謝廉忠,游 韜,王 鋒
(南京電子技術(shù)研究所,江蘇南京 210039)
為了減少收/發(fā)(Transmit/Receive, T/R)組件到有源相控陣?yán)走_(dá)天線陣元的傳輸損耗,T/R組件要與陣元直接連接。載體為飛機(jī)、衛(wèi)星、艦艇等的有源相控陣?yán)走_(dá)天線還有天線陣面輕、薄的要求。這些要求都限制了T/R組件的體積和重量,需要T/R組件通過高度集成化技術(shù)達(dá)到孔徑適裝的要求。為了適應(yīng)這一發(fā)展趨勢,必須基于微波單片集成電路(Monolithic Microwave Integrated Circuit, MMIC)和微波多層電路基板實(shí)現(xiàn)T/R組件小型化和輕量化[1]。
低溫共燒陶瓷(Low Temperature Co-fired Ceramic, LTCC)技術(shù)是美國休斯公司于20世紀(jì)80年代開發(fā)的新型材料技術(shù),陶瓷材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗小,金屬材料的電導(dǎo)率高,可以實(shí)現(xiàn)真正意義上的微波多層電路基板,是實(shí)現(xiàn)T/R組件小型化和輕量化的理想方法之一[2]。
由于LTCC技術(shù)涉及學(xué)科門類多,技術(shù)難度大,材料配方一直掌握在Dupont、Ferro等少數(shù)幾家美國公司手中。近年來,隨著國內(nèi)材料技術(shù)的不斷進(jìn)步,越來越多的廠商參與了LTCC材料的開發(fā),涌現(xiàn)出了不同品種的LTCC生瓷帶和漿料[3-10],這對打破LTCC材料壟斷、推動(dòng)LTCC技術(shù)發(fā)展起到了很好的作用。但是面臨的問題也不少,不少廠商缺乏同時(shí)開展生瓷帶和漿料研究的能力,即使有也缺乏工程化應(yīng)用驗(yàn)證平臺,嚴(yán)重制約了LTCC材料的工程化應(yīng)用。
本文主要從工程應(yīng)用的角度出發(fā),對基于國產(chǎn)LTCC材料的微波多層電路基板的性能及可靠性進(jìn)行了測試和分析,為國產(chǎn)LTCC材料的推廣應(yīng)用提供了參考。
LTCC微波多層電路基板由生瓷帶和各種漿料組成,需要對生瓷帶、漿料的匹配性能進(jìn)行研究,否則會(huì)造成基板分層、通孔柱開裂、線條斷路等問題,影響LTCC微波多層電路基板的質(zhì)量。
首先在LTCC微波多層電路基板上采用焊接、膠接、金絲/金帶鍵合等微組裝工藝組裝電阻、電容、MMIC、環(huán)形器等器件,然后采用復(fù)合封裝材料實(shí)現(xiàn)氣密封裝,完成T/R組件的生產(chǎn)。LTCC微波多層電路基板的外形尺寸、翹曲度、鍵合力、附著力、可焊性、耐焊性等性能指標(biāo)必須滿足組裝工藝要求。
LTCC微波多層電路基板內(nèi)部集成了功分器、耦合器、衰減器、負(fù)載電阻等無源器件,基板微波性能需要滿足T/R組件技術(shù)要求。
LTCC微波多層電路基板在經(jīng)過穩(wěn)定性烘焙、溫度循環(huán)、機(jī)械沖擊、掃頻振動(dòng)等試驗(yàn)后無裂紋,通斷合格。
實(shí)驗(yàn)采用國產(chǎn)LTCC材料制作微波多層電路基板,其LTCC生瓷帶和漿料信息詳見表1。
表1 LTCC材料種類及用途
實(shí)驗(yàn)共分為4個(gè)部分:
1)制作測試基板,對生瓷帶、漿料的匹配性能進(jìn)行測試,要求生瓷帶與漿料之間、漿料與漿料之間相互匹配,無分層、開裂、斷路等問題;
2)制作LTCC微波多層電路基板以及工藝陪片,對基板的外形尺寸和翹曲度以及漿料鍵合力、附著力、可焊性、耐焊性等性能指標(biāo)進(jìn)行測試,測試結(jié)果滿足組裝工藝要求;
3)制作X波段T/R組件,對組件微波性能進(jìn)行測試,要求LTCC微波多層電路基板的微波性能滿足T/R組件技術(shù)要求;
4)對LTCC微波多層電路基板進(jìn)行穩(wěn)定性烘焙、溫度循環(huán)、機(jī)械沖擊、掃頻振動(dòng)等試驗(yàn),要求基板無裂紋,通斷合格。
3.1.1 生瓷帶與漿料之間匹配性能
瓷體與金通孔柱、銀通孔柱(圖1)、金銀過渡通孔柱(圖2)之間結(jié)合良好,沒有出現(xiàn)孔洞、開裂等不良現(xiàn)象。瓷體與內(nèi)部金導(dǎo)體、內(nèi)部銀導(dǎo)體(圖1)之間結(jié)合良好,沒有出現(xiàn)分層現(xiàn)象。
圖1 瓷體、金/銀通孔柱、導(dǎo)體間結(jié)合情況
圖2 瓷體、金銀過渡通孔柱、導(dǎo)體間結(jié)合情況
瓷體與埋置電阻間結(jié)合良好,如圖3所示,沒有出現(xiàn)分層現(xiàn)象。
