陳小林 歐崢偉 鐘亮 王祝盈 謝中
摘要:設(shè)計(jì)了一套應(yīng)用于微機(jī)補(bǔ)償晶體振蕩器(MCXO)的自動(dòng)調(diào)試測(cè)量系統(tǒng).該系統(tǒng)集成了S&A4220高低溫控制箱、高分辨率頻率計(jì)、PC計(jì)算機(jī)、以及基于C8051F061單片機(jī)的控制器,能夠同時(shí)調(diào)試測(cè)量8臺(tái)MCXO.PC機(jī)的控制軟件由LabVIEW編程實(shí)現(xiàn),可對(duì)MCXO主要技術(shù)指標(biāo)進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量.運(yùn)用該系統(tǒng)開發(fā)的MCXO,在-40~+85 ℃的寬溫度范圍內(nèi),頻率溫度穩(wěn)定度達(dá)到±7×10-8.
關(guān)鍵詞:微機(jī)補(bǔ)償晶體振蕩器(MCXO);自動(dòng)測(cè)量;頻率溫度穩(wěn)定度;LabVIEW
中圖分類號(hào):TP273 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A
隨著現(xiàn)代科技的發(fā)展,穩(wěn)定的頻率源是電子系統(tǒng)關(guān)鍵器件之一.而微機(jī)補(bǔ)償晶體振蕩器由于其高精度、功耗低、開機(jī)即可工作等特點(diǎn),得到了研究者的高度關(guān)注[1].現(xiàn)在,國(guó)外高水平微機(jī)補(bǔ)償晶體振蕩器頻率溫度穩(wěn)定度己能達(dá)到2×10-8(-40~85 ℃)[2].如此高精度MCXO開發(fā),離不開全自動(dòng)實(shí)時(shí)在線調(diào)試測(cè)量系統(tǒng)的實(shí)現(xiàn).實(shí)時(shí)在線自動(dòng)測(cè)量可以提高溫度測(cè)量精度、溫度點(diǎn)補(bǔ)償密度以及補(bǔ)償電壓插值精度,最大限度地降低MCXO由于多種因素造成的系統(tǒng)誤差[3];同時(shí)更加適應(yīng)MCXO規(guī)?;a(chǎn)的要求.基于這樣的背景,本文提出MCXO的實(shí)時(shí)在線自動(dòng)調(diào)試測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn),是有積極意義的.
1系統(tǒng)構(gòu)建
系統(tǒng)主要包括以下幾個(gè)部分:計(jì)算機(jī),S&A4220高低溫控制箱,HD2000多通道高分辨率頻率計(jì),主控板,被測(cè)晶振,系統(tǒng)控制軟件.圖1為系統(tǒng)框架結(jié)構(gòu)圖.測(cè)量系統(tǒng)分為3層,頂層為PC機(jī),中間層為主控單片機(jī),底層為基于C8051F061的被測(cè)MCXO,其中綠色框和藍(lán)色框內(nèi)的部件置于S&A4220高低溫控制箱內(nèi).這樣的三層結(jié)構(gòu)能夠減少數(shù)字信號(hào)以及環(huán)境因素對(duì)測(cè)量精度的影響,減少系統(tǒng)連線,也使得系統(tǒng)趨于模塊化,提高軟件運(yùn)行效率及編程效率,提高其可重復(fù)性.測(cè)量系統(tǒng)用S&A4220高低溫控制箱實(shí)現(xiàn)-40~85 ℃的環(huán)境溫度,HD2000頻率計(jì)測(cè)量輸出頻率.整個(gè)系統(tǒng)為閉環(huán)控制系統(tǒng),輸出頻率與標(biāo)稱頻率之間的差值作為反饋傳送給主控單片機(jī),由主控單片機(jī)將此反饋信息傳送給指定MCXO,以改變被測(cè)晶振的壓控值,使系統(tǒng)的輸出頻率達(dá)到期望的穩(wěn)定范圍[4].圖2為系統(tǒng)處于測(cè)試狀態(tài)的照片,右下是S&A4220高低溫控制箱.
