韓 偉 陳傳生 宋亞偉 晏 凱
(空軍預(yù)警學(xué)院 武漢 430019)
相控陣天線是相控陣?yán)走_(dá)的重要組成部分,對(duì)雷達(dá)探測(cè)性能的發(fā)揮起著關(guān)鍵作用[1]。相控陣天線一般由大量天線單元組成,當(dāng)少數(shù)幾個(gè)天線單元出現(xiàn)故障時(shí)并不一定會(huì)使雷達(dá)探測(cè)性能出現(xiàn)明顯下降,只有當(dāng)失效單元數(shù)量達(dá)到一定值時(shí)才會(huì)嚴(yán)重影響雷達(dá)探測(cè)性能。因此,相控陣天線單元的維修保障問題屬于典型的k/n系統(tǒng)問題[2]。在此基礎(chǔ)上,一些學(xué)者研究了天線陣元失效與天線性能之間的關(guān)系,用設(shè)計(jì)密度加權(quán)陣的思想來分析陣元失效問題,產(chǎn)生了一系列的研究成果[3-5]。然而,這些文獻(xiàn)認(rèn)為處于不同位置的陣元對(duì)天線性能的影響是相同的,只研究了陣元的失效率對(duì)天線性能的影響,并沒有研究不同位置的陣元失效對(duì)天線性能的影響。文獻(xiàn)[6-7]建立了天線陣列區(qū)域量化模型,研究了不同位置的陣元對(duì)天線性能的影響,以此作為天線陣列維修的理論依據(jù),但文中僅考慮了天線增益和天線副瓣等性能指標(biāo),不能夠全面描述雷達(dá)探測(cè)性能的影響;文獻(xiàn)[8]建立了考慮天線主瓣增益和副瓣電平的雷達(dá)探測(cè)性能評(píng)估模型,但僅考慮了一維線性陣列故障的影響及維修策略;文獻(xiàn)[9]則針對(duì)平面控陣天線進(jìn)行損傷分析,利用方向圖形狀的變化進(jìn)行損傷評(píng)估。
本文針對(duì)相控陣?yán)走_(dá)二維天線陣的維修策略進(jìn)行研究,引入了天線增益、主瓣展寬和主副瓣比等指標(biāo)評(píng)估探測(cè)性能,通過分析不同數(shù)量、不同位置陣元對(duì)雷達(dá)探測(cè)性能的影響,總結(jié)不同故障條件下的影響規(guī)律,最后提出相應(yīng)的裝備維修策略。
大多數(shù)三坐標(biāo)相控陣?yán)走_(dá)均采用平面相控陣天線,這里指天線單元分布在平面上,天線波束在方位與仰角兩個(gè)方向上均可進(jìn)行相位掃描的陣列天線。
如圖1所示,天線單元按等間距排列,陣列在zoy平面上共有M×N個(gè)天線單元,水平和垂直方向上的單元間距分別為d1和d2,目標(biāo)方向上的角度關(guān)系如圖2所示,則相鄰單元之間的空間相位差沿y軸(水平)和z軸(垂直)方向分別表示為
圖1 天線陣元排列方式
圖2 角度關(guān)系
(1)
(2)
若第(i,k)單元幅度加權(quán)系數(shù)為αik,則圖1所示平面相控陣天線的方向圖函數(shù)表示為[10]
(3)
其中,α和β分別為水平方向和垂直方向上的陣內(nèi)相位差,由圖2可知
cosαz=sinθ
(4)
cosαy=cosθsinφ
(5)
則平面相控陣天線方向圖函數(shù)又可表示為
(6)
當(dāng)天線陣元不進(jìn)行幅度加權(quán),即aik=1時(shí),天線方向圖F(θ,φ)可表示為
(7)
因此,方向圖函數(shù)可表示為
|F(θ,φ)|=|F1(θ,φ)|·|F2(θ)|
(8)
