張業(yè)真
摘要:文中介紹了低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備控制柜中固定式與抽出式常見(jiàn)的內(nèi)部結(jié)構(gòu)形式與布局設(shè)計(jì)。通過(guò)改變開(kāi)關(guān)額定分散系數(shù)進(jìn)行溫升測(cè)試結(jié)果對(duì)比,分析兩種柜型在內(nèi)部結(jié)構(gòu)布局設(shè)計(jì)中存在的不合理之處,以及在實(shí)際使用過(guò)程中存在的安全隱患,并提出一些能夠改進(jìn)控制柜結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的方案與措施,以便能夠更好地滿(mǎn)足溫升測(cè)試要求,降低存在的風(fēng)險(xiǎn),提高設(shè)備安全性能。
關(guān)鍵詞:控制柜;結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì);溫升測(cè)試;額定分散系數(shù)
Discussion on Structural Design of Control Cabinet of Low-Voltage Complete Equipment Based on Temperature Rise Test
ZHANG Yezhen
(Fujian Inspection and Research Institute for Product Quality, Fuzhou? 350002, Fujian, China)
Abstract: This paper introduces the common internal structure and layout design of the fixed type and the pull-out type in the low-voltage switchgear assembly control cabinet. By changing the rated dispersion coefficient of the switch, the temperature rise test results were compared to analyze the unreasonable place in the internal structure layout design of the two cabinet types, as well as the hidden danger in the process. And some schemes and measures were put forward to improve the structural design of control cabinet so as to better meet the requirements of temperature rise test, reduce existing risks and improve device safety performance.
Key Words:? Control cabinet; Structural design; Temperature rise test; Rated dispersion coefficient
0 引言
低壓開(kāi)關(guān)柜作為電力系統(tǒng)的重要組成部分,設(shè)計(jì)的合理性直接決定著電氣元件的使用性能,影響電力系統(tǒng)的運(yùn)行情況[1]。目前,常見(jiàn)低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備是由進(jìn)線柜、饋電柜、控制柜三個(gè)不同功能柜型組合在一起。而現(xiàn)階段低壓開(kāi)關(guān)柜中控制柜的具體結(jié)構(gòu)類(lèi)型包括固定式與抽出式[2]。其內(nèi)部開(kāi)關(guān)元器件大多由塑料外殼式斷路器、接觸器、熱過(guò)載繼電器組合而成。
