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鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜負(fù)極的制備及其電化學(xué)性能研究

2021-10-16 08:40孫夢璐陸萍張亦凡董磊吳杰李德軍
表面技術(shù) 2021年9期
關(guān)鍵詞:復(fù)合膜倍率負(fù)極

孫夢璐,陸萍,張亦凡,董磊,吳杰,李德軍

(1.天津師范大學(xué) a.物理與材料科學(xué)學(xué)院 b.天津市儲能材料表面技術(shù)國際聯(lián)合研究中心,天津 300387;2.煤炭科學(xué)研究總院,北京 100013)

隨著經(jīng)濟(jì)社會的快速發(fā)展,能源短缺的問題日益嚴(yán)峻,能量的轉(zhuǎn)換、存儲以及與之相關(guān)的電磁功能材料的研究受到人們的廣泛關(guān)注[1-2]。作為一種重要的能量存儲器件,可充電鋰離子電池具有能量密度高、重量輕、無記憶效應(yīng)、自放電低、循環(huán)壽命長、工作溫度范圍寬等優(yōu)點(diǎn),近年來,已在便攜式電子設(shè)備、動(dòng)力汽車等領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用[3-5]。負(fù)極材料是鋰離子電池的主要組成部分之一,對電池的循環(huán)壽命和安全性有重要影響。石墨是目前商業(yè)化程度最高的負(fù)極材料,但是石墨負(fù)極容易在循環(huán)過程中形成鋰枝晶,且理論比容量較低(約372 (mA·h)/g),其層狀結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性和倍率性能也有待提高[6-7]。硅是目前已知的嵌鋰比容量最高(約4200 (mA·h)/g)的鋰離子電池負(fù)極材料,然而單質(zhì)硅在與鋰離子進(jìn)行嵌入和脫嵌反應(yīng)過程中,其體積膨脹或收縮高達(dá)300%,這種體積變化使它在充放電過程中會發(fā)生粉化,進(jìn)而從集流體上剝落,導(dǎo)致循環(huán)穩(wěn)定性等電化學(xué)性能惡化[8]。為此,人們開發(fā)了硅氧化物以及硅基復(fù)合材料來替代單質(zhì)硅,以減輕體積變化帶來的性能損失[9]。與硅基材料相反,TiO2等過渡金屬氧化物具有良好的電磁功能[10],并且結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,鋰離子嵌入和脫嵌TiO2晶體引起的體積變化在3%左右[7-8,11],這使其具有優(yōu)異的循環(huán)穩(wěn)定性。此外,TiO2作為鋰離子電池負(fù)極時(shí),能可逆地與鋰離子反應(yīng),形成LixTiO2(x為嵌鋰系數(shù)),其放電平臺高(約1.7 V),可有效避免鋰枝晶的形成[12-14]。但TiO2是半導(dǎo)體材料,其電子電導(dǎo)率(10–12~10–7S/cm)較低,且鋰離子在TiO2內(nèi)部遷移困難,擴(kuò)散系數(shù)(10–15~10–9cm2/s)較小,這使得TiO2作為鋰離子電池負(fù)極時(shí)的倍率性能差,比容量(約170 (mA·h)/g)很低[15-17]。因此,本文擬將TiO2與硅基材料復(fù)合,使二者形成優(yōu)勢互補(bǔ),產(chǎn)生協(xié)同增強(qiáng)效應(yīng)。Si 和SiO2貢獻(xiàn)比容量,TiO2緩沖Si 和SiO2在鋰化時(shí)的體積變化,由此獲得比容量大、循環(huán)穩(wěn)定性高、倍率性能好的鋰離子電池負(fù)極材料。

目前,關(guān)于TiO2負(fù)極的制備方法主要是水熱合成法,該方法往往在高溫高壓條件下,經(jīng)長時(shí)間、多步驟才能完成。LIU H.等人[18]采用水熱合成法,制備了TiO2空心球并在表面包覆一層碳膜,獲得了良好的循環(huán)穩(wěn)定性和倍率性能,但其制備工序復(fù)雜,需要經(jīng)過高溫煅燒,制備成本較高,效率較低。而微弧氧化是利用電解液中的微區(qū)等離子體放電,在鋁、鎂、鈦、鋯等閥金屬表面原位生長陶瓷氧化膜的一種技術(shù)[19-21],制備的氧化膜表面呈現(xiàn)疏松多孔狀,作為電極材料時(shí),可為鋰離子的擴(kuò)散提供充足的遷移路徑。此外,相比水熱合成法,微弧氧化技術(shù)具有操作簡單、耗時(shí)短、成本低、對實(shí)驗(yàn)環(huán)境要求低等優(yōu)點(diǎn),可在常溫常壓下完成且無需后處理。目前,微弧氧化技術(shù)已被廣泛應(yīng)用于改善閥金屬材料的耐磨、耐蝕、熱控以及生物相容性、抗菌性等性能[22-25],但該技術(shù)在能源電池領(lǐng)域的應(yīng)用還較少。