其中,|F1(θ,φ)|是水平線陣方向圖,|F2(θ)|是垂直線陣的方向圖。在雷達(dá)實(shí)際應(yīng)用中,為了降低天線方向圖的副瓣,通常對(duì)天線陣元進(jìn)行幅度加權(quán),本文后續(xù)的分析均在加切比雪夫權(quán)的條件下進(jìn)行。
假設(shè)波束方向?yàn)殛嚸娣ㄏ?,即?β=0,M=N=16,d1=d2=λ/2,采用-35dB切比雪夫加權(quán),天線陣面的二維方向圖如圖3所示。
圖3 切比雪夫權(quán)條件下的天線二維方向圖
假設(shè)陣元故障不能輻射電磁波,則陣元激勵(lì)的電磁波幅度為0,因此,陣元故障條件下的天線方向圖可作如下考慮
(9)
其中,K為切比雪夫加權(quán)幅度值,把式(9)代入式(6)即可得陣元故障條件下的天線方向圖表達(dá)式。
這里,選取天線水平方向圖分析陣元故障對(duì)天線方向圖的影響。仿真參數(shù):天線陣列數(shù)N=30,采用-30dB切比雪夫加權(quán)。圖4為天線陣元無故障和部分故障條件下的方向圖。從中可以看到,陣元故障導(dǎo)致方向圖的主瓣增益下降,主瓣寬度增加以及副瓣升高,這些變化均對(duì)雷達(dá)探測(cè)性能產(chǎn)生不利影響,在后面將會(huì)具體分析。
圖4 天線方向圖比較
由經(jīng)典雷達(dá)方程可知,天線方向圖是影響雷達(dá)探測(cè)性能的重要因素[11],方向圖的主瓣增益、主瓣展寬和主副瓣比是衡量方向圖質(zhì)量的三個(gè)要素。其中,主瓣增益直接決定了目標(biāo)回波的信噪比,主瓣增益越大,回波信噪比越大,主瓣寬度直接決定了角度分辨率和測(cè)角精度,主瓣越窄,角度分辨率和測(cè)角精度越高,主副瓣比決定了抗干擾性能,主副瓣比越大,抗干擾性能越好。
因此,可用以上三個(gè)指標(biāo)表征雷達(dá)探測(cè)性能。探測(cè)性能評(píng)估分值采用三個(gè)指標(biāo)分值的加權(quán)平均求得,權(quán)重分配為主瓣增益占50%,主瓣展寬占20%,主副瓣比占30%,表示為:探測(cè)性能分值=主瓣增益/參考值×100×50%+參考值/主瓣寬度×100×20%+主副瓣比/參考值×100×30%。其中,參考值為天線無故障時(shí)的主瓣增益、主瓣寬度和主副瓣比,另外,天線陣元故障既影響發(fā)射方向圖,也影響接收方向圖。根據(jù)雷達(dá)方程可知,天線總的增益為
F(θ)=Ft(θ)·Fr(θ)
(10)
其中,F(xiàn)t(θ)和Fr(θ)分別為發(fā)射方向圖增益和接收方向圖增益。因此,探測(cè)性能分值中的主瓣增益為發(fā)射和接收方向圖增益的乘積,主瓣寬度和主副瓣比均采用接收方向圖進(jìn)行計(jì)算。
天線無故障條件下的探測(cè)性能評(píng)估分值為100。這里,我們將探測(cè)性能分為以下三級(jí):
1)正常:90<探測(cè)性能分值≤100;
2)堪用:80<探測(cè)性能分值≤90;
3)不可用:探測(cè)性能分值≤80。
如圖5所示,對(duì)天線模塊按照行列順序設(shè)置序號(hào)(i,j),i=0,1,2,…15;j=0,1,2,…15。
圖5 天線陣元排列序號(hào)
以接收天線為例,假設(shè)(4,4)~(8,8)范圍的模塊發(fā)生故障,即天線陣面中間部位連續(xù)25個(gè)模塊故障,得到接收方向圖如圖6所示,可以看到,其主瓣增益降低、主瓣變寬、副瓣升高,探測(cè)性能分值為72.69,按照探測(cè)性能等級(jí)劃分結(jié)果,此時(shí),裝備為不可用狀態(tài)。
