南威克,蘇 俊,郭 冰,*,諶陽平,楊彥云,王建松,許世偉,馬軍兵,馬 朋,白 真,李鑫悅,韓志宇,李云居,曾 晟,顏勝權(quán),馬田麗,蘇 毅,茹龍輝,柳衛(wèi)平,*
(1.中國原子能科學(xué)研究院,北京 102413;2.北京師范大學(xué) 核科學(xué)與技術(shù)學(xué)院,北京 100875;3.中國科學(xué)院 近代物理研究所,甘肅 蘭州 730000)
12C(α,γ)16O的反應(yīng)是恒星氦燃燒階段關(guān)鍵核反應(yīng)。其反應(yīng)率不但直接決定碳和氧的豐度比,也對之后的恒星演化過程有重要影響[1-2]。氦燃燒階段的12C(α,γ)16O反應(yīng)的伽莫夫窗口在Ec.m.≈0.3 MeV處,該能區(qū)12C(α,γ)16O反應(yīng)截面極小,直接測量極其困難,目前直接測量的最低能量點為Ec.m.≈0.89 MeV,且該能點處截面的誤差大于50%[3],遠(yuǎn)未達(dá)到天體物理計算要求的10%的精度要求。
為得到12C(α,γ)16O反應(yīng)在伽莫夫窗口的反應(yīng)截面,需利用高能區(qū)直接測量數(shù)據(jù)及間接測量結(jié)果向低能點進(jìn)行外推。實驗上對16N的β延遲α衰變進(jìn)行測量是研究12C(α,γ)16O的E1組分的有效間接方法之一。16N β衰變到7.12 MeV,1-和9.58 MeV,1-態(tài)延遲發(fā)射α粒子,相干引起Eα≈800 keV處有一小峰,對其進(jìn)行R矩陣擬合可對12C(α,γ)16O的E1部分貢獻(xiàn)進(jìn)行有效約束。
對16N的β延遲α衰變譜的測量存在各種實驗測量誤差,其來源主要包括探測器分辨、探測器效率和各種可能的本底[4]。時至今日,已進(jìn)行了若干對于16N β延遲α譜測量的實驗[5-10]。其中加拿大TRIUMF國家實驗室[9]和美國阿貢國家實驗室研究團(tuán)隊[10]在Ec.m.≈1.2 MeV處測得了明顯的小峰。以下介紹這兩個工作是如何對其進(jìn)行測量的。
在20世紀(jì)90年代初,Buchmann帶領(lǐng)的團(tuán)隊在加拿大粒子與核物理國家實驗室(TRIUMF)進(jìn)行了一系列針對16N β延遲α衰變譜的高統(tǒng)計測量實驗[9]。TRIUMF回旋加速器產(chǎn)生的能量為500 MeV、強度為2 μA的質(zhì)子束轟擊在厚度為13.1 g/cm2的沸石靶上。經(jīng)TISOL同位素分離器分離純化后,得到12 keV、質(zhì)量數(shù)為30的16N14N+形態(tài)的次級束流,傳輸?shù)綄嶒灲K端進(jìn)行測量。首先,利用1個直徑8 mm的準(zhǔn)直孔對其進(jìn)行準(zhǔn)直,再注入到厚度為10 μg/cm2、直徑為1 cm的碳膜上。4塊這樣的碳膜被安置在與束線垂直的能旋轉(zhuǎn)的輪子上[8]。當(dāng)一塊碳膜收集16N時,其他3塊旋轉(zhuǎn)到了面壘型硅探測器中間,以探測16N β延遲α衰變產(chǎn)生的α粒子,最終得到S因子的電偶極分量為(79±21) keV·b(1 b=10-28m2)。
