HE Wei,F(xiàn)ENG Quanyuan
(Institute of Microelectronics,Southwest Jiaotong University,Chengdu 610031,China)
A Bandgap Reference with High Temperature Performance*
HE Wei,F(xiàn)ENG Quanyuan*
(Institute of Microelectronics,Southwest Jiaotong University,Chengdu 610031,China)
A bandgap voltage reference with low temperature-drift was proposed based on OKI 0.5 μm BiCMOS process.The voltage-mode output stage of traditional reference was improved and a mixed-mode output stage which comprised both voltage and current modes was introduced.Thus the flexibility of temperature compensation was improved.Meanwhile a high-precision curvature correction circuit based on piecewise linear compensation technology was designed to trim the high-order temperature components of the reference voltage.Simulation using HSPICE software showed that,the output reference voltage was 1.2156 V under the 5 V power supply and its temperature coefficient was 0.43×10-6/℃at the range of-40℃~125℃.The power supply rejection ratio(PSRR)was lower than-83 dB at low frequency.Line regulation in the supply range of 3.8 V~10 V was 9.2 μV/V.
bandgap reference;mixed-mode;curvature correction;low temperature-drift
在電源管理芯片中,誤差放大器、振蕩器、電流檢測電路等模塊的參考電壓均由帶隙基準源提供,基準源的精度直接關(guān)系到芯片的性能[1]。電子產(chǎn)品正向著高速、高精度、高可靠性的方向發(fā)展,作為電子系統(tǒng)的核心組成部分,電源的設(shè)計顯得尤為關(guān)鍵。這同時也對基準源的精度提出了更高的要求[2]。本文提出了一種采用混合模式輸出級的帶隙基準源,并設(shè)計了一種高精度的曲率校正電路,以提高基準源溫度補償?shù)撵`活性和輸出電壓的精度。
圖1 典型的電壓模式輸出級的基準電路
1.1帶隙基準源原理
圖1所示為典型的電壓模式輸出級的帶隙基準源的電路原理圖。運算放大器A1以VX和VY為輸入,驅(qū)動電阻R1和R2的上端,由運放的“虛短”原理可知X點和Y點被箝制在相同的電位。故晶體管Q1和Q2的集電極電流相等。Q1、Q2的基極-發(fā)射極電壓的差值為:
式中,VT=kT/q,k為玻爾茲曼常數(shù),q為電子電荷量,IC為晶體管集電極電流,IS為飽和電流。
Q2、Q1的發(fā)射結(jié)面積之比為N:1,故IS2/IS1= N,可得到:
電阻R3上的壓降即為ΔVBE,由此可得基準源的輸出電壓為:
式中,VBE2為負溫度系數(shù)(CTAT),VT為正溫度系數(shù)(PTAT),選擇合適的電阻比例就可以使正負溫度系數(shù)相抵消,得到無溫度系數(shù)的基準電壓。
圖1所示電路采用的是基準源電路中最常見的電壓模式輸出級,其簡化結(jié)構(gòu)如圖2(a)所示。
圖2 輸出級結(jié)構(gòu)
電壓模式的實現(xiàn)方法具有電路結(jié)構(gòu)簡單的優(yōu)點。但是一般不能有效地對基準電壓進行mV級甚至是μV級的高階溫度系數(shù)補償,不能適應(yīng)高精度的應(yīng)用需求。針對這種情況,本文對傳統(tǒng)基準源進行了改進,通過對電流模式和電壓模式進行適當?shù)慕M合,形成了如圖2(b)所示的混合模式輸出級。改進后基準源的溫度補償具有更強的靈活性和更高的精度。采用混合模式輸出級的基準電壓可表示為:
式中,IPTAT和INL分別表示PTAT特性的和非線性溫度特性的電流。
2.2曲率校正原理
由式(3)可知,典型的帶隙基準源僅對VBE的一階分量進行了補償。但晶體管的基極-發(fā)射極電壓VBE與溫度并不是線性相關(guān),根據(jù)參考文獻[3]可知:
式中,VBG0是溫度為0 K時的帶隙電壓,T是絕對溫度,T0是參考溫度,VBE0是在溫度為T0時的發(fā)射結(jié)電壓,η是與工藝有關(guān)且與溫度無關(guān)的常數(shù),α是與集電極電流IC的溫度特性相關(guān)的常數(shù),VT是熱電壓。將式(5)按泰勒級數(shù)展開:
式中,a0~an為常數(shù)??梢姡琕BE對于溫度泰勒級數(shù)展開的一階分量已經(jīng)抵消,但高階分量并沒有消除。要進一步降低基準的溫度系數(shù)就要對VBE中的非線性項進行補償,這就需要引入曲率校正電路。
實現(xiàn)這種補償?shù)姆椒ㄖ皇窃谝浑A補償?shù)幕A(chǔ)上,增加分段線性(PWL)的PTAT和CTAT分量。
圖3示出了典型的采用分段線性補償技術(shù)進行曲率校正的帶隙基準源的溫度特性。在低溫段,與溫度成反比的補償分量(VCTAT)逐漸減小;在高溫段,與溫度成正比的補償分量(VPTAT)逐漸增大,抵消VBE不斷增大的負溫度特性。
圖3 帶隙基準源的分段線性校正
本文提出的基準源采用混合模式輸出級,以便于利用分段線性補償技術(shù)對基準源進行精確的曲率校正,預(yù)穩(wěn)壓的引入使基準源的溫度特性和電源抑制能力進一步優(yōu)化。整個電路主要分為3部分:預(yù)穩(wěn)壓電路、曲率校正電流產(chǎn)生電路、帶隙基準核心電路。
2.1預(yù)穩(wěn)壓電路
預(yù)穩(wěn)壓電路主要用于為其他模塊提供具有一定溫度穩(wěn)定性和電源抑制能力的供電電壓[4],同時為曲率校正電流產(chǎn)生電路提供PTAT電流。
預(yù)穩(wěn)壓電路如圖4左半部分所示,圖中M1、M4、M6構(gòu)成啟動電路,使系統(tǒng)擺脫零電流點,進入正常工作狀態(tài)。電容C1為頻率補償電容,保證環(huán)路的穩(wěn)定性,預(yù)穩(wěn)壓后電源經(jīng)PMOS管M5輸出。結(jié)合式(1)~式(2)可以得到流經(jīng)R1的PTAT電流為:
圖4 預(yù)穩(wěn)壓電路及曲率校正電流產(chǎn)生電路
因此預(yù)穩(wěn)壓電路的輸出電壓VPRE可表示為:
式中,N為晶體管Q2與Q1的發(fā)射結(jié)面積比。從上式可以看出,預(yù)穩(wěn)壓的輸出電壓經(jīng)過了一階溫度補償,因此帶隙基準核心電路的供電具有較小的溫度系數(shù)。加入預(yù)穩(wěn)壓電路后基準源的電源抑制比(PSRR)可表示為[5]:
式中,PSRRPRE是預(yù)穩(wěn)壓電路的電源抑制比,PSRRREF是帶隙基準核心電路的電源抑制比。由此可見,經(jīng)預(yù)穩(wěn)壓后,基準源的供電具有更低的溫度系數(shù)和更高的電源抑制能力,使得基準源的輸出更加穩(wěn)定。
2.2曲率校正電流產(chǎn)生電路