這里,分析陣元故障數(shù)和故障陣元位置對(duì)探測(cè)性能的影響。
1)情形1:陣面邊緣處故障
如圖7所示,天線陣面邊緣處故障是指位于陣面邊緣的行或者列的陣元發(fā)生故障。下面,利用公式(6)對(duì)三種故障情況的探測(cè)性能進(jìn)行仿真。
①故障陣元位于天線陣面的第一行,即(0,0)~(0,15)范圍連續(xù)分布的模塊發(fā)生故障;
②故障陣元位于天線陣面的第一列,即(0,0)~(15,0)范圍連續(xù)分布的模塊發(fā)生故障;
③故障陣元位于天線陣面的邊緣行和邊緣列,且離散分布。
三種情況下,探測(cè)性能分值隨故障陣元數(shù)目的變化情況如圖8所示??梢钥吹?,故障陣元連續(xù)分布對(duì)探測(cè)性能的影響大于離散分布。
圖7 天線陣面故障部位
圖8 三種情況下的探測(cè)性能分值比較
2)情形2:陣面中間行或中間列陣元故障
圖9為陣面中間行或中間列陣元故障分布的示意圖,利用公式(6)對(duì)三種故障情況的探測(cè)性能進(jìn)行仿真。
①假設(shè)故障陣元位于天線陣面中間的第K列,這里K取7,即(0,7)~(15,7)范圍連續(xù)分布的模塊發(fā)生故障;
②假設(shè)故障陣元位于天線陣面中間的第K行,這里K取7,即(7,0)~(7,15)范圍連續(xù)分布的模塊發(fā)生故障。
圖9 天線陣面故障部位
兩種情況下,探測(cè)性能分值隨故障陣元數(shù)目的變化情況分別如圖10和圖11所示,可以看到,陣面中間行和中間列部位故障對(duì)探測(cè)性能的影響大于邊緣處。
圖10 探測(cè)性能分值隨故障陣元數(shù)目的變化(中間列)
圖11 探測(cè)性能分值隨故障陣元數(shù)目的變化(中間行)
3)情形3:陣面中間部位故障
如圖12所示,假設(shè)故障陣元位于天線陣面中間的部位,按照(6,6),(6,6)~(7,7),(6,6)~(8,8),(6,6)~(9,9)范圍連續(xù)分布的模塊故障順序進(jìn)行分析,可得如圖13所示的模塊不同故障數(shù)目條件下的探測(cè)性能分值。
圖12 天線陣面故障部位
圖13 探測(cè)性能分值隨故障陣元數(shù)目的變化
從以上三種情形的結(jié)果可得到如下規(guī)律:
1)隨著故障陣元數(shù)的增加,天線方向圖惡化越嚴(yán)重,探測(cè)性能變差,邊緣處陣元故障的影響較小,即使第一行或第一列的全部模塊(16個(gè)模塊,16×4×4個(gè)陣元)全部故障,探測(cè)性能分值能夠保持在90以上;
2)在天線陣面邊緣處,行陣元故障和列陣元故障對(duì)探測(cè)性能的影響程度大致相同,在天線陣面中間部位,行陣元故障對(duì)探測(cè)性能的影響程度稍大于列陣元影響;
3)天線中間部位陣元故障對(duì)探測(cè)性能影響程度要顯著大于邊緣區(qū)域,越靠近中間部位,影響程度越大。
本文建立的探測(cè)性能評(píng)估模型可用于定量分析天線不同陣元或模塊故障對(duì)裝備效能的影響。因此,可將該模型嵌入到該型裝備的效能評(píng)估系統(tǒng)中,結(jié)合天線陣元的BITE,實(shí)時(shí)顯示當(dāng)前裝備探測(cè)性能評(píng)估分值,以確定故障對(duì)裝備效能的影響程度,為技術(shù)人員裝備維修保障提供輔助決策。根據(jù)本文劃分的探測(cè)性能等級(jí)將故障分為停機(jī)故障和低效故障兩類。