院小雪,周傳良,楊東升1,
(1. 可靠性與環(huán)境工程技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室;2. 北京衛(wèi)星環(huán)境工程研究所:北京 100094)
航天光學(xué)系統(tǒng)是重要的航天有效載荷,其突出特點(diǎn)是對(duì)污染高度敏感。航天光學(xué)系統(tǒng)運(yùn)行所處的空間環(huán)境與地面環(huán)境存在巨大的差異,光學(xué)系統(tǒng)的功能性器件將因所處環(huán)境的改變而發(fā)生變化[1],在地面生產(chǎn)和制造時(shí)的可靠性狀態(tài)也隨之改變。污染是造成這種變化的因素之一。要保證航天光學(xué)系統(tǒng)在研制及在軌運(yùn)行期間由于分子污染和顆粒污染造成的光學(xué)器件光學(xué)透過(guò)率、反射率和散射光的改變滿足系統(tǒng)設(shè)計(jì)的分辨率和靈敏度要求,達(dá)到預(yù)定的設(shè)計(jì)任務(wù)目標(biāo),必須做好航天器光學(xué)系統(tǒng)的污染控制工作。
航天光學(xué)系統(tǒng)有著相似的有效載荷和空間環(huán)境,航天光學(xué)系統(tǒng)有效載荷曾因污染造成一系列的故障。采取有效的污染控制措施是保證航天光學(xué)系統(tǒng)正常運(yùn)行的必要條件。例如,作為美國(guó)國(guó)家防御系統(tǒng)重要組成部分[2]的彈道中段空間試驗(yàn)衛(wèi)星(Midcourse Space Experiment,MSX)針對(duì)其有效載荷對(duì)污染高度敏感的特性,制定了周密的污染控制計(jì)劃。由 ESA和 NASA共同承擔(dān)的 Solar &Heliospheric Observatory(SOHO)和美國(guó)的Transition Region Coronal Explorer(TRACE)兩個(gè)太陽(yáng)望遠(yuǎn)鏡[3]以及其他航天光學(xué)系統(tǒng)的經(jīng)驗(yàn)都證明污染控制是航天光學(xué)系統(tǒng)研制中的重要工作之一。
MSX于1996年4月24日發(fā)射,重2 700 kg,長(zhǎng)5.1 m,運(yùn)行在高度為900 km的近似太陽(yáng)同步軌道的極軌道,軌道傾角為99.4°,主要有3個(gè)有效載荷:1)大型固態(tài)氫制冷的紅外望遠(yuǎn)鏡(空間紅外望遠(yuǎn)鏡SPIRIT III);2)可見(jiàn)光波段望遠(yuǎn)鏡(天基可見(jiàn) SBV);3)一套從近紅外到紫外波段的望遠(yuǎn)鏡和分光計(jì)(紫外與可見(jiàn)光成像儀和光譜成像儀UVISI)。所有這些光學(xué)儀器都被集中安裝在衛(wèi)星的一側(cè),而大部分?jǐn)?shù)據(jù)采集和處理電子單元被安裝在衛(wèi)星的另一側(cè)。這種設(shè)計(jì)可以減少由于數(shù)據(jù)采集和處理電子單元的部分非金屬材料放氣而導(dǎo)致的對(duì)光學(xué)儀器及其觀測(cè)空間的污染。圖1和圖2分別是MSX整星和MSX光學(xué)系統(tǒng)的外形圖。
由于紫外比可見(jiàn)光和紅外在單位厚度分子污染膜內(nèi)的吸收率更高,所以 UVISI光學(xué)元件表面對(duì)污染非常敏感。這就要求紫外望遠(yuǎn)鏡的零部件比可見(jiàn)光望遠(yuǎn)鏡的零部件進(jìn)行更長(zhǎng)時(shí)間的真空烘烤[4]。在發(fā)射期間和入軌初始階段,這些主要光學(xué)儀器上都有防護(hù)蓋保護(hù)。MSX的污染試驗(yàn)組負(fù)責(zé)有關(guān)污染方面的設(shè)計(jì)和控制,在整個(gè)研制過(guò)程中跟蹤監(jiān)測(cè)飛行件的潔凈度,模擬在軌污染環(huán)境,發(fā)射前發(fā)布飛行中污染環(huán)境預(yù)估,設(shè)計(jì)在軌污染測(cè)量試驗(yàn)。
圖1 彈道中段空間試驗(yàn)衛(wèi)星Fig. 1 The MSX satellite
圖2 彈道中段空間試驗(yàn)衛(wèi)星光學(xué)系統(tǒng)Fig. 2 The optical system of MSX satellite