阿貢國家實驗室研究團(tuán)隊的實驗設(shè)置與前者有較大的不同。82 MeV的15N初級束轟擊在液氮冷卻的氘氣體靶(壓強為0.14 MPa)上,通過d(15N,16N)p反應(yīng)生成16N次級束。次級束經(jīng)超導(dǎo)螺線管匯聚后,依靠22°偏轉(zhuǎn)磁鐵與15N初級束分離,最終得到61 MeV、3×106s-1的16N束流。16N束經(jīng)降能單元后,被注入到17 μg/cm2的碳膜上。3塊碳膜以120°為間隔安置在轉(zhuǎn)輪上。每注入15 s,束流停止100 ms,并在間隔內(nèi)旋轉(zhuǎn)120°。當(dāng)1塊碳膜在收集16N時,其他2塊碳膜正對電離室的中心,以探測出射的α和12C。3塊碳膜中有1塊不注入16N,以測量本底。對實驗測得的出射α能譜進(jìn)行R矩陣擬合,給出S因子的電偶極分量為(86±22) keV·b。
由于得到的16N束流能量較低,以上這兩個實驗均采用了轉(zhuǎn)輪法,將低能16N束流注入到碳膜,再用后續(xù)探測器測量出射粒子。轉(zhuǎn)輪法雖能降低束流誘發(fā)本底的干擾,但旋轉(zhuǎn)過程的事件損失會造成16N探測效率的下降。為提高16N束流利用效率,考慮將高能16N束直接注入到硅探測器進(jìn)行實驗測量。注入法進(jìn)行實驗測量不僅能簡化實驗裝置,且是對16N衰變的全立體角測量,有效提高了探測效率。2016年,Refsgaard等[11]率先利用注入法對16N β延遲α粒子能譜進(jìn)行測量。荷蘭格羅寧根核物理加速器研究所的超導(dǎo)回旋加速器產(chǎn)生了105 MeV的15N束流,直接轟擊在6 mg/cm2的CD2氣體靶上,通過(d,p)反應(yīng)生成包含16N的各個同位素,并利用磁力分離器篩選出能量為80 MeV的16N7+離子。探測系統(tǒng)由1塊60 μm厚的硅探測器和78 μm厚的雙面硅微條探測器(DSSD)構(gòu)成,DSSD的厚度足以沉積16N的全部能量。束流分為注入-停束兩種模式,每個模式持續(xù)時間為15 s。在停束期間測得了α能譜,由于統(tǒng)計數(shù)不夠,該實驗并沒有測得1.2 MeV處的小峰。
基于目前對于12C(α,γ)16O的S因子電偶極分量測量誤差較大的現(xiàn)狀,有必要進(jìn)行一個新的實驗對16N β延遲α能譜上干涉形成的1.2 MeV處的小峰進(jìn)行測量,以限制得到更好的S因子E1分量。從探測器的選擇考慮,針對16N β延遲α衰變能譜測量主要分為氣體探測器和硅探測器。氣體探測器本身對于電子十分不敏感,能有效降低16N衰變發(fā)射的電子的干擾,但其對于α粒子的探測效率較硅探測低。在低統(tǒng)計下,Refsgaard等[11]用雙面硅微條探測器對衰變α譜進(jìn)行測量,并成功將電子本底壓制在0.8 MeV以下?;谝陨蠋讉€方面的分析,以提高統(tǒng)計為首要目標(biāo),選擇硅探測器,并采用注入法進(jìn)行16N β延遲α衰變能譜測量。
實驗在蘭州重離子加速器國家實驗室RIBLL1放射性束流線上完成。RIBLL1束流線能產(chǎn)生高能16N次級束,這是利用注入法進(jìn)行實驗測量的必要條件。實驗通過采用薄的硅微條探測器、限制探測器點火數(shù)和正反面能量符合等技術(shù),保證目標(biāo)α峰基本不受電子本底干擾,驗證用注入法測量16N β延遲α衰變譜上1.2 MeV處小峰的可行性。
