劉井坤,歐陽(yáng)義波,段體崗,馬伯江,張 燕,胡術(shù)剛*
(1. 青島科技大學(xué) 機(jī)電工程學(xué)院,山東 青島 266061; 2. 中國(guó)船舶重工集團(tuán)公司第七二五研究所海洋腐蝕與防護(hù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,山東 青島 266101; 3. 山東科技大學(xué) 化學(xué)與環(huán)境工程學(xué)院,山東 青島 266590)
金屬銅具有優(yōu)異的導(dǎo)熱性、導(dǎo)電性、延展性,在海洋環(huán)境中,銅主要用于制造儀器組件的電路板,還被用來(lái)制造熱交換器、泵等設(shè)備和部件。銅不是嚴(yán)格意義上的惰性金屬,在惡劣環(huán)境下不耐腐蝕,海水溶解的O2和本身存在的Cl-對(duì)包括銅在內(nèi)的大多數(shù)金屬材料都有很強(qiáng)的腐蝕作用。因此,迫切需要找到一種有效的方法來(lái)抑制金屬腐蝕。
研究人員受荷葉疏水行為的啟發(fā)研發(fā)的具有極高疏水性的超疏水表面(superhydrophobic surface,SHP)成為材料科學(xué)中一個(gè)新興的研究領(lǐng)域。超疏水表面(接觸角大于150 °,滑動(dòng)角小于10 °)在實(shí)踐中的潛在用途已得到了驗(yàn)證,其本身具有自清潔[1]、防冰[2]、防污損[3]等特點(diǎn)。近年來(lái),人們發(fā)現(xiàn)超疏水膜還具有抑制金屬腐蝕的能力[4-5],通過(guò)構(gòu)建具有低表面能的分級(jí)多孔結(jié)構(gòu)可實(shí)現(xiàn)人造超疏水膜[6],超疏水膜層可以通過(guò)形成空氣層來(lái)隔離腐蝕介質(zhì)中的Cl-與金屬基體的直接接觸來(lái)減緩金屬腐蝕[7]。超疏水膜的抑制腐蝕作用依賴于存儲(chǔ)在超疏水多孔結(jié)構(gòu)中的空氣層,當(dāng)浸泡在水環(huán)境中時(shí),空氣層會(huì)被水逐漸取代,最終失去對(duì)基體的保護(hù)作用。因此,迫切需要進(jìn)一步改善涂層,以便對(duì)金屬基體進(jìn)行腐蝕防護(hù)。
液體注入表面(liquid infused surface,LIS)技術(shù)可以通過(guò)多孔結(jié)構(gòu)固定潤(rùn)滑劑形成液膜,所采用的潤(rùn)滑劑多為油相,油本身與水相不混溶[8],具有優(yōu)異的抗?jié)櫇裥阅埽ㄟ^(guò)注入油相代替儲(chǔ)存在超疏水結(jié)構(gòu)中的空氣可以達(dá)到耐腐蝕的目地,并可以實(shí)現(xiàn)長(zhǎng)久的耐蝕性[9-11]。因此,為了實(shí)現(xiàn)超疏水表面且進(jìn)一步儲(chǔ)存油相抑制腐蝕,需要構(gòu)建微納米級(jí)粗糙結(jié)構(gòu)。電沉積被認(rèn)為是一種簡(jiǎn)單有效的途徑,因?yàn)樗梢酝ㄟ^(guò)改變電化學(xué)參數(shù)來(lái)控制沉積物的形態(tài)。
本研究中,通過(guò)電沉積方法在純銅(簡(jiǎn)稱Cu)表面制備了納米多孔Cu2O層,然后用正十二硫醇修飾Cu2O 實(shí)現(xiàn)了超疏水表面(簡(jiǎn)稱SHP Cu)。與通常的油相注入表面(簡(jiǎn)稱LIS Cu)不同,本研究采用油/疏水Fe3O4納米顆粒作為復(fù)合流體注入超疏水基質(zhì),制備了復(fù)合流體注入表面(簡(jiǎn)稱CLIS Cu)。在大氣和3.5 wt.% NaCl 溶液環(huán)境中進(jìn)行暴露和浸泡試驗(yàn),評(píng)估由超疏水性和液體注入表面覆蓋的Cu 基體的腐蝕抑制效果。
