潘躍林,張俊
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微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差關(guān)系建模
潘躍林,張俊
(湘電集團(tuán)股份有限公司特電事業(yè)部, 湖南湘潭 411101)
本文研究了微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差顯性關(guān)系建模的方法,微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差之間關(guān)系模型很難用常規(guī)的方法建模,因此本文先采用泰勒展開(kāi)方法建立微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差關(guān)系的顯性數(shù)學(xué)模型,再運(yùn)用Eviews進(jìn)行回歸分析,并對(duì)回歸分析的結(jié)果進(jìn)行分析研究,最終得到泰勒展開(kāi)式的偏導(dǎo)系數(shù),確定微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差關(guān)系的數(shù)學(xué)表達(dá)式。
微電機(jī) 尺寸偏差 性能偏差 泰勒展開(kāi) Eviews回歸分析
企業(yè)要想提高市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力就必須提高產(chǎn)品關(guān)鍵零部件質(zhì)量,而提高產(chǎn)品關(guān)鍵零部件的質(zhì)量需根據(jù)其性能要求對(duì)關(guān)鍵零部件的關(guān)鍵尺寸公差合理控制[1],為此研究產(chǎn)品零部件尺寸偏差與性能偏差的關(guān)系十分重要。有些產(chǎn)品關(guān)鍵零部尺寸偏差與性能偏差之間關(guān)系較為復(fù)雜,很難直接用常規(guī)的方法來(lái)求解,且產(chǎn)品關(guān)鍵零部件較多,要實(shí)現(xiàn)高維擬合難度較大,即使擬合出來(lái)精度也不會(huì)很高。本文采用泰勒展開(kāi)式與回歸分析方法建立產(chǎn)品關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能誤差之間的關(guān)系模型,并以微電機(jī)為列驗(yàn)證了該方法的可行性。
微電機(jī)質(zhì)量輸出即空載電流1、空載轉(zhuǎn)速2、負(fù)載電流3、負(fù)載電速4與其關(guān)鍵零部件的尺寸即鐵芯高度1、軸的直徑2、機(jī)殼內(nèi)徑3、后蓋同軸度4、機(jī)殼同軸度5、換向器直徑6有著一定的映射關(guān)系,但很難直接確定其顯性數(shù)學(xué)表達(dá)式,因此先假設(shè)微電機(jī)性能與微電機(jī)關(guān)鍵零部件的尺寸的關(guān)系如1式所示。
采用多元回歸分析的方法求解7式中的一階偏導(dǎo)數(shù)與二階偏導(dǎo)數(shù),在Eviews軟件[3]中分別對(duì)微電機(jī)四個(gè)性能偏差與關(guān)鍵零部件尺寸偏差的樣本數(shù)據(jù)進(jìn)行多次回歸分析,剔除回歸分析結(jié)果中的異常數(shù)據(jù)組,最后得到各性能偏差回歸分析的檢驗(yàn)概率、決定系數(shù)、修正決定系數(shù)、德賓-沃森檢驗(yàn)值如下。
分析圖1、表1可看出空載電流偏差回歸模型的決定系數(shù)為0.852508,修正決定系數(shù)為0.825466說(shuō)明自變量82.5466%的總離差平方和能被樣本回歸直線(xiàn)解釋?zhuān)虼丝蛰d電流偏差的回歸直線(xiàn)對(duì)樣本擬合程度較高;德賓-沃森檢驗(yàn)值為2.311002,接近2,因此回歸模型變量不存在序列自相關(guān);27個(gè)待估計(jì)參數(shù)檢驗(yàn)概率P中最大值0.0619比較小,且所有P接近0,因此均通過(guò)檢驗(yàn),說(shuō)明空載電流回歸模型具有很強(qiáng)的顯著性,模型解釋能力強(qiáng)。圖5可看出空載電流偏差實(shí)際值與預(yù)測(cè)值的曲線(xiàn)基本吻合,且空載電流偏差的回歸模型其殘差值絕大部分在-0.02至0.02范圍內(nèi)。
圖6可看出空載電流偏差回歸模型的殘差基本符合正態(tài)分布,殘差最大值為0.043879,最小值為-0.040196。圖7可看出空載電流偏差與回歸模型殘差平方?jīng)]有固定規(guī)律,因此有空載電流偏差的回歸模型不存在異方差性問(wèn)題。
上述分析可知空載電流偏差回歸模型較為理想,由回歸分析可得微電機(jī)空載電流偏差與關(guān)鍵零件部尺寸偏差之間的數(shù)學(xué)表達(dá)式如8式所示。
圖2、表1可知空載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型的決定系數(shù)為0.891029,修正決定系數(shù)為0.886436,說(shuō)明自變量88.6436%的總離差平方和能被樣本回歸直線(xiàn)解釋?zhuān)虼丝蛰d轉(zhuǎn)速偏差的回歸直線(xiàn)對(duì)樣本擬合程度相當(dāng)理想;德賓-沃森檢驗(yàn)值為1.865217,接近2,因此回歸模型變量不存在序列自相關(guān);27個(gè)待估計(jì)參數(shù)的檢驗(yàn)概率中最大值0.0692較小,且所有P值接近0,因此均通過(guò)檢驗(yàn),說(shuō)明空載轉(zhuǎn)速回歸模型具有很強(qiáng)的顯著性, 模型解釋能力強(qiáng)。
圖8可看出空載轉(zhuǎn)速偏差實(shí)際值與預(yù)測(cè)值的曲線(xiàn)基本吻合,且空載轉(zhuǎn)速偏差的回歸模型其的殘差值大部分在-30至30范圍內(nèi)。