為了實(shí)現(xiàn)同時(shí)對(duì)多臺(tái)MCXO的自動(dòng)測(cè)量,本系統(tǒng)設(shè)計(jì)了一塊主控電路板,其核心器件為C8051F060單片機(jī),通過UART接受PC機(jī)指令,控制各個(gè)MCXO參數(shù)測(cè)量及測(cè)量順序,并向PC機(jī)返回標(biāo)志值.通信指令以字符形式發(fā)送,包括5個(gè)字節(jié),依次為操作內(nèi)容、晶振地址、操作數(shù)據(jù)、操作數(shù)據(jù)、驗(yàn)證碼.當(dāng)出現(xiàn)不能識(shí)別的指令、總線傳輸錯(cuò)誤、非識(shí)別操作碼、傳輸超時(shí)、返回值不能識(shí)別等錯(cuò)誤時(shí),單片機(jī)將返回相應(yīng)錯(cuò)誤代碼.當(dāng)接收到有效指令后,主控單片機(jī)分解指令,經(jīng)SMbus并通過3-8譯碼器74LS138向相應(yīng)的晶振發(fā)送指令;并通過多路開關(guān)54LS151A選取對(duì)應(yīng)MCXO連接到頻率計(jì)測(cè)量當(dāng)前頻率.
2 軟件實(shí)現(xiàn)
系統(tǒng)程序包括三部份:MCXO程序、主控單片機(jī)程序和PC機(jī)程序.各個(gè)程序之間有通信協(xié)議,PC機(jī)通過發(fā)送指令控制系統(tǒng)完成相關(guān)的操作,從而實(shí)現(xiàn)對(duì)MCXO的自動(dòng)測(cè)量.PC機(jī)程序用LabVIEW編寫,包括控制外圍設(shè)備模塊,測(cè)量UcT曲線模塊,老化微調(diào)以及頻率微調(diào)模塊.它通過3個(gè)串口分別控制主控單片機(jī)、高低溫測(cè)試箱和高精密頻率計(jì);主控單片機(jī)上的程序?yàn)橐粋€(gè)C語(yǔ)言程序.它主要功能是接收、執(zhí)行PC機(jī)的命令并返回相應(yīng)的值.MCXO程序?yàn)橐粋€(gè)匯編語(yǔ)言程序.它主要包括兩大部分:工作部分和調(diào)試部分.采用匯編語(yǔ)言主要是為了提高定時(shí)精確度[5].程序之間的關(guān)系如圖3所示.
2.1控制外圍設(shè)備模塊
系統(tǒng)中的外圍設(shè)備S&A4220高低溫控制箱和HD2000多通道高分辨率頻率計(jì)都自帶有RS232串口、主控板的設(shè)計(jì)也配有RS232的接口,很方便通過NIVISA來(lái)實(shí)現(xiàn)對(duì)儀器的讀寫功能.NIVISA為一個(gè)可調(diào)用函數(shù)庫(kù),通過調(diào)用底層的驅(qū)動(dòng)程序來(lái)控制儀器,可實(shí)現(xiàn)計(jì)算機(jī)與儀器之間的I/O控制[6].圖4為NIVISA控制溫箱的流程圖.在控制界面上設(shè)有溫度設(shè)定、到達(dá)指定溫度時(shí)間、當(dāng)前溫度等按鍵來(lái)操作溫箱.
主控單片機(jī)與PC機(jī)通信頻率為2 400 Hz,8位有效位、1位停止位、無(wú)效驗(yàn)位.通信指令以字符形式發(fā)送,包括5個(gè)字節(jié),分別是操作內(nèi)容、晶振地址、操作數(shù)據(jù)以及驗(yàn)證碼.系統(tǒng)同時(shí)對(duì)可能出現(xiàn)的傳輸錯(cuò)誤定義了特定的錯(cuò)誤代碼以及相應(yīng)的自動(dòng)處理措施;溫箱的RS232通信協(xié)議為:波特率9600,無(wú)極性,8位有效位,1位停止位.