采用銅板(純度99 %,10 mm×10 mm,厚度3 mm)作為基板材料,使用400、800 和1000 目的砂紙對(duì)試樣進(jìn)行逐級(jí)打磨,然后用丙酮和乙醇清洗表面。采用PARSTAT 2273 電化學(xué)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行電沉積,實(shí)驗(yàn)過(guò)程采用三電極體系,Cu試樣為工作電極,飽和甘汞電極為參比電極,鉑/鈮絲為對(duì)電極,采用-0.7 V 在0.1 mol/L 的Cu(NO3)2·3H2O 溶液中沉積600 s。電沉積后取出樣品分別用酒精和去離子水清洗干凈,然后用吹風(fēng)機(jī)吹干,緊接著置于含有正十二硫醇的密封玻璃瓶中,在60 °C 下反應(yīng)30 min 獲得SHP Cu涂層。疏水性Fe3O4納米顆粒制備方法參考之前發(fā)表的文章[12],然后分別將二甲基硅油以及二甲基硅油/疏水性Fe3O4納米顆?;旌狭黧w滴加到SHP Cu涂層上,獲得LIS Cu和CLIS Cu涂層。
通過(guò)場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)和能量色散譜儀(EDS)獲取沉積物的表面形貌和成分。采用X 射線衍射(XRD,Cu Kα 輻射,λ=0.15406 nm)表征沉積物的物相組成。采用光學(xué)顯微鏡觀察沉積物的厚度和CLIS Cu表面的粗糙度。
采用接觸角測(cè)量?jī)x表征Cu、SHP Cu、LIS Cu 和CLIS Cu 涂層潤(rùn)濕性。表面潤(rùn)濕性測(cè)試使用去離子水(3 μL)作為探針,平臺(tái)與樣品表面保持水平,在新制備好的涂層表面的隨機(jī)部位進(jìn)行接觸角測(cè)試,每組數(shù)據(jù)至少進(jìn)行10次測(cè)量,取平均值。
采用掃描開爾文探針?lè)謩e測(cè)試SHP Cu、CLIS Cu 與Cu 表面的電位變化。采用電化學(xué)工作站對(duì)Cu、SHP Cu、LIS Cu 和CLIS Cu 涂層依次進(jìn)行開路電位(OCP)、電化學(xué)阻抗(EIS)測(cè)試。電化學(xué)測(cè)試采用三電極體系,測(cè)試試樣為工作電極,飽和甘汞電極(SCE)為參比電極,鉑/鈮絲為輔助電極,電解質(zhì)溶液為3.5 wt.% NaCl 溶液。在測(cè)試浸泡和大氣暴露試樣阻抗前,先將試樣放置于3.5 wt.% NaCl 溶液中浸泡20 min,同步檢測(cè)開路電位是否穩(wěn)定,在開路電位穩(wěn)定的情況下繼續(xù)測(cè)試阻抗和極化曲線。EIS 測(cè)試的頻率范圍為105Hz ~10-2Hz,幅度在相對(duì)開路電位10 mV 上下波動(dòng),測(cè)量記錄點(diǎn)為51 個(gè),使用ZSimpWin軟件對(duì)阻抗結(jié)果進(jìn)行擬合。
圖1 為復(fù)合流體涂層制備過(guò)程及結(jié)構(gòu)表征結(jié)果。如圖1(a)所示,采用電沉積方式在Cu表面制備具有粗糙度的微納米級(jí)Cu鍍層,然后使用正十二烷硫醇對(duì)沉積物進(jìn)行疏水改性,再通過(guò)油相注入制備CLIS Cu涂層。圖1(b)所示左邊發(fā)黑部分為電沉積獲得的納米粗糙結(jié)構(gòu),右半部分為Cu 基體;圖1(c)所示三維圖像可以直觀地看出涂層表面三維結(jié)構(gòu)以及交界處的變化趨勢(shì),綠色部分為納米粗糙結(jié)構(gòu),藍(lán)色部分為Cu 基體;圖1(d)所示沉積物和Cu 表面之間形成的“懸崖”過(guò)渡區(qū)的高度約為100 μm。如圖1(e)所示,通過(guò)電沉積在Cu表面生長(zhǎng)出了樹枝狀多孔結(jié)構(gòu),其顯著特征是高粗糙度,且經(jīng)正十二硫醇修飾后,樹枝狀多孔結(jié)構(gòu)仍然存在(圖1(f))。
