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氧化鎳在倒置平面鈣鈦礦太陽(yáng)能電池中的應(yīng)用進(jìn)展*

2021-06-18 08:41:40王佩佩張晨曦胡李納李仕奇任煒樺郝玉英
物理學(xué)報(bào) 2021年11期
關(guān)鍵詞:載流子鈣鈦礦空穴

王佩佩 張晨曦 胡李納 李仕奇 任煒樺 郝玉英

(太原理工大學(xué)物理與光電工程學(xué)院, 新型傳感與智能控制教育部重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室, 太原 030024)

近年來(lái)有機(jī)-無(wú)機(jī)雜化鈣鈦礦太陽(yáng)能電池(perovskite solar cells, PSCs)因具有光電轉(zhuǎn)換效率高、制備工藝簡(jiǎn)單等優(yōu)點(diǎn)而受到廣泛關(guān)注.空穴傳輸層(hole transport layer, HTL)的選擇及其優(yōu)化對(duì)器件的性能至關(guān)重要.氧化鎳(NiOx) HTL具有化學(xué)穩(wěn)定性好、空穴遷移率高、制備方法簡(jiǎn)單等特點(diǎn), 在PSCs中得到了廣泛應(yīng)用.本綜述從NiOx HTL在平面PSCs中的應(yīng)用入手, 系統(tǒng)介紹了通過(guò)摻雜和表面修飾法實(shí)現(xiàn)對(duì)NiOx HTL薄膜的結(jié)構(gòu)和光電性能的改性, 并從能級(jí)匹配、空穴遷移率及結(jié)晶性等多個(gè)角度詳細(xì)評(píng)述了NiOx改性對(duì)PSCs光電轉(zhuǎn)換效率、填充因子、開(kāi)路電壓、短路電流和穩(wěn)定性的影響規(guī)律, 最后對(duì)于NiOx平面PSCs的未來(lái)進(jìn)行了展望.

1 引 言

有機(jī)-無(wú)機(jī)鹵化物鈣鈦礦由于其優(yōu)異的吸光性能、高載流子遷移率、低陷阱態(tài)密度和長(zhǎng)的電子空穴擴(kuò)散長(zhǎng)度而成為明星光伏材料.鈣鈦礦的一般化學(xué)式為ABX3, 其中A通常為一價(jià)陽(yáng)離子, 如有機(jī)官能團(tuán), Cs+等,B通常為Sn2+, Pb2+和Ge2+等,X為鹵素陰離子Cl—, Br—或I—.經(jīng)過(guò)十余年的發(fā)展, 有機(jī)-無(wú)機(jī)雜化鈣鈦礦太陽(yáng)能電池(perovskite solar cells, PSCs)的光電轉(zhuǎn)換效率(photoelectric conversion efficiency, PCE)已經(jīng)從3.8%提升到25.5%[1-4], 可與商用的硅基太陽(yáng)能電池相媲美.

PSCs的結(jié)構(gòu)主要分為介孔結(jié)構(gòu)和平面結(jié)構(gòu),根據(jù)其光生載流子傳輸方向又分為正置結(jié)構(gòu)和倒置結(jié)構(gòu)(圖1(a)為正置介孔結(jié)構(gòu), 圖1(b)為倒置介孔結(jié)構(gòu), 圖1(c)為正置平面結(jié)構(gòu), 圖1(d)為倒置平面結(jié)構(gòu)).介孔結(jié)構(gòu)是借鑒染料敏化太陽(yáng)能電池的結(jié)構(gòu)發(fā)展而來(lái)的, 介孔層對(duì)鈣鈦礦材料起到了很好的支撐作用, 典型介孔結(jié)構(gòu)由FTO導(dǎo)電玻璃、電子傳輸層 (electron transport layer, ETL)、介孔氧化物支架層(TiO2或Al2O3)、鈣鈦礦層、空穴傳輸層(hole transport layer, HTL)、金屬電極組合而成.平面結(jié)構(gòu)電池沒(méi)有介孔層, 其結(jié)構(gòu)更為簡(jiǎn)單, 可低溫制備, 極大地降低了制造成本, 且與柔性PSCs的制備工藝兼容, 因而具有廣闊應(yīng)用前景.

圖1 鈣鈦礦太陽(yáng)電池結(jié)構(gòu)示意圖Fig.1.Schematic diagram of PSCs.