2.2測(cè)量UcT曲線模塊
測(cè)量UcT曲線是測(cè)試系統(tǒng)調(diào)試MCXO的主要任務(wù)之一.其工作過程如下:系統(tǒng)首先向溫箱發(fā)出指令,當(dāng)溫度穩(wěn)定在指定溫度時(shí),測(cè)量每個(gè)MCXO的頻率值.測(cè)量結(jié)果與設(shè)置在PC機(jī)內(nèi)部的MCXO 頻率標(biāo)稱值相比較,其差值作為反饋,使PC機(jī)發(fā)送改變補(bǔ)償電壓值指令.如此循環(huán),直到輸出頻率滿足設(shè)計(jì)精度,再保存此時(shí)的補(bǔ)償電壓值[7],即Uc.
在同一溫度下,依次對(duì)每個(gè)MCXO完成上述過程,并作相應(yīng)的記錄.然后控制溫箱到下一個(gè)溫度點(diǎn),重復(fù)上述測(cè)量過程,直到所有設(shè)定溫度點(diǎn)全部測(cè)量完成[8].圖5所示為自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)的工作流程圖.圖6所示為系統(tǒng)PC機(jī)的人機(jī)交互畫面.
4結(jié)束語(yǔ)
介紹的MCXO自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)操作便捷,人機(jī)交互界面良好.從系統(tǒng)實(shí)時(shí)測(cè)量過程來(lái)看,系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定,PC機(jī)、主控板、MCXO之間的通信有效,高低溫箱與頻率計(jì)工作正常,實(shí)現(xiàn)了MCXO的自動(dòng)測(cè)量,運(yùn)用該系統(tǒng)調(diào)試制作的MCXO頻率30 MHz,在-40~+85 ℃的寬溫度范圍內(nèi),頻率溫度穩(wěn)定度達(dá)到±7×10-8,符合設(shè)計(jì)要求.下一步工作是擴(kuò)充系統(tǒng)規(guī)模,增加測(cè)試設(shè)備,提高測(cè)試精度和效率,使系統(tǒng)滿足工業(yè)化生產(chǎn)需要.
參考文獻(xiàn)
[1]STOFANIK V, BALAZ I. Dualmode crystal oscillator with simultaneous excitation of two overtones in a stress compensated quartz resonator[C]// Frequency Control Symposium, 2007 Joint with the 21st European Frequency and Time Forum. Geneva: IEEE, 2007: 227-229.
[2]蔣松濤.數(shù)字技術(shù)在石英晶體振蕩器中的應(yīng)用[C]// 2010年中國(guó)電子學(xué)會(huì)第十六屆電子元件學(xué)術(shù)年會(huì). 2010.
[3]屈擘,陳小林,王祝盈,等. 微機(jī)補(bǔ)償晶體振蕩器的在線實(shí)時(shí)調(diào)試方案設(shè)計(jì)[C]// 2004全國(guó)測(cè)控、計(jì)量與儀器儀表學(xué)術(shù)年會(huì)論文集.2004.
[4]BEAVER W D, LAU C K, SUN X M. TCXO text system for mass production[C]// Frequency Control Symposium and PDA Exhibition. New Orleans: IEEE, 2002: 361-365.
[5]HUANG Xianhe, WEI Wei, TAN Feng, et al. Highfrequency overtone TCXO based on mixing of dual crystal oscillators[J]. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 2007, 54(6): 1103-1107.
[6]楊樂平,李海濤. LabVIEW高級(jí)程序設(shè)計(jì)[M]. 北京: 清華大學(xué)出版社, 2003 : 518-519.
[7]NORIO N,YUJI A, CHANG Chaokai, et al. A colpittstype crystal oscillator for gigahertz frequency[C]// International Frequency Control Symposium and PDA Exposition. Pasadena: IEEE, 2006: 233-236.