在軌污染會(huì)造成反射鏡的反射率降低和散射增加,影響其光學(xué)性能。因此MSX共安裝了5個(gè)石英晶體微量天平(QCM),其中4個(gè)為溫控石英微量天平(TQCM),1個(gè)為低溫石英微量天平(CQCM)。溫控石英微量天平位于衛(wèi)星的不同外表面,工作溫度為-400~+500 ℃,測(cè)量硅樹(shù)脂和有機(jī)物分子的凝結(jié)物。低溫石英微量天平位于SPIRIT III紅外低溫望遠(yuǎn)鏡主鏡附近。在工作的第一周,它的溫度隨主鏡從28 K降到20 K,可提供望遠(yuǎn)鏡主鏡上污染物沉積的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)。監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)顯示,所有的QCM記錄的污染物沉積率都在每天20 ng/cm2的水平。QCM熱重分析提供了凝結(jié)污染物的數(shù)量和物質(zhì)成分。QCM和其他污染試驗(yàn)儀器的數(shù)據(jù)為確定安全打開(kāi)光學(xué)儀器防護(hù)蓋的時(shí)間提供了原位實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)依據(jù)。這些QCM的監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)也成為分析衛(wèi)星軌道分子污染特性的關(guān)鍵數(shù)據(jù)。直到現(xiàn)在,這些數(shù)據(jù)還在源源不斷地被送到數(shù)據(jù)庫(kù)中,用來(lái)進(jìn)行衛(wèi)星及有效載荷的在軌運(yùn)行狀況分析。
TAUVEX UV天文望遠(yuǎn)鏡,由ISA(以色列航天局)發(fā)起,由El-Op和Tel-Aviv University Wise Observatory聯(lián)合設(shè)計(jì)和制造。每個(gè)望遠(yuǎn)鏡包括9個(gè)對(duì)污染敏感的光學(xué)表面,分別為主鏡、二次鏡、第一校正透鏡(2個(gè)表面)、第二校正透鏡(2個(gè)表面)、濾光器(2個(gè)表面)和探測(cè)器窗口。
該望遠(yuǎn)鏡由3個(gè)工作在140~280 nm光譜范圍的相同望遠(yuǎn)鏡組成。此光譜范圍對(duì)分子污染和顆粒污染高度敏感,需要制定嚴(yán)密的污染控制方法以滿足污染控制要求。
對(duì) TAUVEX應(yīng)用的污染控制方法是由 Soreq NRC和El-Op共同制定的,涵蓋了設(shè)計(jì)、制造、總裝和測(cè)試的項(xiàng)目全過(guò)程,工作內(nèi)容包括:污染指標(biāo)分配;材料選擇標(biāo)準(zhǔn);根據(jù)放氣對(duì)分子污染進(jìn)行理論分析,預(yù)估空間環(huán)境造成的光學(xué)性能衰減;測(cè)量透射損失和污染物密度之間關(guān)系的試驗(yàn);專門(mén)的設(shè)計(jì);總裝和試驗(yàn)環(huán)境;熱真空、振動(dòng)試驗(yàn)潔凈度控制,以及監(jiān)測(cè)設(shè)備的選擇和使用。
在過(guò)去的項(xiàng)目中,用于對(duì)太陽(yáng)進(jìn)行空間觀測(cè)的光學(xué)儀器受到了航天器和儀器結(jié)構(gòu)所用材料的污染影響而導(dǎo)致敏感度衰減。與可見(jiàn)光波段相比,雖然太陽(yáng)電磁輻射中紫外波段所占能量的比例很小,然而,如果連續(xù)暴露在太陽(yáng)光下,依然能夠使得有機(jī)污染物聚合在光學(xué)表面上。SOHO選擇合適的材料以及獨(dú)特的航天器和儀器的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使得它在很大程度上能夠避免這種危害。SOHO上各種遙感儀器通過(guò)一定的潔凈度控制要求達(dá)到了穩(wěn)定的靈敏度要求。這些設(shè)計(jì)方面的獨(dú)到之處對(duì)未來(lái)進(jìn)行太陽(yáng)探測(cè)和研究有普遍意義。
如圖3所示,一束光線入射到一個(gè)分子污染膜表面后,部分光線被反射,部分光線被吸收,部分光線被透射。根據(jù)能量守恒定律[5],可知其中:ρ代表反射率;α代表吸收率;τ代表透射率。這3個(gè)參數(shù)與光線的入射角度、偏振和波長(zhǎng)有關(guān),可以通過(guò)試驗(yàn)來(lái)確定。
圖3 光線入射、反射、吸收和透射關(guān)系圖Fig. 3 The relation figure of incidence, reflection, absorption and transmittance of the rays