圖1 復(fù)合流體涂層制備過(guò)程及結(jié)構(gòu)表征結(jié)果Fig. 1 Preparation process of composite fluid coating and surface morphology of electrodeposition coatings
為表征電沉積層的截面形貌,使用環(huán)氧樹脂作為密封劑將制備的樹枝結(jié)構(gòu)密封,對(duì)試樣進(jìn)行拋光,再測(cè)試截面形貌,結(jié)果如圖2(a)所示,電沉積層呈樹枝狀,其枝晶長(zhǎng)度約100 μm。對(duì)鍍層進(jìn)行線性EDS 掃描,結(jié)果如圖2(b)所示,可以看出從基體到沉積物和樹脂的掃描過(guò)程中,Cu 的信號(hào)衰減,當(dāng)?shù)竭_(dá)環(huán)氧樹脂層時(shí)Cu信號(hào)為零,而碳元素的變化趨勢(shì)恰好相反。另外,從截面元素分布測(cè)試結(jié)果(圖2(c)~圖2(e)),可以看出沉積物除含有元素Cu外還存在O 元素。對(duì)沉積物的物相組成進(jìn)行表征,結(jié)果如圖2(f),可以看出沉積物的衍射峰與Cu 及Cu2O的衍射特征峰(JCPDS 05-0667)相對(duì)應(yīng),由此可驗(yàn)證在-0.7 V 電壓下所獲得的沉積物為Cu2O。與之前的研究[12-13]對(duì)比發(fā)現(xiàn),在CuCl2溶液中電沉積獲得的沉積物也是樹枝狀的納米Cu。
圖2 電沉積層結(jié)構(gòu)表征及元素分析Fig.2 Structure characterization and element analysis of electrodeposited coating
采用正十二烷硫醇進(jìn)行表面改性前后的電沉積Cu 樹枝晶的EDS 測(cè)試結(jié)果如表1 所示??梢钥闯?,經(jīng)正十二烷硫醇改性后,鍍層C元素的含量增加,并新出現(xiàn)了S 元素,表明十二烷硫醇已經(jīng)附著在Cu2O表面。
表1 修飾前后鍍層的成分Table 1 Composition of electrodeposited coating before and after modification
采用接觸角測(cè)量手段研究了不同涂層的潤(rùn)濕性,結(jié)果如圖3 所示。圖3(a)為Cu 基體的潤(rùn)濕性測(cè)試結(jié)果,其與水的接觸角為89.83 °。圖3(b)所示電沉積Cu2O 涂層的接觸角約為36.1 °,表明Cu基底沉積Cu2O 后,表面變得粗糙且多孔,表現(xiàn)出更強(qiáng)的親水性。圖3(c)為正十二烷硫醇修飾的Cu2O 的測(cè)試結(jié)果,接觸角約為155.2 °,表現(xiàn)出超疏水性。圖3(d)為復(fù)合流體涂層CLIS Cu 的潤(rùn)濕性,其與水的接觸角為95.07 °。
圖3 不同涂層的潤(rùn)濕性測(cè)試結(jié)果Fig.3 Wetting test results of different coatings
