劉 洪,劉新遠(yuǎn)
(廣西通用機(jī)械產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)站,廣西 南寧 530001)
榨輥軸是糖廠生產(chǎn)重要設(shè)備之一,對(duì)甘蔗汁榨出必不可少。在整個(gè)榨季中,榨輥軸在交變力作用下,極易產(chǎn)生裂紋發(fā)生斷軸。一旦斷軸,整個(gè)壓榨流程就得停止,對(duì)斷軸進(jìn)行更換。如一間日榨一萬噸的糖廠,以最低蔗糖出糖率百分之十,糖價(jià)6000元/噸計(jì)算,停榨才能更換榨輥,這就拉長了榨季時(shí)間,降低綜合經(jīng)濟(jì)效益約600萬元。因?yàn)檎ポ佪S的重要性,糖廠每次停榨檢修期間,都要對(duì)榨輥軸進(jìn)行無損探傷檢測(cè),根據(jù)檢測(cè)裂紋深度結(jié)果,判斷榨輥軸是否進(jìn)行修補(bǔ)或進(jìn)行報(bào)廢處理。斷裂的榨輥軸實(shí)物圖,如圖1所示。
圖1 斷裂的榨輥軸
圖2為糖廠榨輥軸檢測(cè)位置示意圖,其中A、B、C、D、E為臺(tái)階位,由于截面變化,造成應(yīng)力集中。輥殼和榨輥軸是由熱套組裝而成,在緊箍位置附近也容易造成應(yīng)力集中。輥殼在工作中壓榨甘蔗,荷載由輥殼傳導(dǎo)至中心軸,在交變力的作用下,這些位置容易產(chǎn)生裂紋,是檢測(cè)中的重點(diǎn)監(jiān)測(cè)位置。
目前無損探傷檢測(cè)常規(guī)使用的方法有:超聲檢測(cè)、射線檢測(cè)、磁粉檢測(cè)、滲透檢測(cè)和渦流檢測(cè)。
超聲檢測(cè),適用于工件內(nèi)部缺陷的檢測(cè),可用于超過100mm大厚度材料的檢測(cè),能確定缺陷的位置和相對(duì)尺寸,但較難確定體積狀缺陷和面狀缺陷的性質(zhì)。
射線檢測(cè),適用于幾乎所有材料,但對(duì)裂紋缺陷有方向性限制,較難檢出厚鍛件中存在的缺陷,較難確定缺陷的深度位置和自身高度,且射線對(duì)人體有傷害,需要嚴(yán)格安全防護(hù)。
磁粉檢測(cè),適用于鐵磁性材料的表面和近表面缺陷檢出,靈敏度高,可檢缺陷最小寬度為1μm,但難以確定缺陷自身高度。
滲透檢測(cè),適用于表面開口缺陷,但難以確定缺陷自身高度。
圖2 榨輥軸檢測(cè)位置示意圖
渦流檢測(cè),適用于導(dǎo)電材料自動(dòng)化檢測(cè),可以檢測(cè)表面和近表面缺陷,但較難檢測(cè)出缺陷的自身寬度和準(zhǔn)確深度。
在糖廠榨輥軸的檢測(cè)中,因?yàn)檎ポ佪S直徑超過100mm,且射線有害,必須清場(chǎng),現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)不適用。滲透檢測(cè)只能檢測(cè)表面開口缺陷,例如對(duì)于修復(fù)后榨輥軸的埋藏缺陷即表面未開口,以前修復(fù)裂紋時(shí),氣刨后清根未徹底就焊接留下缺陷,不能檢出,現(xiàn)場(chǎng)不適用。渦流檢測(cè)適合自動(dòng)化生產(chǎn),檢測(cè)表面和近表面缺陷,但較難檢測(cè)出缺陷的自身寬度和準(zhǔn)確深度,現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)不適用。磁粉探傷直觀,可見磁痕,靈敏度高,儀器攜帶方便,但磁粉檢測(cè)只能檢測(cè)表面和近表面缺陷,深層缺陷不能檢出,不能確定缺陷的深度,且輥殼內(nèi)榨輥軸由于輥殼的阻擋,不能檢測(cè),可以做為輔助手段。超聲檢測(cè)對(duì)于大厚度的榨輥軸穿透能力強(qiáng),輥殼不形成阻擋,能確定缺陷在榨輥軸上的位置和深度,十分適用。所以在檢測(cè)榨輥軸過程中,輥殼外和輥殼內(nèi)榨輥軸用超聲檢測(cè)通體檢測(cè),確定缺陷的位置和相對(duì)尺寸,用磁粉檢測(cè)做為輔助手段對(duì)輥殼外檢測(cè)部位進(jìn)行檢測(cè)。
