高 峰,趙建立,李靜文
(南京盛業(yè)達(dá)電子有限公司,南京 211161)
SOI寬溫區(qū)微型智能壓力傳感器利用SOI材料硅氧化物隔離的材料特性,實現(xiàn)了硅基壓力敏感電阻與基片襯底之間的純物理隔離,解決了常規(guī)PN結(jié)隔離的硅基壓力傳感器在寬溫區(qū)范圍內(nèi)(-55℃~+150℃)的兩端極限溫度下漏電流增加導(dǎo)致敏感元器件性能劣化,或由于環(huán)境干擾、電磁輻射等環(huán)境影響造成的傳感器精度、穩(wěn)定性降低或失效影響傳感器性能的關(guān)鍵問題,使其具有高精度、寬溫區(qū)、抗輻射、微型化、穩(wěn)定性好、無體硅閂效等特性,在工業(yè)過程控制、航空航天、物聯(lián)網(wǎng)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用[4-6]。
壓阻式壓力傳感器的基本原理是利用硅的壓阻效應(yīng),將被測壓力的變化轉(zhuǎn)換為敏感元件的電阻變化,然后通過轉(zhuǎn)換電路將電阻值的變化轉(zhuǎn)換為電壓輸出。當(dāng)材料受到應(yīng)力作用時,其電阻或電阻率發(fā)生明顯的變化的現(xiàn)象就叫做壓阻效應(yīng)[7]。壓阻式壓力傳感器如圖1所示。
B,E間的電勢差UBE=0,電路無電壓輸出
B,E間的電勢差UBE≠0。根據(jù)此電路特性,將R1,R2,R3,R4制成為高精密半導(dǎo)體電阻應(yīng)變片,利用其半導(dǎo)體壓阻效應(yīng),將壓力造成的機械變形轉(zhuǎn)換為電阻本身的阻值變化,進而改變電路中的電勢差UBE,以此來測量出壓力大小。
圖1 惠斯登電橋電路Fig.1 Wheatstone bridge circuit
由于壓力的原因,硅晶體的電阻發(fā)生變化,變化的大小與受到的壓力大小有關(guān),同時與材料本身的壓阻系數(shù)有關(guān)。影響壓阻系數(shù)最主要的因素是環(huán)境溫度和擴散雜質(zhì)表面的濃度。半導(dǎo)體硅、鍺材料中的壓阻效應(yīng)比金屬材料中壓阻效應(yīng)要大的多。
SOI寬溫區(qū)微型智能壓力傳感器,包括傳感器殼體、安裝于該殼體的壓力敏感元件、調(diào)理該壓力敏感元件輸出信號的信號調(diào)理電路和引出該調(diào)理電路輸出信號的輸出電纜。
關(guān)于SOI寬溫區(qū)微型智能壓力傳感器的工藝技術(shù),本文主要介紹SOI敏感壓力芯片MEMS制造工藝技術(shù)、寬溫區(qū)SOI壓力傳感器芯體的封裝工藝技術(shù)及基于ASIC的SOI寬溫區(qū)壓力傳感器智能化溫度補償技術(shù)研究,SOI寬溫區(qū)微型壓力智能傳感器的批量化生產(chǎn)工藝流程設(shè)計。
核心敏感芯片是采用SOI硅晶圓以MEMS制作工藝技術(shù)制作生產(chǎn)。用SOI材料研制耐高溫壓阻力敏感芯片的目的就是通過SiO2絕緣層將力敏芯片的檢測電路層與硅基底隔離開來,避免了高溫下檢測電路與基底之間的漏電流的產(chǎn)生,提高力敏芯片的耐高溫特性。
隨著時代的發(fā)展,無線網(wǎng)絡(luò)通信技術(shù)的應(yīng)用范圍更加廣泛,這也給無線網(wǎng)絡(luò)環(huán)境的安全提出了更高的要求。當(dāng)前無線網(wǎng)絡(luò)通信中采用的安全技術(shù)主要包括WPKI技術(shù)和IBC技術(shù)兩種。其中WPKI技術(shù)是在有線網(wǎng)絡(luò)PKI基礎(chǔ)上建立起來的,只對無線通信網(wǎng)絡(luò)中的無線環(huán)境部分進行了改進,所以WPKI技術(shù)在無線網(wǎng)絡(luò)通信環(huán)境中的應(yīng)用局限性較大。而BIC則結(jié)合了無線網(wǎng)絡(luò)通信技術(shù)的特點,是一項專門針對無線網(wǎng)絡(luò)環(huán)境的安全技術(shù)。因此,未來無線網(wǎng)絡(luò)通信安全技術(shù)的發(fā)展也必將以IBC技術(shù)為主。
