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陣列天線耦合抑制技術研究

2021-08-12 09:19水孝忠梁洪燦蔣凡杰
航天電子對抗 2021年3期
關鍵詞:極化端口耦合

水孝忠,梁洪燦,蔣凡杰

(中國電子科技集團公司第五十一研究所,上海 201802)

0 引言

陣列天線是無線系統(tǒng)應用中不可或缺的重要部分,相對于單個天線,陣列天線可通過對陣元相位和幅度的控制來產(chǎn)生較為靈活的方向圖,以滿足不同場景的需求,已廣泛應用于雷達、電子對抗、無線通信、遙感等設備中。

天線組陣技術是一種不斷創(chuàng)新、與時俱進的技術,在軍民兩用領域有著廣闊的應用前景。但是陣列天線,尤其是小間距陣列天線面臨著互耦影響的難題,陣元間的互耦效應導致陣列天線的實際性能與預期出現(xiàn)偏差,直接影響了天線的性能,會引起天線副瓣電平增高、天線增益下降、主瓣寬度展寬、有源駐波升高等,互耦問題已成為制約陣列天線性能提高的重要問題[1-3]。因此,陣列天線研制中必須考慮陣列單元間互耦的問題。耦合抑制的方法通常有2種:1)建立陣列天線的互耦系數(shù)矩陣[4],進行互耦補償;2)陣列天線設計中加入某些特殊結構對互耦進行抑制[5],本文采用了陣中加載電磁帶隙(EBG)、平面吸波器、極化柵來減小陣元間互耦的方法,并對耦合抑制性能進行了對比分析。

1 陣列天線互耦分析

陣列天線陣中互耦包括內部傳輸區(qū)互耦和外部輻射區(qū)互耦2個部分,天線陣發(fā)射狀態(tài)時,天線陣元表面不僅有饋電電流,還有來自相鄰單元的散射引起的電流,陣元電流是自身饋電和周圍陣元響應的疊加。

設陣列天線由N個單元天線組成,單元天線電路模型等效為阻抗ZL,其內部阻抗為Zg,饋源的激勵電壓為V g,天線陣列可以等效為圖1的多端口網(wǎng)絡。

圖1 陣列天線等效多端口網(wǎng)絡

在陣列天線中,用Z ij(i≠j)表示端口i和端口j之間的互阻抗,Zij代表端口i的自阻抗,v j代表端口j的電壓,v oj代表第端口j的開路電壓。那么,以上網(wǎng)絡關系可以用描述為[6]:

式(1)矩陣形式可簡化表示為:Z0V=V0。其中,V0為陣列天線端口的開路電壓,Z0是陣列天線用ZL歸一化后的廣義阻抗矩陣,矩陣V為陣列天線端口輸出電壓組成的矩陣。

在陣列天線中,互耦量的大小還可以用互耦系數(shù)Sij更直觀地來表示[7]:

式中,V+j和V-i分別表示陣元入射電壓和反射電壓,Sij代表第i個陣元與第j個陣元之間的耦合系數(shù)。當i=j時,Sij的值為第i個陣元的自耦合系數(shù),也就是孤立陣元輸入端的反射系數(shù)。天線陣列等效為多端口網(wǎng)絡后,進而對陣中互耦進行量化分析。

2 耦合抑制結構設計

2.1 EBG結構

EBG又稱光子晶體(photonic crystals),是一種能抑制某些頻段表面波的特殊結構。很多研究利用EBG的電磁帶隙特性來消除各器件之間的耦合。一般來說,EBG結構貼附在介質基板表面,當電磁波頻率滿足一定條件時,EBG結構表面形成一個高阻抗面,使得表面電磁波無法繼續(xù)傳播,所以將EBG結構加載到天線中,可消除天線結構中所產(chǎn)生的表面波,提高天線陣陣元間隔離度。本文采用傳統(tǒng)Mushroom型EBG結構,它是一種緊湊型的電磁帶隙結構[8],如圖2所示。其結構單元由金屬貼片、介質基板構成。

圖2 EBG單元結構

用C代表EBG結構的等效電容,L代表EBG結構的等效電感,ω0代表EBG結構的諧振頻率,當EBG工作于諧振頻率或者其附近某一范圍頻段時,其表面阻抗可以表示為:

由式(3)可知,當EBG工作于諧振頻率時,表面阻抗Z值較大。因此,EBG結構能夠有效阻止電磁波在其表面?zhèn)鞑ィ_到一定頻段內抑制表面波的目的,陣元間的互耦也得到抑制。

本文中,金屬貼片尺寸為40 mm×40 mm,介質基板為FR4,厚度為3 mm,所設計的EBG結構緊湊,單元尺寸遠小于波長。文中設計工作帶寬BW=0.5F0,百分比帶寬為60%,EBG結構S參數(shù)仿真值如圖3所示。從S參數(shù)圖中可以看到,EBG結構可在F0±0.5BW的工作頻帶內將電磁波全反射回來。