復(fù)合流體涂層采用油/疏水Fe3O4納米顆粒復(fù)合流體注入超疏水SHP Cu 表面,由于Fe3O4的粒徑遠(yuǎn)小于電沉積Cu2O層的間隙尺寸,因此復(fù)合流體注入時(shí)Fe3O4納米粒子將被容納并儲(chǔ)存在Cu2O 層間隙內(nèi)部并且無(wú)法移動(dòng)。由于超疏水多孔材料在表面張力作用下與液體接觸時(shí)會(huì)產(chǎn)生毛細(xì)效應(yīng)使液體通過(guò)空隙進(jìn)到多孔表面,F(xiàn)e3O4納米顆粒的疏水性也會(huì)引起毛細(xì)效應(yīng),將進(jìn)一步鎖定多孔表面的油相,因此,F(xiàn)e3O4納米粒子和油相復(fù)合的流體在3.5 wt.% NaCl溶液浸泡過(guò)程中不會(huì)從表面脫落。將復(fù)合流體注入SHP Cu表面后多孔表面將被流體相填充,使得涂層表面非常平坦,此時(shí)水滴很容易以低角度從表面滑落,滑落過(guò)程的瞬間圖像如圖3(e)所示。復(fù)合油相具有疏水表面相同的潤(rùn)濕性,這是由固態(tài)Fe3O4粉末和油相混合后共同作用來(lái)實(shí)現(xiàn)的。
采用SKP 技術(shù)表征涂層表面電位,揭示導(dǎo)電材料在改性后的腐蝕趨勢(shì)。為了揭示金屬基底Cu(藍(lán)色部分)和涂層(黃色部分)之間的表面電位變化,SKP掃描區(qū)域?yàn)镃u基體和涂層之間的過(guò)渡區(qū),表面電位分析結(jié)果見圖4。
圖4 Cu基體與不同涂層間的表面電位變化Fig.4 Surface potential change between Cu substrate and different coatings
圖4(a)為Cu基體與SHP Cu涂層間的電位變化測(cè)試結(jié)果,可以看出Cu 基體與SHP Cu 涂層的表面電位從-1390 mV正向偏移到-890 mV,表明SHP Cu涂層可以抑制Cu基底的腐蝕。圖4(b)為Cu基體與CLIS Cu 涂層間的電位變化測(cè)試結(jié)果,可以看出Cu基體與CLIS Cu 涂層的表面電位從-1300 mV 偏移到1100 mV,表明CLIS Cu 比SHP Cu 涂層具有更好的抑制腐蝕作用。
Cu 基體和SHP Cu 涂層在大氣環(huán)境進(jìn)行暴露實(shí)驗(yàn),通過(guò)涂層接觸角測(cè)試研究SHP Cu 涂層的穩(wěn)定性,本文進(jìn)行了室內(nèi)和室外環(huán)境暴露實(shí)驗(yàn),接觸角測(cè)試結(jié)果見圖5。可以看出,置于室內(nèi)環(huán)境的SHP Cu涂層的接觸角在暴露7 d 后基本大于150 °,而在室外環(huán)境暴露的SHP Cu 涂層的接觸角在第二天即已小于150 °,表明超疏水性失效,暴露7 d后接觸角減小至約70 °。這主要是由于室內(nèi)溫度和濕度比較穩(wěn)定,而室外環(huán)境相對(duì)苛刻,溫、濕度和其他環(huán)境條件日夜變化較大,對(duì)SHP Cu 涂層有劇烈影響。因此,對(duì)于真實(shí)的大氣環(huán)境條件,SHP Cu涂層的超疏水性難于長(zhǎng)期保持。
圖5 暴露于不同大氣環(huán)境的SHP Cu涂層的接觸角的變化Fig.5 Change of contact angle of SHP Cu coatings exposed to different atmospheric environments