曲率校正電流產(chǎn)生電路如圖4右半部分所示,該部分電路由5路分段線性電流產(chǎn)生電路構(gòu)成。分段線性電流產(chǎn)生電路分為低溫段和高溫段兩種,如圖5所示,其產(chǎn)生的分段線性補償電流分別為IPWL1和IPWL2兩種。
圖5 分段線性補償電流示意圖
本文采用正、負溫度系數(shù)電流相減的方法獲得分段線性電流,產(chǎn)生的電流IPWL可表示為:
式中,k1~k4為電流鏡的比例。
圖4中,M7、M13~M15、M20~M21、M24~M25、M28~M29提供正溫度系數(shù)的電流,Q5~Q6和R4構(gòu)成第1個負溫度系數(shù)電流源,產(chǎn)生的電流為:
式中,IS5為飽和電流。將式(11)對溫度求導(dǎo),可以得到電流ICTAT1的溫度系數(shù)為:
忽略電阻的溫度系數(shù),在室溫附近,VBE/T的值約為-1.5 mV/K,因此,ICTAT1/T<0。
將式(11)代入式(10)得:
令式(13)等于零,又VT=kT/q,可得:
由上式可知,通過調(diào)整CTAT電流源中電阻R4的阻值以及電流鏡比例等參數(shù)可以實現(xiàn)對分段線性電流過零點TL和TH的調(diào)節(jié)。Q7~Q14和R5~R8構(gòu)成其余4個負溫度系數(shù)電流源,其原理與上述電路一致。
在低溫段,Q9、Q10和R6構(gòu)成的CTAT電流源產(chǎn)生的電流ICTAT3大于M21提供的正溫度系數(shù)電流ID21,根據(jù)KCL可知M22上有電流流過,M23上鏡像得負溫度系數(shù)的補償電流ICOMP3。隨著溫度的升高,ICTAT3逐漸減小,ID21逐漸增大,ID22隨之減小,M22與M23開始進入線性區(qū)并最終截止,補償電流ICOMP3降至0。由Q11~Q14、M24~M31和R7~R8構(gòu)成的另外兩路低溫段補償電流產(chǎn)生電路的原理與上述一致。
在高溫段,Q5、Q6和R4構(gòu)成的CTAT電流源產(chǎn)生的電流ICTAT1經(jīng)M8、M9按比例鏡像后得到負溫度系數(shù)的電流ID9。剛開始時,ICTAT1較大,假設(shè)M9工作在飽和區(qū),則此時ID9大于M13提供的正溫度系數(shù)電流ID13,這違背了KCL,所以此時M9必然工作在線性區(qū),M10、M11因柵-源電壓VGS過小而關(guān)斷,補償電流為0。隨著溫度的升高,ID13逐漸增大,ICTAT1逐漸減小,ID9隨之減小,ID13開始大于ID9,隨著電流的增大M10、M11由截止區(qū)進入線性區(qū)并最終達到飽和,M11鏡像得正溫度系數(shù)的補償電流ICOMP1。由Q7~Q8、M15~M19和R5構(gòu)成的另一路高溫段補償電流產(chǎn)生電路的原理與上述一致。
該部分電路產(chǎn)生的5路曲率校正電流匯聚成補償電流ICOMP,分別在高、低溫段注入帶隙基準核心電路中的電阻R13,實現(xiàn)分段線性補償。
2.3帶隙基準核心電路
帶隙基準核心電路采用文獻[6]提出的基本架構(gòu),電路如圖6所示。由于預(yù)穩(wěn)壓電路的輸出VPRE和Q15、M32的箝位作用,基準核心部分的供電下降到低壓器件的耐壓范圍內(nèi),且供電電壓的溫度系數(shù)和電源波動更?。?]。R10~R13和Q20~Q21構(gòu)成了帶隙基準電路的核心部分,Q22~Q23和M33~M34構(gòu)成的差分運放將圖6中A、B兩點箝制在相同的電位。R13的引入使基準源由傳統(tǒng)的電壓模式輸出級轉(zhuǎn)變?yōu)榛旌夏J捷敵黾?,基準輸出電壓的曲率校正也由此實現(xiàn)。
Q21和Q20的發(fā)射結(jié)面積之比為N,由式(1)~式(4)可得基準源的輸出電壓為:
圖6 帶隙基準核心電路
采用HSPICE軟件在OKI 0.5 μm BiCMOS工藝下對提出的電路進行仿真。圖7所示為25℃,TT工藝角下,供電電壓VDD在3.8 V~10 V變化時,基準電壓線性調(diào)整率仿真結(jié)果。
