國(guó)網(wǎng)保定供電公司 楊 彬 劉 山 王立兵 劉 濤 齊紅斌 趙京生
一起電容式電壓互感器缺陷分析
國(guó)網(wǎng)保定供電公司 楊 彬 劉 山 王立兵 劉 濤 齊紅斌 趙京生
本文對(duì)一起電容式電壓互感器缺陷進(jìn)行了分析。結(jié)合設(shè)備歷年停電試驗(yàn)數(shù)據(jù),重點(diǎn)分析該電容式電壓互感器缺陷形成的原因,對(duì)缺陷設(shè)備進(jìn)行了解體檢查。最后提出了幾點(diǎn)建議措施,為試驗(yàn)人員提供此類缺陷判斷的參考依據(jù)。
電容式電壓互感器;缺陷;電容量;措施
電容式電壓互感器(Capacitor Voltage Transformers,簡(jiǎn)稱CVT)作為一種電壓變換裝置應(yīng)用于電力系統(tǒng),主要用作供電側(cè)量?jī)x表、繼電保護(hù)裝置或者控制裝置的電壓信號(hào)取樣設(shè)備,它接于高壓設(shè)備與地之間,將系統(tǒng)電壓轉(zhuǎn)換成二次電壓[1-3]。電容式電壓互感器由電容分壓器、電磁單元(包括中間變壓器和電抗器)和接線端子盒組成,110kV電容式電壓互感器如圖1所示。
圖1 電容式電壓互感器外觀圖及原理接線圖
通過電氣試驗(yàn),可以及時(shí)發(fā)現(xiàn)電容式電壓互感器的絕緣缺陷,對(duì)于確保電網(wǎng)和設(shè)備安全意義重大。尤其介質(zhì)損耗因數(shù)及電容量的測(cè)量,是電容式電壓互感器絕緣預(yù)防性試驗(yàn)中的重要項(xiàng)目之一[4],它是一項(xiàng)靈敏度很高的試驗(yàn)項(xiàng)目,能有效地檢查設(shè)備絕緣受潮、油脂劣化以及嚴(yán)重的局部缺陷等[5]。
2013年07月13日,天氣晴,濕度65%,溫度30℃。我班組在110kV某變電站停電例行試驗(yàn)工作中發(fā)現(xiàn),110kV5號(hào)母線B相電容式電壓互感器上節(jié)C1電容量嚴(yán)重超標(biāo),初步判斷該相電容式電壓互感器存在缺陷。
設(shè)備信息:
型號(hào): TYD110/√3-0.02H 額定電壓: 110/√3絕緣介質(zhì): 油浸式 額定變比: 110/√3/0.1/√3/0.1/√3/0.1產(chǎn)品代號(hào): GB/T4703 出廠編號(hào): 05-2518出廠日期: 2005年8月 投運(yùn)日期: 2005年12月11日
110kV5號(hào)母線電容式電壓互感器歷次停電試驗(yàn)數(shù)據(jù)如下所示:
試驗(yàn)日期 2 0 0 5 . 1 0 . 2 9(交接)2 0 0 8 . 3 . 2 0(例行)2 0 1 3 . 7 . 1 3(例行)A C 1 介質(zhì)損耗因數(shù) 0 . 0 0 0 6 8 0 . 0 0 0 4 9 0 . 0 0 0 8 2電容量(p F) 2 9 7 2 0 2 9 5 8 0 2 9 6 4 0 C 2 介質(zhì)損耗因數(shù) 0 . 0 0 0 7 8 0 . 0 0 0 4 7 0 . 0 0 0 8 4電容量(p F) 6 4 9 2 0 6 4 6 3 0 6 4 7 2 0 B C 1 介質(zhì)損耗因數(shù) 0 . 0 0 0 6 1 0 . 0 0 0 4 1 0 . 0 0 0 6 6電容量(p F) 2 9 6 5 0 2 9 5 5 0 3 1 2 5 0 C 2 介質(zhì)損耗因數(shù) 0 . 0 0 0 7 4 0 . 0 0 0 4 4 0 . 0 0 0 6 6電容量(p F) 6 4 1 3 0 6 3 9 4 0 6 4 0 6 0 C C 1 介質(zhì)損耗因數(shù) 0 . 0 0 0 6 8 0 . 0 0 0 4 5 0 . 0 0 0 0 7 3電容量(p F) 2 9 6 4 0 2 9 5 1 0 2 9 6 5 0 C 2 介質(zhì)損耗因數(shù) 0 . 0 0 0 8 0 . 0 0 0 4 9 0 . 0 0 0 5 8電容量(p F) 6 3 9 2 0 6 3 6 3 0 6 3 9 0 0
根據(jù)以上停電試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析:根據(jù)《河北省電力公司輸變電設(shè)備狀態(tài)檢修試驗(yàn)規(guī)程》規(guī)定[6],10kV下的tanδ值不大于0.002,每節(jié)電容量初值差不超過±2%(警示值)(狀態(tài)量達(dá)到該數(shù)值時(shí),設(shè)備已經(jīng)存在缺陷并有可能發(fā)展為故障)。對(duì)比B相電容式電壓互感器的上節(jié)C1三年的介損及電容量試驗(yàn)數(shù)據(jù),2008年例行試驗(yàn)數(shù)據(jù)與2005年交接試驗(yàn)數(shù)據(jù)無明顯變化,但2013年C1電容量增長(zhǎng)到了31250pF,相比2008年數(shù)據(jù)增長(zhǎng)5.75%,超出了規(guī)程規(guī)定的2%,說明該設(shè)備已經(jīng)存在缺陷,并很有可能發(fā)展為故障。