圖3 埋置電阻、瓷體、電極間結(jié)合情況
3.1.2 漿料之間匹配性能
內(nèi)部金導(dǎo)體與金通孔柱(圖1)、金銀過渡通孔柱(圖2)之間結(jié)合良好,沒有出現(xiàn)斷路現(xiàn)象。
內(nèi)部銀導(dǎo)體與銀通孔柱(圖1)、金銀過渡通孔柱(圖2)之間結(jié)合良好,沒有出現(xiàn)斷路現(xiàn)象。
可焊接金鉑鈀導(dǎo)體與金通孔柱(圖1)之間結(jié)合良好,沒有出現(xiàn)斷路現(xiàn)象。
表面可鍵合金導(dǎo)體與金通孔柱之間結(jié)合良好,如圖4所示,沒有出現(xiàn)斷路現(xiàn)象。
圖4 表面可鍵合金導(dǎo)體與金通孔柱間結(jié)合情況
金通孔柱、金銀過渡通孔柱、銀通孔柱之間結(jié)合良好,如圖5所示,沒有出現(xiàn)孔洞、開裂等不良現(xiàn)象。
圖5 通孔柱間結(jié)合情況
埋置電阻與電極間結(jié)合良好,如圖3所示,沒有出現(xiàn)分層、裂紋等不良現(xiàn)象。
3.2.1 外形尺寸
外形尺寸測試結(jié)果見表2,L,W分別為基板的長度和寬度,每片基板的長度和寬度各有2個(gè)測試值(L1,L2和W1,W2)。
表2 基板外形尺寸測試結(jié)果 mm
由式(1)計(jì)算得到基板收縮率公差<±0.3%,滿足工程應(yīng)用要求。
式中:TL和TW分別為基板長度和基板寬度的公差;53.5 mm和29.7 mm分別為基板長度和基板寬度的目標(biāo)值。
推廣液體肥還能夠帶動(dòng)很多技術(shù)的應(yīng)用,同時(shí)也能帶動(dòng)很多農(nóng)資產(chǎn)品的應(yīng)用。通過施液體肥可以和很多產(chǎn)品進(jìn)行配套使用,如可與液體土壤改良劑、液體微生物肥一同配套使用,國外很多有機(jī)肥做成液體,通過灌溉設(shè)備施入土壤,非常方便。液體肥是未來中國的主流肥料,液體肥會(huì)迎來很好的一個(gè)發(fā)展空間,有廣闊的應(yīng)用市場。
3.2.2 翹曲度
翹曲度測試結(jié)果見表3,滿足工程應(yīng)用要求。
表3 基板翹曲度測試結(jié)果 μm/mm
3.2.3 鍵合力
鍵合力(25 μm金絲)測試結(jié)果見表4,失效模式為金絲脫落,滿足工程應(yīng)用要求。
表4 表面可鍵合金導(dǎo)體鍵合力測試結(jié)果 N
3.2.4 附著力
附著力(2.16 mm×2.16 mm、剝離)測試結(jié)果見表5,滿足工程應(yīng)用要求。
表5 可焊接金鉑鈀導(dǎo)體附著力測試結(jié)果 kg
按照GB/T 17473.7—2008測試可焊性和耐焊性,焊料為63Sn37Pb。可焊性測試:焊料溫度為(230±5)°C,浸入時(shí)間為(5±1)s,導(dǎo)電膜接受焊料的面積不小于圖形面積的9/10,則可焊性合格;耐焊性測試:焊料溫度為(230±5)°C,浸入時(shí)間為(420±1)s,導(dǎo)電膜接受焊料的面積不小于圖形面積的9/10,則耐焊性合格。測試結(jié)果見表6,均滿足工程應(yīng)用要求。
表6 可焊接金鉑鈀導(dǎo)體可焊性耐焊性測試結(jié)果
采用微組裝工藝完成T/R組件裝配,并對T/R組件主要性能指標(biāo)進(jìn)行測試,測試結(jié)果見表7,基板微波性能滿足T/R組件技術(shù)要求。
表7 T/R組件主要性能指標(biāo)測試結(jié)果
3.4.1 穩(wěn)定性烘焙LTCC微波多層電路基板經(jīng)150°C、24 h穩(wěn)定性烘焙后沒有開裂,通斷測試合格。
3.4.2 溫度循環(huán)
LTCC微波多層電路基板經(jīng)-55°C→+125°C→-55°C共300次的溫度循環(huán)后沒有開裂,通斷測試合格。
3.4.3 機(jī)械沖擊
LTCC微波多層電路基板按GJB 548B進(jìn)行機(jī)械沖擊(條件B)后沒有開裂,通斷測試合格。
3.4.4 掃頻振動(dòng)
LTCC微波多層電路基板按GJB 548B進(jìn)行掃頻振動(dòng)(條件A)后沒有開裂,通斷測試合格。
雖然LTCC材料尤其是高頻LTCC材料的開發(fā)難度很大,但是經(jīng)過努力,國內(nèi)生瓷帶和漿料的研究均取得了較大成效。國產(chǎn)LTCC材料間有較好的匹配性能,基于國產(chǎn)LTCC材料的微波多層電路基板能夠滿足組裝工藝要求,基板微波性能滿足X波段T/R組件技術(shù)要求,基板可靠性滿足工程應(yīng)用要求,可以實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)LTCC材料的工程化應(yīng)用。