一、會議主題

微電子技術(shù)是當(dāng)代技術(shù)革命的先導(dǎo)與核心，微電子技術(shù)的發(fā)展，離不開微電子計量與測試技術(shù)的保障。一方面，微電子器件的高速發(fā)展及高端測試系統(tǒng)的廣泛應(yīng)用，給微電子器件參數(shù)的計量與測試帶來了極大的挑戰(zhàn)。另一方面，微電子器件國產(chǎn)化是我國國家發(fā)展戰(zhàn)略，國家集成電路產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展，是我國高質(zhì)量發(fā)展的重要保障，也帶來了國產(chǎn)化器件參數(shù)的計量與測試新問題、新挑戰(zhàn)。

為加強國內(nèi)外學(xué)術(shù)界與工業(yè)界的交流與溝通，深入解析微電子計量與測試的國際化發(fā)展趨勢，促進微電子器件國產(chǎn)化高質(zhì)量發(fā)展，擬定于2021 年4 月在武漢召開“2021 年微電子計量測試技術(shù)交流會”，歡迎相關(guān)領(lǐng)域的專家、學(xué)者和研究工作者踴躍投稿。

本次會議的主題是“保障微電子器件國產(chǎn)化高質(zhì)量發(fā)展”，希望本次會議能為國內(nèi)外從事微電子計量與測試相關(guān)行業(yè)的專家、學(xué)者建立一個交流、研討的平臺，通過這個平臺來展示和交流國內(nèi)內(nèi)微電子計量與測試領(lǐng)域的最新成果、標(biāo)準(zhǔn)和產(chǎn)品，分享微電子器件國產(chǎn)化帶來的計量測試新需求、新成果，促進我國微電子計量與測試技術(shù)的發(fā)展，保障我國微電子器件國產(chǎn)化高質(zhì)量發(fā)展。

二、征文范圍（包括但不限于以下內(nèi)容）

微電子計量：·微電子計量校準(zhǔn)技術(shù)·集成電路制造/測試/試驗設(shè)備計量技術(shù)·特殊環(huán)境下微電子計量測試技術(shù)·信息域計量測試技術(shù)·綜合電子信息系統(tǒng)計量測試技術(shù)元器件測試：·集成電路測試與驗證技術(shù)·元器件老煉中測試技術(shù)元器件可靠性：·元器件可靠性分析與提升技術(shù)·元器件失效分析技術(shù)·元器件可靠性試驗與評價技術(shù)·環(huán)境試驗/應(yīng)力篩選試驗技術(shù)實驗室體系：·計量綜合管理·實驗室體系管理

三、投稿與出版

1.投稿論文不得涉及國家秘密，請投稿前完成脫密處理。

2.論文不超過5000字，論文題目、作者單位、摘要和關(guān)鍵詞應(yīng)中英文對照；參考文獻不少于10篇，中文參考文獻應(yīng)附英文翻譯；稿件后請附作者簡介，并提供第一作者的聯(lián)系電話和E-mail 地址（論文格式詳見附件一，電子版可訪問www.709journal.com下載）。

3.請將投稿論文word電子版本發(fā)送到電子郵箱（E-mail：cmmt709@163.com）。

4.會議優(yōu)錄的論文將在《計算機與數(shù)字工程》期刊正式發(fā)表（中國科技核心期刊）。

四、重要日期

投稿截止時間：2020年10月31日；

論文錄用通知：2021年1月31日；

會議召開日期：2021年4月。

五、組織機構(gòu)

主辦單位：國防科技工業(yè)微電子一級計量站（中國船舶重工集團公司第七〇九研究所）北京航空航天大學(xué)可靠性工程研究所

協(xié)辦單位：《計算機與數(shù)字工程》編輯部

六、聯(lián)系方式

聯(lián) 系 人：劉 倩027-81569210/13476020254

周 紅027-87534410/13971447132

傳 真：027-81569333

投稿郵箱：cmmt709@163.com

通信地址：武漢市藏龍島開發(fā)區(qū)藏龍大道709號

郵 編：430205