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聲子晶體的負(fù)折射成像分析

2014-01-23 11:41韓建寧溫廷敦
關(guān)鍵詞:共振頻率點(diǎn)源聲子

韓建寧,溫廷敦,楊 鵬,張 璐,張 馳

(1.中北大學(xué)信息與通信工程學(xué)院,山西太原030051;2.中北大學(xué)理學(xué)院,山西太原030051)

近年來(lái),聲子晶體的負(fù)折射成像研究受到越來(lái)越多國(guó)內(nèi)外學(xué)者的關(guān)注.劉正猷[1]等提出了局域共振型聲子晶體具有顯著不同的帶隙特點(diǎn),給聲子晶體負(fù)折射成像提供了新思路.L.S.Chen[2]提出了只有存在部分禁帶才有可能在聲子晶體板中負(fù)折射成像.J.Li[3]等人用高斯光束仿真了聲子晶體板的橫、縱波模式負(fù)折射成像,從理論上探索了模式選擇.C.Crognne[4-5]等人研究了鋼柱-環(huán)氧樹(shù)脂的二維聲子晶體,從實(shí)驗(yàn)上證明了固/固式聲子晶體也可以用作負(fù)折射成像.Z.Liang[6]等人提出一種具有高折射率和接近零質(zhì)量密度的極端聲超常材料,更激起了科學(xué)工作者的空前興趣.聲子晶體板的負(fù)折射成像具有重要的應(yīng)用潛力,可以突破傳統(tǒng)透鏡的衍射極限,對(duì)細(xì)微結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)了完美成像,極大地提高了像的分辨率.現(xiàn)在已知的聲子晶體平板成像方法中[7],聲子晶體平板實(shí)現(xiàn)了較好地負(fù)折射成像.本文以有限元為基礎(chǔ),利用有限元軟件Comsol完全開(kāi)放的架構(gòu)和豐富的后處理功能,以二維局域共振聲子晶體平板為模型進(jìn)行了仿真分析,可省去人工編寫(xiě)代碼的繁瑣過(guò)程[8],得到直觀的聲子晶體板的聲成像效果,以期更好地認(rèn)識(shí)聲子晶體平板實(shí)現(xiàn)聲波完美成像和突破聲學(xué)成像中衍射極限的問(wèn)題.

1 基本原理

二維聲子晶體的元胞為軸向(Z方向)厚度較小的平面薄板,外力只作用在平面內(nèi).元胞由直徑為0.01 m的鉛芯外面均勻地包覆0.002 m的橡膠組成散射單元(散射體),再嵌入在環(huán)氧樹(shù)脂中構(gòu)成.圖1所示為一種二維典型正方晶格聲子晶體的一個(gè)元胞[9].

圖1 二維局域共振型聲子晶體的結(jié)構(gòu)圖Fig.1 Structure of two-dimensional local resonance type phononic crystal

材料參數(shù)為:水,ρ水=1 000 kg/m3,c水=1.5 ×103m/s;鉛芯,ρ鉛=11 600 kg/m3,c鉛=2 160 m/s;環(huán)氧樹(shù)脂,ρ環(huán)氧樹(shù)脂=1 180 kg/m3,c環(huán)氧樹(shù)脂=2 680 m/s,λ環(huán)氧樹(shù)脂=6 × 105N/m2,μ環(huán)氧樹(shù)脂= 4 × 104N/m2; 橡 膠, ρ橡膠=1 300 kg/m3,c橡膠=300 m/s.其中:ρ,c,λ,μ 分別表示材料的質(zhì)量密度、速度以及拉美常數(shù).

如圖1所示,設(shè)鉛芯質(zhì)量為 m鉛芯,樹(shù)脂質(zhì)量為 m樹(shù)脂,則有

假設(shè)彈性波入射到聲子晶體元胞中,由于聲子晶體元胞之間沒(méi)有耦合作用,因此對(duì)聲子晶體元胞的分析就能代表整體的共振響應(yīng)特性.設(shè)U1和U2分別為環(huán)氧樹(shù)脂和鉛芯的振幅,橡膠包覆層和鉛芯的交界面為 ε,根據(jù)柱坐標(biāo)的應(yīng)變位移關(guān)系,可知應(yīng)力 σrr和 σrθ.[10]

根據(jù)劉正猷2005年提出的簡(jiǎn)化解析模型的波動(dòng)方程及邊界條件[11]

因此,鉛芯在Z軸的振動(dòng)方程

將應(yīng)力 σrr和 σrθ代入式(6)得

從式(7)可求出U2/U1的比值,當(dāng)入射波的頻率為共振頻率時(shí),該比值出現(xiàn)極值點(diǎn),結(jié)果如圖2所示.

圖2 鉛芯與環(huán)氧樹(shù)脂位移比的變化曲線Fig.2 Displacement ratio curve of lead and epoxy resin

如圖2所示,當(dāng)入射波頻率增加到共振頻率時(shí),有效質(zhì)量出現(xiàn)了反常行為,即表現(xiàn)出了負(fù)質(zhì)量響應(yīng).負(fù)質(zhì)量響應(yīng)意味著波的指數(shù)衰減,這與聲子晶體禁帶一致[12].由此,可以用有效質(zhì)量來(lái)確定禁帶,帶隙的起始頻率可由共振頻率確定,帶隙的截止頻率則可由有效質(zhì)量為零的點(diǎn)確定.因此,當(dāng)入射波頻率增加到共振頻率時(shí),此時(shí)彈性波在禁帶內(nèi),彈性波在該聲子晶體元都不能傳播,而是表現(xiàn)為衰逝波的形式.

