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微電阻率成像測(cè)井質(zhì)量控制及應(yīng)用

2019-05-16 01:54俞保財(cái)何秋凱任小鋒
石油管材與儀器 2019年2期
關(guān)鍵詞:極板刻度測(cè)井

俞保財(cái),何秋凱,任小鋒,蔡 芳,常 浩

(中國(guó)石油集團(tuán)測(cè)井有限公司長(zhǎng)慶分公司 陜西 西安 710201)

0 引 言

隨著勘探程度的不斷提高,油氣藏在儲(chǔ)層物性及構(gòu)造形態(tài)上趨于復(fù)雜化,勘探開發(fā)難度越來(lái)越大,常規(guī)測(cè)井資料已難滿足復(fù)雜地質(zhì)環(huán)境的儲(chǔ)層識(shí)別需求。哈里伯頓微電阻率成像儀(XRMI)的主要優(yōu)點(diǎn)在于能提供井壁附近地層的電阻率隨深度變化的圖像;圖像外觀類似于巖性剖面,可用于識(shí)別裂縫,分析薄層,進(jìn)行儲(chǔ)層評(píng)價(jià)及沉積相和沉積構(gòu)造方面的研究[1],在探測(cè)復(fù)雜巖性,裂縫油氣藏方面具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。

1 XRMI儀器簡(jiǎn)介

1.1 儀器原理

微電阻率成像測(cè)井儀(XRMI)利用6個(gè)極板上的150個(gè)鈕扣狀小電極向井筒中原狀地層發(fā)射電流,巖石結(jié)構(gòu)、成分、流體的不同可引起電流的變化[2],通過(guò)鈕扣電極測(cè)量并繪制地層微電阻率信息而后對(duì)井壁成像,反映出井壁上地層巖石結(jié)構(gòu)的變化,獲得的成像測(cè)井圖像與實(shí)際巖心照片一樣清晰直觀[3]。

1.2 儀器組合方式

XRMI儀器必須與遙測(cè)伽馬儀器組合才能把有效的測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)傳輸?shù)降孛嫦到y(tǒng),經(jīng)過(guò)軟件進(jìn)一步處理,從而獲得理想的地層信息[4]。其儀器組合方式從上到下依次為:SWIL(旋轉(zhuǎn)短節(jié))+DTDD(張力)+D4TG/GTET(遙測(cè)伽馬)+XRMI(電子線路)+XRMI-C(芯軸)。

石油測(cè)井原始資料質(zhì)量規(guī)范要求,在12 m井段內(nèi),1號(hào)極板方位角變化不大于360°。在測(cè)井過(guò)程中由于電纜扭力的作用,儀器串發(fā)生自轉(zhuǎn),導(dǎo)致所測(cè)資料的方位轉(zhuǎn)動(dòng)嚴(yán)重,在儀器串加入旋轉(zhuǎn)短節(jié),可以消除儀器自轉(zhuǎn)造成的1號(hào)極板方位變化。

1.3 儀器刻度

儀器的刻度就是對(duì)測(cè)井儀器進(jìn)行標(biāo)定,找出測(cè)量值與工程值之間的轉(zhuǎn)換關(guān)系。XRMI儀器刻度分為井徑刻度,電阻率刻度和導(dǎo)航包刻度三個(gè)部分,準(zhǔn)確的刻度是判斷儀器工作正常與否、儀器穩(wěn)定性及保證測(cè)井采集質(zhì)量最重要的環(huán)節(jié)。

XRMI儀器刻度注意事項(xiàng):

1) Motor Voltage刻度過(guò)程中應(yīng)將推靠開到100%狀態(tài),在收攏推靠過(guò)程中測(cè)量?jī)x器31芯與32芯之間DC電壓為100 V,點(diǎn)擊刻度開始采樣;

2)Pressure Min、Pressure Max 刻度過(guò)程中推靠應(yīng)為完全收攏、完全打開狀態(tài),井徑刻度采用的井徑大小環(huán)為7、15 in(1 in=25.4 mm);

3) 電阻率刻度過(guò)程中采用5 kΩ的電阻盒對(duì)6個(gè)極板分別進(jìn)行刻度,每個(gè)極板不允許存在壞鈕扣;

