韓龍 梁慧
摘 要:主要研究了通過添加微米級(jí)氧化鋯來提高石英陶瓷材料的抗彎強(qiáng)度。結(jié)果表明,當(dāng)添加5Wt%的氧化鋯時(shí),石英陶瓷的力學(xué)性能明顯改善,抗彎強(qiáng)度由36.53MPa增至58.95MPa,氣孔率下降,而且沒有引起石英陶瓷的大量析晶 。對(duì)引起這種變化的原因進(jìn)行了分析,并用SEM對(duì)材料的微觀形貌進(jìn)行觀察,用壓汞儀測(cè)試材料的氣孔率,用X射線衍射對(duì)材料的成份進(jìn)行定性分析。
關(guān)鍵詞:石英陶瓷;氧化鋯增韌;力學(xué)性能;介電性能
1 前 言
石英陶瓷材料具有優(yōu)良的介電、熱學(xué)和力學(xué)等綜合性能,是目前導(dǎo)彈天線罩的主要應(yīng)用材料[1]。
材料的介電性能(介電常數(shù)和損耗角正切)直接影響天線罩的電性能,是選擇材料的主要依據(jù)[2]。 損耗角正切(tgδ)越大,電磁波能量在透過天線罩過程中轉(zhuǎn)化為熱量而損耗掉的能量就越多。介電常數(shù)(ε)越,則電磁波在空氣與天線罩壁分界面上的反射就越大,這將增加鏡像波瓣電平并降低傳輸效率。因此,要求天線罩材料的損耗角正切低至接近于零,介電常數(shù)盡可能低,以達(dá)到“最大傳輸”和“最小反射”的目的[3]。低介電常數(shù)的材料還能給天線罩帶來寬頻帶響應(yīng),允許放寬壁厚公差,從而降低制造成本[4]。
一般來說,透波材料的適宜相對(duì)介電常數(shù)值為1~4,損耗角正切值為10-1~10-3。石英陶瓷材料具有優(yōu)良的介電性能、低介電常數(shù)、低膨脹系數(shù)、優(yōu)良的抗熱震性能及成本低廉等優(yōu)點(diǎn)成為研制導(dǎo)彈天線罩的首選材料(國(guó)內(nèi)先進(jìn)型號(hào)導(dǎo)彈的天線罩采用石英陶瓷作為天線罩材料[5])
隨著新型號(hào)天線罩的不斷研制和開發(fā),對(duì)石英陶瓷材料的要求越來越高,近年來科學(xué)家們受先進(jìn)陶瓷進(jìn)展的啟發(fā),開始探索玻璃陶瓷的強(qiáng)化增韌來克服石英陶瓷室溫強(qiáng)度低的缺點(diǎn)[6]。本文受氧化鋯增韌陶瓷的啟發(fā),用微米氧化鋯來強(qiáng)化增韌石英陶瓷,并加入納米二氧化硅起到的納米效應(yīng),在玻璃陶瓷的強(qiáng)化增韌方面做些初步的探索,以求在天線罩材料的研制上取得進(jìn)展。
2 實(shí)驗(yàn)
2.1 原料與配方
實(shí)驗(yàn)原料見表1
2.2 實(shí)驗(yàn)過程
按表2的實(shí)驗(yàn)配方稱料,在尼龍罐中混料20min,轉(zhuǎn)速為250r/min,烘干后,用PVA做粘結(jié)劑造粒,陳腐24h,在100MPa下壓制成尺寸為40mm×40mm×h(8~10)mm的試樣,置于硅碳棒程控電爐中,以5 ℃/min 的升溫速度,在1200℃燒結(jié),保溫10min后,自然降溫。
3.結(jié)果與討論
3.1 強(qiáng)度測(cè)試及分析
將試樣切成2.5mm×5mm×25mm試條,在美國(guó)Instron 5569型電子萬能材料試驗(yàn)機(jī)上測(cè)三點(diǎn)彎曲強(qiáng)度,壓頭位移速度為0.5 mm/min,最終結(jié)果取平均值,如圖1。
從圖1可以看出在燒結(jié)溫度均為1200℃時(shí),ZrO2含量在5%時(shí)達(dá)到了最高值;再提高ZrO2含量反而會(huì)使強(qiáng)度有所降低,其原因在于ZrO2的加入使得坯體更難于燒結(jié),致密度下降,氣孔率提高。
3.2介電性能測(cè)試及分析
利用NETZSCH 固化監(jiān)測(cè)儀測(cè)試樣品的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗。
測(cè)試過程中,樣品被置于兩個(gè)電極(介電傳感器)之間,在一側(cè)電極上施加正弦的激發(fā)電壓,使材料中的偶極子在電場(chǎng)中取向,離子移向不同極性的電極。在另一側(cè)電極則測(cè)量得到的正弦感應(yīng)信號(hào)。由于感應(yīng)信號(hào)的相位變化和振幅衰減與材料中離子移動(dòng)性和偶極子取向有關(guān),由此可以計(jì)算出材料的