圖7 基準源的線性調(diào)整率
仿真表明,當供電電壓在3.8 V~10 V變化時,VREF的變化量約為57 μV,線性調(diào)整率約為9.2 μV/V。
圖8是VDD為5 V,在SS、TT、FF三種工藝角下,基準源的電源抑制比(PSRR)仿真結(jié)果,低頻時電路的PSRR低于-83 dB,具有較高的電源波動抑制能力。
圖8 基準源的電源抑制能力
圖9所示是VDD為5 V時,在-40℃~125℃溫度范圍內(nèi),曲率校正電流ICOMP隨溫度變化的仿真曲線。
圖9 曲率校正電流的溫度特性
圖10和圖11分別是曲率校正前和曲率校正后基準源的溫度特性仿真結(jié)果。
仿真表明,VDD為5 V時,在-40℃~125℃溫度范圍內(nèi),曲率校正前,基準源輸出電壓的溫漂為3.123mV,溫度系數(shù)約為15.58×10-6/℃;曲率校正后,基準源輸出電壓的溫漂為86 μV,溫度系數(shù)約為0.43×10-6/℃。曲率校正的引入使基準源的溫度系數(shù)大幅下降。
圖10 曲率校正前基準源的溫度特性
圖11 曲率校正后基準源的溫度特性
表1 帶隙基準源性能比較
表1為設(shè)計的基準源與文獻[1,9]的性能比較結(jié)果,基準源的溫度特性和電源抑制能力明顯優(yōu)于文獻[1,9]。
為了適應(yīng)電源管理芯片精度不斷提高的發(fā)展趨勢,設(shè)計了一種混合模式輸出級的帶隙基準源,并采用了預(yù)穩(wěn)壓技術(shù)和基于分段線性補償?shù)那市U夹g(shù),使得基準的電源抑制能力和溫度性能有了大幅改善。仿真結(jié)果表明,在-40℃~125℃溫度范圍內(nèi),基準電壓的溫度系數(shù)僅為0.43×10-6/℃,低頻時電路電源抑制比低于-83 dB。電源電壓在3.8 V~10 V變化時,基準源的線性調(diào)整率為9.2 μV/V。設(shè)計的曲率校正電路實現(xiàn)方式簡單、調(diào)節(jié)方便,可移植性強。
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賀煒(1988-),男,漢族,四川省內(nèi)江市人,碩士研究生,研究方向為模擬集成電路設(shè)計,hewei@my.swjtu.edu.cn;
馮全源(1963-),男,漢族,江西景德鎮(zhèn)人,博士,教授,博士生導(dǎo)師,主要從事方向為集成電路設(shè)計、RFID技術(shù)、功率半導(dǎo)體技術(shù)、電磁兼容與環(huán)境電磁學、微波器件及材料等,fengquanyuan@163.com。
EEACC:257010.3969/j.issn.1005-9490.2015.01.005
一種高溫度性能的帶隙基準源*
賀煒,馮全源*
(西南交通大學微電子研究所,成都610031)
基于OKI 0.5 μm BiCMOS工藝,設(shè)計了一種低溫漂的帶隙基準電壓源。對傳統(tǒng)基準源的電壓模式輸出級進行了改進,使之形成同時包含電壓模式和電流模式的混合模式輸出級,提高了溫度補償?shù)撵`活性。同時設(shè)計了一種基于分段線性補償技術(shù)的高精度曲率校正電路,精確地對基準電壓的高階溫度分量進行修調(diào)。HSPICE仿真結(jié)果表明,在5 V的電源電壓下,基準輸出電壓為1.215 6 V,在-40℃~125℃溫度范圍內(nèi),基準電壓的溫度系數(shù)為0.43×10-6/℃,低頻時電路電源抑制比低于-83 dB。電源電壓在3.8 V~10 V范圍內(nèi)變化時,基準源的線性調(diào)整率為9.2 μV/V。
帶隙基準;混合模式;曲率校正;低溫漂
TN433
A文獻標識碼:1005-9490(2015)01-0018-05
2014-03-19修改日期:2014-04-01
項目來源:國家自然科學基金項目(61271090);國家“863”計劃項目(2012AA012305)