在倒置平面PSCs中, HTL作為最先制備的功能層, 主要起著阻擋電子、傳輸空穴并將其注入電極的作用, 從而可以實(shí)現(xiàn)電子-空穴的有效分離;同時(shí)空穴傳輸材料的應(yīng)用能夠調(diào)節(jié)界面能級(jí)排列,改善鈣鈦礦層與陽(yáng)極之間的肖特基接觸, 因而對(duì)PSCs的性能有著重要的影響.到目前為止, 應(yīng)用于倒置平面PSCs的HTL材料主要分為兩大類:有機(jī)物與無(wú)機(jī)物.其中常見(jiàn)的有機(jī)空穴傳輸材料有PTAA[5,6]和PEDOT:PSS[7,8]等, 由于合成工藝復(fù)雜、條件苛刻、純化困難的原因, 其價(jià)格昂貴;其次, 空穴遷移率較低, 需加入摻雜劑, 然而摻雜劑的吸濕性和腐蝕性等特點(diǎn)極大影響了器件的穩(wěn)定性, 因此尋找穩(wěn)定、可替代的空穴傳輸材料十分必要.常見(jiàn)的無(wú)機(jī)空穴傳輸材料有: 硫氰酸亞銅(CuSCN)[9,10]、碘化亞銅(CuI)[11,12]、氧化亞銅(Cu2O)[13,14]和氧化鎳(NiOx)[15,16]等.與有機(jī)空穴傳輸材料相比, 無(wú)機(jī)空穴傳輸材料因具有化學(xué)穩(wěn)定性高、制備方法簡(jiǎn)單多樣、透光率高以及價(jià)格低廉等優(yōu)點(diǎn)而備受關(guān)注.在這些無(wú)機(jī)空穴傳輸材料中,基于NiOx的PSCs可獲得較高的光電轉(zhuǎn)化效率, 因而應(yīng)用十分廣泛.2014年, Jeng等[7]率先將NiOx作為HTL應(yīng)用于PSCs, 取得了7.8%的PCE.2019年,上海交通大學(xué)韓禮元等[17]首次使用F2HCNQ修飾NiOx, 在倒置剛性基底上獲得了22.13%的PCE.

本文聚焦NiOx材料在倒置平面PSCs中的應(yīng)用, 將分別對(duì)NiOxHTL的光電特性、制備工藝和修飾改性進(jìn)行評(píng)述.

2 NiOx的結(jié)構(gòu)與光電特性

2.1 NiOx的結(jié)構(gòu)

NiOx與氯化鈉的晶體結(jié)構(gòu)類似, 即巖鹽結(jié)構(gòu),晶格參數(shù)為0.417 nm, 其中Ni原子處于中心, 每個(gè)Ni原子周圍有6個(gè)距離相近的O原子從而形成正八面體, 整個(gè)晶體可以看作是呈面心立方排布, Ni和同樣呈面心立方排布的O交錯(cuò)而成(圖2).NiOx具有較為特殊的電子結(jié)構(gòu), 鎳原子的3d, 4s,4p軌道均未被占滿.然而由于電子之間的相互作用, 鎳原子3d軌道上的電子只能被束縛在鎳軌道上.所以, 在室溫下, NiOx成為一種優(yōu)良的絕緣體.然而NiOx薄膜的化學(xué)計(jì)量比并非總是1∶1[18,19],由于NiOx薄膜中鎳空位的存在, 空穴會(huì)向鎳空位集中, 從而顯現(xiàn)出p型半導(dǎo)體態(tài).

圖2 NiO的立方晶體結(jié)構(gòu)Fig.2.NiO cubic crystal structure.

2.2 NiOx的光電特性

NiOx屬于過(guò)渡金屬氧化物, 是一種直接帶隙、寬禁帶半導(dǎo)體, 在電致變色、氣體傳感器、太陽(yáng)能電池等領(lǐng)域都顯示出廣闊的應(yīng)用前景.

NiOx的價(jià)帶能級(jí)大約為—5.1— —5.4 eV, 導(dǎo)帶能級(jí)為—1.6 eV, 光學(xué)帶隙范圍為3.6—4.0 eV[18],在近紫外和可見(jiàn)范圍內(nèi)高度透明, 由于NiOx電極間的界面極化較弱, 其倒置PSCs的正向和反向電壓掃描中觀察到的遲滯現(xiàn)象較低[20-22], 此外, NiOx穩(wěn)定的晶體結(jié)構(gòu)和非腐蝕性使相應(yīng)的PSCs具有較高的光、熱穩(wěn)定性[23-25].

