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IPC控制的微型顯示器參數(shù)測(cè)試儀的研制

2018-06-09 11:37:14欒偉峰
科學(xué)與財(cái)富 2018年10期
關(guān)鍵詞:實(shí)時(shí)控制工控機(jī)語(yǔ)言

摘 要:為了解決微型點(diǎn)陣顯示器生產(chǎn)測(cè)試要求,利用工控機(jī)可擴(kuò)展的總線結(jié)構(gòu)和通用的外擴(kuò)板卡,研制了采用工控機(jī)控制的微型點(diǎn)陣顯示器參數(shù)測(cè)試儀。詳細(xì)介紹測(cè)試儀的軟硬件結(jié)構(gòu),包括工控機(jī)擴(kuò)展板卡的選擇、功能顯示驅(qū)動(dòng)板、參數(shù)測(cè)試板、信號(hào)調(diào)理電路等的設(shè)計(jì)以及采用C++語(yǔ)言實(shí)現(xiàn)的MFC構(gòu)架下的應(yīng)用程序編程,整臺(tái)測(cè)試儀成為智能化的多功能儀表。已應(yīng)用在器件的生產(chǎn)中,實(shí)踐證明該裝置使用方便,測(cè)量精度高,控制性能好。

關(guān)鍵詞:工控機(jī);參數(shù)測(cè)試;C++語(yǔ)言;實(shí)時(shí)控制

0引言:

PC_Based Control 技術(shù)是融合PC技術(shù)、信號(hào)測(cè)量與分析技術(shù)、控制技術(shù)于一體的高性能測(cè)量與控制技術(shù),用于信號(hào)量測(cè)、工業(yè)過(guò)程數(shù)據(jù)采集和控制、運(yùn)動(dòng)控制等,在現(xiàn)代測(cè)試儀器儀表逐漸普及的今天,PC Based Control技術(shù)更是廣泛應(yīng)用到工業(yè)生產(chǎn)、測(cè)量、控制、檢測(cè)等各個(gè)領(lǐng)域。工控機(jī)最大的特點(diǎn)是有標(biāo)準(zhǔn)的總線結(jié)構(gòu)和可擴(kuò)展的多種功能模塊板卡,利用標(biāo)準(zhǔn)板卡的二次開(kāi)發(fā),可以研制成符合要求的各種工業(yè)生產(chǎn)上的測(cè)試控制設(shè)備。

BZ1C501A微型點(diǎn)陣顯示器是蘇州半導(dǎo)體總產(chǎn)研制開(kāi)發(fā)的,應(yīng)用于各類電子設(shè)備儀器和終端字符及漢字顯示。為保證生產(chǎn)過(guò)程和產(chǎn)品質(zhì)量,測(cè)試過(guò)程和相應(yīng)測(cè)試儀器是必不可少的。因點(diǎn)陣顯示器共有256個(gè)微型光源,在給定的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試,普通的儀器很難達(dá)到要求,因此采用工控機(jī)實(shí)現(xiàn)測(cè)試儀器的核心。

本文介紹采用研華工控機(jī)及相應(yīng)數(shù)據(jù)采集卡,匹配自制的測(cè)試單元和顯示驅(qū)動(dòng)電路,實(shí)現(xiàn)對(duì)BZ1C500A顯示器的功能測(cè)試,顯示器各項(xiàng)靜態(tài)參數(shù)的測(cè)試,測(cè)試儀具有精度高,功能全,實(shí)時(shí)性好,可靠性高等特點(diǎn)。軟件采用C++語(yǔ)言編制,是MFC構(gòu)架下的Windows窗口程序,應(yīng)用程序具有方便的使用界面,能實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、分析、打印等功能。測(cè)試儀已經(jīng)有效的應(yīng)用于該產(chǎn)品的生產(chǎn)中。

1測(cè)試儀的硬件組成

該測(cè)試系統(tǒng)分為硬件系統(tǒng)和軟件系統(tǒng)。硬件系統(tǒng)以研華工控主機(jī)為核心,采用研華PCI-1710數(shù)據(jù)采集卡和PCI-1751 I/O接口卡實(shí)現(xiàn)對(duì)外圍部件的控制和測(cè)量。自己設(shè)計(jì)驅(qū)動(dòng)板卡、開(kāi)關(guān)矩陣、信號(hào)處理板等外圍電路,構(gòu)成自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。軟件采用VC++編程,測(cè)試軟件為MFC構(gòu)架下的Windows操作界面, 操作美觀、方便、并具有開(kāi)放性。

1.1 工控機(jī)板卡的選擇

系統(tǒng)的核心采用研華工控主機(jī)外擴(kuò)研華數(shù)據(jù)采集卡PCI-1710、I/O接口卡PCI-1751,實(shí)現(xiàn)對(duì)外部設(shè)備的數(shù)據(jù)采集和控制。兩板卡功能如下。

PCI-1710是用于PCI總線的多功能DAS卡設(shè)備。其包含16路單端或者8路雙端模擬量輸輸入端口,12-bit A/D轉(zhuǎn)換、16路數(shù)字量輸出和16路數(shù)字量輸入和計(jì)數(shù)器/定時(shí)器等。該設(shè)備采用A/D模擬通道0和通道1作為正向電壓和反向漏電流的模擬量測(cè)量入口。矩陣開(kāi)關(guān)由16路數(shù)字量輸出口控制。A/D采用單端輸入,量程為0~5V電壓信號(hào)。