本文采用微弧氧化技術(shù),在鈦箔表面制備多孔狀TiO2膜,再通過磁控濺射技術(shù),在 TiO2膜上沉積Si/SiO2,得到一種硅復(fù)合的微弧氧化膜。這種復(fù)合膜能充分利用TiO2結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性高、孔隙率高、Si 和SiO2容量高的特性,當(dāng)將其作為鋰離子電池負(fù)極時(shí),鋰電池有望同時(shí)獲得高的比容量、良好的循環(huán)穩(wěn)定性和好的倍率性能。

1 試驗(yàn)

1.1 TiO2/SiO2/Si 復(fù)合膜的制備

試驗(yàn)材料選用TA2 工業(yè)純鈦,尺寸為50 mm×30 mm×0.1 mm。試驗(yàn)前,將試樣進(jìn)行單面封裝并用無水乙醇超聲清洗,再用去離子水沖洗,吹干后備用。微弧氧化采用的電源為雙極性脈沖電源,頻率和占空比分別為150 Hz 和45%,電解液為含少量H2SO4的Na3PO4(質(zhì)量濃度為2 g/L)水溶液。將鈦試樣連接電源正極,浸入電解液中,調(diào)節(jié)正負(fù)電壓為+400 V/–50 V。放電2 min 后,關(guān)閉電源,從電解液中取出試樣,并用去離子水沖洗吹干,得到表面多孔的TiO2膜,無需其他后處理。

將微弧氧化處理后的試樣與純硅(99.99%)靶材一起裝入磁控濺射系統(tǒng)(SKY,F(xiàn)JL560CI2)中,先抽真空至3×10–4Pa,通入氬氣,進(jìn)行偏壓清洗15 min,之后通入氧氣,調(diào)節(jié)工作氣壓至0.5 Pa,偏壓為–40 V,射頻功率為80 W。預(yù)濺射15 min 后,開始正式沉積,沉積30 min 后,得到TiO2/SiO2/Si 復(fù)合膜。

1.2 成分分析、形貌表征與電化學(xué)性能測試

采用配備能譜儀的掃描電子顯微鏡(SEM &EDS,Hitachi SU8010)觀察膜層的表面和截面形貌,并分析膜層表面的元素分布。分別采用X 射線衍射儀(XRD,Bruker D8 Advance)、激光拉曼光譜儀(Raman,LabRAMHR800)和X 射線光電子能譜儀(XPS,ThermoFisher ESCALAB 250xi),分析膜層的物相組成、表面成分和元素價(jià)態(tài)。在制備的TiO2/SiO2/Si 復(fù)合膜上,截取直徑為12 mm 的圓片(圖1a),將其作為鋰離子電池的負(fù)極,在充滿氬氣、氧氣和水分(質(zhì)量濃度均低于1 mg/L)的手套箱中,組裝電池(CR2032 型)。鋰片為對電極,銅箔為集流體,用多孔聚丙烯膜將兩電極分隔開,電解液為1 mol/L 的LiPF6(VEC∶VDEC=1∶1)。圖1b 為組裝的鋰離子電池結(jié)構(gòu)示意圖。采用藍(lán)電電池測試系統(tǒng)(LAND CT2001A)測試電池的電化學(xué)性能,在100 μA/cm2的電流密度下,進(jìn)行循環(huán)性能測試,并在50~1000 μA/cm2的電流密度下,測試電池的倍率性能。采用電化學(xué)工作站(Princeton PARSTAT MC)測量電池的循環(huán)伏安曲線和循環(huán)前后的阻抗譜,掃描范圍為0.01~3.0 V,掃描速率為0.1 mV/s,阻抗測量的頻率為1 MHz~0.1 Hz。