4) 導(dǎo)航包刻度過(guò)程中應(yīng)根據(jù)刻度環(huán)境輸入相對(duì)應(yīng)的磁場(chǎng)強(qiáng)度值。

2 測(cè)井質(zhì)量控制

隨著勘探難度的增加,為了滿足地質(zhì)勘探需求,預(yù)探井加測(cè)成像測(cè)井項(xiàng)目。規(guī)范的作業(yè)流程及測(cè)井過(guò)程中選擇合適的測(cè)井模式、參數(shù)是獲取優(yōu)質(zhì)微電阻率成像采集資料的保證。

2.1 測(cè)井準(zhǔn)備

“三分測(cè)井,七分準(zhǔn)備”,在基地做好儀器的保養(yǎng)、維修工作,堅(jiān)決把隱患、故障消除在萌芽狀態(tài),在測(cè)井之前必須對(duì)地面系統(tǒng)及井下儀進(jìn)行連斜校驗(yàn)、旋轉(zhuǎn)檢查,對(duì)電扣進(jìn)行靈敏度檢查,確保儀器工作正常。

2.2 極板壓力

XRMI測(cè)井需要6個(gè)極板完全貼靠井壁,極板壓力的大小決定采集資料的好壞,極板壓力偏低會(huì)導(dǎo)致所采集地層信息模糊,極板壓力偏大導(dǎo)致儀器遇卡嚴(yán)重,采集圖像失真。所以測(cè)井過(guò)程中應(yīng)針對(duì)不同地層選取不同的極板壓力,提高采集質(zhì)量精度。測(cè)井現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)根據(jù)常規(guī)曲線選擇井況好、砂巖多的目的地層調(diào)整極板壓力。本文統(tǒng)計(jì)了35口井不同地層測(cè)井采集所選取的極板壓力范圍,總結(jié)歸納出了鄂爾多斯盆地不同地層極板壓力的選擇范圍,不同地層極板壓力選取范圍見表1。

表1 不同地層極板壓力選取范圍表 %

2.3 測(cè)速

測(cè)井速度直接影響采集資料的精度,哈里伯頓操作手冊(cè)指出,微電阻率成像測(cè)井標(biāo)準(zhǔn)測(cè)速6~9 m/min。不同井況、不同地層,不同的測(cè)井速度影響微電阻率成像資料的優(yōu)等品率。測(cè)速過(guò)慢導(dǎo)致測(cè)井時(shí)效低,測(cè)速過(guò)快儀器遇卡嚴(yán)重,微電阻率成像圖像質(zhì)量差。對(duì)50口井不同測(cè)速的采集資料處理對(duì)比發(fā)現(xiàn),微電阻率成像測(cè)井最優(yōu)測(cè)速為6~7 m/min。不同測(cè)速成像效果對(duì)比見表2。

表2 不同測(cè)速成像效果對(duì)比表

2.4 扶正器

扶正器是測(cè)井過(guò)程儀器居中的前提,測(cè)井過(guò)程中儀器居中測(cè)量,才能測(cè)出真實(shí)的井眼軌跡,為后期的解釋提供真實(shí)的資料。通過(guò)在不同井次采用橡膠扶正器,燈籠體扶正器,八爪扶正器對(duì)比發(fā)現(xiàn),在微電阻率成像儀底部掛接燈籠體扶正器,儀器居中效果能達(dá)到最優(yōu)化,測(cè)井過(guò)程中可以確保測(cè)井儀探頭居中,6個(gè)極板受力均勻,圖像質(zhì)量好。

2.5 鉆井液

XRMI儀設(shè)計(jì)測(cè)量電阻率范圍為0.2~10 000 Ω·m,由于鉆井目的不同,在鉆進(jìn)過(guò)程中采用不同的鉆井液及在鉆井過(guò)程中由于井漏、卡鉆等原因在鉆井液中加入解卡劑、化學(xué)藥品、磺基、鋸末、重晶石、石墨、塑料小球、液固體潤(rùn)滑劑等材料均對(duì)微電阻率成像測(cè)井采集質(zhì)量造成影響,需在測(cè)井作業(yè)前處理更換鉆井液。