[8]ZHOU Wei, WANG Hai, GAO Jianning, et al. AMCXO and its test system[J]. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 2004, 51(9): 1050-1053.
參考文獻(xiàn)
[1]STOFANIK V, BALAZ I. Dualmode crystal oscillator with simultaneous excitation of two overtones in a stress compensated quartz resonator[C]// Frequency Control Symposium, 2007 Joint with the 21st European Frequency and Time Forum. Geneva: IEEE, 2007: 227-229.
[2]蔣松濤.數(shù)字技術(shù)在石英晶體振蕩器中的應(yīng)用[C]// 2010年中國(guó)電子學(xué)會(huì)第十六屆電子元件學(xué)術(shù)年會(huì). 2010.
[3]屈擘,陳小林,王祝盈,等. 微機(jī)補(bǔ)償晶體振蕩器的在線實(shí)時(shí)調(diào)試方案設(shè)計(jì)[C]// 2004全國(guó)測(cè)控、計(jì)量與儀器儀表學(xué)術(shù)年會(huì)論文集.2004.
[4]BEAVER W D, LAU C K, SUN X M. TCXO text system for mass production[C]// Frequency Control Symposium and PDA Exhibition. New Orleans: IEEE, 2002: 361-365.
[5]HUANG Xianhe, WEI Wei, TAN Feng, et al. Highfrequency overtone TCXO based on mixing of dual crystal oscillators[J]. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 2007, 54(6): 1103-1107.
[6]楊樂平,李海濤. LabVIEW高級(jí)程序設(shè)計(jì)[M]. 北京: 清華大學(xué)出版社, 2003 : 518-519.
[7]NORIO N,YUJI A, CHANG Chaokai, et al. A colpittstype crystal oscillator for gigahertz frequency[C]// International Frequency Control Symposium and PDA Exposition. Pasadena: IEEE, 2006: 233-236.
[8]ZHOU Wei, WANG Hai, GAO Jianning, et al. AMCXO and its test system[J]. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 2004, 51(9): 1050-1053.
參考文獻(xiàn)
[1]STOFANIK V, BALAZ I. Dualmode crystal oscillator with simultaneous excitation of two overtones in a stress compensated quartz resonator[C]// Frequency Control Symposium, 2007 Joint with the 21st European Frequency and Time Forum. Geneva: IEEE, 2007: 227-229.
[2]蔣松濤.數(shù)字技術(shù)在石英晶體振蕩器中的應(yīng)用[C]// 2010年中國(guó)電子學(xué)會(huì)第十六屆電子元件學(xué)術(shù)年會(huì). 2010.
[3]屈擘,陳小林,王祝盈,等. 微機(jī)補(bǔ)償晶體振蕩器的在線實(shí)時(shí)調(diào)試方案設(shè)計(jì)[C]// 2004全國(guó)測(cè)控、計(jì)量與儀器儀表學(xué)術(shù)年會(huì)論文集.2004.
[4]BEAVER W D, LAU C K, SUN X M. TCXO text system for mass production[C]// Frequency Control Symposium and PDA Exhibition. New Orleans: IEEE, 2002: 361-365.
[5]HUANG Xianhe, WEI Wei, TAN Feng, et al. Highfrequency overtone TCXO based on mixing of dual crystal oscillators[J]. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 2007, 54(6): 1103-1107.
[6]楊樂平,李海濤. LabVIEW高級(jí)程序設(shè)計(jì)[M]. 北京: 清華大學(xué)出版社, 2003 : 518-519.
[7]NORIO N,YUJI A, CHANG Chaokai, et al. A colpittstype crystal oscillator for gigahertz frequency[C]// International Frequency Control Symposium and PDA Exposition. Pasadena: IEEE, 2006: 233-236.
[8]ZHOU Wei, WANG Hai, GAO Jianning, et al. AMCXO and its test system[J]. IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control, 2004, 51(9): 1050-1053.