郭蘋(píng)蘋(píng)
(上海電力大學(xué) 電子與信息工程學(xué)院,上海 200090)
集成電路的核心器件特征尺寸越來(lái)越小,傳統(tǒng)體硅器件的短溝道效應(yīng)變得越來(lái)越不可控,文獻(xiàn)[1]中提出,當(dāng)工藝節(jié)點(diǎn)進(jìn)入到28 nm后,全耗盡絕緣體上硅器件憑借其優(yōu)越的柵極控制能力和較低的漏電流,成為了替代體硅器件的一種選擇。該器件為平面型晶體管結(jié)構(gòu),具有超薄頂層硅(SOI)和埋氧化層(BOX)結(jié)構(gòu),BOX的存在使FDSOI器件有了更多的優(yōu)勢(shì),主要包括4個(gè)方面:(1)襯底電容可忽略不計(jì),因此可降低電源電壓,降低功耗;(2)沒(méi)有閂鎖效應(yīng)(Latch-up),電路不需要特殊布局;(3)具有理想的器件隔離,器件布局更加緊密;(4)具有較低的漏電流,可降低功耗。
Global Foundries 22 nm FDSOI工藝是目前較先進(jìn)的制造工藝,使用全耗盡絕緣體上硅器件,具有射頻、體偏壓和集成的優(yōu)點(diǎn),為減小電路尺寸,提高電路性能,設(shè)計(jì)一款22 nm高性能低壓差線(xiàn)性穩(wěn)壓器是必要的;低壓差線(xiàn)性穩(wěn)壓器以其功耗低、壓差低、面積小和成本低等特點(diǎn),被廣泛用于各種電子設(shè)備中[2]。本文基于該先進(jìn)工藝,設(shè)計(jì)了一款輸入電源電壓為1.8 V、輸出電壓為0.8 V、負(fù)載電流范圍為1μA~30 mA的可以為低壓低功耗模塊提供電源的低壓差線(xiàn)性穩(wěn)壓器。
本次設(shè)計(jì)的LDO電路的原理如圖1所示。
圖1 LDO整體架構(gòu)圖
LDO利用負(fù)反饋系統(tǒng)對(duì)輸出電壓進(jìn)行實(shí)時(shí)控制,輸出穩(wěn)定的直流電壓的電源模塊,主要由基準(zhǔn)電路(Reference)、誤差放大器(EA)、功率器件(Pass Element)和反饋網(wǎng)絡(luò)構(gòu)成[3],實(shí)際工程中根據(jù)需求一般還會(huì)包括柵極驅(qū)動(dòng)、頻率補(bǔ)償、過(guò)溫保護(hù)與過(guò)流保護(hù)等其他模塊[4]。
在LDO電路中,帶隙基準(zhǔn)電壓源的作用是提供穩(wěn)定的參考電壓,帶隙基準(zhǔn)電壓源是將正溫度系數(shù)的電壓與負(fù)溫度系數(shù)的電壓以不同的權(quán)重相加得到零溫度系數(shù)的電壓[5];誤差放大器將基準(zhǔn)參考電壓VREF和反饋電壓VFB進(jìn)行比較得到誤差信號(hào),并將誤差信號(hào)放大后控制功率管的柵極電壓,改變流過(guò)功率管發(fā)電流大小,控制LDO輸出電壓的大??;采樣電阻比例的調(diào)整可實(shí)現(xiàn)不同的電壓輸出,一般采樣電阻的阻值都較大,可降低功耗;功率管決定LDO的驅(qū)動(dòng)能力,同時(shí)用來(lái)調(diào)節(jié)輸出電壓的變化讓其維持在一個(gè)恒定不變的值[6]。
LDO上電完成后電路啟動(dòng),帶隙基準(zhǔn)電壓源產(chǎn)生基準(zhǔn)參考電壓VREF,反饋網(wǎng)絡(luò)通過(guò)采樣為誤差放大器提供反饋電壓VFB,VFB與采樣電阻R1和R2的關(guān)系如式(1)所示:
當(dāng)VFB小于VREF時(shí),通過(guò)環(huán)路控制作用,功率管的柵極電壓被拉低,使更多的電流流過(guò)負(fù)載,提高輸出電壓;當(dāng)VFB大于VREF時(shí),功率管的柵極電壓被抬高,限制流過(guò)負(fù)載的電流大小,降低輸出電壓;當(dāng)VFB等于VREF時(shí),反饋系統(tǒng)進(jìn)入穩(wěn)定狀態(tài)[7],此時(shí),輸出電壓不變。
LDO電路中的誤差放大器采用兩級(jí)運(yùn)放結(jié)構(gòu),相比于折疊運(yùn)放、套筒運(yùn)放,兩級(jí)運(yùn)放的開(kāi)環(huán)增益更高,功耗和噪聲較低[8]。如圖2所示,第一級(jí)為典型的電流鏡負(fù)載差分放大器結(jié)構(gòu),由NM0、NM1、NM2、PM0和PM1 5個(gè)管子構(gòu)成,用來(lái)提供更高的增益,第二級(jí)采用NMOS輸入共源放大結(jié)構(gòu),由PM2、NM3構(gòu)成,用于放大輸出擺幅[9]。
圖2 兩級(jí)運(yùn)算放大器
第一級(jí)差分放大增益AV1:
式(2)中,gm1為NM1管子的跨導(dǎo),rp1為PM1管子的輸出電阻,rN1為NM1管子的輸出電阻。
第二級(jí)共源級(jí)放大器的增益AV2:
式(3)中,gm3為NM3管子的跨導(dǎo),rp2為PM2管子的輸出電阻,rN3為NM3管子的輸出電阻。
兩級(jí)運(yùn)放的增益AV:
兩級(jí)運(yùn)放的增益在低頻處可達(dá)60 dB以上。
PMOS功率管可以使功率級(jí)作為一個(gè)共源放大器結(jié)構(gòu),為L(zhǎng)DO環(huán)路提供增益,同時(shí),PMOS管漏源電壓VDS為L(zhǎng)DO的壓差,當(dāng)PMOS管處于飽和區(qū)時(shí),很小的漏源電壓VDS就可以產(chǎn)生足夠的輸出電流[10]。若功率管采用NMOS管,NMOS管構(gòu)成的是源級(jí)跟隨器結(jié)構(gòu),不能為L(zhǎng)DO環(huán)路提供增益,LDO的壓差是NMOS管的柵源電壓VGS,LDO的壓差大于NMOS管的閾值電壓VTH才能輸出較大的電流,這個(gè)數(shù)值通常很大。所以本文采用PMOS管作為功率管。
最大負(fù)載電流、版圖面積,漏失電壓都影響功率管尺寸的大小,PMOS功率管尺寸的選擇不僅要滿(mǎn)足所需要的負(fù)載電流,而且要盡可能減小功率管的尺寸來(lái)減小版圖面積,同時(shí)可以減小功率管的寄生電容,使環(huán)路更容易穩(wěn)定,功率管寬長(zhǎng)比的計(jì)算公式為:
式(5)中,IOUT,MAX為輸出負(fù)載電流最大值,μPOW為載流子的遷移率,Cox為單位面積柵氧化層電容,Vdsat為過(guò)驅(qū)動(dòng)電壓。
基于Global Foundries 22 nm FDSOI工藝完成LDO設(shè)計(jì),在該工藝下,采用Cadence中的Spectre仿真工具對(duì)該電路的功能進(jìn)行了仿真。
負(fù)載調(diào)整率是指當(dāng)輸出負(fù)載電流變化時(shí),LDO輸出電壓仍然能夠保持穩(wěn)定的能力,負(fù)載調(diào)整率越小越好。負(fù)載調(diào)整率仿真波形圖如圖3所示,當(dāng)輸出負(fù)載電流從1μA掃描到30 mA,LDO輸出電壓從800.62 mV變化到799.57 mV,變化了約1.1 mV,誤差很小,根據(jù)負(fù)載調(diào)整率的公式可以計(jì)算出該LDO的負(fù)載調(diào)整率:
圖3 LDO負(fù)載調(diào)整率仿真波形圖
線(xiàn)性調(diào)整率反應(yīng)的是LDO的低頻電源增益,是描述當(dāng)直流輸入電源電壓變化時(shí),LDO是否能抑制這種變化仍然保持輸出電壓的穩(wěn)定。在負(fù)載電流ILoad=20 mA,溫度為25℃的情況下進(jìn)行仿真,仿真波形圖如圖4所示,從圖中可看出,當(dāng)電源電壓從1.1 V變化到2 V時(shí),LDO的輸出電壓變化范圍很小,約為1.7 mV,由此可計(jì)算出LDO的線(xiàn)性調(diào)整率:
圖4 LDO線(xiàn)性調(diào)整率仿真波形圖
電源電壓抑制比是描述輸出電壓隨電源電壓變化而變化的特性,電源電壓抑制比越高,表明該LDO的抑制紋波能力越強(qiáng)。仿真結(jié)果如圖5所示,頻率從1 Hz掃描到1 GHz,在頻率為10 Hz時(shí),對(duì)應(yīng)的PSRR為61.26 dB,在10 MHZ對(duì)應(yīng)最低點(diǎn),可達(dá)到51.47 dB,在高頻時(shí)PSRR會(huì)略有下降,這是因?yàn)楦哳l時(shí)運(yùn)放對(duì)電路有抑制作用。
圖5 LDO電源電壓抑制比仿真波形圖
LDO系統(tǒng)是一個(gè)負(fù)反饋系統(tǒng),環(huán)路穩(wěn)定性對(duì)于LDO是極其重要的,一般要求相位裕度要在60 dB以上。因此需對(duì)其穩(wěn)定性進(jìn)行仿真,在負(fù)載電流為30 mA的條件下,LDO的stb仿真波形如圖6所示;在負(fù)載電流1μA的條件下,仿真波形圖如圖7所示。
根據(jù)圖6和圖7的仿真結(jié)果,當(dāng)負(fù)載電流為1μA時(shí),LDO的低頻增益約為100 dB,相位裕度為86.31°,環(huán)路穩(wěn)定;當(dāng)負(fù)載電流為30 mA時(shí),LDO的低頻增益約為69.68 dB,相位裕度為76°,環(huán)路穩(wěn)定;隨著輸出負(fù)載電流的增大,相位裕度下降,低頻增益降低,在1μA~30 mA時(shí),相位裕度在76°~86.31°,低頻增益在69.68~100 dB,因此,在1μA~30 mA時(shí),環(huán)路都有足夠的低頻增益且都保持穩(wěn)定。
圖6 負(fù)載電流30 mA時(shí)LDO穩(wěn)定性仿真波形圖
圖7 負(fù)載電流1μA時(shí)LDO穩(wěn)定性仿真波形圖
本文基于Global Foundries 22 nm FDSOI先進(jìn)工藝設(shè)計(jì)了一款22 nm的低壓差線(xiàn)性穩(wěn)壓器,該LDO結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,易于實(shí)現(xiàn),性能良好,通過(guò)將傳統(tǒng)的五管運(yùn)算放大器與共源放大器級(jí)聯(lián)組成了LDO的誤差放大器,該誤差放大器具有較高的增益且穩(wěn)定性好,仿真結(jié)果表明:在溫度為25℃,輸入電源電壓為1.8 V,LDO電路穩(wěn)定輸出電壓為800 mV,電路在1μA~30 mA都有較好的穩(wěn)定性,并且在負(fù)載調(diào)整率、線(xiàn)性調(diào)整率和電源電壓抑制比方面都表現(xiàn)良好。