文獻(xiàn)摘要(159)
Technology & Abstract (159)
在鎳/鈀/金最終涂飾中鎳的未來(lái)
The Future of Nickel in Nickel/ Palladium/Gold Final Finishes
今天的PCB市場(chǎng)應(yīng)用鎳/金(ENIG)與鎳/鈀/金(ENEPIG)組合非常廣泛,但對(duì)于精細(xì)線路和高速傳輸PCB有其不適合之處。在未來(lái)5 μm/5 μm及2 μm/2 μm細(xì)線路中現(xiàn)有厚4 μm ~ 7 μm鎳層完全不適合,鎳層也影響高速信號(hào)傳輸,因此提出采用薄ENEPIG解決方案,也有新一代的化學(xué)鍍鈀/自催化金(EPAG)涂層。
(Rick Nichols,PCB magazine,2015/02,共8頁(yè))
有效的特性阻抗
Effective Characteristic Impedance
在一個(gè)互連電路中有多個(gè)地方的電容存在而影響信號(hào)完整性,這包括通孔、盲孔和傳輸線,若沒(méi)有優(yōu)化參數(shù)而會(huì)導(dǎo)致線路上的阻抗失配及發(fā)生不必要的信號(hào)反射與損失。本文分析了不同類(lèi)型電容對(duì)特性阻抗的影響,傳輸線有效特性阻抗的計(jì)算和關(guān)鍵參數(shù),有關(guān)互連線路長(zhǎng)度規(guī)則和串聯(lián)端接電路的模擬等。總結(jié)了特性阻抗的影響因素,及設(shè)計(jì)應(yīng)記住保持有效特性阻抗的要點(diǎn),
(Kirk Fabbri,PCB Design Magazine,2015/02,共8頁(yè))
高速印制電路板中表面粗糙度的影響
Effects of Surface Roughness on High-speed PCBs
在頻率低于1 GHz,銅表面粗糙度對(duì)介電損耗的影響可以忽略不計(jì)。然而,隨著頻率的升高,集膚效應(yīng)引起電流匯集于銅的表面而損失增大。然而光滑的銅箔表面與樹(shù)脂粘合將受到損害。本文敘述了電流頻率與集膚效應(yīng)的關(guān)系,頻率對(duì)趨膚深度的計(jì)算和影響;表面不同金屬涂飾層對(duì)集膚效應(yīng)影響,ENIG中鎳層不利于高頻傳輸;壓延銅箔與電解銅箔、反轉(zhuǎn)銅箔的微觀表面有差異,對(duì)集膚效應(yīng)的影響不同??偨Y(jié)了高速PCB設(shè)計(jì)時(shí)有關(guān)表面粗糙度影響要記住的要點(diǎn)。
(Barry Olney,PCB Design Magazine,2015/02,共5頁(yè))
PCB設(shè)計(jì)面對(duì)未來(lái)的三個(gè)挑戰(zhàn)
The 3 Challenges Facing the Future of PCB Design PCB技術(shù)在繼續(xù)發(fā)展,其中PCB設(shè)計(jì)也面臨著新的挑戰(zhàn)。本文提出面對(duì)的三個(gè)挑戰(zhàn)。一是PCB設(shè)計(jì)隊(duì)伍人員結(jié)構(gòu)的變化,老的專(zhuān)業(yè)設(shè)計(jì)師退休而新的進(jìn)入此領(lǐng)域人員不足,且缺乏專(zhuān)業(yè)知識(shí)而跟不上需要。二是PCB復(fù)雜度增加,板子越來(lái)越小越薄,布線密度高并且有信號(hào)完整性與熱管理等要求。三是系統(tǒng)性觀念,電子設(shè)備有多個(gè)功能模塊或子系統(tǒng),還有連接器、電源等配置,考慮系統(tǒng)更可靠與更便宜。從研究和調(diào)查三個(gè)挑戰(zhàn)的基礎(chǔ)上,指出EDA公司努力跟上用戶(hù)的需求。
(David Wiens,PCD&F,2015/03,共4頁(yè))
可靠性試驗(yàn)與統(tǒng)計(jì)
Reliability Testing and Statistics
可靠性是一個(gè)產(chǎn)品在預(yù)定的時(shí)期與規(guī)定的工作條件下執(zhí)行其預(yù)定的使用功能,能滿(mǎn)足或超過(guò)客戶(hù)的期望的概率。現(xiàn)代的電子產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)是試圖模擬裝配過(guò)程與使用現(xiàn)場(chǎng)條件,評(píng)估硬件隨著時(shí)間的推移發(fā)生故障率??煽啃栽囼?yàn)也可以用來(lái)進(jìn)行新產(chǎn)品新工藝的實(shí)驗(yàn)室研究。本文概述了一些可靠性術(shù)語(yǔ),對(duì)苛刻的熱循環(huán)沖擊試驗(yàn)、互連熱應(yīng)力試驗(yàn)方法、條件和周期對(duì)可靠性的關(guān)聯(lián)性作了說(shuō)明,試驗(yàn)設(shè)計(jì)將影響到置信度,加速熱循環(huán)測(cè)試對(duì)PCB可靠性檢測(cè)非常重要。
(Patrick Valentine,PCB Magazine,2015/03,共14頁(yè))
光互連
Optical Interconnects
有關(guān)光學(xué)互連與光信號(hào)的傳輸,已經(jīng)從長(zhǎng)距離的玻璃纖維光纜傳輸線進(jìn)入到芯片與芯片的光學(xué)互連。在背板當(dāng)數(shù)據(jù)傳輸速率超出10Gbits /秒,銅線的長(zhǎng)度超過(guò)500毫米,轉(zhuǎn)換信號(hào)傳輸?shù)木窒扌宰兊妹黠@,信號(hào)衰減和信號(hào)的形狀失真變得不可避免。光學(xué)背板采用光纖或波導(dǎo)可以避免這些問(wèn)題。然而,光電元件的成本和精確安裝的成本一直阻礙了光學(xué)背板發(fā)展?,F(xiàn)有玻璃基波導(dǎo)或聚合物波導(dǎo)制作光電背板。新的光學(xué)背板,大有開(kāi)發(fā)價(jià)值。
(Karl Dietz,PCB Magazine,2015/03,共3頁(yè))
(龔永林)