在SOI材料的頂層硅上制作硅敏感電阻元件,敏感電阻元件采用MEMS技術(shù)對應(yīng)制作在硅壓阻效應(yīng)區(qū)內(nèi),電阻器件采用金屬薄膜連接并組成惠斯登電橋陣列;以MEMS微機械加工工藝技術(shù)采用的各向異性腐蝕方法,在SOI基片的背面制作出周邊固支的彈性膜片,并通過陽極鍵合工藝,將玻璃圓片與硅晶圓背面剛性連接,構(gòu)成壓力敏感芯片,實現(xiàn)耐高溫壓力敏感器件的設(shè)計制造。
本項目傳感器結(jié)構(gòu)采用隔離密封全硬封結(jié)構(gòu)。其特點是將敏感芯片裝配在金屬管座上并與外界感壓環(huán)境剛性隔離,采用半導(dǎo)體引線鍵合工藝使敏感芯片與管座電極連接,用波紋金屬膜片隔離敏感芯片與被測環(huán)境(介質(zhì)),通過充灌液傳遞被測介質(zhì)壓力到敏感芯片,完成敏感芯片對外界被測壓力的感測過程,同時敏感元件把感受的壓力利用芯片上的電阻器件根據(jù)壓阻效應(yīng)在電流的激勵下,通過電橋?qū)毫π盘栟D(zhuǎn)變成電信號予以輸出,實現(xiàn)介質(zhì)壓力的測量。
通過該工藝結(jié)構(gòu),避免了被測介質(zhì)與敏感元件的直接接觸,在提高傳感器穩(wěn)定性的同時提升其適應(yīng)能力。
在實際應(yīng)用中,壓力傳感器會受到溫度的影響,導(dǎo)致溫度漂移和靈敏度漂移,它來源于半導(dǎo)體物理性質(zhì)對溫度的敏感性。國內(nèi)經(jīng)常使用硬件補償和軟件補償兩類方法對壓力傳感器進行溫度補償。采用厚膜集成電路數(shù)字溫度補償技術(shù)和非線性修正技術(shù),對壓力傳感器進行零位修正和溫度補償。
針對SOI寬溫區(qū)壓力傳感器開展基于專用集成電路(ASIC)的智能化算法研究。通過在-50℃~+150℃寬溫度范圍內(nèi)測試SOI壓力傳感器壓力-輸出曲線,開展寬溫區(qū)溫度補償算法研究,利用商業(yè)化ASIC芯片實現(xiàn)SOI壓力傳感器的寬溫區(qū)溫度補償,實現(xiàn)智能化溫度補償及線性化輸出,如圖2所示。
圖2 基于ASIC的SOI寬溫區(qū)壓力傳感器智能化溫度補償技術(shù)Fig.2 SOI wide temperature region pressure sensor which based on ASIC temperature compensation technology
基于MEMS的SOI寬溫區(qū)微型智能壓力傳感器,其制作過程包括前期核心敏感芯片的設(shè)計、核心敏感芯片的制備、敏感芯片選擇分析及MEMS加工篩選、寬溫區(qū)高精度的SOI傳感器芯體研制、研制滿足項目要求的寬溫區(qū)SOI傳感器產(chǎn)品、后期高精度SOI傳感器產(chǎn)品模塊實驗、系列化。
SOI寬溫區(qū)微型智能壓力傳感器主要由擴散硅壓力芯體、電路板、進壓頭、殼體、輸出接口五大部分組成。
壓力芯體用于放大特定橋式傳感器和溫度校正傳感器信號。該設(shè)備提供數(shù)字傳感器偏移補償、靈敏度,由一個16位的溫度漂移和非線性RISC微控制器運行一個多項式校正算法。