因此,目前超聲檢測(cè)是糖廠榨輥軸檢測(cè)的一種常用且必要的手段。超聲檢測(cè)UT是五大常規(guī)無損探傷檢測(cè)技術(shù)之一,是目前國內(nèi)外應(yīng)用最廣泛,使用頻率最高且發(fā)展較快的一種無損探傷檢測(cè)技術(shù)。超聲檢測(cè)的工作原理有如下幾點(diǎn)。
第一,聲源產(chǎn)生超聲波,采用一定的方式超聲波進(jìn)入工件。
第二,超聲波在工件中傳播并與工件材料以及其中的缺陷相互作用,使其傳播方向或特征被改變。
第三,改變后的超聲波通過檢測(cè)設(shè)備被接受,并可對(duì)其進(jìn)行處理和分析。
第四,根據(jù)接受的超聲波特征,評(píng)估工件本身及其內(nèi)部是否存在缺陷及缺陷的特征。
糖廠榨輥軸材料為鋼鍛件,如用常規(guī)直探頭在端面進(jìn)行檢測(cè),由于工件存在臺(tái)階,軸承座位置存在圓弧,只有在最外端面才可進(jìn)行檢測(cè)。這種情況下,只有輥殼內(nèi)裂紋達(dá)到相當(dāng)深度才可被檢測(cè)到,容易造成漏檢?,F(xiàn)對(duì)輥殼內(nèi)缺陷,必須用橫波斜探頭進(jìn)行檢測(cè)。
對(duì)于裂紋的垂直深度和水平距離的判定,也與常規(guī)斜探頭檢測(cè)有所不同:在垂直深度方面,如果出現(xiàn)雙波峰即缺陷在屏幕上顯示很近的兩個(gè)波峰,一般方法是前后拖動(dòng)探頭,用閘門套住最高波,直接讀出垂直深度和水平距離,現(xiàn)經(jīng)過多年總結(jié),把檢測(cè)范圍縮小,使得雙波峰之間距離相對(duì)拉開,把雙波峰的前波拖到最高波,用閘門套住波峰讀取裂紋深度,這種做法準(zhǔn)確率相對(duì)高。
在裂紋的水平距離的判定上,常規(guī)的把波峰拖到最高,用閘門套住波峰直接讀取儀器數(shù)值,往往有誤差,現(xiàn)在改用表面波法,準(zhǔn)確率可以達(dá)到百分之百。同側(cè)法用K2、K2.5探頭檢測(cè)裂紋深度和水平距離時(shí),前后拖動(dòng)探頭經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)一個(gè)突然拉起又很快消失的波峰,往往會(huì)被人誤判。而DAC曲線法對(duì)榨輥軸環(huán)向裂紋進(jìn)行檢測(cè)判定,并不適用,榨輥軸環(huán)向裂紋并沒有安全區(qū)、評(píng)定區(qū)和判廢區(qū),榨輥軸是否繼續(xù)使用或者需要檢修,甚至報(bào)廢,是由委托方根據(jù)本單位實(shí)際情況來決定的。
由于榨輥軸在工作時(shí)是做圓周轉(zhuǎn)動(dòng),所以榨輥上的環(huán)向裂紋是最有可能產(chǎn)生和最具有危害的缺陷。根據(jù)多年的檢測(cè)經(jīng)驗(yàn),榨輥軸在軸承座的軸頸圓弧的B、C、D、E位置、臺(tái)階位置即是C、D靠近輥殼位置、輥殼與榨輥軸的箍緊位置附近即輥殼內(nèi)大約距離C、D位置200mm附近以及方頭位置即是A位置,是與聯(lián)軸器相連的位置,這些都是最容易產(chǎn)生環(huán)向裂紋。