圖3 EBG結構S參數(shù)

2.2 平面吸波器結構

平面吸波器具有吸波結果,可以用來提高天線陣陣元間隔離度。本文設計了一款加載磁性介質材料的吸波器結構,利用磁性材料磁損耗高的特性來實現(xiàn)寬頻帶吸波的能力。磁性材料吸波單元的結構如圖4所示,整個單元采用旋轉對稱結構,以實現(xiàn)對任意極化波的有效吸收。該結構在磁性介質上下表面加載金屬貼片,上表面金屬呈曲折線結構,可以延長電流路徑,在二維平面內實現(xiàn)小型化。由于采用的介質基板為磁性介質,其獨特的磁特性可以使吸波結構以超薄的剖面工作在P波段。

圖4 平面吸波器單元結構

對基于磁性材料的平面吸波器單元的結構參數(shù)進行優(yōu)化仿真,最終得到的單元周期為32 mm,磁介質厚度為3 mm。平面吸波器結構S參數(shù)仿真值如圖5所示。在F0±0.5BW的工作頻帶內,吸波器可以實現(xiàn)低于0.3的反射系數(shù),吸波效率高于0.9。

圖5 平面吸波器結構S參數(shù)

2.3 極化柵結構

極化柵能夠對垂直于的極化電磁波進行透射,而對平行于柵線的電磁波進行反射,故可考慮使用極化柵結構來實現(xiàn)對極化平行于陣面的電磁波進行抑制,進而實現(xiàn)提升陣元間隔離度的效果。本文設計的極化柵結構如圖6所示。

圖6 極化柵結構

本文極化柵采用3 mm厚的FR4基板,一側加載寬度為5 mm的矩形金屬貼片,相鄰金屬貼片間隔為5 mm。極化柵結構S參數(shù)仿真值如圖7所示。從S參數(shù)圖中可以看到,設計的極化柵對水平方向的電磁波起反射作用,對垂直方向的電磁波起透射作用。

圖7 極化柵S參數(shù)

3 天線陣列陣元耦合分析

3.1 天線單元性能

印刷蝶形天線屬于半波振子天線的變形,它是由振子天線的2個臂、印制板、天線饋電口、傳輸線組成,傳輸線的饋入阻抗為50Ω。天線模型如圖8所示,天線單元回波損耗仿真值如圖9所示,天線單元增益方向圖仿真值如圖10所示。

圖8 天線單元模型

圖9 天線單元回波損耗

圖10 天線單元增益方向圖

3.2 天線單元組陣

為了實現(xiàn)天線陣的無柵瓣電掃描,陣元間的間距d應滿足:

式中,θ是主瓣的波束指向;λmin是高頻時的波長。隨著天線陣帶寬變大,為了保證天線陣列無柵瓣電掃描,陣列天線陣元布局就越緊湊,陣元間耦合變大,對陣列電性能產(chǎn)生不利影響。

未加載耦合抑制結構的天線陣布局如圖11所示,陣列排布為4×4。計算陣中單元1、2、3間互耦系數(shù),S12為陣元1與陣元2間互耦系數(shù),S23為陣元2與陣元3間互耦系數(shù),S13為陣元1與陣元3間互耦系數(shù)。

圖11 未加載耦合抑制結構天線陣

未加載耦合抑制結構陣元互耦系數(shù)仿真結果如圖12所示,陣元互耦系數(shù)隨頻率增加單調遞減,陣中單元互耦系數(shù)在頻率低端較大。

圖12 未加載耦合抑制結構陣元互耦系數(shù)

EBG、平面吸波器、極化柵三種加載結構天線陣如圖13所示。對陣列天線進行全波仿真,陣中單元1、2、3互耦系數(shù)仿真結果如圖14所示。三種加載結構陣元2回波損耗如圖15所示。由仿真結果可知,相較于無加載天線陣,三種加載結構均可改善陣元間互耦系數(shù)。

圖13 三種加載天線陣

圖14 三種加載結構天線陣互耦系數(shù)

圖15 三種加載結構陣元2回波損耗

EBG、平面吸波器、極化柵三種加載結構天線陣陣元互耦系數(shù)最大值如表1所示,由表1可知,平面吸波器對陣元間耦合抑制效果最好。

表1 陣元互耦系數(shù)最大值

4 結束語

本文研究了降低陣列天線陣元互耦的方法。設計了EBG、平面吸波器和極化柵三種陣中結構加載形式,仿真表明這三種方法均可有效降低陣元間的互耦效應。本文方法實現(xiàn)了在60%相對帶寬內獲得陣元間互耦小于-18 dB、回波損耗小于-13.5 dB,可為寬帶天線陣研制提供參考?!?/p>

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