圖3 壓力芯體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)Fig.3 Pressure core internal structure
壓力芯體有3大模塊:放大模塊,控制模塊和輸出模塊。放大模塊里包含放大器、數(shù)據(jù)選擇器和AD轉(zhuǎn)換器,其主要功能是將MEMS電橋的毫伏信號放大以便處理;控制模塊包含信息存儲模塊、通信模塊和校準(zhǔn)模塊,專門用來控制信號使其轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號,并可以通過通信寫入數(shù)據(jù);輸出模塊包含DA轉(zhuǎn)換器和PWM控制信號模塊,用來再將數(shù)字信號進行處理,然后將其轉(zhuǎn)化為工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)信號輸出。
此電路的輸入信號為24 V直流電源、12 V直流電源和5 V直流電源。當(dāng)采用24 V直流電源和12 V直流電源時,則用場效應(yīng)管將電壓降至5 V左右給芯片供電;當(dāng)采用5 V電源時,則只需要穩(wěn)壓管便可使電路正常工作。
此電路的輸出信號則采用了工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)4~20 mA的輸出特性。利用圖4中三極管,利用芯片輸出一定的電壓使得三極管工作在放大區(qū),再利用基極電阻控制基極電流,從而可得到4~20 mA的集電極電流,因為集電極電流的大小是電流的大小與三極管放大倍數(shù)的乘積。根據(jù)后端電路的處理,加一些元器件便可以實現(xiàn)1~5 V,0~5 V和0.5~4.5 V的輸出,滿足工業(yè)上各種客戶的需求。
圖4 電路原理Fig.4 Principle diagram of the circuit
針對客戶需求。公司設(shè)計了4種進壓頭,各自標(biāo)識不同的螺紋形狀和六方尺寸,具體如圖5所示。
圖5 進壓頭設(shè)計方案Fig.5 Design of inlet pressure head
根據(jù)市場需求,公司設(shè)計了2種輸出接頭:派克接頭和直接引線接頭,每種接頭可用于對應(yīng)的設(shè)備,2種接頭對應(yīng)的設(shè)計圖紙和連接方式如圖6所示。
圖6 兩種輸出接頭設(shè)計圖紙和連接方法Fig.6 Design drawings and connection method of output connector
SOI寬溫區(qū)微型智能壓力傳感器的性能指標(biāo)如表1所示。
表1 SOI寬溫區(qū)微型智能壓力傳感器的性能指標(biāo)Tab.1 Index of SOI wide temperature range the micro intelligent pressure sensor
本文針對常規(guī)PN結(jié)隔離的硅基壓力傳感器在寬溫區(qū)范圍內(nèi)(-55~+150℃)的兩端極限溫度下漏電流增加導(dǎo)致敏感元器件性能劣化,研發(fā)了一種基于MEMS的SOI寬溫區(qū)微型智能壓力傳感器。 該產(chǎn)品具有較寬的工作溫度(-50~150℃)、存儲溫度(-50~150℃)、高精度(綜合精度:0.1 級)、零點溫漂(±2%FS(Max))、靈敏度溫漂(±2%FS(Max))、穩(wěn)定性好(長期穩(wěn)定性:±0.2%FS/年)、結(jié)構(gòu)緊湊、外形美觀等優(yōu)良特性。
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