圖1 鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜的外觀圖和鋰離子電池結(jié)構(gòu)示意圖Fig.1 Appearance of TiO2/SiO2/Si composite film on Ti substrate (a) and structure diagram (b) of the lithium ion battery

2 結(jié)果與討論

2.1 硅復(fù)合微弧氧化膜的形貌和結(jié)構(gòu)

圖2a 是微弧氧化及磁控濺射技術(shù)制備的鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜的表面形貌,表面呈現(xiàn)多孔狀形貌且孔洞分布較為密集,與堿性電解液中制備的微弧氧化膜有所不同[22,26]。同時(shí),氧化膜表面的孔徑差別較大,大孔直徑超過10 μm,而小孔直徑不到1 μm。圖2b 為圖2a 的局部放大圖,從圖中可以明顯觀察到孔洞的三維網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),該結(jié)構(gòu)能在充放電過程中為Li+提供充足的擴(kuò)散路徑,有利于加快Li+的擴(kuò)散速率。此外,圖中沒有直接觀察到磁控濺射沉積的SiO2/Si顆粒,這是因?yàn)檫@些顆粒物的尺寸太小。圖2c 為硅復(fù)合微弧氧化膜的截面圖,右上角插圖為局部放大圖,膜厚約為5 μm。其中,致密層并不明顯,多孔層幾乎從表面貫穿到基體。圖2d 是氧化膜表面的EDS 面掃描結(jié)果,與圖2b 的形貌相對應(yīng)。由圖2d可知,膜表面主要存在O、Si、Ti 3 種元素,并且它們均勻地分布在孔洞周圍。圖2e、圖2f 是利用ImageJ圖像軟件對膜表面和截面的孔隙率分析,紅色區(qū)域?qū)?yīng)孔洞面積。表面和截面孔隙率分別為36.1%和48.5%,平均孔隙率為42.3%,高于等離子體電解沉積制備的鈦表面Co(OH)2負(fù)極的平均孔隙率36.5%[27]。

圖2 鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜的SEM 表面圖、截面圖、膜表面EDS 面掃描成分圖以及膜表面和截面的孔隙率分析圖Fig.2 Surface morphology (a, b) and cross-sectional structure (c) of the TiO2/SiO2/Si composite film, EDS map scanning of the film surface (d) corresponding to (b), and porosity analysis of the surface morphology (e) and cross-sectional structure (f).

2.2 硅復(fù)合微弧氧化膜的成分

圖3 為鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜樣品的XRD 圖譜。由于氧化膜的厚度較薄,來自基底的 Ti 峰(PDF#65-9622)強(qiáng)度很高。氧化膜中同時(shí)存在銳鈦礦型TiO2(PDF#21-1272)和金紅石型TiO2(PDF#21-1276),其中,四方晶系的銳鈦礦具有沿a、b軸的雙向孔隙通道,在室溫下的嵌鋰容量略高于金紅石結(jié)構(gòu)。此外,氧化膜中還存在Si(PDF#41-1111)和SiO2(PDF#52-1541)相,這說明在磁控濺射過程中,硅靶未被完全氧化為SiO2,而是形成了Si 和SiO2的混合相,沉積在TiO2表面。

圖3 鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜的XRD 圖譜Fig.3 XRD pattern of the TiO2/SiO2/Si composite film on Ti substrate

圖4 是鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜在激發(fā)波長為532 nm 下的Raman 光譜,Raman 光譜能準(zhǔn)確區(qū)分銳鈦礦相和金紅石相。在398 cm–1和641 cm–1處的特征峰對應(yīng)銳鈦礦,分別屬于B1g和Eg振動(dòng)模式,而金紅石相的典型拉曼峰出現(xiàn)在445 cm–1和613 cm–1處,分別來自于Eg和A1g振動(dòng)模式[28-29]。在152 cm–1和520 cm–1附近的特征峰是由Si 的振動(dòng)模式引起的,而SiO2的特征峰出現(xiàn)在440 cm–1與605 cm–1附近,與金紅石相TiO2的兩個(gè)特征峰發(fā)生部分重疊[30-32]。

圖4 鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜的Raman 光譜Fig.4 Raman spectrum of the TiO2/SiO2/Si composite film

