽天線增益;[M]為標(biāo)簽調(diào)制因子;[P0]為單位距離發(fā)送功率;[df,][db]為前向和反向鏈路距離;[γ]是Nakagami?m鏈路衰落因子,且自由空間有[γ=]2;[N0]表示加性高斯白噪聲功率。[hf(t)]和[hb(t)]為時(shí)間信道參數(shù),一般情況下,均可認(rèn)為信道為平穩(wěn)的,本文下述推導(dǎo)基于此假設(shè)。

假設(shè)二維平面上均勻分布著[MI]個(gè)干擾閱讀器,對(duì)主閱讀器產(chǎn)生了干擾,文獻(xiàn)[8]給出了此時(shí)的干擾功率([I0])的計(jì)算式為:

[I0=PtβGtGrP0d-γminLDγ2-1d2max-d2mind2min-d2maxdmindmaxγ] (2)

式中:[LD]是天線的功率損耗;[dmin]和[dmax]分別表示最小和最大閱讀器間距。采用[wf,I(k)]表示發(fā)射天線陣列權(quán)值向量,則由式(1)和(2),可得接收信號(hào)干擾噪聲比(SINR)為:

[SINR=βPtGtGrGtagMP20d-γfd-γbhf2hb2k=1MII0wbHI(k)wf,Ik2+N0] (3)

式中:[HI(k)]表示第[k]個(gè)干擾閱讀器至主閱讀器的信道矩陣,大小為[Mt×Mr。]

主閱讀器識(shí)別距離即由SINR決定,下面基于Nakagami?m模型,推導(dǎo)其數(shù)學(xué)期望。實(shí)際應(yīng)用時(shí),人為的,主閱讀器與干擾源間將不存在視距情形,可認(rèn)為干擾信號(hào)經(jīng)歷了獨(dú)立同分布的瑞麗衰落,故[HI(k)wf,Ik]為獨(dú)立同分布的復(fù)高斯矢量,其均值為零,均方差矩陣為單位陣,則[wbHI(k)wf,Ik]是復(fù)高斯隨機(jī)變量,且均值為零,方差[wHbwb=1。]若令:

[y=k=1MIwbHI(k)wf,Ik2] (4)

式(3)中SINR的分母可寫為:

[z=I0y+N0] (5)

由式(3)求得反向識(shí)別距離[db]均值的計(jì)算式為:

[Edb=k12γ?Ehf2hb212γ?Ez-12γ] (6)

其中:

[k=βPtGtGrGtagMP20N0] (7)

[y]服從gamma分布,且參數(shù)為(1,[MI]),即:

[y~Γ1,MI] (8)

概率密度函數(shù)(pdf)為:

[fyy=yMI-1ΓMIe-y] (9)

則式(3)中分母的pdf函數(shù)為:

[fzz=z-N0MI-1I0MIΓMIe-z-N0I0] (10)

故可采用數(shù)值方式求得SINR計(jì)算式中分母[z]的數(shù)學(xué)期望。若存在干擾,則其功率將遠(yuǎn)大于白噪聲功率,則[z≈I0y],則[z]的期望值解析表達(dá)式為:

[Ez-12γ=ΓMI-12γI012γΓMI] (11)

將式(1)代入式(6)得反向識(shí)別距離[db]的均值計(jì)算式為:

[Edb=k12γ?ΓMt+12γΓMr+12γΓMtΓMr?ΓMI-12γI012γΓMI] (12)

3 數(shù)值實(shí)驗(yàn)

本實(shí)驗(yàn)對(duì)多天線RFID系統(tǒng)反向識(shí)別距離均值隨陣列子天線數(shù)目[Mt(Mr)、]干擾閱讀器數(shù)目[MI]和鏈路衰落因子γ等參數(shù)的影響,進(jìn)行仿真研究。仿真參數(shù)根據(jù)國(guó)家無(wú)線電管理委員會(huì)相關(guān)規(guī)定[9]和ISO18000?6C標(biāo)準(zhǔn)[10]選取,見(jiàn)表1。

表1 數(shù)值仿真參數(shù)