由于環(huán)向裂紋的方向性問題,一般選用斜探頭檢測(cè),檢測(cè)流程為:第一步,在CSK-IA型試塊上確定探頭的K值、零點(diǎn)和前沿。第二步,用直探頭確認(rèn)榨輥軸軸頸位直徑以及軸頸相鄰臺(tái)階直徑。第三步,用已知軸頸相鄰臺(tái)階位直徑校調(diào)斜探頭所用聲速。第四步,用已知臺(tái)階直徑取基本波高,一般取屏幕的百分之八十,以HS620型數(shù)字式超聲波探傷儀為例,正常值約為70dB。第五步,提高12dB對(duì)工件進(jìn)行掃查。
對(duì)于儀器屏幕上出現(xiàn)的波峰,要做具體分析,了解工件的結(jié)構(gòu)和尺寸,由于結(jié)構(gòu)的原因引起的波峰,比如臺(tái)階引起的波峰,有時(shí)背對(duì)臺(tái)階也有波峰產(chǎn)生,根據(jù)有關(guān)文獻(xiàn),這個(gè)可能與表面波的干擾有關(guān),可排除在外。
對(duì)榨輥上出現(xiàn)的腐蝕槽進(jìn)行具體分析,即輥殼與中心軸連接處附近經(jīng)常出現(xiàn),由于蔗汁腐蝕經(jīng)常有淺槽出現(xiàn),如糖廠方允許,可拆開擋板進(jìn)行打磨后,再用磁粉檢測(cè)確認(rèn)裂紋是否修補(bǔ)好。
對(duì)于在圓周方向移動(dòng)K1探頭,移動(dòng)一段距離后波峰消失的缺陷,有可能是小段裂紋,也有可能是夾雜,此時(shí)可以看所在深度,若缺陷在榨輥軸中心附近,根據(jù)多年檢測(cè)經(jīng)驗(yàn),榨輥裂紋一般產(chǎn)生在表層,再往中心發(fā)展,所以基本可以排除裂紋可能性,再結(jié)合dB值判定,如70dB可以得到基準(zhǔn)波高即在屏幕百分之八十處,缺陷波高大于屏幕百分之八十處則在100dB以上,也可以排除裂紋的可能性。
對(duì)于環(huán)向達(dá)到圓周四分之一到整圈波峰,如果基本波高容易產(chǎn)生,缺陷波高提高十幾dB就可達(dá)到基本波高高度,基本可以判定是環(huán)向裂紋,此時(shí)可環(huán)向加前后掃查,找到最高波讀出裂紋深度,如出現(xiàn)雙波峰,可調(diào)整探測(cè)范圍,使得波峰分開,仔細(xì)調(diào)整閘門套住前波,讀出前波最高波峰時(shí)候的深度值。環(huán)向裂紋水平位置的數(shù)值,在最高波峰時(shí)由儀器直接讀出往往有偏差,這是由于探頭的零點(diǎn)、前沿和K值的確定,是由試塊測(cè)試得來,而工件的材料與試塊有差異,工件的厚度也比試塊的厚度大得多,CSK-IA型試塊的厚度是一百毫米,而榨輥軸軸徑位的直徑可以達(dá)到500毫米,聲能損失較大,使得探傷儀的自動(dòng)計(jì)算出現(xiàn)失誤。這種在波峰時(shí)候讀出的水平距離,和實(shí)際距離的偏差可以達(dá)到幾十毫米,如果裂紋出現(xiàn)在輥殼與中心軸箍緊位附近,在返修時(shí)就要考慮是否破殼的問題,而一個(gè)榨輥殼的成本是幾萬塊錢,破后就無法使用,只能換新殼,增加成本,所以水平尺寸的確定十分重要。
根據(jù)多年的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn),可用表面波讀數(shù)法取代傳統(tǒng)上的最高波讀數(shù)法,正確率基本可以達(dá)到百分之百,例如在一個(gè)直徑500毫米的軸上發(fā)現(xiàn)環(huán)向裂紋,此時(shí)不在最高波時(shí)讀出水平讀數(shù),而是前后拖動(dòng)探頭,當(dāng)探頭深度顯示500的時(shí)候,讀出波峰數(shù)值,此時(shí)才是裂紋水平位置的真實(shí)讀數(shù)。缺陷理論波形圖和缺陷實(shí)際波形圖,如圖3和圖4所示。