電容式電壓互感器分壓電容器電容量增加的原因一般有:內(nèi)部受潮、部分電容被擊穿或者通過其它方式短路等。由于試驗(yàn)結(jié)果顯示,該電容式電壓互感器的C1電容介損值正常,可能內(nèi)部存在部分電容被擊穿或者通過其他方式被短路的缺陷。一旦發(fā)生此類缺陷后,剩余的完好電容層將承受比正常運(yùn)行時(shí)更高的工作電壓,易造成惡性連鎖反應(yīng),從而加速整支電容器的擊穿損壞。
該電容式電壓互感器投運(yùn)至今運(yùn)行不足8年,根據(jù)上述試驗(yàn)數(shù)據(jù)分析,初步懷疑該電容式電壓互感器由于電容單元制作工藝不良,存在局部絕緣薄弱點(diǎn),導(dǎo)致在運(yùn)行過程中C1部分電容層被擊穿短路。由于電容單元電容層是串聯(lián)結(jié)構(gòu),當(dāng)部分電容被短路后,整體電容量呈現(xiàn)增大趨勢(shì),從而導(dǎo)致停電試驗(yàn)測(cè)得的電容量呈現(xiàn)明顯增長(zhǎng)。
圖2 110kV5號(hào)母線B相電容式電壓互感器電容單元
圖3 電容單元C1第22餅 圖4 電容單元C1燒蝕痕跡(外觀) 第22餅燒蝕孔洞
圖5 電容單元C1第25餅 圖6 展開狀態(tài)(左為電容單元燒蝕痕跡(外觀) C1第25餅,右為第22餅)
為了進(jìn)一步探究該電容式電壓互感器的具體缺陷原因,2013年8月2日,檢修人員對(duì)設(shè)備進(jìn)行了解體檢查。經(jīng)檢查發(fā)現(xiàn):該設(shè)備電容單元C1由80個(gè)電容餅串聯(lián)組成,下節(jié)電容C2由37個(gè)電容餅串聯(lián)組成,如圖2所示,額定電壓下每個(gè)電容餅平均分壓0.543kV。第25個(gè)電容餅均有明顯的擊穿痕跡,其余部分正常,驗(yàn)證了前面試驗(yàn)數(shù)據(jù)得出的結(jié)論。進(jìn)一步剝開電容餅,可見電容單元C1第22餅擊穿了7層電容屏,而第25餅擊穿了10層電容屏,擊穿處有明顯的燒蝕孔洞,孔洞四周有大量碳化物質(zhì)(即絕緣紙、絕緣油高溫下發(fā)生化學(xué)變化產(chǎn)物),具體情況如圖3、4、5、6所示。
根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)解體情況分析,進(jìn)一步驗(yàn)證了前文結(jié)合試驗(yàn)數(shù)據(jù)結(jié)果的判斷,確定該電容式電壓互感器由于C1電容制作工藝不良,存在局部絕緣薄弱點(diǎn),導(dǎo)致運(yùn)行中部分電容層被擊穿短路,從而造成電容量明顯增長(zhǎng)。
針對(duì)本次設(shè)備缺陷,為了及早發(fā)現(xiàn)類似缺陷,建議做好以下幾點(diǎn)措施:1)對(duì)于電容式電壓互感器停電例行試驗(yàn),試驗(yàn)人員應(yīng)密切關(guān)注其電容量的變化,防止設(shè)備缺陷發(fā)展成電網(wǎng)事故。2)在今后的工作中對(duì)電容量異常的電容式電壓互感器信息進(jìn)行匯總分析,以檢查是否存在由工藝或者材質(zhì)等原因而導(dǎo)致的家族性缺陷。
通過對(duì)停電例行檢修試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng)一起電容式電壓互感器缺陷的分析,電氣試驗(yàn)專業(yè)人員應(yīng)當(dāng)重視停電例行試驗(yàn)中電容式電壓互感器電容量的變化,對(duì)于發(fā)生過此類缺陷的設(shè)備信息進(jìn)行匯總分析,防止設(shè)備缺陷發(fā)展成為電網(wǎng)事故,從而保證供電可靠性。
[1]張全元.變電運(yùn)行一次設(shè)備現(xiàn)場(chǎng)培訓(xùn)教材[M].北京:中國(guó)電力出版社,2009:165.
[2]陳天翔,王寅仲,海世杰.電氣試驗(yàn)[M].北京:中國(guó)電力出版社,2009:26,41.
[3]國(guó)家電網(wǎng)公司人力資源部.電氣試驗(yàn)[M].北京:中國(guó)電力出版社,2010:251.
[4]李建民,朱康.高壓電氣設(shè)備試驗(yàn)方法[M].北京:中國(guó)電力出版社,2001:181.
[5]楊彬,郭會(huì)永,齊征,等.電容式電壓互感器介質(zhì)損耗因數(shù)的測(cè)量與分析[J].電子世界,2014(4):117-118.
[6]Q/GDW168-2008.輸變電設(shè)備狀態(tài)檢修試驗(yàn)規(guī)程[S].
通過解體檢查發(fā)現(xiàn),電容單元C1由上至下第22個(gè)、
楊彬(1984—),男,河北固安人,工程師,電氣試驗(yàn)工,主要從事高壓電氣設(shè)備的檢修試驗(yàn)類工作。