HDI板中微小導(dǎo)通孔基本都采用激光鉆孔系統(tǒng)獲得,因?yàn)榭字睆叫?,更多的是盲孔,?duì)鉆孔質(zhì)量難以及時(shí)檢測(cè)。CIMS公司推出最新的解決方案Galaxy VIA系統(tǒng),一種稱(chēng)為Vialight的全新的照射裝置,采用透射光檢查微小孔,以獲得孔內(nèi)部最精確的圖像。該系統(tǒng)能夠檢測(cè)直徑小于20 μm的激光孔,能夠檢測(cè)到內(nèi)部尺寸,識(shí)別孔內(nèi)污染和碎片、堵塞等缺陷,以及孔位超出允許公差范圍的偏移。同時(shí),配置數(shù)據(jù)軟件包可及時(shí)反饋到激光鉆孔實(shí)時(shí)過(guò)程控制。
(pcb007.com,2019/5/28)
利昌(Risho)工業(yè)公司開(kāi)發(fā)了面向毫米波雷達(dá)的低傳輸損耗基材CS-3379。CS-3379M是以比聚四氟乙烯(PTFE)和液晶聚合物(LCP)便宜的聚苯乙烯醚(PPE)樹(shù)脂為基礎(chǔ)開(kāi)發(fā)的,介質(zhì)損耗100 GHz時(shí)0.0028,達(dá)到與PTFE同等的性能,而可以以半價(jià)左右的價(jià)格提供,這可以削減制造毫米波雷達(dá)基板的成本。
(JPCA Show news,2019/05)
日本產(chǎn)研所開(kāi)發(fā)了一項(xiàng)可應(yīng)用于高頻FPCB之高強(qiáng)度異種材料接合技術(shù)。通過(guò)在聚酯膜(PET)的表面照射紫外線,以化學(xué)納米涂布技術(shù)將氧官能基導(dǎo)入,須粘合劑的PET與銅箔進(jìn)行熱壓,由于導(dǎo)入了氧官能基的聚酯膜表面與銅產(chǎn)生化學(xué)反應(yīng)而強(qiáng)固地結(jié)合,其剝離強(qiáng)度符合FCCL規(guī)格,可應(yīng)用于5G通訊的FPCB。
(材料世界網(wǎng),2019/4/30)
臺(tái)灣一家撓性電路制造商介紹了一種既非平面型剛性電路板,也不是可彎折的撓性電路板,而是具有三維結(jié)構(gòu)的熱成型印制電路。這是在熱塑性(如聚酯或聚碳酸酯)片材上,使用網(wǎng)版印刷銀膏形成電路,可含通孔的單面和雙面電路。當(dāng)基材厚度超過(guò)100 μm時(shí),電路板幾乎沒(méi)有彈性,但當(dāng)加熱到120℃時(shí)會(huì)軟化,在成形模具中稍使壓力電路板變成外殼形狀,冷卻后成為剛性的三維結(jié)構(gòu)。這種硬売式結(jié)構(gòu)既有電路又當(dāng)機(jī)械框架。
(PCD&F,2019/4/30)
漢堡大學(xué)開(kāi)發(fā)了一種采用3D打印生產(chǎn)透明和柔性電子電路的工藝。這項(xiàng)技術(shù)的核心是打印銀納米線于柔性和透明聚合物中,形成了一個(gè)導(dǎo)電網(wǎng),銀線通常只有幾十納米粗,網(wǎng)層厚度10 μm~20 μm,由于聚合物在固化過(guò)程中收縮,網(wǎng)格的導(dǎo)電性甚至提高了。在導(dǎo)電線路上涂上柔性聚合物,聚合物上再涂上導(dǎo)電線路和導(dǎo)電觸點(diǎn),根據(jù)所用的幾何結(jié)構(gòu)和材料,可以用這種方式打印各種電子電路與部件。
(pcb007.com,2019/4/29)
日本Elephantech公司自行開(kāi)發(fā)了「P-Flex」技術(shù)制作撓性印制電路板(FPCB)技術(shù),純加成工藝。其方法是以聚酰亞胺(PI)或聚對(duì)苯二甲酸乙二酯(PET)等薄膜為基材,噴墨打印銀納米導(dǎo)電油墨形成線路圖形,待燒結(jié)后進(jìn)行化學(xué)鍍銅,再?lài)娔蛴∽韬赣湍纬勺韬笇?。目前達(dá)到電路圖形厚度銀層小于1 μm、銅層3 μm以上,最小線寬/線距200 μm/150 μm。 「P-Flex」方法與一般FPCB的減成法可以減少原材料消耗、縮短制程工序,達(dá)到削減成本、降低環(huán)境負(fù)荷,并實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)高速化之目標(biāo)。
(材料世界網(wǎng),2019/4/22)
HDI印制板通過(guò)常規(guī)電氣測(cè)試合格后交付裝配應(yīng)用,而在電子設(shè)備應(yīng)用中出現(xiàn)間歇性開(kāi)路故障。IPC成立了微導(dǎo)通孔接口故障技術(shù)解決方案小組,在測(cè)試面板上已經(jīng)觀察到微通孔在回流焊過(guò)程中開(kāi)路,然后在冷卻過(guò)程中重新建立連續(xù)性, 也即PCB成品電氣測(cè)試合格,而經(jīng)受多次回流焊熱沖擊薄弱的微導(dǎo)通孔接口就會(huì)出現(xiàn)故障。IPC已獲得數(shù)據(jù)表明,現(xiàn)在僅使用熱應(yīng)力顯微切片和光學(xué)顯微鏡的傳統(tǒng)檢測(cè)技術(shù)已不再是確定微孔電鍍故障的有效工具。新的IPC的回流焊熱應(yīng)力模擬測(cè)試方法,IPC-TM-650之2.6.27a,要求具有菊花鏈的測(cè)試樣板經(jīng)受錫膏回流焊試驗(yàn),達(dá)到230℃或260℃的峰值溫度同時(shí)連接到四線電阻測(cè)量裝置,進(jìn)行六次完整回流循環(huán),且電阻增加不大于5%。這樣能夠檢測(cè)潛在的微通道故障,避免可能的缺陷逃逸。
(pcb007.com,2019/4/24)