2 實(shí)驗(yàn)?zāi)P图胺治?/h2>

根據(jù)以上所述,聲子晶體元胞在XY平面內(nèi)按長(zhǎng)方形點(diǎn)陣周期排列成平板植入水中.近場(chǎng)點(diǎn)聲源所產(chǎn)生的聲波通過(guò)此平板,在板兩界面表面經(jīng)過(guò)兩次負(fù)折射后,得到了一個(gè)完全由衰逝波組成的亞波長(zhǎng)近場(chǎng)外部像點(diǎn)[13],結(jié)果如圖3所示.

圖3(a)所示為點(diǎn)聲源通過(guò)聲子晶體板體的壓力場(chǎng)強(qiáng)度分布.其中,板子的厚度d=2λ,點(diǎn)源與板的距離 ds=0.012 5λ,λ代表水中的波長(zhǎng).由圖3(c)可知,像點(diǎn)波長(zhǎng)為 0.3λ,即為亞波長(zhǎng)成像.普通透鏡由于像點(diǎn)不含衰逝部分而存在一個(gè)半波長(zhǎng)的成像分辨率極限.因此,本文設(shè)計(jì)的聲子晶體板分辨率要明顯優(yōu)于普通透鏡.因?yàn)楫?dāng)入射波頻率增加到聲子晶體有效共振頻率時(shí),此時(shí)彈性波在禁帶內(nèi),彈性波在該聲子晶體板不能傳播,而是表現(xiàn)為衰逝波的形式,這樣點(diǎn)聲源通過(guò)聲子晶體板的傳播部分將被反射掉,而且在板的另一側(cè)就不會(huì)產(chǎn)生不必要的干擾,從而將點(diǎn)源的亞波長(zhǎng)細(xì)節(jié)更好地傳遞到板子的另一側(cè)[14].同時(shí),這里點(diǎn)源與平板的距離明顯小于板子的厚度,因此,近場(chǎng)點(diǎn)聲源通過(guò)聲子晶體的聲成像過(guò)程,實(shí)現(xiàn)了傳統(tǒng)聲透鏡難以實(shí)現(xiàn)的近場(chǎng)像難題.

圖3 聲子晶體板的負(fù)折射聲成像Fig.3 Negative refraction imaging of phononic crystal plate

我們知道,點(diǎn)聲源信號(hào)入射到聲子晶體平板后,聲波可通過(guò)散射性通道,到一個(gè)完全由衰逝波形成的近場(chǎng)亞波長(zhǎng)像,但是在像面上實(shí)際得到的是一個(gè)具有一定面積的衍射斑.由于衍射像有一定的大小,如果兩個(gè)像點(diǎn)之間的距離太短,就無(wú)法分辨出是兩個(gè)像點(diǎn).兩個(gè)衍射像間所能分辨的最小間隔稱為聲子晶體板的衍射分辨率[15].下面模擬兩個(gè)理想點(diǎn)聲源經(jīng)過(guò)聲子晶體平板后成像的特性,結(jié)果如圖4所示.

圖4 d1=0.2λ時(shí)聲子晶體板的負(fù)折射聲成像Fig.4 Negative refraction imaging of phononic crystal plate at d1=0.2λ

圖4(a)所示為兩個(gè)點(diǎn)源通過(guò)聲子晶體板體的壓力場(chǎng)強(qiáng)度分布.其中:板子的厚度為d=0.2λ,兩個(gè)點(diǎn)源之間的距離 d1=0.2λ.如圖4(c)所示,在像面上出現(xiàn)兩個(gè)分離的亮斑,已完全能夠辨別出這是兩個(gè)不同的像點(diǎn),說(shuō)明由于聲子晶體平板的存在,原來(lái)不分辯的兩個(gè)點(diǎn)源變得可以分辨.

3 結(jié)論

本文利用有限元法研究了聲子晶體局域共振型帶隙特性的基本特性,以此為基礎(chǔ)構(gòu)建了聲子晶體相應(yīng)的實(shí)驗(yàn)?zāi)P?根據(jù)近場(chǎng)點(diǎn)聲源通過(guò)聲子晶體平板的成像過(guò)程,聲子晶體板分辨率要明顯優(yōu)于普通透鏡,實(shí)現(xiàn)了傳統(tǒng)聲透鏡難以實(shí)現(xiàn)的近場(chǎng)成像.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:由于聲子晶體平板的存在,原來(lái)不分辯的兩個(gè)點(diǎn)源變得可以分辨,對(duì)細(xì)微結(jié)構(gòu)能夠?qū)崿F(xiàn)完美成像,極大地提高了像的分辨率,很好地突破了聲學(xué)成像中的衍射極限.因此,利用聲子晶體負(fù)折射成像在醫(yī)學(xué)檢測(cè)、工業(yè)探傷等領(lǐng)域有較大的應(yīng)用價(jià)值.

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