導(dǎo)致光學(xué)透射率損失的原因是污染物的散射作用。不同種類的分子污染膜吸收能譜不同,在不同的波段差別很大。顆粒污染物主要是造成入射光的散射,從而增加了漫反射(雙向反射分配函數(shù),bi-directional reflectance distribution function),形成了探測(cè)器上的雜散光束,降低了信噪比。透射率損失只有當(dāng)顆粒污染物個(gè)數(shù)密度很大的時(shí)候才會(huì)顯著表現(xiàn)出來(lái)。
對(duì)多種常見(jiàn)星用非金屬材料樣品進(jìn)行污染光學(xué)效應(yīng)試驗(yàn)研究,部分試驗(yàn)分析結(jié)果如下。
1)對(duì)“導(dǎo)線緊扣帶”進(jìn)行分子污染沉積研究,表1為試驗(yàn)數(shù)據(jù),透射率譜如圖4所示(1~5號(hào)樣品分別代表SiO2基底上沉積的污染量為0.051 mg、0.093 mg、0.136 mg、0.182 mg 和 0.224 mg)。
表1 導(dǎo)線緊扣帶分子污染出氣數(shù)據(jù)Table 1 The molecular contamination outgassing data of the wire buckle
圖4 導(dǎo)線緊扣帶透射率譜Fig. 4 The transmittance of the wire buckle
圖5是導(dǎo)線緊扣帶透射率最大衰減值與沉積質(zhì)量之間的關(guān)系。從該圖可以得出如下結(jié)論:對(duì)于導(dǎo)線緊扣帶沉積不同厚度的分子薄膜后,光學(xué)鏡片在可見(jiàn)光、紫外和近紅外譜段的透射率衰減不同;但隨著波長(zhǎng)的增加,同一厚度污染物薄膜的透射率逐漸增加;在波段200~2 500 nm間,由于污染各個(gè)光譜段透射率都有相同的衰減趨勢(shì)。另一個(gè)值得注意的現(xiàn)象就是發(fā)生在石英光學(xué)鏡片紫外波段210 nm左右處的光學(xué)透射率衰減值最大,且隨著污染膜厚度(質(zhì)量)的增加,透射率最大衰減值增大,且基本成線性關(guān)系。這些測(cè)試結(jié)果和美國(guó)ARNOLD機(jī)械材料技術(shù)中心報(bào)道的有機(jī)物分子紫外和可見(jiàn)光譜段分子污染沉積結(jié)果基本一致。
圖 5 導(dǎo)線緊扣帶透射率最大衰減值與沉積質(zhì)量的關(guān)系Fig. 5 The relation between the max transmittance attenuation and the contamination mass of the wire buckle
2)對(duì)某種星用“塑料”進(jìn)行分子污染沉積研究,試驗(yàn)數(shù)據(jù)見(jiàn)表2,透射率譜如圖6所示(1~5號(hào)樣品分別代表 SiO2基底上沉積的污染量為 0.015 7 mg、0.018 7 mg、0.019 0 mg、0.019 7 mg和0.021 8 mg)。
表 2 某塑料分子污染出氣數(shù)據(jù)Table 2 The molecular contamination outgassing data of the plastic
圖6 某塑料透射率譜Fig. 6 The transmittance of the plastic
該種“塑料”在石英鏡片上沉積不同厚度的可凝揮發(fā)物后,由圖7可見(jiàn),光學(xué)鏡片在可見(jiàn)光、紫外和近紅外譜段的透射率衰減不同;同一波長(zhǎng)時(shí),污染物薄膜的透射率衰減速率并不隨沉積厚度(質(zhì)量)的增加而逐漸增加,沉積 0.015 7 mg比沉積0.019 0 mg“塑料”可凝揮發(fā)物后的透射率衰減量要低30%左右;而在200~2 500 nm波段間各透射率衰減卻有相同的趨勢(shì),即隨著波長(zhǎng)的增加,透射率衰減不斷減小,最大衰減值在200 nm附近。但該“塑料”的透射率最大衰減值和導(dǎo)線緊扣帶的不同,并不隨沉積質(zhì)量成線性關(guān)系。這些測(cè)試結(jié)果和國(guó)外報(bào)道的有機(jī)物分子紫外和可見(jiàn)光譜段分子污染沉積結(jié)果基本一致。
圖 7 塑料透射率最大衰減值與沉積質(zhì)量之間的關(guān)系Fig. 7 The relation between the max transmittance attenuation and the contamination mass of the plastic