利用能量為8 MeV/u的15N初級束流轟擊液氮冷卻的D2氣體靶,通過2H(15N,16N)1H轉(zhuǎn)移反應(yīng)產(chǎn)生16N放射性束流。16N放射性束流經(jīng)過RIBLL1束流線分離純化后,傳輸?shù)綄嶒灲K端進(jìn)行測量。最終得到的16N束流純能量為86 MeV,純度為95%,雜質(zhì)核素主要為匹配磁剛度過來的15N初級束流。實驗采用注入法測量16N的β延遲α衰變能譜,即將16N重離子注入到硅探測器中,利用硅探測器探測在其內(nèi)部發(fā)生的β延遲α衰變。實驗的探測設(shè)置如圖1所示,與Refsgaard等2016年的工作[11]類似。首先利用一個φ15 mm的準(zhǔn)直孔對16N放射性束流進(jìn)行準(zhǔn)直,確保通過準(zhǔn)直孔的16N全部注入到硅探測器中。在準(zhǔn)直孔的下游設(shè)置了ΔE-E探測器望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)對16N進(jìn)行鑒別測量。ΔE探測器為厚度66 μm、每面16個硅條、面積50 mm×50 mm的雙面硅微條探測器,E探測器采用的雙面硅微條探測器厚度為65 μm,每面有40條硅條,硅條寬度為1 mm,相鄰硅條間距為0.1 mm。在硅探測器的周圍還設(shè)置了3臺clover型高純鍺探測器來測量16N的β延遲γ射線。
圖1 探測器設(shè)置示意圖Fig.1 Drawing of detector setup
16N在經(jīng)過ΔE探測器后剩余37.2 MeV的能量,這些能量全部沉積在E探測器上,該能量較16N的β延遲α衰變能量(1~3) MeV大很多,為避免16N在E探測器上產(chǎn)生的信號對β衰變信號產(chǎn)生干擾,實驗采用束流注入-停束測量模式交替進(jìn)行,具體做法是:16N束流注入10 s后,利用在離子源出口處的束流偏轉(zhuǎn)設(shè)備將束流偏開,停止16N束流注入,然后對16N的β延遲α衰變進(jìn)行10 s測量,如此以20 s為周期進(jìn)行交替測量。
圖2顯示了本工作利用硅望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)探測到的ΔE-E譜,其中紅框顯示了模擬計算16N在ΔE-E譜的分布位置,從中取出的16N離子數(shù)占總譜計數(shù)的95%,說明16N的束流純度達(dá)95%。
圖2 16N放射性束流的ΔE-E二維譜Fig.2 Energy signal from ΔE detector vs. energy signal from E detector
本實驗選用的E探測器的每個探測單元很小,尺寸為1 mm×1 mm,厚度為65 μm。對于注入到E探測器中的16N離子,其β延遲衰變產(chǎn)生的α粒子最大能量約為3 MeV,在硅中的射程小于13 μm,根據(jù)LISE++模擬,16N在E探測器中的射程分布為20~35 μm,距探測器前后表面均大于13 μm,因此E探測器可將16N的β延遲衰變產(chǎn)生的α全部能量探測到。
在注入法測量β延遲質(zhì)子、α衰變的實驗中,除質(zhì)子、α和反沖核會在硅探測器中沉積能量外,衰變產(chǎn)生的β也會在探測器中沉積能量,在能譜上造成1個指數(shù)拖尾的本底,該本底會對低能的質(zhì)子或α峰造成很大的干擾。本工作采用3種方法降低β本底。
選用65 μm厚度的E探測器,由于厚度很薄,16N的衰變的β粒子若朝探測器的兩側(cè)發(fā)射,穿過的探測器厚度很小,損失的能量很低,因此不會造成干擾。
當(dāng)β粒子朝硅微條探測器的橫向發(fā)射時,在探測器上穿過厚度將很長,損失的能量較大,但此時一般β粒子會穿出重離子衰變所在的硅條,進(jìn)入隔壁的硅條,觸發(fā)兩條以上的硅條產(chǎn)生信號,因此可通過限制x和y兩側(cè)的硅條點火數(shù),即只要僅1條硅條被觸發(fā)的信號,可降低這種情況的β干擾。
