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一種FIFO的讀寫單元設(shè)計(jì)

2019-04-09 09:10:46劉環(huán)雨
微處理機(jī) 2019年1期
關(guān)鍵詞:字線存儲單元位線

劉環(huán)雨

(沈陽城市建設(shè)學(xué)院信息與控制工程系, 沈陽110167)

1 引 言

隨著集成電路產(chǎn)業(yè)的迅猛發(fā)展,現(xiàn)在的IC 芯片特征尺寸越來越小,集成電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)規(guī)模也不斷擴(kuò)大,計(jì)算機(jī)處理器在高速運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí),其中的邏輯也隨著功能和性能的提高而不斷增多。復(fù)雜的邏輯電路在運(yùn)算時(shí)需要多個(gè)高速時(shí)鐘,兩個(gè)時(shí)鐘域在互相傳輸數(shù)據(jù)時(shí),要保證數(shù)據(jù)傳輸?shù)恼_性以及穩(wěn)定性,F(xiàn)IFO 電路在解決這一跨時(shí)鐘域的問題中起到了重要作用。FIFO 作為先進(jìn)先出式的緩沖存儲部件,在數(shù)據(jù)接口部分實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲、緩沖,并且可在兩個(gè)時(shí)鐘域內(nèi)傳輸或交換數(shù)據(jù)。FIFO 單元的性能需要被重點(diǎn)考慮,而FIFO 電路的核心部分就是FIFO 電路中的存儲單元[1]。FIFO 的存儲單元決定了整個(gè)電路的芯片面積,同時(shí)存儲單元的讀寫速度會影響整體電路的性能,也影響整體電路的速度和功耗。FIFO 電路通常利用雙口RAM 和讀寫指針來控制存儲單元的讀寫功能,相比于普通的存儲器,主要的區(qū)別是FIFO 沒有外部讀寫地址線,相應(yīng)的地址是由內(nèi)部讀寫指針自動加1 完成的。FIFO 電路的控制和使用相對簡單:順序地寫入數(shù)據(jù),再順序地讀出數(shù)據(jù)。

2 存儲單元設(shè)計(jì)

對先入先出存儲器FIFO 的合理設(shè)計(jì),可以使接口數(shù)據(jù)在傳輸時(shí)有效地匹配輸入和輸出。對數(shù)據(jù)進(jìn)行先緩沖再存儲然后再傳輸?shù)奶幚恚捎行П苊鈹?shù)據(jù)復(fù)寫、丟失或者寫入無效、讀出無效的情況,有效地提高數(shù)據(jù)的傳輸速率。

在傳輸數(shù)據(jù)時(shí),要保證存儲單元的設(shè)計(jì)合理性。故此存儲單元選用6T-SRAM 單元結(jié)構(gòu),單元的存儲電路由六個(gè)管子組成,如圖1 所示。整個(gè)存儲單元具有對稱性,M0 與M1 為存儲單元的傳輸管,與存儲單元連接,當(dāng)對存儲單元進(jìn)行寫入或讀取數(shù)據(jù)時(shí),通過控制單元將傳輸管的使能信號W 打開,接通存儲單元與外圍電路的連接,外圍電路則通過BL 和BLN 讀取寫入數(shù)據(jù)[2]。兩個(gè)反相器級聯(lián)構(gòu)成雙穩(wěn)態(tài)電路,采用物理尺寸和特性完全相同的反相器,其中一個(gè)的輸出作為另一個(gè)的輸入。在一個(gè)反相器的輸入端施加輸入信號時(shí),會在輸出端得到響應(yīng),同樣在另一個(gè)反相器的輸入端施加輸入信號時(shí),也會得到響應(yīng);將兩個(gè)響應(yīng)曲線結(jié)合到一起,就可得到帶穩(wěn)態(tài)電路的電壓傳輸特性曲線。

圖1 存儲單元結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)圖

3 基于存儲單元的寫操作

FIFO 的存儲電路對存儲單元的寫操作過程就是使存儲單元的狀態(tài)按照寫入的數(shù)據(jù)進(jìn)行相應(yīng)地改變。在六管單元的寫操作中,通過外圍電路的控制,在寫入數(shù)據(jù)前需要將數(shù)據(jù)驅(qū)動至兩個(gè)互補(bǔ)的信號中并傳至位線BL 和BLN 上。字線驅(qū)動器驅(qū)動字線WR 到高電平,即寫通道打開,位線信號經(jīng)兩個(gè)完成對稱的傳輸管寫入存儲節(jié)點(diǎn),存儲節(jié)點(diǎn)存儲寫入存儲單元的新數(shù)據(jù)[3]?,F(xiàn)實(shí)寫操作過程的電路原理圖如圖2。在存有“1”的單元里面寫入新的數(shù)據(jù)“0”,即DA 點(diǎn)的電平由高電平下拉至低電平,將存儲的數(shù)據(jù)由VCC 下拉至GND。