介電常數(shù)和損耗因子。結(jié)果見圖2 。
由圖2看出,ZrO2的含量的逐漸增加,材料的介電常數(shù)呈下降趨勢(shì),這是因?yàn)橐氲腪rO2材料的介電常數(shù)明顯比石英陶瓷的大,ZrO2的含量越高,材料整體的介電常數(shù)越高,所以,ZrO2的加入量不宜過高。
3.3 微觀形貌分析
用日本日立公司的(SEM)S-2500掃描電鏡型研究試樣的微觀形貌。
由圖3看出,不添加ZrO2時(shí),陶瓷的結(jié)構(gòu)不太致密,有大晶粒生成,對(duì)強(qiáng)度影響很大。含5%ZrO2的石英陶瓷結(jié)構(gòu)致密,并有玻璃相起到連通作用,對(duì)于石英陶瓷這種材料,這樣的結(jié)構(gòu)對(duì)強(qiáng)度的增加是很有利的。含10% ZrO2的材料結(jié)構(gòu)很致密。含15% ZrO2的材料結(jié)構(gòu)疏松,顆粒大小不均勻。含20% ZrO2的材料結(jié)構(gòu)疏松,致密度很差,氣孔率高。
3.4孔隙度測(cè)試分析
測(cè)試采用美國(guó)的的Poremaster-60型全自動(dòng)孔隙度分析儀(壓汞儀)。測(cè)試結(jié)果見圖4。
可見,孔隙度的測(cè)試值與抗彎強(qiáng)度呈對(duì)應(yīng)關(guān)系,孔隙度越高,強(qiáng)度越低。氣孔增多,材料的致密度必然下降。由微觀形貌也可以看出,顆粒均勻,排列緊密的材料,氣孔率下,強(qiáng)度值高。
3.5 材料的X射線分析
測(cè)試采用D/Max-rA型X射線衍射儀。
由圖5可以看出,五種配比的石英陶瓷都沒有SiO2晶體,析晶不明顯,說明適當(dāng)?shù)募尤隯rO2,不會(huì)引起石英陶瓷的大量析晶,因而對(duì)強(qiáng)度只能增強(qiáng),不會(huì)因析晶導(dǎo)致強(qiáng)度下降。
4.結(jié)論
(1)總SiO2(其中微粉80% +粗粉10% +納粉10% )含量占95%、ZrO2+ Y2O3( 97.2mol% ZrO2+2.8mol% Y2O3 )的總含量占5%時(shí)抗彎強(qiáng)度最佳。 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? (2)在1200 ℃的溫度下燒結(jié)時(shí)ZrO2含量在5%時(shí)有明顯的增韌效果,彎曲強(qiáng)度從抗彎強(qiáng)度由36.53MPa增至58.95MPa。
(3)ZrO2的加入并沒有引起石英陶瓷的大量析晶。
(4)ZrO2含量5%時(shí)石英陶瓷的介電常數(shù)為3.11,損耗角正切為0.00994。依據(jù)透波材料的適宜條件,能夠滿足透波材料的需要。
參考文獻(xiàn)
[1]雷景軒,鄔浩,趙中堅(jiān).石英陶瓷天線罩材料研究進(jìn)展[J].中國(guó)陶瓷,2020,56(04):7-12.
[2]蔡德龍,陳斐,何鳳梅,賈德昌,匡寧,苗蕾,邱海鵬,王洪升,徐念喜,楊治華,于長(zhǎng)清,張俊武,張偉儒,周延春.高溫透波陶瓷材料研究進(jìn)展[J].現(xiàn)代技術(shù)陶瓷,2019,40(Z1):4-120.
[3]崔雪峰,李建平,李明星,周杰,李鑫,成來飛,劉永勝,葉昉.氮化物基陶瓷高溫透波材料的研究進(jìn)展[J].航空材料學(xué)報(bào),2020,40(01):21-34.
[4]J.D.Walton. Radome Engineering Handbook. New York:MARCEL DEKKER,INC. 1970.
[5]田共有.一種石英陶瓷天線罩材料力學(xué)特性研究[J].陶瓷學(xué)報(bào),2019,40(01):46-50.
[6]張會(huì)芳,卜景龍,申書斌,陳越軍,張璞.Ho2O3-Y2O3對(duì)熔融石英晶化性能的影響[J].中國(guó)陶瓷,2015,51(07):12-15.