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基于Halcon的電連接器殼體缺陷檢測系統(tǒng)設(shè)計

2015-12-02 01:42:16許楨英李健康徐家祥
制造業(yè)自動化 2015年18期
關(guān)鍵詞:殼體算子灰度

許楨英,李健康,凌 俊,徐家祥,王 勻

XU Zhen-ying, LI Jian-kang, LING Jun, XU Jia-xiang, WANG Yun

(江蘇大學(xué) 機械工程學(xué)院,鎮(zhèn)江 212013)

0 引言

高密度電連接器組件(圖1),具有封接強度和彎曲強度高、玻璃沿引線爬坡小、耐腐蝕性高、絕緣電阻高、氣密性好等特點,適合服役惡劣環(huán)境,在連接和封裝方面起著不可替代作用,是航天航空航海、軍工、工業(yè)、精密機械、信息乃至家用電器等領(lǐng)域的控制與驅(qū)動系統(tǒng)中的重要基礎(chǔ)元器件,其技術(shù)性能的高低直接影響和制約了這些行業(yè)的發(fā)展水平。

圖1 電連接器殼體實物圖

目前大多數(shù)電連接器制造企業(yè)都采用人工檢測或者簡單工具測量的方法來判定其缺陷,檢測費時費力,容易造成視覺疲勞,且準(zhǔn)確度較低。十二五期間航空、海工、信息行業(yè)對高端機電組件技術(shù)水平的要求越來越高,電連接器表面質(zhì)量缺陷也不被允許,進(jìn)行電連接器質(zhì)量一致性檢驗項目時要求100%無缺陷。另外由于電連接器生產(chǎn)效率的不斷提高,生產(chǎn)全過程的穩(wěn)定性受到了挑戰(zhàn),如何高效高精度監(jiān)控產(chǎn)品、實現(xiàn)缺陷檢測、識別,完成高質(zhì)產(chǎn)品的制造和高效生產(chǎn)環(huán)境的構(gòu)建,成為現(xiàn)代企業(yè)生產(chǎn)管理和品質(zhì)保證的重要手段。

機器視覺是用計算機來實現(xiàn)人的視覺功能,也就是用機器代替人眼來做測量和判斷[1]?;贖alcon及其視覺處理軟件,本文提出了一種電連接器殼體缺陷視覺檢測方案,將采集的電連接器圖像輸入計算機,通過圖像處理算法,對電連接器殼體劃痕、凹坑等缺陷的識別有較好的效果。

1 檢測系統(tǒng)構(gòu)成

檢測系統(tǒng)由硬件結(jié)構(gòu)和圖像分析軟件構(gòu)成,硬件結(jié)構(gòu)負(fù)責(zé)采集電連接器殼體表面的圖像信息;圖像分析軟件對采集到的圖像進(jìn)行處理,從而檢測殼體零件的缺陷信息。

1.1 硬件結(jié)構(gòu)

測量系統(tǒng)的硬件主要包括工業(yè)相機、鏡頭、環(huán)形光源、計算機和檢測平臺。系統(tǒng)的整體結(jié)構(gòu)如圖2所示。其工作過程為:將待檢測的電連接器殼體放在檢測平臺上,將安裝好的工業(yè)相機和鏡頭放在電連接器殼體正上方,調(diào)整鏡頭焦距和工作距離,并調(diào)整環(huán)形光源的位置,使電連接器殼體表面得到均勻的照明。

圖2 檢測系統(tǒng)硬件結(jié)構(gòu)

在本系統(tǒng)中,工業(yè)相機為AVT Guppy Pro F201B;鏡頭為Computar MG3Z1228FC-MP;環(huán)形光源為奧普特OPT-RI15090。

1.2 圖像分析軟件

該系統(tǒng)的圖像分析軟件主要基于Halcon編程開發(fā)。Halcon是德國MVtec公司的一款功能強大的圖像處理軟件,它由1000多個各自獨立的算子以及底層的數(shù)據(jù)管理核心構(gòu)成。涉及底層的圖像處理到高級的模式識別方法,提供了開放的軟件接口,可以與Visual C++、Visual Basic等開發(fā)工具相結(jié)合進(jìn)行以圖形圖像處理為主的應(yīng)用程序開發(fā)。作為目前業(yè)內(nèi)功能較完善、效率較高的軟件之一,Halcon已被廣泛應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)中的各個方面,如機械加工、電子器件、包裝加工、醫(yī)療等領(lǐng)域[2]。

本系統(tǒng)的圖像識別采用Halcon軟件的HDevelop平臺通過一系列算法來進(jìn)行圖像分析處理。

2 電連接器殼體圖像處理方法

從整個缺陷處理和識別的過程來看,基于Halcon的系統(tǒng)分析軟件包括模版分析和缺陷檢測兩個方面。在模版分析方面,對待識別的圖像進(jìn)行一定的圖像處理之后對其進(jìn)行特征分析與提取,并增添至特征模板庫;在缺陷檢測部分,對待識別的圖像進(jìn)行一定預(yù)處理之后,提取處理圖像的特征向量,并使之與特征模板庫進(jìn)行比對,從而確定其缺陷種類。整個缺陷處理和識別過程的組成框圖如圖3所示,研究這些函數(shù)的算法與功能組合,可以高效率、高精度的完成電連接器殼體檢測任務(wù)。