試樣在大氣環(huán)境暴露不同時(shí)間后,在3.5 wt.%NaCl溶液中測(cè)量材料的“剩余”腐蝕抑制效果,測(cè)試結(jié)果見圖6。對(duì)于Cu 基體,在大氣環(huán)境中會(huì)形成薄的氧化膜,但在海洋大氣環(huán)境中氧化膜不能很好的抑制腐蝕,在暴露20 d 后,Z0.01Hz基本維持在5.07×103Ω·cm-2~1.38×103Ω·cm-2的范圍內(nèi)。如圖6(b)所示,SHP Cu涂層在大氣中暴露24 h后,Z0.01Hz約為表面未處理Cu 的45 倍。但在暴露的24 h 期間內(nèi),涂層阻抗逐漸降低,這是由于涂層超疏水性能失效,導(dǎo)致對(duì)金屬的保護(hù)作用喪失。圖6c 為二甲基硅油注入SHP Cu 形成的LIS Cu 涂層的測(cè)試結(jié)果,可以看出樣品在大氣中暴露1 d 時(shí),其Z0.01Hz為2.26×109Ω·cm-2,比未處理的Cu 基體大6 個(gè)數(shù)量級(jí)。隨著暴露時(shí)間延長(zhǎng),該涂層的Z0.01Hz持續(xù)降低,在第20 d 時(shí)仍能比Cu 基體大370 倍左右,表明LIS Cu 涂層的腐蝕抑制效果明顯優(yōu)于SHP Cu 涂層。對(duì)于復(fù)合流體CLIS Cu 涂層來(lái)說(shuō),經(jīng)過(guò)25 d 的戶外暴露實(shí)驗(yàn),低頻阻抗依然維持在6.05×109Ω·cm-2,比Cu 基體大6個(gè)數(shù)量級(jí)。綜上所述,在大氣中暴露時(shí),溫度和濕度會(huì)使SHP Cu 涂層失效,LIS Cu 涂層短時(shí)間內(nèi)具有很好的保護(hù)作用,而CLIS Cu 涂層保護(hù)Cu 基體的時(shí)間更長(zhǎng)、更穩(wěn)定,表現(xiàn)出更好的防腐效果。
圖6 不同涂層在大氣環(huán)境中暴露不同時(shí)間后的電化學(xué)阻抗譜圖Fig.6 EIS of different coatings exposed to the atmosphere for different periods of time
將Cu 基體和SHP Cu、LIS Cu 和CLIS Cu 涂層分別浸泡在3.5 wt.% NaCl 溶液中,測(cè)試浸泡不同時(shí)間的試樣的阻抗譜圖,結(jié)果如圖7所示。可以看出,SHP Cu 和CLIS Cu 涂層的初始Z0.01Hz分別為5.25×105Ω·cm-2和5.93×108Ω·cm-2,分別比Cu 基體高約2和5個(gè)數(shù)量級(jí)。但CLIS Cu涂層更穩(wěn)定,在浸泡20 d后,其Z0.01Hz仍保持在4.51×106Ω·cm-2左右,而此時(shí)SHP Cu 涂層的Z0.01Hz已降至1.89×104Ω·cm-2。對(duì)于LIS Cu 涂層來(lái)說(shuō),浸入前的Z0.01Hz高達(dá)8.44×108Ω·cm-2,但浸泡24 h后Z0.01Hz即降至1.50×107Ω·cm-2。
圖7 不同涂層在3.5 wt% NaCl溶液中浸泡不同時(shí)間后的電化學(xué)阻抗譜Fig.7 EIS of different coatings immersed in 3.5 wt.% NaCl solution for different time
為了提高銅材料的保護(hù)效果,開發(fā)了復(fù)合流體涂層保護(hù)技術(shù)。在海洋大氣環(huán)境中,CLIS Cu 涂層經(jīng)過(guò)25 d 的戶外暴露實(shí)驗(yàn),低頻阻抗依然維持在6.05×109Ω·cm-2,比Cu 基體大6 個(gè)數(shù)量級(jí)。該涂層在3.5 wt.% NaCl溶液中浸泡20 d后,其Z0.01Hz保持在4.51×106Ω·cm-2左右,遠(yuǎn)高于Cu 的2.8×103Ω·cm-2,表明其對(duì)銅基體具有較好的防腐蝕作用。綜上結(jié)果,復(fù)合流體涂層在海洋腐蝕防護(hù)方便具有一定的應(yīng)用價(jià)值。