曾靖華，王志偉，靳 華，杜翠蓮 (.暨南大學醫(yī)學院口腔系，廣東 廣州 5063;.中國人民武裝警察部隊廣東總隊醫(yī)院口腔科，廣東 廣州 50507)

橫腭桿是一種正畸支抗加強裝置，通過銀焊在帶環(huán)舌側再粘結固定在上頜雙側第一磨牙。焊接腭桿的制作需經(jīng)過分牙、試戴帶環(huán)、取模、灌注模型、焊接等工序，制作過程復雜，患者需多次復診。隨著矯正技術的發(fā)展和釉質粘結劑的性能改進，第一磨牙帶環(huán)逐漸被直接粘接頰面管代替。本實驗采用粘結方法固定橫腭桿，對粘結腭桿和焊接腭桿的脫落率及對牙周組織健康的影響進行評價，現(xiàn)報告如下。

1 資料與方法

1.1 納入標準:①年齡16～28歲，已過生長發(fā)育高峰期;②安氏二類一分類中等支抗患者;③高面角FMA＞28°;④前牙前突伴輕度擁擠;⑤除第三磨牙外無其他牙齒先天缺失;⑥設計拔除上頜雙側第一雙尖牙。

1.2 排除標準:①上前牙腭側萌出;②上頜牙弓不能同時黏貼托槽者;③磨牙高度過低影響托槽粘結者;④頰舌側大面積金屬充填物。

1.3 一般情況:符合納入和排除標準者共46例，其中男32例，女14例，平均(21.6±2.8)歲。隨機分成試驗組和對照組。粘結腭桿組(試驗組)23例，焊接腭桿組(對照組)23例，兩組性別及年齡分組見表1。成組設計的t檢驗顯示兩組患者年齡差異無統(tǒng)計學意義(t=1.0221，P=0.312 3，P＞0.05)，χ2檢驗顯示兩組的性別構成差異無統(tǒng)計學意義(χ2=1.394，P=0.238，P ＞0.05)。

表1 試驗組和對照組正畸患者基本情況

1.2 材料:MBT托槽(杭州新亞)，上頜第一磨牙托槽(杭州新亞)，帶環(huán)(杭州新亞)，0.014～0.018英寸鎳鈦絲(北京有研億京)，光固化樹脂及粘結劑(日本可樂麗)，1.1 mm鋼絲(杭州新亞)，焊媒。

1.3 治療方法:兩組患者均采用MBT矯治方法，在粘結托槽前把橫腭桿裝配到上頜雙側第一磨牙 ，常規(guī)整平排齊上下頜牙弓，弓絲順序為(0.014、0.016、0.018、0.018)×0.025 英寸鎳鈦絲，在0.019×0.025英寸不銹鋼絲上用滑動法關閉拔牙間隙，關閉間隙后拆除橫腭桿。

1.4 粘結型橫腭桿的制作:酸蝕上頜第一磨牙舌側面，把上頜第一磨牙托槽用光固化樹脂粘結于腭側，前后上下各光照20 s，腭桿粘結處打磨粗糙，用光固化樹脂把彎制好的腭桿粘結到托槽的垂直槽溝上，磨除多余的鋼絲，并把粘結處打磨拋光。(粘結后情況見圖1)

1.5 焊接型橫腭桿的制作:常規(guī)用分牙簧分牙，試戴成品帶環(huán)，取模，灌注模型(帶環(huán)在印模中)，取出模型，把彎制好的腭桿焊接到雙側磨牙帶環(huán)的舌側面，用玻璃離子粘固劑粘固到上頜第一磨牙。兩種方法制作的腭桿裝配到上頜后均應離開腭部黏膜2 mm，U型曲朝后。

1.6 評價項目及指標

1.6.1 腭桿脫落率的計算:試驗組脫落率的計算:橫腭桿從第一磨牙托槽松脫或第一磨牙托槽從牙面脫落均計算為脫落。對照組脫落率的計算:焊點松開或帶環(huán)脫落均計算為脫落。兩組均只計算第一次脫落(中途脫落再粘結后不計算在內(nèi))。脫落率=粘結型腭桿或焊接型腭桿脫落例數(shù)/粘結型腭桿或焊接型腭桿總例數(shù)。

1.6.2 牙周檢測部位:雙側上頜第一磨牙近中腭側面、遠中腭側面、正中腭側面。在患者戴入矯治器之前和帶入6個月之后對牙齦指數(shù)(GI)、菌斑指數(shù)(PLI)進行評價。牙齦指數(shù)(GI):采用Loe-Silnessh法，0=正常牙齦;1=輕度牙齦炎癥，輕度牙齦水腫，探診不出血;2=牙齦中等炎癥:牙齦色紅，水腫光亮，有出血;3=重度牙齦炎癥，牙齦明顯發(fā)紅、水腫、自動出血。菌斑指數(shù)(PLI):采用Loe-Silnessh法，0=齦緣區(qū)無菌斑;1=視診無菌斑，但探診可在游離齦及鄰近區(qū)刮出薄層菌斑;2=齦袋內(nèi)、游離齦區(qū)及鄰近區(qū)可見中等沉積量的軟垢;3=齦袋內(nèi)、游離齦區(qū)及鄰近區(qū)有大量軟垢。

1.7 統(tǒng)計學處理:使用SPSSl3.0軟件包，分別采用卡方檢驗、兩樣本t檢驗對粘結型橫腭桿和焊接型橫腭桿的脫落例數(shù)、牙齦指數(shù)(GI)、菌斑指數(shù)(PLI)進行統(tǒng)計學檢驗。