然而, 在實(shí)際制備NiOx過(guò)程中, 很容易出現(xiàn)具有高的電離能的Ni空位, 使得非摻雜NiOx中的空穴密度處在較低的水平, NiOx薄膜本征導(dǎo)電率較低; 另外, 由于NiOx和鈣鈦礦吸收層的費(fèi)米能級(jí)(Fermi energy fevel,EF)不匹配, 所以接觸后界面間的能級(jí)偏移相對(duì)較大, 內(nèi)建電場(chǎng)較弱, 空穴抽取能力不足.低的電導(dǎo)率和不匹配的能級(jí)導(dǎo)致鈣鈦礦界面附近積累空穴, 增加了載流子復(fù)合的機(jī)會(huì), 從而降低了空穴的收集效率[26], 這將對(duì)外量子效率(external quantum efficiency, EQE)、填充因子(fill factor, FF)和短路電流(JSC)等性能參數(shù)產(chǎn)生不利影響.

3 NiOx傳輸層的制備工藝

平面倒置器件結(jié)構(gòu)中常用的NiOx薄膜的制備方法包括: 旋涂/噴涂法[27-29]、電化學(xué)沉積法[30]、濺射法[18,19]等.

3.1 旋涂/噴涂法

旋涂/噴涂法是將NiOx前驅(qū)液凝膠或納米晶懸浮液進(jìn)行旋涂或噴涂沉積的一種方式.其中凝膠的制取方式是將鎳鹽和穩(wěn)定劑溶解在有機(jī)溶劑中,通過(guò)水解縮合反應(yīng)形成前驅(qū)體凝膠.而納米晶的合成方法是將Ni(NO3)2·6H2O分散在去離子水中,通過(guò)加入適量NaOH調(diào)節(jié)溶液pH值, 攪拌均勻后, 洗滌沉淀并高溫煅燒, 得到深黑色納米晶粉末.該方法成本低廉, 易于調(diào)控優(yōu)化, 但薄膜致密性受環(huán)境影響較大.

3.2 電沉積法

電沉積法是一種在大襯底上沉積NiOx薄膜的方法, 其制備原理是將Ni(NO3)2中的硝酸根離子在水存在的情況下還原成亞硝酸根離子, 同時(shí)生成氫氧根離子, 并與電極上的鎳陽(yáng)離子結(jié)合, 形成Ni(OH)2薄膜, 然后將Ni(OH)2薄膜在300 °C下退火分解形成NiOx薄膜.該方法設(shè)備簡(jiǎn)單, 容易操作, 形成的NiOx薄膜均勻、致密.

3.3 濺射法

濺射是一種粒子從固體靶材中噴射出來(lái)的過(guò)程.濺射法制備NiOx薄膜有兩種方式, 一種是蒸發(fā)濺射, 先濺射Ni薄膜, 然后氧化成NiOx; 另一種是反應(yīng)濺射, 在O2氛圍下, 使濺射的Ni原子與O2反應(yīng), 直接在襯底上形成NiOx.濺射NiOx薄膜沉積速率快, 通常表現(xiàn)出擇優(yōu)取向, 重復(fù)性好, 適用于大面積生產(chǎn), 但濺射NiOx薄膜的透光率和導(dǎo)電性較差.

4 NiOx空穴傳輸層的改性

到目前為止, 對(duì)NiOxHTL的改性方法主要有摻雜和表面修飾兩種, 以提高NiOx薄膜的電導(dǎo)率和功函數(shù)(work function, WF).

4.1 摻雜

摻雜可以調(diào)控半導(dǎo)體的光電性質(zhì), 如電導(dǎo)率,透明度, WF, 能帶結(jié)構(gòu)和載流子密度等.常用的摻雜方式可分為金屬離子摻雜及有機(jī)分子摻雜.表1給出了近年來(lái)基于摻雜NiOx的PSCs的報(bào)道.

表1 基于摻雜NiOx薄膜的PSCs的性能Table 1.Performances of the PSCs based on doped NiOx films.

