鄒佳 楊斐 高亞楠 張艷萍 王艷麗
摘 要:在鋼鐵制造業(yè)中,鐵礦石作為一種煉鐵材料,要準確分析它的成分,而要想得出鐵礦石中總鐵和硫含量的準確值,就必須利用X射線熒光光譜儀快速、準確、有效、自動化地分析鐵礦石,這樣才能夠測出鐵礦石中定量元素的含量,進而科學(xué)分析礦物質(zhì)的效應(yīng),快速獲得分析結(jié)果。經(jīng)過相關(guān)數(shù)據(jù)處理后,通過質(zhì)量檢驗和規(guī)格判斷能夠準確地分析和校正鐵礦石樣品的礦物質(zhì)效應(yīng)。
關(guān)鍵詞:鐵礦石;X射線熒光光譜;礦物效應(yīng);定量元素
中圖分類號:O657.34 文獻標識碼:A DOI:10.15913/j.cnki.kjycx.2015.17.071
X射線熒光光譜被廣泛應(yīng)用于鐵礦業(yè)中,它能夠定量分析鐵礦石樣品,一般采用粉末壓片法和熔融法制樣。粉末壓片法具有簡單、快速、易行的特點,但是,受顆粒度效應(yīng)和鐵礦石效應(yīng)的影響,分析結(jié)果的準確度很容易受到影響;熔融法能夠有效避免顆粒度效應(yīng)和鐵礦石效應(yīng),校正理論數(shù)據(jù)的影響系數(shù),從而得出正確的分析結(jié)果。因為熔融法的成本比較高,耗時較長,所以,不利于痕量元素和高溫下易揮發(fā)組分的分析,因此,這種方法在鐵礦工業(yè)中并不被重視。這項研究分析了鐵礦石樣品的礦物質(zhì)效應(yīng),采用X射線熒光光譜儀(島津MXF-2400)初步探討了礦物效應(yīng)校正的相關(guān)內(nèi)容,并分析了礦物效應(yīng)校正的可能性。
1 鐵礦石樣品的選取
在選取鐵礦石樣品時,由于不同來源的鐵礦石結(jié)構(gòu)組成差異很大,其特性也不相同,所以,鋼鐵廠對鐵礦石的原料需求也不唯一,即一般鋼鐵廠需要多種鐵礦石作為原料。因此,在鐵礦石采樣的過程中,會出現(xiàn)鐵礦石效應(yīng)和顆粒度效應(yīng),而這2種效應(yīng)的產(chǎn)生對鐵礦樣品分析結(jié)果有較大的影響。
1.1 制樣方法
在選取樣品的過程中,針對每一種鐵礦石樣品的特性尋找1種有效的選擇方法,同時,制備1套標準的校正標樣。在此過程中,可采用熔融法和粉末壓片法制樣。這2種方法各具優(yōu)點,在采用粉末壓片法制樣的過程中,整個過程分為3步:①干燥和焙燒樣品;②樣品混合后進行研磨;③將研磨好的粉末壓片。這種方法非常簡單,制作也比較快,而且在X射線熒光光譜中能夠很快分析出結(jié)果。但是,受顆粒度和礦物效應(yīng)的影響,分析結(jié)果的準確性受到了一定的影響。而熔融法能夠有效排除顆粒度效應(yīng)和礦物效應(yīng)的影響,能夠準確分析基體效應(yīng),但是,在制樣過程中,其成本比較高,會耗費大量的時間,工作環(huán)境也會受到較大的限制。
1.2 鐵礦石樣品
我國鐵礦石的樣品比較多,最常見的有以下10種,它們分別為GBW07219a、GBW0722l、GBW07222、GBW072,GSB03-1803-2005、GSB03-1804-2005、GSB03-1805-2005、GSB03-1806-2005、GSB03-1807-2005和GSB03-1808-2005.分別稱取7 g鐵礦石標樣,混合1.5 g微晶纖維素黏結(jié)劑,并將其放在石英研缽中充分研磨,讓它們混合均勻,同時,在鋁杯中將粉末制成圓片,并保持一定的壓力。