由于試塊材料、試塊厚度與工件的差異,導(dǎo)致聲能的損失,使得水平位置在波峰最高時(shí)候的讀數(shù),與實(shí)際位置存在差異。在厚度方向,最高波時(shí)儀器讀數(shù)和實(shí)際數(shù)值的差異一樣存在。為盡量減少誤差,在榨輥殼外的中心軸發(fā)現(xiàn)的裂紋,可以用同側(cè)法取代對(duì)側(cè)法,也就是用K2或者K2.5的探頭,以對(duì)側(cè)法所測(cè)出的裂紋深度做參考選用合適探頭,在裂紋附近進(jìn)行測(cè)量。
在檢測(cè)過程中,對(duì)雜波的排除相當(dāng)重要,初始波會(huì)在屏幕上占相當(dāng)寬度,而初始波是始終存在的,這時(shí)可以讓探頭離開工件,仍然存在的波,就是初始波,這個(gè)應(yīng)當(dāng)排除掉。探頭在裂紋旁邊前后移動(dòng),當(dāng)一個(gè)高的波峰出現(xiàn),又很快消失,這時(shí)后面再起的一個(gè)穩(wěn)定波峰,用閘門套住,讀出的深度值就是裂紋深度的真實(shí)值。
圖3 缺陷理論波形圖
圖4 缺陷實(shí)際波形圖
裂紋具有延伸特性,小裂紋會(huì)發(fā)展成大裂紋,最終導(dǎo)致斷軸,糖廠在每個(gè)榨季停榨后,都要對(duì)榨輥軸進(jìn)行檢測(cè),然后根據(jù)裂紋位置和深度,決定是否停用、報(bào)廢或者返修。
做為廠家判斷依據(jù)的裂紋水平距離和裂紋深度,得出結(jié)論應(yīng)該盡量真實(shí)。特別是在輥殼內(nèi)榨輥軸位置,不能用磁粉做為輔助檢測(cè),只能由超聲檢測(cè)得出檢測(cè)結(jié)果,一旦裂紋深度數(shù)值達(dá)到廠家認(rèn)為需要返修,要把舊輥殼破碎了才能返修,這樣舊輥殼不能再用,就必須換新輥殼,如果真實(shí)值比檢測(cè)出的數(shù)值小,本不用破碎輥殼而又被破碎了,就造成了浪費(fèi)。若裂紋深度判定比真實(shí)值小,榨輥不返修,又容易造成斷軸,被迫停榨。
根據(jù)歷年對(duì)各個(gè)糖廠榨輥軸檢測(cè)的統(tǒng)計(jì),有裂紋的概率超過30%?,F(xiàn)在糖廠一般有兩條生產(chǎn)線,一條線5座機(jī)架使用15條榨輥軸,兩條線共使用30條榨輥軸,檢出有裂紋榨輥軸概率達(dá)到9條,如果這9條軸不能正確返修、停用或者報(bào)廢,而繼續(xù)使用,榨季時(shí)候很容易造成時(shí)不時(shí)的斷軸,被迫停榨次數(shù)多,糖廠生產(chǎn)損失大。更換一條榨輥軸所用時(shí)間為八到二十四小時(shí),以八個(gè)小時(shí)計(jì),減產(chǎn)損失大,造成動(dòng)力資源浪費(fèi),拉長榨季時(shí)間,降低企業(yè)和社會(huì)效益。
超聲檢測(cè)在糖廠榨輥軸的應(yīng)用中,試塊材料和榨輥軸材料的差異、榨輥軸本身結(jié)構(gòu)以及裂紋方向性的影響,使得超聲波探傷儀顯示的裂紋深度和裂紋水平距離,不能簡單的在超聲波儀上由波峰直接讀出數(shù)值,而是要經(jīng)過仔細(xì)研究、具體分析,找出最真實(shí)的波峰數(shù)值,然后得出結(jié)論。