4.1.1 金屬離子摻雜劑

對(duì)于NiOx, 過(guò)渡金屬元素是最常用的單摻雜元素, 例如銅元素, 它的離子半徑與鎳相似, 因此傾向于取代晶格中的Ni空位.在NiOx中引入適量的Cu有助于調(diào)節(jié)NiOx膜的透過(guò)率、結(jié)晶性、晶粒尺寸和電導(dǎo)率.2015年, 華盛頓大學(xué)的Jen研究組[31]采用銅摻雜的NiOx薄膜, 使PSCs的PCE提高到15.40%.隨后他們改進(jìn)了NiOx薄膜的制備方法, 又將電池的PCE提高到了17.74%[32].中國(guó)科學(xué)院Huang等[33]采用磁控濺射法成功制備了Cu摻雜的NiOx基PSCs, 并發(fā)現(xiàn)Cu摻雜之后,NiOx的WF從—4.27 eV增至—4.11 eV(圖3(a)).施加偏置電壓時(shí), Cu:NiOx薄膜具有更高的電流,載流子損耗較小, 同時(shí)Cu:NiOx/鈣鈦礦界面的空穴傳輸速率更快.銀元素(Ag)是另一種過(guò)渡金屬摻雜劑, 南昌大學(xué)Wei等[34]通過(guò)密度泛函理論(density functional theory, DFT)計(jì)算溶液處理的Ag:NiOx薄膜, 結(jié)果表明Ag離子在NiOx中的O位上起著替代摻雜的作用.Ag摻雜后, 空穴遷移 率 從0.12 cm2·V—1·s—1增 加 到0.59 cm2·V—1·s—1.除貴金屬外, 鈷元素(Co)也被引入[35], 用于提高NiOx的導(dǎo)電性.

此外, 堿金屬和堿土金屬元素也可用作摻雜劑, 如鋰(Li)或銫(Cs)等單價(jià)堿金屬, 由于Li的離子半徑(0.76 ?)略大于Ni2+的離子半徑, 它的引入導(dǎo)致Ni3+離子濃度增加, NiOx薄膜電阻率降低.2017年, 濟(jì)南大學(xué)曹炳強(qiáng)團(tuán)隊(duì)[36]采用脈沖激光沉積法(plused laser deposition, PLD)制備了Li:NiOx薄膜, 發(fā)現(xiàn)Li摻雜可以顯著提高薄膜電導(dǎo)率, 促進(jìn)NiOx/鈣鈦礦界面的電荷提取.同年, 南方科技大學(xué)何祝兵團(tuán)隊(duì)[37]用Cs對(duì)NiOx薄膜進(jìn)行摻雜, Cs:NiOx膜表現(xiàn)出更高的導(dǎo)電性(圖3(b)), 基于1% Cs:NiOx的空穴抽取能力最好, PCE由16%左右提升至19%左右.2019年, 華東理工大學(xué)陳愛(ài)平團(tuán)隊(duì)[38]證明了通過(guò)堿土金屬(Mg, Ca, Sr和Ba)摻雜可以有效改善NiOx的性質(zhì)(圖3(c), (d)),提高了NiOx薄膜的空穴電導(dǎo)率, 并使其能更好地與鈣鈦礦的能帶匹配, 基于Sr摻雜的NiOx器件的最優(yōu)PCE達(dá)到19.49%,Voc達(dá)到了1.14 V, 所得器件無(wú)遲滯性且穩(wěn)定性較高.

稀土元素也被廣泛應(yīng)用于各種氧化物半導(dǎo)體摻雜中.稀土離子因其部分填充的4f軌道和空的5d軌道而具有豐富的能級(jí)結(jié)構(gòu), 例如釔(Y)離子具有4d1軌道, 并且在稀土元素中具有最小的離子半徑, 從而有利于其取代其他金屬離子.中國(guó)計(jì)量大學(xué)Hu等[39]采用不同濃度的Y摻雜NiOx薄膜,隨著摻雜濃度的提高, NiOx薄膜的空穴遷移率逐漸增大.此外, Y摻雜也有助于實(shí)現(xiàn)無(wú)針孔活性層,促進(jìn)空穴提取, 減少載流子的復(fù)合.

除了過(guò)渡金屬、堿金屬、堿土金屬、稀土等單元素?fù)诫sNiOx薄膜外, 共摻雜NiOx薄膜也被報(bào)道.2019年, 西安電子科技大學(xué)郝躍團(tuán)隊(duì)[40]選用Li和鈷(Co)共摻雜NiOx有效提高了PSCs的器件性能.與非摻雜和單摻雜的NiOxHTL相比, 一定量的Li和Co共摻雜進(jìn)一步提高了NiOx薄膜的導(dǎo)電性和空穴遷移率.同時(shí), Li和Co共摻雜可以調(diào)控NiOx的EF, Li摻雜NiOx的EF由—4.84 eV升至—4.78 eV, 而Li和Co摻雜后,EF降至—5.27 eV,因此Li和Co共摻雜NiOx與鈣鈦礦之間的能帶更加匹配.此外, Li和Co還提高了鈣鈦礦薄膜的結(jié)晶質(zhì)量.最終使PSCs的Voc,Jsc, FF顯著改善,器件的PCE從17.4%顯著增加到20.1%.