圖 8是某種塑料出氣產(chǎn)物在 10 000~400 cm-1波段的光譜圖,從圖中可看出,吸收峰的位置在793 cm-1、1 018 cm-1、1 090 cm-1、1 253 cm-1、2 842 cm-1和2 910 cm-1處。而793 cm-1處是—CH3官能團(tuán)的吸收峰處;1 018 cm-1是RSO3H官能團(tuán)的吸收峰處[6];1 090 cm-1是Si—O—Si官能團(tuán)的吸收峰處; 1 253 cm-1是—C(CH3)3官能團(tuán)的吸收峰處;2 842 cm-1是—CH3官能團(tuán)的吸收峰處;2 910 cm-1是—CH2—官能團(tuán)的吸收峰處。通過(guò)上述分析,推斷該塑料材料含有硫和硅元素,并且出氣產(chǎn)物主要是非金屬材料的降解產(chǎn)物。各吸收峰的相對(duì)強(qiáng)度有明顯的差異,取決于污染物沉積質(zhì)量的大小。以上各吸收峰強(qiáng)度隨污染物沉積質(zhì)量的增加而逐漸增大,這些污染物成分對(duì)透射率有較大影響。
圖 8 鍺基底上沉積0.015 2 mg的“塑料”分子污染物后的紅外透射率譜Fig. 8 The infrared transmittance of the germanium
我國(guó)在航天光學(xué)系統(tǒng)研制中已經(jīng)采取了大量的污染防護(hù)措施并取得了一定的成效。由于航天光學(xué)系統(tǒng)與其他污染不敏感的系統(tǒng)(如結(jié)構(gòu)與機(jī)構(gòu)、推進(jìn)、電源、測(cè)控系統(tǒng)等)一起構(gòu)成完整的航天器,這些污染不敏感的系統(tǒng)由大量的非金屬材料構(gòu)成[3],它們釋放的有機(jī)分子會(huì)對(duì)航天光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生有害影響。航天光學(xué)系統(tǒng)的污染控制必須做到避免系統(tǒng)間的交叉污染,在航天器頂層設(shè)計(jì)時(shí)必須考慮到各個(gè)系統(tǒng)釋放的污染總量,并納入總體污染控制計(jì)劃。從航天器設(shè)計(jì)到在軌運(yùn)行的全過(guò)程,都需要制定行之有效的污染控制措施。
在航天器設(shè)計(jì)階段,需要制定完備的污染控制大綱。首先需要充分考慮航天器的構(gòu)型與布局,考慮航天器的光學(xué)系統(tǒng)是否在羽流污染區(qū)域;其次要考慮航天器所用非金屬材料的篩選工作,是否需要進(jìn)行真空烘烤處理。在此基礎(chǔ)上,制定一套完整的污染控制方案并加以實(shí)施,避免研制過(guò)程中的被動(dòng)補(bǔ)救措施造成成本增加、可靠度降低。
航天產(chǎn)品制造階段是航天器部組件加工最早的階段,通常通過(guò)切割、鉆孔和焊接等方法,使用金屬、塑料及合成材料等構(gòu)成航天器產(chǎn)品的零部件。該項(xiàng)工作需要在潔凈環(huán)境下進(jìn)行,在實(shí)施工作之前,須設(shè)置潔凈間環(huán)境及人員配備標(biāo)準(zhǔn)。
航天產(chǎn)品裝配工作是把產(chǎn)品制造階段生產(chǎn)的部組件組裝成儀器和分系統(tǒng)等,包括從簡(jiǎn)單的機(jī)械裝配到復(fù)雜完整設(shè)備的裝配。航天器在總裝階段必須建立一套完備的潔凈間潔凈度標(biāo)準(zhǔn)和人員操作標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)光學(xué)系統(tǒng)而言,這個(gè)環(huán)節(jié)尤為重要,一般需要潔凈間潔凈度達(dá)到10萬(wàn)級(jí),操作人員控制在8~10人左右。操作人員符合進(jìn)出潔凈間要求,才能進(jìn)行下一步的裝配。
航天器試驗(yàn)是為了驗(yàn)證航天器的力學(xué)、熱學(xué)等性能。譬如力學(xué)和聲學(xué)等試驗(yàn)一般都是在非潔凈間環(huán)境中進(jìn)行,在這種情況下,必須對(duì)光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行預(yù)保護(hù),使用保護(hù)蓋、保護(hù)袋等保護(hù)裝置,并實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)環(huán)境的潔凈度。