采用XPS 進(jìn)一步分析鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜樣品的表面元素狀態(tài),辨別硅元素的價(jià)態(tài)。由XPS寬掃描總譜圖(圖5a)可知,樣品表面除少量C、N元素被污染外,主要存在O、Si、Ti 3 種元素。對Si 2p 進(jìn)行高分辨掃描,并做高斯分峰擬合,結(jié)果如圖5b 所示。Si 2p 譜可分解出0 價(jià)Si(98.80 eV)和4價(jià)Si(101.85 eV)兩種Si 的結(jié)合態(tài),分別來自于單質(zhì)Si 和與TiO2復(fù)合的SiO2,即(TiO2)82(SiO2)18[33]。此外,根據(jù)Si0峰和Si4+峰所覆蓋的面積可計(jì)算出,Si 元素中的4 價(jià)Si 所占比例為77.9%,是主要的價(jià)態(tài)。因此,磁控濺射過程中,來自硅靶的單質(zhì)Si 大部分被氧化為SiO2,并與TiO2充分復(fù)合,形成了TiO2/SiO2/Si 復(fù)合膜。XPS 的分析結(jié)果與EDS、XRD以及Raman 的分析結(jié)果相一致。

圖5 鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜的XPS 能譜Fig.5 XPS profile of the TiO2/SiO2/Si composite film: a) XPS spectrum

2.3 硅復(fù)合微弧氧化膜的電化學(xué)性能

以鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜為負(fù)極,鋰片為正極,組裝電池后測量的循環(huán)伏安(CV)曲線見圖6a。從第二個(gè)周期開始,CV 曲線有很好的重疊度,說明電化學(xué)反應(yīng)具有良好的可逆性。在2.1 V 和1.7 V 附近,存在一對明顯的可逆反應(yīng)電對,對應(yīng)Li 與TiO2的氧化還原反應(yīng),0.5 V 和0.3 V 附近的氧化還原峰對應(yīng)Li 與SiO2的可逆反應(yīng),而0.3 V 和0.1 V 附近的氧化還原峰對應(yīng)Li 與Si 的氧化還原反應(yīng)[8,34-36]。3 對可逆反應(yīng)過程如下:

圖6 鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜負(fù)極的CV 曲線和恒電流充放電曲線Fig.6 CV curves (a) and galvanostatic charge/discharge curves (b) of the TiO2/SiO2/Si composite film anode

CV 曲線表明,Li+不斷從氧化膜嵌入/脫嵌過程中,伴隨著化合物的重復(fù)形成和分解,Li+的合金化和去合金化過程具有良好的可逆性。圖6b 是鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜負(fù)極的恒電流充放電曲線,電壓平臺與CV 曲線的3 對可逆氧化還原反應(yīng)相對應(yīng)。由于首次充放電的過程中,負(fù)極表面形成了固體電解質(zhì)界面層(SEI),導(dǎo)致初始放電比容量(553 (mA·h)/g)高于充電比容量(377 (mA·h)/g)。但是在隨后的循環(huán)中,SEI 層并沒有造成進(jìn)一步的容量損失,放電比容量與充電比容量接近,說明鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜負(fù)極具有良好的循環(huán)穩(wěn)定性。

為了進(jìn)一步測試電極的循環(huán)穩(wěn)定性,將電池在100 μA/cm2的電流密度下進(jìn)行循環(huán),結(jié)果如圖7a 所示。經(jīng)100 圈循環(huán)后,比容量保持在530 (mA·h)/g 左右,是純TiO2負(fù)極比容量的3 倍多。高比容量的來源是Si 和SiO2,而TiO2主要起載體支撐作用,緩沖了Si 和SiO2在鋰化時(shí)的體積變化。此外,首次庫倫效率為68.1%,后續(xù)循環(huán)中,庫倫效率接近100%。因此,鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜作為鋰離子電池負(fù)極時(shí),具有較高的可逆比容量和良好的循環(huán)穩(wěn)定性。在50~1000 μA/cm2的電流密度下,電池的倍率性能變化如圖7b 所示,隨著電流密度升高,比容量逐漸降低。經(jīng)過1000 μA/cm2的大電流充放電后,比容量回到660 (mA·h)/g,約為初始比容量的95%,表現(xiàn)出優(yōu)異的倍率性能。微弧氧化技術(shù)制備的多孔狀TiO2不僅結(jié)構(gòu)穩(wěn)定,而且能為Li+的擴(kuò)散提供大量的內(nèi)部通道,大大提高了Li+的擴(kuò)散速率。同時(shí),復(fù)合膜表面終端Si 原子的存在有效降低了鋰離子吸附性能,增強(qiáng)了負(fù)極的儲鋰性能。負(fù)極的鋰離子吸附能力對電化學(xué)性能有重要影響[37],將來可以通過在TiO2基體中引入點(diǎn)缺陷、異質(zhì)結(jié)等優(yōu)化TiO2的晶體結(jié)構(gòu)和電子結(jié)構(gòu),增強(qiáng)鋰離子的吸附能力,并通過復(fù)合高導(dǎo)電率的石墨烯、MXenes 等材料增強(qiáng)TiO2的導(dǎo)電性,產(chǎn)生協(xié)同增強(qiáng)效應(yīng),進(jìn)一步提高硅復(fù)合微弧氧化膜負(fù)極的電化學(xué)性能。