4.1.2 有機(jī)分子摻雜

摻雜一些電子親和力強(qiáng)的有機(jī)分子也可有效提高NiOx的電導(dǎo)率.2018年, Chen等[41]引入F6TCNNQ, 研究了F6TCNNQ和NiOx之間的電荷轉(zhuǎn)移(圖3(e)), 結(jié)果表明, 對(duì)于F6TCNNQ修飾的NiOx, 相當(dāng)多的電子從NiOx轉(zhuǎn)移到F6TCNNQ分子上, 使NiOx中的空穴數(shù)量顯著增加, 基于F6TCNNQ改性的NiOx器件的PCE達(dá)到20.86%.2020年, 上海交通大學(xué)韓禮元研究組[17]采用了化學(xué)結(jié)構(gòu)相似的4種材料(TCNQ, F2-TCNQ, F4-TCNQ和F2-HCNQ)修飾NiOx層.這4種分子主要由苯環(huán)、氟基和氰基組成, 隨著親電氟基團(tuán)的增加, TCNQ, F2-HCNQ和F4-TCNQ的電子親和力逐漸增加.特別是含有兩個(gè)以上氰基的F2-HCNQ具有最高的電子親和力, F2HCNQ中的氰基與NiOx相互作用, 使NiOx薄膜表面的親電分子電離, 在樣品表面產(chǎn)生了負(fù)電荷, 增強(qiáng)了從NiOx的價(jià)帶(valence band, VB)到有機(jī)分子的最低空軌道 能級(jí)(lowest unoccupied molecular orbital,LUMO)的電荷轉(zhuǎn)移, 在NiOx的VB中留下了額外的導(dǎo)電空穴, 使空穴濃度提高, 有利于提高NiOx的電導(dǎo)率.具有高電子親和力的分子能夠有效地提取出光生空穴, 增強(qiáng)了PSCs的FF和Voc, 使剛性和柔性PSCs的PCE分別達(dá)到22.13%和

20.01 %.

圖3 (a) NiOx和Cu:NiOx薄膜的紫外光電子能譜[33]; (b) 基于NiOx或Cs: NiOx單空穴器件的J-V曲線, 器件結(jié)構(gòu)為FTO/ NiOx或 Cs:NiOx/MoO3/Ag[37]; (c) 不同HTLs的PSCs能級(jí)圖; (d) 倒置平面PSCs的結(jié)構(gòu)[38]; (e) F6TCNNQ摻雜分子的化學(xué)結(jié)構(gòu)及其與NiOx的能級(jí)排列[41]; (f) NiOx與TCNQ, F2TCNQ, F4TCNQ和F2HCNQ的電荷轉(zhuǎn)移和能級(jí)分布示意圖[17]Fig.3.(a) Ultraviolet photoelectron spectra of NiOx and Cu:NiOx films[33]; (b) J-V curves of hole only devices with NiOx or Cs:NiOx hole extraction layers, the device structure is FTO/ NiOx or Cs:NiOx/MoO3/Ag[37]; (c) energy-level diagram of the various layers in the PSCs exhibiting the transfer of photoinduced holes; (d) structural illustration of the inverted planar PSCs[38]; (e) band alignment of NiOx and molecular dopants of F6TCNNQ and the chemical structure[41]; (f) schematic of charge transfer and energy level distribution of NiOx, TCNQ, F2TCNQ, F4TCNQ, and F2HCNQ[17].

4.2 表面改性

表面改性是一種調(diào)控薄膜表面性質(zhì)的簡(jiǎn)單方法, 可以改善薄膜表面的潤(rùn)濕性和化學(xué)相互作用,調(diào)控界面的WF, 進(jìn)而起到改善鈣鈦礦薄膜的結(jié)晶質(zhì)量, 鈍化表界面缺陷, 調(diào)控界面能級(jí)排列的作用.有機(jī)分子、堿氯化物、光學(xué)塑料和臭氧等都可以用作NiOx的表面修飾.表2給出了近年來(lái)表面改性的NiOx基PSCs的報(bào)道.