2 結果

2.1 兩組腭桿組脫落比較:試驗組23例，其中脫落4例，未脫落19例;對照組23例，其中脫落6例，未脫落17例。經(jīng)χ2檢驗，粘結型橫腭桿組與焊接型橫腭桿組腭桿脫落率差異無統(tǒng)計學意義(χ2=0.237 7 ，P=0.625 9，P ＞0.05)。

2.2 兩組正畸前與正畸6個月后GI指數(shù)比較:見表1。經(jīng)成組t檢驗，粘結型橫腭桿組矯治前與矯治6個月后的牙齦指數(shù)差異有統(tǒng)計學意義(t=19.644 1，P=0.000 0，P＜0.05);焊接型橫腭桿組矯治前與矯治6個月后牙齦指數(shù)的差異有統(tǒng)計學意義(t=21.031 6，P=0.000 0，P＜0.05);矯治前粘結型橫腭桿組與焊接型橫腭桿組牙齦指數(shù)，差異無統(tǒng)計學意義(t=1.1039，P=0.741 7，P＞0.05)。矯治 6個月后，粘結型橫腭桿組與焊接型橫腭桿組的牙齦指數(shù)差異有統(tǒng)計學意義(t=4.174 0，P=0.000 1，P ＜0.05)。

表1 兩組正畸前和正畸6個月后GI指數(shù)(±s)

表1 兩組正畸前和正畸6個月后GI指數(shù)(±s)

分組 牙數(shù)時間 正畸前 6個月后試驗組46 0.18±0.375 1.65±0.342對照組46 0.21±0.394 1.98±0.413

表2 兩組正畸前和正畸6個月后PLI指數(shù)(±s)

表2 兩組正畸前和正畸6個月后PLI指數(shù)(±s)

分組 牙數(shù)時間 正畸前 6個月后試驗組46 0.71±0.524 1.89±0.535對照組46 0.62±0.553 2.240±0.5451

2.3 兩組正畸前與正畸6個月后菌斑指數(shù)比較:粘結型橫腭桿組矯治前與矯治6個月后的菌斑指數(shù)差異有統(tǒng)計學意義(t=10.687 0，P=0.000 0，P＜0.05);焊接型橫腭桿組矯治前與矯治6個月后菌斑指數(shù)差異有統(tǒng)計學意義(t=14.411 9，P=0.000 0，P＜0.05);矯治前粘結型橫腭桿組與焊接型橫腭桿組菌斑指數(shù)差異無統(tǒng)計學意義(t=0.816 7，P=0.416 3，P＞0.05)。矯治6個月后粘結型橫腭桿組與焊接型橫腭桿組的菌斑指數(shù)差異有統(tǒng)計學意義(t=3.108 0，P=0.002 5，P＜0.05)。

圖1 腭桿粘結后情況見

3 討論

橫腭桿能滿足支抗牙中等支抗強度的要求，在橫向、垂直向和前后向起到支抗作用［1］。除了受到向前、頰向作用力外，腭桿還受到舌體上抬的壓力。兩組患者整平排齊時間不大于6個月，關閉間隙時間不大于8個月，各有1例在第二個月脫落。從表1可知焊接型橫腭桿和粘結型橫腭桿脫落率差異無統(tǒng)計學意義，說明粘結型橫腭桿完全能滿足臨床要求。5例焊接型橫腭桿脫落患者，其中有4例帶環(huán)脫落、1例焊點虛焊造成。3例粘結型腭桿脫落都是腭桿與磨牙托槽粘結處松脫。有回顧性研究認為直接粘結頰面管脫落是咬硬物時被硌而脫落。帶環(huán)脫落原因較多［2］，目前使用的帶環(huán)多為預成帶環(huán)，與基牙不密合，造成固位力欠佳。粘結時粘固劑調配不當，過稀則強度不夠，過稠則不容易完全就位，均易造成帶環(huán)脫落。

牙菌斑是引起牙齦炎的重要原因，對牙周的影響因人而異［3］。有研究認為戴入固定矯治器1-2個月后牙齦指數(shù)會明顯增加，到6個月時達到高峰［4］，然后維持在相對穩(wěn)定水平，拆除矯治器后慢慢恢復到正常水平。牙齦指數(shù)升高的原因一方面是矯治器系統(tǒng)對牙齦的刺激，另一方面是口腔衛(wèi)生維護比較困難，菌斑數(shù)量較難控制［5］。表1、2顯示正畸治療后GI、PLI均比基準值增高提示正畸治療對牙齦的影響。矯治6個月后粘結腭桿組牙齦指數(shù)、菌斑指數(shù)均比焊接腭桿組低，提示和帶環(huán)的使用有關，帶環(huán)的齦緣比較接近牙齦緣，容易形成懸突;帶環(huán)在頜緣和頸緣與牙面的間隙最寬，粘固劑較厚，微生物也容易聚集在粘固劑的微小裂隙和缺口中［6］。而粘結腭桿是用釉質粘結劑粘結，邊緣密閉性好，可以高度拋光，減少菌斑的附著。

粘結腭桿在制作工藝上簡單，方便。脫落以后再粘結無需拆下弓絲，粘結面打磨后即可再次粘結，節(jié)省大量椅旁時間。粘結腭桿脫落病例中并未發(fā)現(xiàn)兩側同時脫落患者，安全可靠。粘結型橫腭桿可以代替焊接型橫腭桿，對牙齦指數(shù)和菌斑指數(shù)影響較焊接型橫腭桿小。值得在臨床上推廣使用。

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［3］ 龔 昕，陳 蔚，宮 耀，等.固定矯治患者菌斑指數(shù)、牙齦指數(shù)、齦溝出血指數(shù)的臨床分析［J］.上?？谇会t(yī)學，2006，15(4):367.

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