圖3 缺陷處理和識別過程

2.1 圖像預(yù)處理

為了實現(xiàn)對電連接器殼體參數(shù)的檢測,系統(tǒng)軟件基本上可按照圖像處理的流程來進(jìn)行描述,針對單幅圖像的處理過程,需要完成包括圖像去噪、圖像增強、圖像分割、區(qū)域處理等操作(如圖4所示)。

2.1.1 圖像去噪

在圖像獲取過程中,由于環(huán)境或機器視覺系統(tǒng)本身的原因會造成隨機干擾。通常情況下,噪聲會影響缺陷區(qū)域邊緣的提取,引起假邊緣[3]。因此需要對采集到的圖片進(jìn)行濾波去噪。

圖4 圖像預(yù)處理過程

為了消除圖像采集帶來的噪聲,我們首先采用了基于局部均值運算的線性濾波器,主要用于去除一些高頻噪聲,在Halcon中,調(diào)用mean_image算子實現(xiàn)對所讀取圖像的均值濾波。

對于周期噪聲,用頻率域技術(shù)可以有效地分析并濾除,其基本就是在傅里葉變換中,周期噪聲對應(yīng)于周期干擾的頻率處,以集中的能量脈沖形式出現(xiàn)[4]。

本文利用gen_sin_bandpass算子用正弦形狀生成一個帶通濾波器,同時對均值濾波后的圖像進(jìn)行快速傅立葉變換,然后利用convol_fft算子對生成的帶通濾波器和傅立葉變換之后的圖像卷積,再對其結(jié)果進(jìn)行傅立葉反變換,得到最終濾波之后的圖像。

濾波前后的圖像如圖5所示,從圖5可以看出,對圖像濾波之后,圖像的噪音有明顯改觀。

圖5 圖像去噪

2.1.2 圖像增強

本文采用emphasize算子執(zhí)行濾波后圖像的增強操作,運算公式為:

其中mean為采用mean_image算子對圖像進(jìn)行均值濾波之后像素的灰度值;f為圖像增強前的像素灰度值;k為圖像增強系數(shù),系數(shù)越大,增強的效果越明顯;round()是對得到的值四舍五入;g(x,y)是采用emphasize算子對圖像進(jìn)行增強處理之后得到的像素灰度值。

圖6采用emphasize算子進(jìn)行增強前后的圖像,從圖6中可以看出,在圖像增強之后,增大了缺陷區(qū)域和背景區(qū)域的灰度值對比,更加突出圖像中的缺陷。

圖6 圖像增強

2.1.3 圖像分割

為了將可能的缺陷區(qū)域從背景中分離出來,還需要對去噪和增強之后的圖像進(jìn)行分割。二值化處理就是利用圖像中目標(biāo)區(qū)域與其背景在灰度特性上的差異而實現(xiàn)圖像分割的一種有效的方法[2]。在采集的圖像中,如果一個像素的灰度值小于給定閾值,則認(rèn)為這個像素屬于人們感興趣的目標(biāo),反之則屬于背景部分。設(shè)原始圖像為f(x,y),二值化后圖像為g(x,y),閾值為T,則:

其中,值為1的部分表示目標(biāo)可能的缺陷區(qū)域,值為0的部分表示背景。

本文利用圖像分割把可能的缺陷區(qū)域從背景中分離開來,從而方便對缺陷區(qū)域進(jìn)行進(jìn)一步的精確處理。

為了進(jìn)一步提取更精確的缺陷區(qū)域,需對二值化后的區(qū)域進(jìn)行邊緣提取。剃度向量可作為在一幅圖像f的(x,y)位置處尋找邊緣的強度和方向的工具[4],指出了f在位置(x,y)出的最大變化率的方向,也就是灰度變化最劇烈的位置,因此,梯度能很好的反映圖像的邊緣位置。梯度用?f表示:

隨著新一輪高等職業(yè)教育課程改革的不斷推進(jìn)和課堂教學(xué)模式的不斷探索,如何更好地促進(jìn)教師專業(yè)技能提升,更好地發(fā)掘?qū)W生學(xué)習(xí)潛力,實現(xiàn)理實一體、工學(xué)結(jié)合的教育教學(xué)目標(biāo),是新時期高等職業(yè)教育教學(xué)改革所面臨的重大問題。

本文中,首先利用edges_image算子,采用Canny一階算子尋找邊緣梯度圖像,首先對原始數(shù)據(jù)與高斯平滑模板作卷積,即對圖像進(jìn)行濾波,得到一幅比原始圖像有些輕微的模糊的圖像,然后尋找圖像中的亮度梯度。語句為:

edges_image(ImageEmphasize,ImaAmp,ImaDir,'canny',0.5,'nms',15,25)

其中ImaAmp為邊緣梯度圖像,ImaDir邊緣方向圖像,0.5是高斯平滑因子,取值越小,平滑效果越明顯,15和25分別為表示目標(biāo)的最小和最大閾值(如圖7(a)所示)。