2 鐵礦石樣品的測量
所有鐵礦石的測量工作都是在X射線熒光光譜儀(島津
MXF-2400)下完成的。這種儀器具有高自動的分析性能,使用它省時省力。另外,在測量過程中,配備單道掃描型分光器可以自動完成自動定性分析和元素的識別。利用X射線熒光光譜儀測量鐵礦石樣品時,每一種樣品都可以采用3種測量方法,它們分別是:①采用粉末壓片法分析鐵礦石樣品的礦物效應(yīng)。在測量過程中,需要利用一些待測樣品的典型試樣,并預(yù)先設(shè)定這些試樣,設(shè)定的條件包括分析線、測角儀、分光晶體、脈沖高度窗、探測器X射線管和待測元素特征譜線峰位置2θ等。②在測量鐵礦石樣品前,先測量樣品的譜線2θ,并校正標樣在設(shè)定條件下建立的每個測量元素的校正曲線。在提取未知樣參數(shù),分析未知樣參數(shù)中待測元素的含量,分辨出預(yù)設(shè)的測量條件與待測元素不一致時,可以得出最后的結(jié)果誤差值。③采用峰面積替代峰強度,在待測譜線2θ的一定范圍內(nèi)應(yīng)用掃描的方式完成測量工作,并利用X射線熒光光譜儀進行相關(guān)分析,計算出扣除背景后的凈峰面積。
3 鐵礦石樣品的礦物效應(yīng)校正
在校正鐵礦石樣品礦物效應(yīng)的過程中,使用X射線熒光光譜儀(島津MXF-2400)及其系列軟件進行相關(guān)操作處理。在粉末壓片法中,測得的元素分析線的凈強度可以按照原始數(shù)據(jù)的計算得出2組校正方法。這2組校正方法分別為:①角度校正法。這種方法可以分析樣品測量前的校正標樣和未知標樣,并對比每個測量元素的2θ角度完成實際測量,進而校正未知標樣可能存在的角度偏移。②峰面積法。采用峰面積數(shù)值代表峰強度,并對比校正的峰變形量與常規(guī)的測量結(jié)果,從而得出校正系數(shù)。同時,測量的譜線數(shù)據(jù)要在一定角度范圍內(nèi)掃描,并用軟件自帶的計算方法計算峰面積。這樣,將背景面積扣除后就得出了最終的強度值。將3種計算結(jié)果利用Super Q軟件進行線性回歸分析,從而得出具體的校正系數(shù)。線性回歸校正系數(shù)的計算公式為:
式(1)中:K為線性回歸校正系數(shù);Cchem為標樣給定的標準值;Ccal為曲線計算值;Cco為加權(quán)因子;n為標準鐵礦石的樣品個數(shù);k為線性回歸相關(guān)系數(shù)。
從式(1)中可以看出,K值越大,校正曲線的質(zhì)量越差;K值越小,校正曲線的質(zhì)量越好。
4 結(jié)束語
利用X射線熒光光譜儀(島津MXF-2400)分析10種鐵礦石樣品,并研究礦物效應(yīng)校正的可能性,同時,采用粉末壓片法和熔融法初步探討鐵礦石樣品的礦物效應(yīng)校正。在文中,使用2組校正方法校正鐵礦石樣品的礦物效應(yīng),即角度校正法和峰面積校正法,同時,利用線性回歸分析公式完成相關(guān)計算,并得到準確的校正系數(shù)。經(jīng)過分析可知,校正系數(shù)K值的結(jié)果越小,校正曲線的質(zhì)量就越好。
參考文獻
[1]申衛(wèi)龍.X射線熒光光譜法分析礦石樣品時工作曲線的精確調(diào)整[J].理化檢驗(化學(xué)分冊),2013(06).
[2]楊峰,楊秀玖,劉偉洪,等.熔融制樣-波長色散X射線熒光光譜法測定鐵礦石中12種主次成分[J].分析試驗室,2015(03).
〔編輯:白潔〕