在這兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模式中,控制柜可由多個(gè)相互獨(dú)立的出線回路構(gòu)成,回路采用豎向排列組合形式。在豎向排列組合中,從上至下每條出線回路內(nèi)部開(kāi)關(guān)額定電流通常采用由小到大設(shè)計(jì),且由于沒(méi)有明確、統(tǒng)一的數(shù)據(jù)支持,所以在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)和制造過(guò)程中,常常因母線選型不正確而導(dǎo)致事故發(fā)生[3]。因此,文中將通過(guò)目前控制柜常用的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),利用溫升測(cè)試數(shù)據(jù)分析其存在的問(wèn)題與不足之處,并提出相應(yīng)的改善方案,提升控制柜的溫升性能與設(shè)備安全。
1? 固定式與抽出式結(jié)構(gòu)
1.1? 固定式結(jié)構(gòu)
固定式結(jié)構(gòu)是指將設(shè)備固定在特定位置,以提升低壓開(kāi)關(guān)柜穩(wěn)定性,便于日后柜體拆裝,提升電氣元件維護(hù)工作開(kāi)展的便利性[2]。它的外部操作機(jī)構(gòu)由合閘與分閘兩種位置,內(nèi)部開(kāi)關(guān)通過(guò)一個(gè)基座將塑殼斷路器安裝在開(kāi)關(guān)基座上。開(kāi)關(guān)進(jìn)線端通過(guò)導(dǎo)線或銅排與母排相連。其中外觀與內(nèi)部設(shè)計(jì)見(jiàn)圖1。
1.2? 抽出式結(jié)構(gòu)
抽出式柜體具有可移動(dòng)特性,有利于更換電器元件。它的外部操作機(jī)構(gòu)具有連接、分離、試驗(yàn)三個(gè)操作位置,整個(gè)功能單元可以抽出更換。抽屜內(nèi)開(kāi)關(guān)進(jìn)線端通過(guò)導(dǎo)線或銅排與一次接插件一端相連,接插件另一端直接插入母排,形成緊密聯(lián)合。其中外觀與內(nèi)部設(shè)計(jì)見(jiàn)圖2。
2 標(biāo)準(zhǔn)中溫升試驗(yàn)要求
在標(biāo)準(zhǔn)GB 7251.1-2013中附錄E額定分散系數(shù)條規(guī)定:實(shí)際上,通常并不要求成套設(shè)備內(nèi)的所有電路都能持續(xù)、同時(shí)承載額定電流。幾個(gè)電流可承擔(dān)重載,而其他電路則承擔(dān)輕載或斷開(kāi)。因此,沒(méi)有必要配備一個(gè)所有電路能在額定電流下連續(xù)運(yùn)行的成套設(shè)備,這樣將造成材料和資源的低效率利用[4]。
目前,大部分低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備在溫升試驗(yàn)中,都是通過(guò)制造商指定額定分散系數(shù)分配所有出線電路或一組出線電路額定電流值。額定分散系數(shù)適用于在額定電流(InA)下運(yùn)行的成套設(shè)備[4]。因而,開(kāi)關(guān)柜所有出線電路溫升試驗(yàn)電流通常采用降電流測(cè)試。例如,開(kāi)關(guān)額定電流(In)為250A,實(shí)際溫升試驗(yàn)電流(InA)可能降為200A。
在標(biāo)準(zhǔn)GB 7251.1-2013中10.10.2.3.5~10.10.2.3.7條款中給出了三種試驗(yàn)方法,它們所需的試驗(yàn)次數(shù)和試驗(yàn)結(jié)果應(yīng)用范圍的區(qū)別,在標(biāo)準(zhǔn)中已給出了詳細(xì)解釋。而文中采用的溫升試驗(yàn)方法條款為10.10.2.3.5條:整個(gè)成套設(shè)備的驗(yàn)證。成套設(shè)備的進(jìn)、出電路應(yīng)通以額定電流,即等效額定分散系數(shù)等于1[4]。溫升試驗(yàn)電流外接導(dǎo)線按標(biāo)準(zhǔn)表11、表12中要求。
3? 溫升試驗(yàn)驗(yàn)證
本次溫升試驗(yàn)將采用兩臺(tái)單獨(dú)的控制柜進(jìn)行溫升試驗(yàn)測(cè)試。柜型結(jié)構(gòu)分別為固定式與抽屜式。其中,固定式開(kāi)關(guān)柜由5條出線電路組成,抽出式開(kāi)關(guān)柜由6條出線電路組成。
3.1? 固定式開(kāi)關(guān)柜溫升試驗(yàn)
固定式開(kāi)關(guān)柜內(nèi)部開(kāi)關(guān)為塑料外殼式斷路器,開(kāi)關(guān)額定電流分別為C1回路:160A,C2和C3回路:250A,C4和C5回路:400A。溫升測(cè)試布置圖見(jiàn)圖3。
圖中a1~a10為溫升熱電偶布置點(diǎn)代號(hào)。溫升試驗(yàn)通過(guò)兩種方式測(cè)試。第一種,溫升試驗(yàn)電流通以制造商規(guī)定的額定分散系數(shù)為1時(shí)的額定電流;第二種,溫升試驗(yàn)電流通以斷路器銘牌標(biāo)稱(chēng)的額定電流。