在航天器運(yùn)輸過(guò)程中,既要通過(guò)使用保護(hù)蓋、保護(hù)袋等措施為光學(xué)系統(tǒng)做好防污染措施,還要做好安全防護(hù)措施。
在航天器儲(chǔ)存過(guò)程中,應(yīng)保持存放地點(diǎn)的潔凈度,保證存放過(guò)程中航天器不受污染。
一個(gè)壽命為5年的航天器,入軌第一周內(nèi)的放氣量約占總放氣量的一半,因此打開(kāi)光學(xué)系統(tǒng)防護(hù)蓋要選擇恰當(dāng)?shù)臅r(shí)間。必要時(shí)應(yīng)設(shè)計(jì)污染物捕獲器吸附分子污染,采用二氧化碳冰晶或離子轟擊法清洗光學(xué)表面。對(duì)傳回的污染物監(jiān)測(cè)信息進(jìn)行分析,確認(rèn)污染控制措施的有效性。
綜上所述,本文研究了航天光學(xué)系統(tǒng)對(duì)污染的光學(xué)效應(yīng)和航天用非金屬材料放氣污染引起的光學(xué)透射率的變化,在此基礎(chǔ)上簡(jiǎn)要總結(jié)了航天器研制全過(guò)程對(duì)航天光學(xué)系統(tǒng)的污染控制措施。在以后的工作中,在材料篩選方面,需要建立完善的數(shù)據(jù)庫(kù);在航天器設(shè)計(jì)階段,需要建立完善和系統(tǒng)的全過(guò)程污染控制措施。
(
)
[1]盧春蓮, 趙雪, 周彥平. 污染對(duì)空間光學(xué)系統(tǒng)的影響分析[J]. 哈爾濱工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào), 2005, 37(2): 223
Lu Chulian, Zhao Xue, Zhou Yanping. Analysis of the contamination affection on the space optical system[J]. Journal of Harbin Institute of Technology, 2005, 37(2): 223
[2]Silver D M. Midcourse space experiment contamination modeling[C]// Proceedings of 34thAerospace Sciences Meeting and Exhibit. Reno, 1996
[3]周傳良. 航天器研制全過(guò)程污染控制工程[J]. 航天器環(huán)境工程, 2005, 22(6): 335 Zhou Chuanliang. Contamination control through entire process of spacecraft development[J]. Spacecraft Environment Engineering, 2005, 22(6): 335
[4]周傳良. 高度污染敏感有效載荷的真空烘烤技術(shù)[J].航天器環(huán)境工程, 2006, 23(6): 340 Zhou Chuanliang. Vacuum bakeout technology for spacecraft payload with high sensitive contamination[J].Spacecraft Environment Engineering, 2006, 23(6): 340
[5]焦子龍, 楊東升, 龐賀偉. 分子污染光學(xué)效應(yīng)試驗(yàn)研究[J]. 航天器環(huán)境工程, 2009, 26(1): 17 Jiao Zilong, Yang Dongsheng, Pang Hewei. Experimental study on optical effects of molecular contamination[J].Spacecraft Environment Engineering, 2009, 26(1): 17
[6]王鹢, 王先榮, 顏則東, 等. 星用非金屬材料出氣物成分及污染光學(xué)測(cè)試分析[J], 航天器環(huán)境工程, 2005,22(5): 295 Wang Yi, Wang Xianrong, Yan Zedong, et al. The analysis method of nonmetal material outgassing ingredients and contaminative optical testing[J]. Spacecraft Environment Engineering, 2005, 22(5): 295