4.2.1 有機(jī)分子改性劑

在NiOx和鈣鈦礦層之間插入有機(jī)層, 通過(guò)改變有機(jī)物的骨架和官能團(tuán), 可以很容易地在較大的范圍內(nèi)調(diào)整WF.南京郵電大學(xué)牛巧利等[46]用甘油和氯化膽堿修飾NiOx后, 表面潤(rùn)濕性增強(qiáng).與原始NiOx薄膜相比, 經(jīng)甘油、甘油與氯化膽堿同時(shí)處理后, 接觸角分別降至4.1°和5.6° (圖4(a)),NiOx潤(rùn)濕性的改善主要是羥基的作用, 甘油與氯化膽堿同時(shí)處理可得到晶粒大、表面光滑均勻的鈣鈦礦薄膜.因此, 鈣鈦礦薄膜缺陷減少, 載流子的壽命延長(zhǎng), 導(dǎo)致PSC的Jsc增強(qiáng), 最終獲得了14%的PCE.深圳大學(xué)屈軍樂(lè)團(tuán)隊(duì)[47]在Cu:NiOx的頂部引入三種小分子即甘氨酸、半胱氨酸和氯酸巰基乙胺進(jìn)行表面修飾(圖4(b)), 其中半胱氨酸修飾是最有效的, 利用其巰基(—SH)形成Ni—S鍵錨定在Cu:NiOx表面, 而其胺基和羧基與隨后沉積的鈣鈦礦層相互作用.羧基是一種典型的具有較強(qiáng)親電性的電子基團(tuán), 較強(qiáng)的親電性意味著更高的電子結(jié)合能, 因此半胱氨酸中額外的羧基提高了Cu:NiOxHTL的WF, 優(yōu)化后PSC在可見(jiàn)光區(qū)域顯示出高于90%的EQE, 在短波長(zhǎng)區(qū)域EQE高達(dá)95%, 且Voc高達(dá)1.12 V, PCE在18%以上, 并抑制了Cu:NiOx基器件的遲滯現(xiàn)象.

其次, 通過(guò)引入界面修飾層, 可以更好地調(diào)整能帶結(jié)構(gòu), 從而抑制界面復(fù)合.華東師范大學(xué)陳曉紅團(tuán)隊(duì)[48]用二茂鐵羧酸(FDA)修飾NiOx, 與原始NiOx襯底相比, NiOx/FDA上鈣鈦礦層的晶粒尺寸明顯變大(圖4(c)), XRD圖譜中對(duì)應(yīng)于鈣鈦礦薄膜(110), (220)和(310)晶面的特征峰明顯增強(qiáng)(圖4(d)), 這些結(jié)果表明, FDA修飾的NiOx可以有效改善鈣鈦礦薄膜的結(jié)晶度, 有助于減少載流子復(fù)合, 從而改善PSC的光電流.FDA修飾的器件載流子傳輸和收集效率從88.2%提高到98.4%.最終經(jīng)FDA改性后的NiOx基倒置器件的PCE達(dá)到18.20%.2019年, 韓國(guó)公州國(guó)立大學(xué)Park團(tuán)隊(duì)[49]引入甲氧基功能化的三苯胺-咪唑衍生物, 同時(shí)以其作為空穴傳輸材料和界面修飾層, 通過(guò)調(diào)節(jié)甲氧基單元的數(shù)量改變了它們的能級(jí), 從而更好地與鈣鈦礦能級(jí)相匹配.同時(shí)這些含有氮和氧原子的有機(jī)分子作為L(zhǎng)ewis堿, 可以鈍化鈣鈦礦和NiOx層中的缺陷, 經(jīng)瞬態(tài)光電壓(transient photovoltage, TPV)計(jì)算可得具有不同HTLs器件的載流子復(fù)合壽命與光強(qiáng)度關(guān)系圖(圖4(e)).顯然, 所有樣品的載流子壽命均隨著光強(qiáng)的增強(qiáng)而降低, 并且樣品的壽命隨著有機(jī)HTL中甲氧基單元數(shù)量的增加而增加, 其中TPI-6MEO作為界面鈍化層的樣品在整個(gè)光強(qiáng)度范圍內(nèi)具有最長(zhǎng)的載流子壽命, 這表明TPI-6MEO的缺陷鈍化效果最好.北京科技大學(xué)馬瑞新團(tuán)隊(duì)[50]提出以氟化銨(NH4F)作為界

面改性劑也表現(xiàn)出了類似的效果.NH4F的鈍化行為抑制了載流子的界面復(fù)合, 促進(jìn)了電荷轉(zhuǎn)移.隨著短路電流的改善, 相應(yīng)倒置結(jié)構(gòu)器件的PCE從17.17%提高到了18.94%.