[參數(shù)\&值\&載波頻率[fc]\&840~845 MHz/920~925 MHz\&信道帶寬[W] /kHz\&250\&信道數(shù)量[N]\&20\&最大發(fā)射功率(e.r.p) /W\&2\&信道內(nèi)功率比[β]\&0.86\&天線增益[Gt=Gr]\&6 dBi\&標(biāo)簽天線增益[Gtag] /dBi\&1\&參考單位路徑功率[P0] /dB\&-31.7\&路徑損耗因子[γ]\&[2.0, 4.0]\&標(biāo)簽調(diào)制因素[M]\&0.9\&噪聲值[N0] /dBm\&-90\&信噪比閾值SNRTH /dB\&11\&[m]參數(shù)\&0~20 dB\&陣列天線數(shù)[Mt=Mr]\&1,2,3,4\&干擾距離 [[dmin,][dmax]]\&[1,20],[1,30]\&干擾源[(MI)]范圍\&[2,16]\&]

主閱讀器與其他干擾閱讀器的分布圖如圖2所示,圖中共[MI]個(gè)干擾閱讀器,第[i]個(gè)和第[j]個(gè)閱讀器至被擾閱讀器有最大最小距離,其他間距取均勻分布于區(qū)間[[dmin,dmax]]的數(shù),閱讀器間鏈路為Nakagami?m隨機(jī)多徑信道。

圖2 仿真閱讀器分布圖

對(duì)比單天線系統(tǒng),圖3給出了不同Nakagami參數(shù)[m]值,多天線分集系統(tǒng)反向識(shí)別距離(RIR)隨子天線數(shù)目[Mr](假設(shè)[Mr=Mt])變化的情況。實(shí)驗(yàn)表明:仿真結(jié)果與計(jì)算值保持一致;所采用子天線數(shù)目越多,所獲得增益越大;且多徑越嚴(yán)重,RIR增益越明顯。特別地,當(dāng)[m=]20 dB,且子天線數(shù)為5時(shí),能獲得1.33倍的RIR增益。

圖3 RIR均值增益隨子天線數(shù)目變化曲線

瑞麗信道([m=]0 dB)下,RIR均值隨干擾閱讀器數(shù)目變化的曲線如圖4所示。仿真結(jié)果表明:當(dāng)干擾源數(shù)量增加時(shí),RIR均值將逐漸減小,特別地,20個(gè)干擾閱讀器時(shí),RIR均值減小至0干擾的65%;對(duì)于不同的陣列天線數(shù)目[Mr,]RIR均值減小同等比例,說(shuō)明與天線數(shù)[Mr]無(wú)關(guān),僅與干擾源數(shù)目有關(guān),可知對(duì)于多天線RFID系統(tǒng),增加陣列天線數(shù)并不能對(duì)抗多閱讀器干擾。

圖4 RIR均值隨干擾閱讀器數(shù)目變化曲線([m=]0 dB)

圖5給出了[Mr=]3時(shí),仿真值與計(jì)算值之差的變化情況。由圖可知,除干擾源數(shù)[MI=]0外,該差值是隨著干擾源數(shù)量的增大而減小的,這說(shuō)明仿真越來(lái)越接近均勻分布的密集閱讀器環(huán)境。仿真結(jié)果與理論計(jì)算值保持一致。

圖5 誤差隨干擾源變化情況

4 結(jié) 論

本文推導(dǎo)出密集閱讀器干擾和Nakagami?m多徑信道下,采用最大比合并算法的多天線RFID系統(tǒng)反向識(shí)別距離均值的計(jì)算公式。仿真和理論計(jì)算式均表明:當(dāng)閱讀器子天線達(dá)到5個(gè)時(shí),就能獲得較單天線時(shí)1.33倍的距離增益;當(dāng)干擾閱讀器達(dá)到20個(gè)時(shí),識(shí)別距離降為65%,且在瑞利信道下,通過(guò)增加陣列天線子天線數(shù)目并不能縮小識(shí)別距離減小的幅度,其主要與干擾源數(shù)目有關(guān)。下一步的研究工作包括建立測(cè)試系統(tǒng),對(duì)典型2×2的RFID系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)際鏈路性能測(cè)試。

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