圖7 鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜負(fù)極的循環(huán)性能曲線和倍率性能曲線Fig.7 Capacity retention performance (a) and rate capability(b) of the TiO2/SiO2/Si composite film anode.

圖8 是電池循環(huán)前后的阻抗變化。由圖8 可知,經(jīng)100 圈循環(huán)后,阻抗數(shù)值整體降低了2 個(gè)數(shù)量級。高頻區(qū)的容抗弧半徑明顯減小,同時(shí)低頻區(qū)的直線斜率增大。這是由于高孔隙率的微弧氧化復(fù)合膜作為鋰離子電池負(fù)極時(shí),增大了電極的比表面積,使電化學(xué)反應(yīng)的活性點(diǎn)數(shù)量增加,并縮短了Li+的擴(kuò)散路徑,同時(shí)有效降低了電解液與電極界面之間的電荷轉(zhuǎn)移阻抗和Li+在電極界面的擴(kuò)散阻抗,提高了循環(huán)效率。此外,Li+的擴(kuò)散速率可通過電化學(xué)阻抗譜評估,Li+在TiO2中的擴(kuò)散系數(shù)可由公式(4)計(jì)算得出[38-39]。

圖 8 鈦表面硅復(fù)合微弧氧化膜負(fù)極循環(huán)前后的阻抗Nyquist 圖(插圖為低頻部分的實(shí)部Z′與角頻率的線性擬合圖)Fig.8 EIS Nyquist plots of the TiO2/SiO2/Si composite film anode measured before (a) and after (b) 100 cycles, the insertion is a linear fitting diagram of Z′ and

式中:R是氣體常數(shù);T是熱力學(xué)溫度(室溫);A是電極的幾何面積;n是反應(yīng)過程中轉(zhuǎn)移的電子數(shù);F是法拉第常數(shù);C是電極中的Li+濃度;σ是Warburg系數(shù),該系數(shù)可通過線性擬合阻抗低頻部分的實(shí)部Z'與角頻率的關(guān)系并計(jì)算斜率得出(圖8a—b 中插圖所示)。

代入數(shù)據(jù)可得出,電池循環(huán)前后,Li+在電極中的擴(kuò)散系數(shù)分別為5.45×10–15、2.43×10–12cm2/s,均高于TiO2納米管陣列中的Li+擴(kuò)散系數(shù)4.71×10–15cm2/s[39],說明Li+在微弧氧化膜電極中的遷移阻力較小,擴(kuò)散速率較快。

3 結(jié)論

1)將微弧氧化技術(shù)與磁控濺射技術(shù)相結(jié)合,在鈦箔表面制備了一種高孔隙率的硅復(fù)合微弧氧化膜。

2)TiO2/SiO2/Si 復(fù)合膜能充分利用TiO2高的結(jié)構(gòu)穩(wěn)定性以及Si 和SiO2的高比容量特性,作為鋰離子電池負(fù)極時(shí),具有較高的比容量、良好的循環(huán)穩(wěn)定性和倍率性能。微弧氧化膜的多孔結(jié)構(gòu)為Li+提供了充足的擴(kuò)散路徑,增加了電化學(xué)反應(yīng)的活性點(diǎn)數(shù)量。

3)微弧氧化技術(shù)的工藝流程簡單,在鈦箔表面放電處理2 min 即可獲得5 μm 厚的TiO2負(fù)極薄膜,且無需粘結(jié)劑,能有效降低鋰離子電池負(fù)極材料的制造成本。將來通過參數(shù)優(yōu)化和工藝組合,有望進(jìn)一步提高材料的綜合性能,進(jìn)而實(shí)現(xiàn)產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。

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