當(dāng)BITE報(bào)出天線陣元故障時(shí),如果探測(cè)性能評(píng)估分值維持60以上,表示裝備探測(cè)性能下降,但基本可完成當(dāng)前任務(wù),此時(shí)可將該故障視為低效故障;如果探測(cè)性能評(píng)估分值在60以下,表示裝備無法完成當(dāng)前任務(wù),則將該故障視為停機(jī)故障,天線陣元故障數(shù)較多,且大多位于陣面中間部位時(shí),對(duì)性能影響較大,一般屬于停機(jī)故障。
當(dāng)判斷為停機(jī)故障時(shí),指揮員應(yīng)組織技術(shù)保障人員迅速進(jìn)行搶修。搶修過程中,關(guān)閉電源,整機(jī)停止工作,直至設(shè)備修復(fù)。當(dāng)判斷為低效故障時(shí),觀察探測(cè)性能評(píng)估分值的變化情況,如果分值維持在80~100之間,則基本不影響任務(wù)的完成,可組織技術(shù)人員在戰(zhàn)備值班結(jié)束后進(jìn)行集中維修;如果分值維持在60~80之間,且雷達(dá)實(shí)際探測(cè)效果較差時(shí),也需要進(jìn)行停機(jī)維修。
第2節(jié)中的分析提供了天線不同故障部位和不同故障范圍對(duì)雷達(dá)探測(cè)性能的量化影響,可以根據(jù)不同的量化影響程度確定維修的先后次序,合理分配維修資源,實(shí)現(xiàn)裝備維修保障效益的最大化。
根據(jù)前面分析得到的“中間部位故障影響大于兩邊”、“故障陣元連續(xù)分布影響大于離散分布”兩個(gè)規(guī)律,可采取以下維修策略:
1)由于時(shí)間資源有限,在組織停機(jī)維修期間,應(yīng)集中優(yōu)勢(shì)力量,優(yōu)先搶修重要性程度高的陣元模塊,如中間部位和邊緣部位均有故障,則優(yōu)先搶修中間部位;如故障陣元模塊有連續(xù)分布的,也有離散分布的,則優(yōu)先搶修連續(xù)分布的陣元。搶修時(shí),應(yīng)優(yōu)先采用換件維修方式,用陣元模塊備件替換故障模塊。
2)在備件資源不足的情況下,應(yīng)將有限的資源優(yōu)先保障重要性程度高的陣元模塊,如果部分重要陣元模塊仍無備件更換時(shí),則可用重要程度較低的模塊進(jìn)行更換,如可用邊緣部位的模塊更換中間部位故障模塊,此時(shí),可使雷達(dá)裝備開機(jī)時(shí)探測(cè)性能達(dá)到一個(gè)相對(duì)較高的水平,滿足完成一般探測(cè)任務(wù)的要求,被替換的邊緣部位的故障模塊則可組織技術(shù)保障人員在維修室進(jìn)行集中修理,不影響探測(cè)的完成。
本文研究了相控陣?yán)走_(dá)天線陣元故障的影響及維修策略問題,首先根據(jù)該型雷達(dá)的天線結(jié)構(gòu)特點(diǎn)進(jìn)行了二維面陣天線方向圖仿真,并結(jié)合天線方向圖的主副瓣特征和影響建立了雷達(dá)探測(cè)性能評(píng)估模型,用于定量評(píng)估陣元故障對(duì)雷達(dá)探測(cè)性能影響;然后采用評(píng)估模型對(duì)該型相控陣?yán)走_(dá)天線陣列不同故障條件下的影響規(guī)律進(jìn)行了分析;最后,利用分析得到的影響規(guī)律提出了戰(zhàn)時(shí)裝備維修策略。本文的研究成果可為指揮員進(jìn)行戰(zhàn)時(shí)裝備維修資源調(diào)度提供參考依據(jù)。