吳博峰,徐繼偉
(1.西安財(cái)經(jīng)學(xué)院行知學(xué)院,西安 710038;2.西北工業(yè)大學(xué)自動化學(xué)院,西安 710072)
基于復(fù)合失效模式的壽命分布檢驗(yàn)方法*
吳博峰1,徐繼偉2
(1.西安財(cái)經(jīng)學(xué)院行知學(xué)院,西安710038;2.西北工業(yè)大學(xué)自動化學(xué)院,西安710072)
產(chǎn)品往往受隨機(jī)失效和耗損失效兩種模式的雙重影響,因此,構(gòu)造指數(shù)&威布爾分布表征該類產(chǎn)品的失效規(guī)律。首先,用圖檢驗(yàn)法對該類產(chǎn)品的壽命數(shù)據(jù)進(jìn)行初步檢驗(yàn);其次,研究了該類產(chǎn)品壽命數(shù)據(jù)的極大似然估計(jì)的求解方法,進(jìn)一步用伽方檢驗(yàn)方法對壽命分布類進(jìn)行了檢驗(yàn);最后,通過工程仿真例子說明了該方法的具體操作流程,最終驗(yàn)證了方法的正確性。
復(fù)合失效模式,圖檢驗(yàn)法,極大似然估計(jì),擬合優(yōu)度檢測
1.1指數(shù)&威布爾復(fù)合分布模型的構(gòu)造
由于本文研究產(chǎn)品的壽命可能受隨機(jī)失效和耗損失效的雙重影響,且兩者互相獨(dú)立,構(gòu)造產(chǎn)品的可靠性分布可表述為下式:
由壽命分布可見當(dāng)η→0時(shí),產(chǎn)品的可靠性分布無限趨于指數(shù)分布,即產(chǎn)品的隨機(jī)失效完全占據(jù)主導(dǎo)地位;而當(dāng)→0時(shí),產(chǎn)品的可靠性分布無限趨于威布爾分布;其余情況下,產(chǎn)品的壽命即為受隨機(jī)失效和耗損失效的兩方面影響的復(fù)合分布。類似地,進(jìn)一步可構(gòu)造其余復(fù)合分布的模型。由于引言分析顯示指數(shù)&威布爾分布在工程應(yīng)用中更具有代表性和普遍性,能表征或擬合大部分的失效規(guī)律本文僅以此為代表進(jìn)行研究,其余情況可類似處理。
1.2基于產(chǎn)品定數(shù)截尾壽命試驗(yàn)的分布檢驗(yàn)
產(chǎn)品定數(shù)截尾壽命試驗(yàn)指從一批產(chǎn)品中隨機(jī)抽取n臺產(chǎn)品投入試驗(yàn),并統(tǒng)計(jì)前r個(gè)失效產(chǎn)品的失效時(shí)間,得到的試驗(yàn)數(shù)據(jù)為t1,t2,…,tr,1≤r≤n。通過圖檢驗(yàn)法對產(chǎn)品的分布類型進(jìn)行檢驗(yàn)。這里,首先構(gòu)造累計(jì)可靠度函數(shù):
既然已經(jīng)假定產(chǎn)品的可靠性受兩種不同的失效現(xiàn)象獨(dú)立影響,那么,可將失效數(shù)據(jù)進(jìn)行以下對數(shù)變換:
6)無論春季嫁接還是夏季嫁接,嫁接時(shí)最后一道捆綁的扎帶要纏繞固定在接穗芽子的上部,也就是接穗頂部,這個(gè)小小的綁扎技巧,避免了因嫁接后解除塑料扎帶不及時(shí)帶來的扎帶勒入木質(zhì)部的隱患。見圖1。
在此,若η→0,將累計(jì)失效分布函數(shù)代入,并將數(shù)據(jù)填入對數(shù)坐標(biāo)表上,若數(shù)據(jù)呈現(xiàn)為一條直線,則可認(rèn)為產(chǎn)品壽命服從指數(shù)分布,并通過坐標(biāo)斜率得到產(chǎn)品的壽命指標(biāo),或者根據(jù)最小二乘估計(jì)得的估計(jì)值。
否則,進(jìn)一步進(jìn)行對數(shù)變換:
將累計(jì)可靠度函數(shù)帶入即可用威布爾圖分析法判定產(chǎn)品的壽命是否果真服從威布爾分布,并進(jìn)一步找到壽命指標(biāo)的形狀參數(shù)m和尺度參數(shù)η。或用最小二乘估計(jì)得到參數(shù)的估計(jì)值。
當(dāng)以上兩種情況均不能判定產(chǎn)品的壽命分布時(shí),則可判定產(chǎn)品服從指數(shù)&威布爾復(fù)合分布或可用指數(shù)&威布爾分布來近似。
由以上分析可知圖檢驗(yàn)法在大樣本情況下能給出粗略的檢驗(yàn)和參數(shù)估計(jì)值,但同時(shí)可能存在較大的誤差,且在并不服從指數(shù)&威布爾分布時(shí)還必須用其作近似處理,在某些情況下適用性差。因此,在并不服從指數(shù)分布或威布爾分布時(shí),進(jìn)一步用數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法進(jìn)行檢驗(yàn)分析。首先研究基于壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)的總體參數(shù)極大似然估計(jì)。由定數(shù)截尾試驗(yàn)數(shù)據(jù)t1,t2,…,tr,1≤r≤n構(gòu)造產(chǎn)品的似然函數(shù):
作對數(shù)變換
則根據(jù)極大似然估計(jì)法可列出如下似然方程組:
記以上3個(gè)似然方程左側(cè)為f1,f2,f3。有如下引理。
引理:上述似然方程存在唯一解
證明:既然認(rèn)為產(chǎn)品的失效是由隨機(jī)失效和耗損失效獨(dú)立造成的,那么假設(shè)t1,t2,…,tr中有p個(gè)失效時(shí)間產(chǎn)生于隨機(jī)失效,記為t11,t12,…,t1p,而有q個(gè)產(chǎn)生于耗損失效,記為t21,t22,…,t2q,其中p+q=r。這里t11,t12,…,t1p,t21,t22,…,t2q只是假定存在但不確切知道的。由文獻(xiàn)[1],根據(jù)t11,t12,…,t1p、t21,t22,…,t2q能得到參數(shù),η,m的唯一解,證畢。
同理,對威布爾分布,其失效率為:
又由威布爾圖分析過程知,m<m',其中m'為將所有失效數(shù)據(jù)均擬合為威布爾分布的最小二乘估
而落在[si,si+1),i=1,2,…,m內(nèi)的失效個(gè)數(shù)為r1,r2,…,rm,那么可以用χ2擬合優(yōu)度檢驗(yàn)方法檢驗(yàn)總體是否服從指數(shù)&威布爾分布。具體過程為:構(gòu)造統(tǒng)計(jì)量
根據(jù)R.A.Fisher定理,若總體服從指數(shù)&威布爾分布,那么以上統(tǒng)計(jì)量服從自由度為m-4的χ2分布,于是可以用χ2檢驗(yàn)法檢驗(yàn)總體的分布規(guī)律。
電連接器的失效往往受溫度、濕度、機(jī)械應(yīng)力等綜合因素的影響。因此,電連接器的失效極可能不僅僅是隨機(jī)失效或耗損失效的單一作用。假設(shè)某型電連接器的失效分布函數(shù)為
隨機(jī)抽取120件該型電連接器進(jìn)行壽命試驗(yàn),試驗(yàn)到80件電連接器失效為止,通過蒙特卡羅仿真法得到該電連接器的失效數(shù)據(jù)為
用圖估計(jì)法檢驗(yàn)產(chǎn)品的失效數(shù)據(jù)并不服從指數(shù)分布和威布爾分布,此處略去過程,于是,進(jìn)一步假設(shè)總體服從指數(shù)&威布爾分布。按第2節(jié)的方法對壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行總體的極大似然估計(jì),估計(jì)得()=(0.001 04,0.000 002 1,1.98)。構(gòu)造10個(gè)區(qū)間,根據(jù)仿真試驗(yàn)數(shù)據(jù)構(gòu)造的區(qū)間為[0,50]、[50,100]、[100,150]、[150,200]、[200,250]、[250,300]、[300,350]、[350,400]、[400,450]、[450,500]
上述區(qū)間內(nèi)估計(jì)分布的離散概率密度函數(shù)
P(10)=[0.065 5 0.119 2 0.083 1 0.107 4 0.102 0 0.096 8 0.091 9 0.127 2 0.082 8 0.138 6];
而每個(gè)區(qū)間內(nèi)的失效數(shù)為
N[10]=[5 10 6 5 6 9 8 12 5 14]
檢查,于是判定該總體服從指數(shù)&威布爾分布。這個(gè)仿真算例同時(shí)驗(yàn)證了本文所提出方法的正確性和可操作性。
針對產(chǎn)品受多種失效模式共同影響的情形,本文構(gòu)造了指數(shù)&威布爾壽命分布模型。并研究了壽命數(shù)據(jù)的一般分布可靠性檢驗(yàn)方法。首先,用圖分析法對壽命數(shù)據(jù)進(jìn)行指數(shù)分布檢驗(yàn)和威布爾分布檢驗(yàn),這兩種檢驗(yàn)方法均無法作出判定時(shí),進(jìn)一步構(gòu)建了基于極大似然估計(jì)的的分布類型擬合優(yōu)度檢驗(yàn)方法,并進(jìn)一步對可靠性分析做出評價(jià)。本文最后通過工程仿真案例說明了該方法的可用性和有效性。該方法適用于復(fù)雜失效模式產(chǎn)品的可靠性試驗(yàn)數(shù)據(jù)快速評價(jià)過程。
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Life Distribution Hypothesis Testing Method Based on Complex Failure Mode
WU Bo-feng1,XU Ji-wei2
(1.School of XING ZHI,Xi'an University of Finance and Economics,Xi'an 710038,China;2.School of Automation,Northwest Polytechnical University,Xi'an 710072,China)
Product life is often affected by both random failure mode and degradation failure mode,thus this paper constructs the Exponential&Weibull failure distribution to reflect this failure mode.Firstly,a figure test method is used to preliminary inspect of the life data of the products;secondly,this paper researches the lifetime datas of the product by maximum likelihood estimation method,thirdly,gamma-square test is used to determinate the for life distributions of the product;Finally,simulation example is applied to show the concrete operational procedures of this method,and verificate of the correctness of this method.
complex failure modes,fig testing method,MLE,gamma-square test
TB114.3
A
1002-0640(2016)07-0168-03
2015-06-15
2015-07-12
*
國家青年科學(xué)基金(61201321);福建省教育廳A類科技基金資助項(xiàng)目(JA12375)
吳博峰(1983-),男,福建安溪人,碩士,講師。研究方向:可靠性理論與應(yīng)用、應(yīng)用概率統(tǒng)計(jì)。