(1)各回路通以制造商規(guī)定額定分散系數(shù)為1時(shí)的額定電流
第一種溫升試驗(yàn)電流以制造商規(guī)定的額定電流(InA)進(jìn)行,額定分散系數(shù)為1。溫升試驗(yàn)方案采用a方式,每條出線電路開(kāi)關(guān)均降電流通電。溫升實(shí)際試驗(yàn)電流與溫升值如表1所示。
(2)各回路通以斷路器銘牌標(biāo)稱(chēng)的額定電流
第二種溫升試驗(yàn)電流不考慮額定分散系數(shù)要求,每條回路都通以斷路器銘牌標(biāo)稱(chēng)的額定電流。溫升試驗(yàn)電流與溫升值如表2所示。
3.2? 抽出式溫升試驗(yàn)
抽出式溫升試驗(yàn)出線電路由C1~C6六條出線電路組成。其中,C1和C2回路是1/2柜,內(nèi)部結(jié)構(gòu)、開(kāi)關(guān)型號(hào)等都是相同的。溫升試驗(yàn)電流由制造商規(guī)定,額定分散系數(shù)為1,溫升試驗(yàn)方案采用a方式。溫升測(cè)試布置圖見(jiàn)圖4,溫升試驗(yàn)電流與溫升值見(jiàn)表3。由于C1和C2回路相同,故C2回路溫升未測(cè)試。
同樣以一臺(tái)結(jié)構(gòu)為抽出式開(kāi)關(guān)柜,開(kāi)關(guān)額定電流從大到小排列組合進(jìn)行溫升測(cè)試。其溫升測(cè)試布置圖與溫升數(shù)據(jù)分別見(jiàn)圖5和表4。
4 溫升結(jié)果分析
結(jié)合以上溫升測(cè)試結(jié)果分析,兩種柜型在設(shè)計(jì)上存在以下問(wèn)題:
(1)當(dāng)控制柜出線電路采用從上至下豎列組合,開(kāi)關(guān)額定電流依次從小到大布局設(shè)計(jì)時(shí),母排連接處或一次接插件連接處的溫升呈現(xiàn)出由高到低走勢(shì),額定電流越小部位溫升反而越高。而采用圖5結(jié)構(gòu)時(shí),其接插件溫升有明顯改善。
造成此原因是由于最上層出線電路開(kāi)關(guān)額定電流小,其連接的導(dǎo)線、銅排、接插件載流量面積也更小。當(dāng)導(dǎo)體通過(guò)電流時(shí),其內(nèi)部產(chǎn)生的熱量一部分使導(dǎo)體本身的溫度升高。依據(jù)圖6試驗(yàn)電流方向可知,最上層C1回路a2點(diǎn)流過(guò)的電流等于I總的總電流。因而,此部位的母排連接處、一次接插件連接處承載的電流最大,導(dǎo)致其溫升比其它回路要高很多。其中,固定式開(kāi)關(guān)柜母排連接處溫升變化曲線如圖7所示。
另外,當(dāng)采用電流從小到大豎向排列組合設(shè)計(jì)時(shí),最底層回路試驗(yàn)電流最大,產(chǎn)生的熱量相對(duì)也會(huì)更高。導(dǎo)致熱氣會(huì)從最底層向上層傳遞,使上層開(kāi)關(guān)周?chē)諝鉁囟壬?。間接造成上層出線回路開(kāi)關(guān)進(jìn)出線端子溫升升高。
(2)在目前低壓成套開(kāi)關(guān)設(shè)備溫升測(cè)試中,不論是標(biāo)準(zhǔn)還是制造商都允許通過(guò)額定分散系數(shù)降低開(kāi)關(guān)額定電流進(jìn)行溫升測(cè)試,以便能更好地通過(guò)溫升試驗(yàn)。這種測(cè)試方案雖能滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)要求,但在實(shí)際使用過(guò)程中會(huì)影響開(kāi)關(guān)自身動(dòng)作特性保護(hù)功能。
從文中固定式開(kāi)關(guān)柜進(jìn)行的兩次溫升試驗(yàn)測(cè)試結(jié)果可知,當(dāng)溫升試驗(yàn)電流采用斷路器額定電流通電時(shí),任何位置的溫升比采用額定分散系數(shù)為1時(shí)的溫升要高許多,甚至超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)中70K溫升極限值。由于采用制造商規(guī)定的額定分散系數(shù),通過(guò)降低開(kāi)關(guān)額定電流進(jìn)行溫升測(cè)試過(guò)程中,忽視了開(kāi)關(guān)柜在實(shí)際使用過(guò)程中線路負(fù)載電流可能達(dá)到開(kāi)關(guān)額定電流。那么,在這種情況下整個(gè)開(kāi)關(guān)柜溫升將超過(guò)溫升極限值,長(zhǎng)期運(yùn)行將導(dǎo)致開(kāi)關(guān)柜各個(gè)部件絕緣件性能降低、損壞等問(wèn)題。