表2 基于改性NiOx薄膜的PSCs的性能Table 2.Performances of the PSCs based on modified NiOx films.

圖4 (a) 鈣鈦礦前驅(qū)體在NiOx薄膜以及甘油處理后NiOx膜上的接觸角[46]; (b) 三種氨基酸的三維分子模型[47]; (c) NiOx和NiOx/FDA 薄膜上鈣鈦礦層的SEM圖像; (d) NiOx和NiOx/FDA 薄膜上鈣鈦礦層的X射線衍射圖[48]; (e) 基于TPV實(shí)驗(yàn)計(jì)算的具有不同HTLs器件的載流子復(fù)合壽命與光強(qiáng)度關(guān)系圖[49]; (f) 在10 kHz下KCl修飾前后NiOx基PSCs的Mott-Schottky圖, 以及基于TPV實(shí)驗(yàn)計(jì)算的KCl修飾前后NiOx基PSCs的陷阱態(tài)密度譜[51]Fig.4.(a) Contact angles of the solvents of perovskite precursor solution on NiOx: pristine film and with glycerol treatment[46];(b) molecular 3D models and formula of three amino acids[47]; (c) SEM images of the perovskite layer on NiOx and NiOx/FDA films;(d) XRD patterns of the perovskite layer on NiOx and NiOx/FDA films[48]; (e) recombination lifetime versus light intensity plots of complete cells having various HTLs, calculated by TPV experiments[49]; (f) Mott—Schottky plots for the CsFAMA perovskite PSCs with pristine and KCl-modified NiOx HTLs at 10 kHz and trap density of states (DOS) spectra for CsFAMA perovskite PSCs with pristine and KCl-modified NiOx HTLs[51].

4.2.2 堿氯化物改性劑

用堿氯化物進(jìn)行界面改性也可改善鈣鈦礦薄膜的有序性, 進(jìn)而降低缺陷密度.2019年, 南方科技大學(xué)何祝兵團(tuán)隊(duì)[51]通過(guò)堿氯化物改性NiOx, 發(fā)現(xiàn)插入NaCl緩沖層有助于NiOx與鈣鈦礦形成有序的界面, 從而有效降低了鈣鈦礦薄膜表面缺陷的形成.同時(shí)堿氯化物處理的樣品內(nèi)建電勢(shì)更高, 薄膜表面陷阱和體陷阱態(tài)密度都有所減少(圖4(f)).堿氯化物界面改性不僅提高了器件的效率, 也增強(qiáng)了其穩(wěn)定性, 并有效抑制了離子擴(kuò)散, 與標(biāo)準(zhǔn)器件相比, 經(jīng)NaCl處理的NiOx薄膜器件,Voc實(shí)現(xiàn)了從1.07 eV到1.15 eV的明顯提高, PCE接近21%,經(jīng)改性的器件在空氣環(huán)境下老化150 d后依然保持了器件初始效率的94.9%.

4.2.3 光學(xué)塑料改性劑

光學(xué)塑料具有良好的可塑性, 重量輕, 成本低廉, 也適用于界面的改性.常見(jiàn)的透明塑料有聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、聚苯乙烯(PS)、聚碳酸脂(PC)等.上海交通大學(xué)沈文忠團(tuán)隊(duì)[52]采用電沉積法制備了NiOx薄膜, 通過(guò)在鈣鈦礦吸收層和電荷傳輸層之間添加PS層來(lái)提高PSCs的性能.鈣鈦礦層的頂部和底部同時(shí)被超薄的雙層PS鈍化和保護(hù), 在氯苯(CB)中混合的PS用作反溶劑, 減緩了鈣鈦礦晶體的生長(zhǎng).利用雙鈍化層實(shí)現(xiàn)鈣鈦礦/HTL和鈣鈦礦/ETL界面陷阱態(tài)的有效鈍化,從而在FF基本不變的情況下增加了Voc和Jsc,Voc高達(dá)1.149 V, PCE為19.99%.