圖9為空載轉(zhuǎn)速偏差殘差的直方圖,由圖可知空載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型的殘差基本符合正態(tài)分布,殘差最大值為50.83692,最小值為-54.58296。
圖10可看出空載轉(zhuǎn)速偏差與回歸模型殘差平方?jīng)]有固定規(guī)律,因此有空載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型不存在異方差性問(wèn)題。
上述分析可知空載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型較為理想,由回歸分析可得微電機(jī)空載轉(zhuǎn)速偏差與關(guān)鍵零件部尺寸偏差之間的數(shù)學(xué)表達(dá)式如9式所示。
圖3、表1可知負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型的決定系數(shù)為0.863352,修正決定系數(shù)為0.841688,說(shuō)明自變量84.1688%的總離差平方和能被樣本回歸直線(xiàn)解釋?zhuān)虼素?fù)載電流偏差的回歸直線(xiàn)對(duì)樣本擬合程度比較理想。德賓-沃森檢驗(yàn)值為2.094273,接近2,因此回歸模型變量不存在序列自相關(guān);27個(gè)待估計(jì)參數(shù)的檢驗(yàn)概率P中最大值0.0563較小,且所有P值接近0,因此均通過(guò)檢驗(yàn),說(shuō)明負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型具有很強(qiáng)的顯著性, 模型的解釋能力強(qiáng)。
圖11可看出負(fù)載電流偏差實(shí)際值與預(yù)測(cè)值的曲線(xiàn)基本吻合,且負(fù)載電流偏差回歸模型的殘差值大部分在-0.007至0.007范圍內(nèi)。
圖12可看出負(fù)載電流偏差回歸模型殘差基本符合正態(tài)分布,殘差最大值為0.02258,最小值為-0.018798。
圖13可看出負(fù)載電流偏差與回歸模型殘差平方?jīng)]有固定規(guī)律,因此有負(fù)載電流偏差回歸模型不存在異方差性問(wèn)題。上述分析可知負(fù)載電流偏差回歸模型較為理想,由回歸分析可得微電機(jī)負(fù)載電流偏差與其關(guān)鍵零件部尺寸偏差直接的數(shù)學(xué)表達(dá)式如10式所示。
由圖4、表1可知負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型決定系數(shù)為0.898423,修正決定系數(shù)為0.883417,說(shuō)明自變量88.3417%的總離差平方和能被樣本回歸直線(xiàn)解釋?zhuān)虼素?fù)載轉(zhuǎn)速偏差的回歸直線(xiàn)對(duì)樣本的擬合程度較理想;德賓-沃森檢驗(yàn)值為2.066249,接近2,因此回歸模型變量不存在序列自相關(guān);27個(gè)待估計(jì)參數(shù)的檢驗(yàn)概率P中最大值0.0591較小,且所有P值接近0,因此均通過(guò)檢驗(yàn),說(shuō)明負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型具有很強(qiáng)的顯著性,模型的解釋能力強(qiáng)。
圖14可看出負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差實(shí)際值與預(yù)測(cè)值的曲線(xiàn)基本吻合,且負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差的回歸模型的殘差值大部分在-35至35范圍內(nèi)。
圖15可看出負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差與回歸模型殘差平方?jīng)]有固定規(guī)律,因此負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型不存在異方差性問(wèn)題。
上述分析可知負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差回歸模型較為理想,由回歸分析可得微電機(jī)負(fù)載轉(zhuǎn)速偏差與其關(guān)鍵零件部尺寸偏差之間的數(shù)學(xué)表達(dá)式如11式所示。
本文研究了微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差關(guān)系建模的方法,微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差之間關(guān)系非常復(fù)雜,因此采用泰勒展開(kāi)方法建立微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差關(guān)系的數(shù)學(xué)模型,運(yùn)用回歸分析方法計(jì)算出泰勒展開(kāi)式的偏導(dǎo)數(shù),并對(duì)回歸模型擬合情況分析,最后確定微電機(jī)關(guān)鍵零部件尺寸偏差與性能偏差關(guān)系的數(shù)學(xué)表達(dá)式。
[1] 吳昭同,余忠華,陳文華.保質(zhì)設(shè)計(jì)[M].北京:機(jī)械工業(yè)出版社,2004.
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Modeling of Key Parts Dimension Deviation and Performance Deviation for Micro-motor
Pan Yuelin, Zhang Jun
(Xiangtan Electric Group Co. Ltd, Xiangtan 411101, Hunan,China)
TM382
A
1003-4862(2014)07-0075-06
2014-05-17
潘躍林(1977-),男,工程師。研究方向:電機(jī)。