雖然β粒子穿到隔壁的硅條上,但由于角度的原因,在隔壁硅條上留下的信號很小,沒有超過電子學(xué)閾值,導(dǎo)致未觸發(fā)2條硅條。此時可采用硅條正反面能量符合的方法,即要求正反面的能量差要小于某一數(shù)值,可進(jìn)一步去除這種β干擾。
圖3顯示了本實驗利用上面所述的方法得到的16N的β延遲α衰變能譜,可看出,通過限制點火數(shù)和能量符合關(guān)系,明顯去除β粒子在高能區(qū)的拖尾,將β粒子對能譜的干擾壓低到0.8 MeV以內(nèi)。
藍(lán)色線是原始能譜;綠色線是限制了點火數(shù)為1后的能譜;紫色線是采用了正反面能量符合|Efront-Eback|<0.25 MeV條件后得到的能譜
為進(jìn)一步確認(rèn)對β粒子干擾的壓制是否有效,將最終得到的16N和之前的工作進(jìn)行了比較,如圖4所示。為方便比較3個結(jié)果,通過2.4 MeV的α峰進(jìn)行了歸一。通過比較發(fā)現(xiàn),本工作的α能譜形狀和之前的兩個工作形狀基本符合。對于12C(α,γ)16O反應(yīng)研究最關(guān)心的1.2 MeV的α峰,從本工作得到的α能譜上可被清楚地觀測到,但由于本工作的16N總注入量較低,該α峰的統(tǒng)計雖遠(yuǎn)不如之前的工作,但證明了利用注入法可有效測得β粒子干擾很小的小峰。
藍(lán)色點是本工作結(jié)果;黑色點是Tang等[7]的測量結(jié)果;紅色線是對Tang等[7]結(jié)果的R矩陣擬合;綠色點是加拿大Buchmann等[9]的結(jié)果
對于16N β延遲α粒子發(fā)射的實驗,國際上主要采用轉(zhuǎn)輪法以及近年來興起的注入法測量。用轉(zhuǎn)輪法進(jìn)行β延遲α粒子或質(zhì)子發(fā)射實驗測量,受實驗裝置的限制,難以用硅探測器組成的粒子望遠(yuǎn)鏡系統(tǒng)進(jìn)行全立體角測量,并只能對秒級以上半衰期的粒子衰變實驗進(jìn)行測量。就現(xiàn)有的測量方法而言,用注入法對16N β延遲α能譜進(jìn)行測量是探測效率最高的一種測量方法,對于提高1.2 MeV處小峰的統(tǒng)計至關(guān)重要。本實驗在Refsgaard等的基礎(chǔ)上,用注入法對該小峰進(jìn)行了測量,成功測得了1.2 MeV處的小峰,這充分證明了用注入法進(jìn)行該小峰測量的可行性。在對16N β延遲α能譜進(jìn)行R矩陣分析時,1.2 MeV處干涉形成的小峰對S因子E1分量十分敏感,對S因子E1分量的確定起主要貢獻(xiàn)。相較于其他12C(α,γ)16O相關(guān)的輻射俘獲反應(yīng)對于SE1(300)的微弱影響,16N β延遲α能譜對于S因子E1的確定直接相關(guān)[10],是目前對12C(α,γ)16O反應(yīng)SE1(300)的E1組分提供限制的最有效手段[8]。
本工作利用注入法測量了16N的β延遲α能譜,并通過選用采用條寬窄、厚度小的雙面硅微條探測器減少衰變產(chǎn)生的β粒子在探測器的能量損失,再通過限制硅條點火數(shù)和進(jìn)行正反面能量符合,進(jìn)一步去除了β粒子橫穿硅微條留下的較高能量的信號,將β本底干擾降低到0.8 MeV以下。采用了以上措施后,本工作測到的16N的β延遲α能譜可看到1.2 MeV的α峰,其形狀和相對高度與現(xiàn)有的工作[7-9]基本一致。這表明用注入法測量16N的β延遲α能譜是可行的。在今后的工作中,將提高16N的注入量,得到高統(tǒng)計的β延遲α能譜,為12C(α,γ)16O反應(yīng)研究提供實驗數(shù)據(jù)。