(3)開(kāi)關(guān)柜中塑殼斷路器除了作為斷開(kāi)、接通線路作用外,還具有線路發(fā)生過(guò)載、短路時(shí)起到脫扣保護(hù)作用。在標(biāo)準(zhǔn)GBT 14048.2中表6規(guī)定了反時(shí)限過(guò)電流斷開(kāi)脫扣器在基準(zhǔn)溫度下的斷開(kāi)動(dòng)作特性[5],如表5所示。依據(jù)反時(shí)限動(dòng)作曲線,負(fù)載電流越大,脫扣時(shí)間越快。
以固定式開(kāi)關(guān)柜溫升試驗(yàn)電流參數(shù)為例,如表6所示。
在表6電流參數(shù)中,使用額定分散系數(shù)降電流進(jìn)行溫升試驗(yàn)時(shí),開(kāi)關(guān)額定電流與溫升試驗(yàn)電流相差近1.22倍。結(jié)合表5中要求,當(dāng)線路過(guò)載電流達(dá)到表7中1.3In電流時(shí),采用額定分散系數(shù)分配試驗(yàn)電流,斷路器未達(dá)到約定脫扣電流,無(wú)法對(duì)整個(gè)線路起到過(guò)載保護(hù)作用。
5? 設(shè)計(jì)改善方案
通過(guò)上文溫升測(cè)試與結(jié)果分析,文中根據(jù)實(shí)際試驗(yàn)情況,對(duì)控制柜結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)提出以下幾點(diǎn)改善方案:
1)將固定式、抽出式控制柜出線電路從上至下豎向排列方式中,開(kāi)關(guān)額定電流由從小到大組合,改為從大到小排列組合。通過(guò)這種設(shè)計(jì)方式可以使出線電路中小電流回路母排連接處或一次接插件承載更小的負(fù)載電流。同時(shí)也能有效降低由底層大電流產(chǎn)生的熱量從下往上傳導(dǎo)帶來(lái)的影響。
2)由于控制柜每個(gè)出線電路都是相互獨(dú)立且內(nèi)部空間狹小,極易造成通風(fēng)與散熱性能下降,導(dǎo)致回路內(nèi)部熱量積聚無(wú)法更好地散熱。因此,除了可以通過(guò)加裝風(fēng)扇等散熱措施降低每個(gè)出線電路內(nèi)部空氣溫度外,還可以通過(guò)增加導(dǎo)線、銅排、一次回路接插件截面積,使其能夠承載更大的電流,以此減少導(dǎo)線、銅排產(chǎn)生的熱量。
在標(biāo)準(zhǔn)GB 7251.1-2013中表11、表12規(guī)定了用于額定電流使用的試驗(yàn)導(dǎo)線最低要求值,以及在參考文獻(xiàn)[6]中給出了低壓成套設(shè)備(100~630)A額定電流對(duì)應(yīng)的導(dǎo)線或銅排截面積尺寸選擇參考值,如表8所示。
3)標(biāo)準(zhǔn)GB 7251.12中雖規(guī)定了允許在進(jìn)行溫升試驗(yàn)時(shí),可以通過(guò)額定分散系數(shù)降低每條出線電路額定電流進(jìn)行試驗(yàn)。但同時(shí)也規(guī)定了其他兩種試驗(yàn)方案,其中一種方案就是每個(gè)功能單元應(yīng)當(dāng)承載其自身的最大額定電流。因此,在進(jìn)行低壓成套設(shè)備控制柜結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)時(shí),可以結(jié)合1)、2)兩點(diǎn)合理應(yīng)用與設(shè)計(jì),在輔以風(fēng)扇等散熱措施,以此降低每個(gè)測(cè)試點(diǎn)溫升,并保證與導(dǎo)體相連接的電器能正常工作,尤其是具有熱過(guò)載保護(hù)特性的電器元件保護(hù)動(dòng)作正確[9]。使控制柜每個(gè)功能單元中使用到的開(kāi)關(guān)能夠滿(mǎn)足其自身的保護(hù)動(dòng)作性能,保障設(shè)備與人身安全。
6 結(jié)論
通過(guò)合理改變控制柜出線電路電流排列組合,以及增加開(kāi)關(guān)進(jìn)出線端與母排連接處的銅排、導(dǎo)線、一次接插件載流截面積,在測(cè)試過(guò)程中對(duì)降低溫升有較明顯的積極作用。
參考文獻(xiàn)
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