圖2 對存儲單元的寫操作

FIFO 的寫指針指向?qū)?yīng)的地址,每執(zhí)行一次讀操作,指針都會順次加1。寫操作的具體過程為:位線BLN 在寫操作開始時(shí)被驅(qū)動到高電平,此后的短時(shí)間內(nèi),它與讀操作時(shí)預(yù)充高電平位線BLN 的變化基本相同。在字線打開傳輸管后,傳輸管M1 與下拉管M3 同樣形成分壓,節(jié)點(diǎn)DB 的電壓上升。位線BL 在寫操作開始時(shí)被驅(qū)動到低電平。在字線打開傳輸管后,M0 與M4 管在BL 與高電平之間形成分壓。為了寫操作的順利進(jìn)行,也就是下拉節(jié)點(diǎn)DA到達(dá)較低的低電平,啟動反相器M2/M3 放大新數(shù)據(jù),傳輸管M0 應(yīng)該比反相器的M4 管有更好的導(dǎo)通性。一旦反相器M2/M3 開始放大節(jié)點(diǎn)DA 上的低電壓,也就是節(jié)點(diǎn)DA 上的下拉管M3 被關(guān)閉,上拉管M2 被打開,節(jié)點(diǎn)DB 的電壓將上升,反相器M4/M5也將被啟動,節(jié)點(diǎn)DA 在正反饋?zhàn)饔孟逻M(jìn)一步向GND 轉(zhuǎn)化,寫操作被加速[4]。

4 基于存儲單元的讀操作

存儲單元被寫入數(shù)據(jù)之后,即可讀取數(shù)據(jù)。存儲單元的讀操作是指被尋址的存儲單元將它所儲存的數(shù)據(jù)發(fā)送到相應(yīng)位線上的操作。位線上的數(shù)據(jù)被送到外圍電路上,即存儲的數(shù)據(jù)被讀出。讀過程的電路原理圖如圖3 所示。假設(shè)當(dāng)前單元中寫入的數(shù)據(jù)為邏輯“1”,即節(jié)點(diǎn)DA 為高電平,節(jié)點(diǎn)DB 為低電平。

圖3 對存儲單元的讀操作

數(shù)據(jù)讀指針指向當(dāng)前讀出的單元,執(zhí)行完一次讀操作,指針指向下一將要讀出的存儲單元[5]。讀操作開始時(shí),位線BL 和BLN 被預(yù)充電,預(yù)充電平的典型值為電源電壓VCC。讀操作過程中字線RD 通過外圍控制電路達(dá)到高電平,打開存儲單元傳輸管M0 和M1。已經(jīng)假設(shè)存儲的值為“1”,這樣節(jié)點(diǎn)DA為高電平,節(jié)點(diǎn)DB 為低電平,位線BLN 會經(jīng)M1和M3 放電,電平逐漸降低;此時(shí),由于M0 管源漏電壓近似相等,因此只會有很小的電流流過,位線BL 會繼續(xù)保持高電平狀態(tài)[6]。隨著BLN 的放電,BL與BLN 之間的差分電壓逐漸增大;差分電壓增大到一定程度后,讀出放大器將放大并輸出差分電壓。

從FIFO 電路讀取數(shù)據(jù)有兩點(diǎn)需要注意:第一,為加速位線BLN 放電,M1 和M3 尺寸相對較大;但從集成電路發(fā)展趨勢來看,集成電路的整體面積越來越小,在設(shè)計(jì)中存儲單元面積應(yīng)盡可能小,一般接近所采用工藝的最小特征尺寸。第二,字線輸入信號RD 為高電平后,M1 和M3 的分壓作用將使節(jié)點(diǎn)DB 電平升高,此現(xiàn)象應(yīng)盡量避免出現(xiàn),因?yàn)镈B電壓升高可能會令M4 導(dǎo)通,從而造成節(jié)點(diǎn)DA 放電。如果泄放掉的電荷較少,可能會令M0 打開,位線BL 放電,降低差分電壓建立速度;若泄放電荷較多,則M2 就可能導(dǎo)通,DB 點(diǎn)電壓會被抬高,從而使得存儲數(shù)據(jù)從“1”翻轉(zhuǎn)為“0”,即發(fā)生“誤翻轉(zhuǎn)”[7-8]。要避免讀取數(shù)據(jù)誤翻轉(zhuǎn)的發(fā)生,需要限制DB 的電平升高,即用較快的讀取速度與較小的存儲單元面積,并滿足電路的整體面積與功耗要求,優(yōu)化設(shè)計(jì)FIFO 單元管子尺寸的匹配[9-10]。

FIFO 電路主要關(guān)心的指標(biāo)是電路讀取速度,為提高讀速,必須減少傳輸延遲時(shí)間。而存儲單元本身管子尺寸有限,影響存儲單元的驅(qū)動能力;且位線也會產(chǎn)生較大的負(fù)載電容。故此,一般要在位線與輸出緩沖單元之間添加靈敏放大器,讀出數(shù)據(jù)后經(jīng)靈敏放大器放大后再輸出,從而減少讀取時(shí)間。

為了不影響FIFO 電路的讀取速度,一般都會設(shè)置預(yù)充電路,但是預(yù)充電路會在電路上電后就一直保持充電狀態(tài),這樣會增大電路的靜態(tài)功耗。在保證功耗一定時(shí)若要兼顧電路的讀取速度,則應(yīng)保留列預(yù)充電路。

5 結(jié)束語

FIFO 電路的讀寫數(shù)據(jù)通道需要較快的讀取速度與較小的存儲單元面積,并滿足電路的整體面積與功耗要求。存儲單元的設(shè)計(jì)可以使存儲單元面積減小從而使集成電路的整體面積減小?;诖鎯卧淖x寫通道設(shè)計(jì)可以使整個(gè)存儲通道性能和可靠性提高,同時(shí)減小了面積。此設(shè)計(jì)有較強(qiáng)的適用性,可實(shí)現(xiàn)應(yīng)用于較大容量的FIFO 電路中。

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