郝海燕　姚　熹　萬　幸　汪敏強(qiáng)　吳小清

摘要：采用溶膠—凝膠原位析晶法和高溫還原熱處理工藝制備了ZnSe／SiO₂納米復(fù)合材料。通過吸收光譜和Z—Scan技術(shù)對材料的光學(xué)吸收特性進(jìn)行了表征．在吸收光譜中，不同ZnSe摩爾分?jǐn)?shù)的樣品的吸收邊相對于ZnSe體材料發(fā)生了不同程度的藍(lán)移，藍(lán)移量與復(fù)合材料中ZnSe納米晶粒的尺寸有關(guān)，根據(jù)量子尺寸效應(yīng)估算了復(fù)合材料中ZnSe納米晶粒的平均尺寸大約為3～4 nm．利用Z—Scan技術(shù)測定了ZnSe摩爾分?jǐn)?shù)為0．01和0．03的ZnSe／SiO₂納米復(fù)合材料的雙光子吸收系數(shù)．ZnSe／SiO₂納米復(fù)合材料在不同強(qiáng)度的入射光的激發(fā)下其出射光強(qiáng)度與入射光強(qiáng)度之間的關(guān)系呈現(xiàn)光學(xué)限幅特征，ZnSe摩爾分?jǐn)?shù)為0．01的樣品的限幅閾值為5 962 GW／m²，嵌位輸出值約為4 800 GW／m²，限幅的破壞閾值為12 400 GW／m²。

關(guān)鍵詞：ZnSe／SiO₂納米復(fù)合材料；光學(xué)吸收；光學(xué)限幅

中圖分類號：O437文獻(xiàn)標(biāo)識碼：A文章編號：0253—987X(2005)12—1391—05-