孫天瞳等

摘要：為研究下頜磨牙前后向移動量，通過對比顱骨標本直接測量和CBCT三維重建模型測量下頜磨牙近遠中位置和近遠中傾斜角度的方法，對比兩種測量方法的可靠性。使用兩種不同方法分別測量下頜第一磨牙到下頜支平面的垂直距離，以及下頜第一磨牙牙體長軸與下頜平面的角度，通過數(shù)據(jù)分析對比兩種測量方法的可靠性。兩種方法的測量結(jié)果沒有統(tǒng)計學(xué)差異，通過CBCT以下頜第一磨牙到下頜支平面的垂直距離，以及下頜第一磨牙牙體長軸與下頜平面的角度，是一種簡單易行的確定下頜磨牙位置的方法，在進行全牙弓前后移時可以通過該方法對下頜磨牙前后移量進行測量。

關(guān)鍵詞：CBCT；下頜磨牙；全牙弓后移；種植支抗

近年來正畸治療中種植支抗的使用越來越廣泛，其中使用種植支抗牽引全牙弓后移動獲得間隙是對于牙列擁擠或前突患者矯治的關(guān)鍵[1]，但是通過種植支抗牽引全牙弓后移的后移量如何測定，臨床上沒有經(jīng)典的測量方法和統(tǒng)一標準[2]，目前許多文獻報道采用側(cè)位片，通過測量標記點的位置，測量標記點間的距離，通過術(shù)前術(shù)后對比測量值的變化，得出后牙移動的距離[3]，但這一方法存在很大的不確定性，而且誤差很大。本研究，分別采用在顱骨上直接測量和CBCT三維重建測量的方法，檢測此方法的可靠性，為臨床測量下頜后牙的移動提供依據(jù)。

1實驗材料

1.1顱骨標本成年人干燥顱骨標本5具，由深圳市第二人民醫(yī)院提供，標本外形完整，無缺損，解剖結(jié)構(gòu)清晰，咬合關(guān)系可以定位。

1.2游標卡尺：

1.3KaVo 3D eXam i錐束X射線計算機斷層掃描系統(tǒng)（CBCT）。

2實驗方法

顱骨標本直接測量：取眶耳平面與地面平行，在顱骨上分別標記髁突后緣點和下頜升支后緣位置，以此確定下頜支平面（RP平面）；標記下頜下緣最低部的位置，并通過這兩點做切線，確定下頜平面（MP平面）。標記下頜第一磨牙近遠中根根分叉下緣最高點的位置，標記下頜第一磨牙牙體長軸[4]。

使用游標卡尺測量下頜第一磨牙根分叉（下緣）最高點至下頜支平面（RP.ramal plane）的垂直距離，以此標記為下頜第一磨牙至下頜后緣的距離。以下頜第一磨牙牙體長軸與下頜平面（MP.mandibular plane）的夾角標記下頜第一磨牙的傾斜度（如圖所示）。為了控制誤差，由3名測量者分別進行測量，取平均值。

CBCT測量：使用KaVo 3D eXam i錐束X射線計算機斷層掃描系統(tǒng)以0.3mm分辨率進行掃描，應(yīng)用配套軟件對顱骨進行三維重建。取眶耳平面與地面平行，在三維重建圖上用鼠標分別標記髁突后緣點和下頜升支后緣位置，以此確定下頜支平面（RP平面）；標記下頜下緣最低部的位置，并通過這兩點做切線，確定下頜平面（MP平面）。標記下頜第一磨牙近遠中根根分叉最高點的位置，標記下頜第一磨牙牙體長軸。

使用配套軟件測量下頜第一磨牙根分叉最高點至下頜支平面（RP.ramal plane）的垂直距離，以此標記為下頜第一磨牙至下頜后緣的距離。以下頜第一磨牙牙體長軸與下頜平面（MP.mandibular plane）的夾角標記下頜第一磨牙的傾斜度。為了控制誤差，由3名測量者分別進行測量，取平均值。

3 實驗結(jié)果

由于下頜骨左右并非100%對稱，本研究將下頜骨分為左右兩部分分別測量，在CT三維重建時以下頜切牙近中鄰面做切線，切除不測量一側(cè)重建影像。此方法所得誤差更小，樣本量更大，按顱骨標號分別標記為顱骨1，顱骨1'，顱骨2，顱骨2'以此類推。見表1。

經(jīng)統(tǒng)計學(xué)分析，顱骨標本測量結(jié)果和CT重建測量結(jié)果均沒有統(tǒng)計學(xué)差異。

4討論

4.1關(guān)于下頜磨牙后移量的確定 常規(guī)關(guān)于下頜磨牙后移量的測量大多是采用在頭顱側(cè)位片上，通過測量L6-SN角：下頜第一磨牙長軸與SN連線的夾角（前下角），表示下頜第一磨牙的遠中傾斜程度。L6-PFP：測量下頜第一磨牙牙冠中點至翼上頜裂垂線的距離，表示下頜磨牙的矢狀位置。L6-PP（mm）：測量下頜第一磨牙牙冠中點至PP平面的距離。表示下頜磨牙的垂直位置[5]。通過對比術(shù)前術(shù)后上述測量值的變化情況來觀察下頜磨牙位置的變化[3]。