如S*井,由于卡鉆,鉆井液中加入解卡劑、化學(xué)藥品、磺基,泥漿電阻率井底0.2 Ω·m。微電阻率成像圖像模糊,出現(xiàn)很多豎線,無(wú)法清晰反應(yīng)地層信息。

3 XRMI測(cè)井資料地質(zhì)應(yīng)用

成像數(shù)據(jù)可以提供高分辨率井眼圖像,為測(cè)井解釋人員、地質(zhì)工作者和儲(chǔ)層工程師提供直觀、有用的地質(zhì)信息。

3.1 劃分薄層

XRMI測(cè)井分辨率高,是常規(guī)測(cè)井分辨率的30~40倍,可對(duì)0.2 ft以上地層精確成像。在圖像上由于泥巖呈現(xiàn)暗色,砂巖呈現(xiàn)淺色的顏色變化與巖心照片、露頭剖面及取心剖面上的巖性的變化有較好的對(duì)比性,有利于薄層的劃分。

3.2 裂縫識(shí)別

由于泥漿在鉆井過(guò)程中侵入裂縫中,導(dǎo)致裂縫的電阻率低于圍巖,在成像圖上顯示為暗色條紋,對(duì)于不同類型、成因的裂縫具有不同的成像特征[5]。成像資料可用于識(shí)別裂縫類型、計(jì)算裂縫高度、產(chǎn)狀,分析裂縫發(fā)育程度,具有方向的確定性。圖1所示為Y*井1 690.2~1 692.1 m微電阻率成像特征圖,不規(guī)則裂縫發(fā)育明顯,并見有溶蝕孔發(fā)育。

圖1 Y*井1 690.2~1 692.1 m微電阻率成像特征圖

3.3 層理特征、層內(nèi)巖石結(jié)構(gòu)分析

微電阻率成像測(cè)井資料分辨率高、數(shù)據(jù)量大、精度高,對(duì)地層巖石電阻率變化反映靈敏,能夠清晰地呈現(xiàn)巖石構(gòu)造特征,可進(jìn)行巖石結(jié)構(gòu)分析[6];成像資料可以提取地層的層理傾角、傾向,從而反映沉積能量、層理類型、古水流方向等沉積特征的變化,為沉積環(huán)境分析提供了可靠的保證[7]。

圖2為 L*井2 658.0~2 671.0 m微電阻率成像特征圖。

圖2 L*井2 658.0~2 671.0 m微電阻率成像特征圖

常規(guī)測(cè)井解釋64層為含油水層,63、65為干層。該段砂體儲(chǔ)層電成像靜態(tài)圖像自上而下變明亮,說(shuō)明地層電阻率隨著深度增加而變高。從動(dòng)態(tài)圖像上看,儲(chǔ)層內(nèi)有明暗相間的條帶,反映儲(chǔ)層非均質(zhì)性強(qiáng),層理發(fā)育,砂體上部和下部層理類型以交錯(cuò)層理為主,中部以平行層理為主。該砂體內(nèi)及上下圍巖均無(wú)裂縫發(fā)育。

3.4 地應(yīng)力分析

對(duì)于應(yīng)力不平衡地層,地應(yīng)力方位與井眼崩落及誘導(dǎo)縫的方位關(guān)系密切,在鉆井過(guò)程中不斷釋放構(gòu)造應(yīng)力,從而會(huì)引起井眼在最小水平主應(yīng)力方向的應(yīng)力跨塌,以及產(chǎn)生最大主應(yīng)力方向的鉆井誘導(dǎo)縫[8]。因此最小或最大主應(yīng)力方向可以通過(guò)分析成像圖上鉆井誘導(dǎo)縫及井眼崩落的發(fā)育方位確定。

4 結(jié) 論

1)測(cè)井質(zhì)量受控于儀器刻度、測(cè)速、極板壓力、儀器居中情況、鉆井液等因素,規(guī)范操作、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)速、合適極板壓力、達(dá)標(biāo)的鉆井液是采集優(yōu)質(zhì)原始資料的前提。

2)成像測(cè)井資料可用于劃分薄層、識(shí)別裂縫、分析層理特征、層內(nèi)巖石結(jié)構(gòu)及地應(yīng)力分析,為油田勘探開發(fā)提供依據(jù)。

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