為得到可能的缺陷區(qū)域,將得到邊緣梯度圖像轉(zhuǎn)化為區(qū)域region(如圖7(b)所示),再對該區(qū)域利用算子dilation_circle進(jìn)行適當(dāng)?shù)呐蛎洸僮鳎ㄈ鐖D7(c)所示),最后使用reduce_circle將膨脹得到的區(qū)域從原圖像中分割開來,這樣就得到了每一個可能的缺陷區(qū)域的圖像。

圖7 圖像分割

2.1.4 區(qū)域處理

區(qū)域處理即對圖像分割所得到的所有的可能的缺陷區(qū)域進(jìn)行進(jìn)一步的處理,從而得到缺陷區(qū)域的確切圖像,以方便提取各個缺陷的特征。

針對各個可能的缺陷區(qū)域,本文首先采用laplace_of_gauss算子求圖像二階偏導(dǎo)(如圖8(a)所示),再利用threshold_sub_pix算子尋找目標(biāo)區(qū)域邊緣(如圖8(b)所示)。高斯拉普拉斯(LoG)表達(dá)式如下:

本操作直接返回由像素點組成的邊緣,具有亞像素精度。

在得到Laplace二階邊緣之后,利用select_shape_xld算子篩選,排除干擾邊緣;然后對其利用算子union_adjacent_contours_xld將相鄰邊緣的頭尾連接起來,再執(zhí)行close_contours_xld關(guān)閉整個曲線區(qū)域邊緣,從而得到一個完整的缺陷區(qū)域邊緣。

最后使用gen_region_contour_xld算子,將得到的完整缺陷區(qū)域的邊緣轉(zhuǎn)化為region(如圖8(c)所示),以方便下一步進(jìn)行分類。

圖8 區(qū)域處理

2.2 特征檢測

特征是最能表達(dá)圖像內(nèi)容的信息,缺陷特征提取的程度直接影響著缺陷算法的設(shè)計以及缺陷檢測效果。理想的特征如幾何特征、灰度特征、紋理特征等,本系統(tǒng)采用幾何特征進(jìn)行特征檢測,選取的幾何特征為缺陷區(qū)域的面積、圓度和區(qū)域中心位置。

在得到每一個缺陷的區(qū)域圖像之后,利用算子circularity得到缺陷區(qū)域的圓度,算子area_center得到缺陷區(qū)域的面積和中心位置坐標(biāo)。

2.3 特征識別

采用的分類器是高斯混合分類器,具體的分類方法是:首先利用create_class_gmm新建一個分類器,在增加訓(xùn)練樣本add_sample_class_gmm算子和訓(xùn)練分類器train_class_gmm之后,對其他可能的缺陷區(qū)域利用算子classify_class_gmm進(jìn)行分類,最后在完成分類之后退出分類,再用clear_class_gmm從內(nèi)存清空分類器。

另外,本系統(tǒng)在增加樣本和缺陷識別成功之后均有相關(guān)的信息顯示,如圖9所示。

圖9 信息顯示

3 實驗結(jié)果與分析

為了驗證系統(tǒng)的檢測效率,我們選擇了8幅電連接器殼體的圖像進(jìn)行了測試,其中已知這8幅圖像中有13處凹坑和7處劃痕。在系統(tǒng)運行中,所有的凹坑和劃痕缺陷均被識別,結(jié)果如圖10和圖11所示,可見檢測成功率達(dá)到了100%。

4 結(jié)論

電連接器殼體作為密封裝置廣泛應(yīng)用在環(huán)境惡劣的航空航天、深海、高溫高壓高腐蝕性等領(lǐng)域,然而傳統(tǒng)的電連接器殼體缺陷檢測手段存在效率低下,費時費力的問題。本文中我們設(shè)計了基于機器視覺的電連接器殼體的檢測系統(tǒng),基于Halcon平臺編制了相應(yīng)的算法,對殼體零件表面的劃痕、凹坑缺陷進(jìn)行了檢測,成功率達(dá)100%,檢測結(jié)果理想,與傳統(tǒng)檢測方法相比,具有較高的準(zhǔn)確率和效率,為電連接器殼體的無損檢測提供了新的途徑。

圖10 缺陷區(qū)域原始圖片

圖11 缺陷識別結(jié)果圖片

[1]孫懷遠(yuǎn),廖躍華,周夫之,黃憶君.基于HALCON的藥品包裝瓶批號檢測技術(shù)研究[J].包裝工程,2008,29(8):71-73.

[2]王文成.基于Halcon的齒輪缺陷檢測系統(tǒng)設(shè)計[J].機械傳動,2014,38(9):60-63.

[3]朱先鋒,潘洪軍.基于Halcon的硒鼓缺陷檢測與一維尺寸測量[J].吉林大學(xué)學(xué)報(信息科學(xué)版),2014,32(3):308-315.

[4]岡薩雷斯.數(shù)字圖像處理[M].北京:電子工業(yè)出版社,2011.6:211-215.

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