4.2.4 紫外臭氧處理

紫外線臭氧(ultra-violet ozone, UVO)處理是提高NiOx薄膜質(zhì)量的常用方法.這種處理法可以增加Ni3+的含量, 有助于減少界面處的漏電流和電荷復(fù)合, 促進(jìn)載流子密度和薄膜電導(dǎo)率的提高[57,58].此外, 還可以改善NiOx薄膜的潤(rùn)濕特性.例如, 2019年, 上海交通大學(xué)沈文忠研究組[59]采用電化學(xué)沉積的方法制備出NiOx薄膜后, 進(jìn)一步采用UVO對(duì)NiOx處理不同的時(shí)長(zhǎng), 調(diào)控NiOx中Ni/O的化學(xué)計(jì)量比和薄膜的電導(dǎo)率, 改善NiOx薄膜的潤(rùn)濕性, 并讓其能帶發(fā)生位移, 使價(jià)帶頂(valence band maximum, VBM)與鈣鈦礦層更加匹配.經(jīng)過(guò)UVO處理后, 制備的NiOx薄膜的WF從4.79 eV增加到4.86 eV, VBM從—5.27 eV移動(dòng)到—5.34 eV.

5 總結(jié)與展望

NiOx由于其良好的空穴提取能力、高光熱穩(wěn)定性、可低溫大規(guī)模制備的巨大潛力, 被廣泛用于PSCs中.目前, NiOx基平面PSCs的最高PCE已到22.13%.但與目前報(bào)道的PSCs的最高效率相比, 還有較大的提升空間.對(duì)于NiOx基平面PSCs來(lái)說(shuō), 限制其性能的主要因素是: 相對(duì)于鈣鈦礦層,NiOx的本征電導(dǎo)率較低, 能級(jí)不夠匹配, 浸潤(rùn)性不夠理想, 另外, 低溫制備的NiOx薄膜容易產(chǎn)生一些缺陷.針對(duì)這些缺點(diǎn), 可以從以下兩方面進(jìn)行改進(jìn).1)使用金屬離子摻雜劑和有機(jī)分子摻雜劑等摻雜方式進(jìn)行改性, 在保持NiOx高透明度的同時(shí),降低缺陷密度, 提高載流子遷移率, 并且使其功函數(shù)與鈣鈦礦層的能級(jí)更加匹配, 從而提高器件的光電轉(zhuǎn)化效率, 還可使器件更為穩(wěn)定.2)采用有機(jī)分子、堿氯化物、光學(xué)塑料和臭氧等多種表面改性方式, 提高NiOx的成膜均勻性, 鈍化界面缺陷, 抑制載流子的界面復(fù)合; 并通過(guò)界面修飾, 改善NiOx薄膜的潤(rùn)濕性, 提高鈣鈦礦薄膜的成膜質(zhì)量, 降低鈣鈦礦薄膜的體缺陷及表面缺陷; 還可以調(diào)節(jié)能帶結(jié)構(gòu), 使價(jià)帶與鈣鈦礦層更加匹配, 提高了NiOx的空穴抽取性能, 從而提高了器件的光電轉(zhuǎn)化效率.

未來(lái)還需進(jìn)一步優(yōu)化NiOx薄膜的制備方法,可以嘗試采用不同形貌、結(jié)構(gòu)的NiOx薄膜, 提高NiOx的透光性和導(dǎo)電性, 改善成膜質(zhì)量, 降低缺陷密度, 提高器件性能; 并通過(guò)多種新型摻雜劑和表面改性劑的優(yōu)化, 提高電池的光電轉(zhuǎn)化效率; 還可以通過(guò)分析不同添加劑在NiOx成核和結(jié)晶過(guò)程中的作用, 理解鈣鈦礦層結(jié)晶性動(dòng)力學(xué)過(guò)程, 建立合理的大數(shù)據(jù)調(diào)控方式, 采用多種形式、多種材料的協(xié)同調(diào)控機(jī)制, 改善器件的性能.另外, 雙空穴傳輸層也是一類值得嘗試的提高器件性能的方法.隨著PSCs的進(jìn)一步發(fā)展, 通過(guò)合理的設(shè)計(jì)以開(kāi)發(fā)出性能更好的NiOx空穴傳輸材料, 并利用其可低溫成膜的優(yōu)勢(shì), 推進(jìn)PSCs向著低溫、柔性、大規(guī)模制備方向發(fā)展.參考文獻(xiàn)

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