黃國芳 金 俊 吳奕陽 許 雅 / 上海市計量測試技術(shù)研究院
鉛及其化合物對人體有較大毒性,可在人體內(nèi)累積,對人身安全極具危害。首飾行業(yè)中,由于工藝及產(chǎn)品設(shè)計的需要,在銀合金飾制品中也會有鉛的出現(xiàn)。GB 11887-2012《首飾 貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》中,規(guī)定了首飾中鉛、汞、鎘、六價鉻、砷等有害元素的含量都必須小于1‰。
目前,首飾行業(yè)中普遍采用電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(即ICP法)對飾制品及材料中的有害元素(鉛、汞、鎘、砷等)進(jìn)行測定。該方法數(shù)據(jù)準(zhǔn)確,但檢測周期長,且對每件樣品都有不同程度的破壞和損耗。X射線熒光光譜法作為一種快速無損的檢測分析方法,是國際公認(rèn)的可對有害元素進(jìn)行有效初檢的方法。因此,對首飾行業(yè)來說,X射線熒光光譜法有其無可置疑的優(yōu)越性。
X射線熒光光譜法的原理是合金表層經(jīng)X射線的激發(fā)而發(fā)射出特征X射線,特征X射線的能量或波長對應(yīng)于各特定元素,合金中元素的含量直接決定其譜線的強(qiáng)度[1]。測量特征X射線的能量或波長,可進(jìn)行定性分析;測量譜線的強(qiáng)度,即可進(jìn)行定量分析。
波長色散X射線熒光光譜儀(以下簡稱WDXRF),Thermal-fisher公司Advant TM4.2型;
能量色散X射線熒光光譜儀(以下簡稱EDXRF),日本島津公司EDX-720型,以錳元素在5.89 keV能量位置的峰實測,分辨力小于150 eV。
在WDXRF上使用儀器原有的UQ程序,在EDXRF上利用工作標(biāo)樣優(yōu)化原有的有害元素檢測程序,對不同銀首飾合金的空白工作標(biāo)樣進(jìn)行實驗,每種測試11次,分別得到兩臺儀器對鉛元素的檢出限。對銀首飾合金樣品進(jìn)行檢測得到檢測值。結(jié)合儀器的檢出限,對檢測數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,采取3.2所述合適的結(jié)果判定方式給出判定結(jié)果,并與ICP法分析測試的結(jié)果進(jìn)行比對。
儀器的靈敏度是判斷X射線熒光光譜儀儀器性能的重要技術(shù)指標(biāo)之一,可以用分析元素的檢出限(LOD)來定義[2]。LOD=3σ, σ是指一定條件下,對空白樣品多次測量(不少于7次)所得結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)偏差。
分別在WDXRF上和EDXRF上,對2種銀首飾合金的空白工作標(biāo)樣進(jìn)行鉛元素檢出限實驗。相同條件下,每件空白樣品連續(xù)檢測11次,所得儀器元素檢出限3σ值如表1所示。
表1 元素檢出限3σ值
對6件銀首飾合金樣品進(jìn)行鉛元素含量的測定,得到檢測值W(mg/kg)。依據(jù)GB 28480-2012《飾品有害元素限量的規(guī)定》,設(shè)定實驗中元素限量WMAX為1 000 mg/kg。鑒于飾品多為金屬材質(zhì),使用X熒光光譜法檢測銀合金中有害元素的含量并作結(jié)果判定時,采用30%作為有害元素最大限量的分析校正系數(shù),并根據(jù)如下方法判定[2]:
W≤WMAX(1-30%)- 3σ時,結(jié)果判定為“合格”;
W≥WMAX(1+30%)+ 3σ時,結(jié)果判定為“不合格”;
WMAX(1-30%)-3σ< W< WMAX(1+30%)+3σ 時,結(jié)果判定為“待定”,需進(jìn)行化學(xué)法檢測作結(jié)果判定。
ICP法、WDXRF法和EDXRF法的檢測值和判定結(jié)果對比如表2所示。WDXRF法和EDXRF法的檢測結(jié)果判定與ICP法基本符合。
表2 檢測值和判定結(jié)果對比
使用X射線熒光光譜法對銀首飾合金中的鉛進(jìn)行檢測,樣品本身的形狀和特性是影響檢測結(jié)果的主要因素。需要指出的是,如果檢測過程發(fā)生變化,檢出限也會隨之改變。隨著樣品中被測有害元素含量的減少,測量結(jié)果的誤差會增大。有害元素檢出限越高的儀器,測量結(jié)果的誤差也會越大。
X熒光光譜法作為一種快速無損的檢測分析方法,在對大量樣品進(jìn)行篩選測試時有其特殊的優(yōu)越性。但是作為一種適用于合金表層中有害元素的分析方法,有其局限性,可能存在不少影響檢測結(jié)果的因素,對結(jié)果有疑問或有爭議時,應(yīng)以化學(xué)檢測方法的結(jié)果為準(zhǔn)。
應(yīng)用X射線熒光光譜法對銀首飾合金中的鉛進(jìn)行測定,方法無損耗、快速、準(zhǔn)確,基本能滿足對銀首飾合金中鉛含量的篩選測定。
[1]Eugene P Bertin.Principles and Practices of X-Ray Spectrometric Analysis(Second edition)[M]. Platinum Press, 1984.
[2]International Electrotechnical Commission. IEC 62321-2008[2].Geneva,2008.
[3]全國首飾標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會. GB/T 28020-2011[S]. 北京:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社,2011.
[4]全國首飾標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會. GB 28480-2012[S]. 北京:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社,2012.
[5]梁鈺. X射線熒光光譜分析基礎(chǔ)[M]. 北京:科學(xué)出版社,2007.
[6]吳奕陽,黃國芳,戴玨,吳嵩. X射線熒光光譜法對金首飾合金中鉛、鎘的檢測[M]. 北京:地質(zhì)出版社,2011.