但這一方法存在諸多問題，①對于側(cè)位片的拍攝受拍攝者和拍攝體位的影響，其放大率存在一定誤差；②在實際測量過程中，左右磨牙及翼上頜裂的位置很難完全重疊，這就對在確定下頜磨牙的矢狀位置的時候有很大的不確定性，而且在治療前及治療后的X線片對比測量誤差將會更大；③由于該方法采取的是通過在上頜選取標記點測量下頜的測量方法，在治療結(jié)束時，下頜位置可能受到下頜平面角的改變而發(fā)生相應(yīng)改變的情況[6]。

本研究通過CBCT在下頜選取參照點，測量下頜后牙移動的情況，很好的解決了這一問題，把原本需要在雙頜測量解決的情況變?yōu)橥ㄟ^單頜測量來解決，測量方法大大簡化，而且通過CBCT拍攝的X片也能基本保證1：1的放大率，避免放大率誤差和測量誤差的產(chǎn)生。

4.2為什么選擇下頜升支后緣作為參照平面？ 在本研究中，我們選擇下頜支后緣作為下頜骨的參考平面進行測量，其原因主要有：首先、下頜升支后緣好確定，本研究采用眶耳平面與地面平行時髁突后緣點和下頜升支后緣點的連線確定下頜升支后緣，此方法操作簡單而且重復(fù)性強。其次、作為測量下頜磨牙移動的參照平面，我們需要在整個矯正過程中相對穩(wěn)定，不會因為牙齒的移動或者年齡的增長而發(fā)生改變，在長期的臨床觀察中我們覺得下頜骨的升支后緣能夠滿足此研究條件。

4.3測量下頜磨牙后移量牙位的選擇 在下頜磨牙后移量的測量中，我們認為最好的測量標地為下頜第二磨牙，①作為保留28顆功能牙的理念，下頜第二磨牙為最遠中的磨牙，其遠中移動的情況，直接決定了全牙弓遠移效果的好壞；②對于測量方法而言，下頜第二磨牙距離下頜后緣最近，在測量時產(chǎn)生誤差的可能性更??；③在下頜后牙遠中移動過程中后牙在種植支抗牽引力遠中移動的過程中，下頜磨牙有向遠中傾斜的趨勢，而下頜第二磨牙的遠中傾斜程度是最大的，磨牙的遠中傾斜程度對于全牙弓后移的穩(wěn)定性具有判斷意義[1]。

4.4為什么選擇下頜第一磨牙的根分叉下緣的最高點作為測量其移動的標記點？測量牙體長軸與下頜平面的夾角有何意義？

在正畸牙齒移動的過程中，從力學(xué)觀點分析只有兩種最基本方式，即平移和轉(zhuǎn)動，這兩種移動方式取決于阻抗中心和和旋轉(zhuǎn)中心的位置關(guān)系，一般對于多根牙而言，阻抗中心在根分叉往根尖方向1～2mm處，其位置隨牙根長度而變化。所以我們在選擇標記點時將下頜第一磨牙根分叉最高點作為我們測量牙齒移動的位置，即方便定位，又能滿足盡量接近牙齒阻抗中心的區(qū)域，能夠準確評定牙齒的移動量。

在全牙弓后移的過程中我們更希望牙體在牙槽骨內(nèi)做平行移動，在實際移動過程中很難做到牙齒在頜骨內(nèi)平行移動，往往在平行移動的同時均伴有近遠中的傾斜移動即轉(zhuǎn)動，但傾斜移動時常是不穩(wěn)定的，在矯治力存在時傾斜移動能夠保持，一旦矯治力消失，傾斜移動會有向原來狀態(tài)復(fù)發(fā)的趨勢；所以測量牙體長軸和下頜平面的夾角對于評價全牙弓后移的穩(wěn)定性具有重要意義。

參考文獻：

[1]李加志，劉進，郭鑫.種植支抗牽引全牙弓后移的臨床初探[J].中華口腔正畸學(xué)雜志，2011，18（2）：76-83.

[2]郭軍，楊永進，蔡興偉.種植體支抗結(jié)合片段弓矯治成人下頜牙列擁擠的臨床應(yīng)用研究[J].中國美容醫(yī)學(xué)，2012，21（1）：120-122.

[3]郭軍，法永紅，蔡興偉.利用種植體支抗遠移下頜磨牙的效果評價[J].口腔醫(yī)學(xué)研究，2010，26（3）：395-396.

[4]Zwei-Chieng Chang，F(xiàn)u-Chang Hu，Eddie Lai，Landmark identification errors on cone-beam computed tomography-derived cephalograms and conventional digital cephalograms[J].

American Journal of Orthodontics and Dentofacial Orthopedics，2011，140（6）：289-297.

[5]李建軍，施生根.微種植支抗關(guān)閉正畸拔牙間隙對下頜垂直向位置的影響[J].中國醫(yī)藥導(dǎo)報，2013，10（12）：14-18.

[6]韓劍麗，劉進，葛元輸，等.下頜全牙弓后移量及最后界的測量[J].中國美容醫(yī)學(xué)，2011，20（4）：647-651.

編輯/王海靜