PCI-1751是48路數(shù)字量I/O和3路計(jì)數(shù)器PCI卡,其中I/O口可由軟件自己定義為輸入或輸出通道。該儀器采用32路作為輸出通道,選用Port0和Port3作為16路點(diǎn)陣顯示器陽(yáng)極控制端、Port1和Port4作為16路陰極控制端,實(shí)現(xiàn)對(duì)點(diǎn)陣顯示器的驅(qū)動(dòng)控制。

1.2功能顯示驅(qū)動(dòng)板的設(shè)計(jì)

顯示驅(qū)動(dòng)板共有16個(gè)陽(yáng)極和16個(gè)陰極輸入輸出控制端,控制256個(gè)LED燈,軟件采用掃描方式,按規(guī)則一一點(diǎn)亮。共16組。其中A1和B1接PCI-1751輸出端口、OA1和OA2接點(diǎn)陣顯示器引腳的陽(yáng)極和陰極。

1.3 參數(shù)測(cè)試板電路

測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量的靜態(tài)參數(shù)有2項(xiàng),分別為Vf、Ir,關(guān)鍵是有256個(gè)發(fā)光二極管在規(guī)定時(shí)間內(nèi)依次測(cè)量,并要求保證測(cè)試的一致性。每項(xiàng)參數(shù)測(cè)試時(shí)都需加不同的條件,

采用由高可靠繼電器組成的開(kāi)關(guān)陣列來(lái)控制。根據(jù)測(cè)試要求,恒流源有16mA,條件電壓源有-5V。被測(cè)參數(shù)需測(cè)量的電壓值,量程為V;需測(cè)量的電流值,量程uA級(jí)。

測(cè)試一項(xiàng)參數(shù)的過(guò)程如下:

由程序控制I/O接口,使相應(yīng)的繼電器線包通電,開(kāi)關(guān)閉合,測(cè)試條件(電壓或電流)與被測(cè)器件構(gòu)成饋路,被測(cè)參數(shù)由信號(hào)處理電路變?yōu)橹绷麟妷毫?,?jīng)過(guò)儀表放大器處理后,由對(duì)應(yīng)的A/D數(shù)據(jù)采集通道,進(jìn)入A/D 實(shí)現(xiàn)模擬量到數(shù)字量的轉(zhuǎn)換,轉(zhuǎn)換后數(shù)值有計(jì)算機(jī)進(jìn)行讀取并存儲(chǔ)。

例如測(cè)量一個(gè)LED正向電壓時(shí),A1、A3、A4繼電器吸合,A5開(kāi)關(guān)接在地上正向電壓值有A/D通道0讀入,當(dāng)測(cè)量一個(gè)LED反向電流時(shí),A2、A3、A4閉合,A5開(kāi)關(guān)打在運(yùn)放LM358的輸入端,反向電流通過(guò)運(yùn)放轉(zhuǎn)為電壓信號(hào),有A/D通道1被工控機(jī)讀取。一共256個(gè)LED,在矩陣開(kāi)關(guān)的控制下依次測(cè)量后,匯總數(shù)據(jù)。

2 軟件設(shè)計(jì)

工控機(jī)的軟件要求簡(jiǎn)潔,方便,能直接控制硬件。C++語(yǔ)言具有移植性好、代碼高效、功能強(qiáng)大、硬件控制能力強(qiáng)等特點(diǎn)。因此測(cè)試儀采用C++語(yǔ)言來(lái)編寫(xiě)測(cè)試程序。

該系統(tǒng)軟件是采用Visual C++作為開(kāi)發(fā)工具,在Windows7操作系統(tǒng)下的MFC構(gòu)架程序。測(cè)試程序針對(duì)不同功能分為兩套,一個(gè)是點(diǎn)陣顯示程序,一個(gè)是參數(shù)測(cè)試程序。程序采用模塊化。點(diǎn)陣顯示程序界面模擬顯示器顯示的內(nèi)容,可以實(shí)現(xiàn)對(duì)顯示功能的監(jiān)控,參數(shù)測(cè)試程序,實(shí)現(xiàn)參數(shù)的存儲(chǔ)、顯示數(shù)值,并可以根據(jù)需求方的要求,形成曲線或圖表,便于數(shù)據(jù)處理。

3結(jié)論

該測(cè)試儀屬于工控機(jī)測(cè)控系統(tǒng),具有實(shí)時(shí)功能。硬件上采用工控機(jī)結(jié)合數(shù)據(jù)采集卡和I/O接口卡,實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試的方法,使系統(tǒng)軟硬件維護(hù)方便,并具有冗余量,可擴(kuò)展。整個(gè)測(cè)試儀采用多種技術(shù),是智能化的新型多功能儀表。該儀器自研制成功到使用至今,在微型點(diǎn)陣顯示器件生產(chǎn)中一直高可靠,高效率的運(yùn)行。

作者簡(jiǎn)介:

欒偉峰 女 出生于1973年11月 副教授/高級(jí)工程師

1994年~2003年 在蘇州半導(dǎo)體總廠有限公司工作 從事自動(dòng)控制設(shè)備的改造和設(shè)計(jì)。

2003~今 在蘇州工業(yè)園區(qū)職業(yè)技術(shù)學(xué)院 電氣自動(dòng)化技術(shù)專業(yè)主任 研究方向?yàn)樽詣?dòng)化控制技術(shù)

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