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并行測(cè)試技術(shù)工程化應(yīng)用研究

2017-06-19 04:06宋揚(yáng)王清海
航空兵器 2017年2期
關(guān)鍵詞:導(dǎo)彈

宋揚(yáng) 王清海

摘要:并行測(cè)試技術(shù)在測(cè)試系統(tǒng)中應(yīng)用廣泛,采用并行測(cè)試技術(shù)能夠提高系統(tǒng)的測(cè)試效率和性價(jià)比。本文提出了幾種并行測(cè)試結(jié)構(gòu)形式,并結(jié)合實(shí)際測(cè)試需求進(jìn)行并行測(cè)試分析與實(shí)踐,詳細(xì)分析了針對(duì)某型導(dǎo)彈開展并行測(cè)試的可行性及實(shí)施方法,最終選擇多個(gè)被測(cè)對(duì)象并行測(cè)試的方法。結(jié)果表明,并行測(cè)試有效減少了測(cè)試時(shí)間,提高了測(cè)試速度,使該型導(dǎo)彈的測(cè)試效率提高了50%以上,提升了裝備使用效率。

關(guān)鍵詞:并行測(cè)試;自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng);測(cè)試效率;導(dǎo)彈

中圖分類號(hào):TJ760.6 文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼:A 文章編號(hào):1673-5048(2017)02-0065-06

0引言

在自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中,傳統(tǒng)的測(cè)試方法為串行測(cè)試,即在一定時(shí)間段內(nèi)只能測(cè)試一個(gè)被測(cè)對(duì)象(UUT,Unit Under Test),因而系統(tǒng)中價(jià)格昂貴的測(cè)試儀器平均空閑時(shí)間占整個(gè)測(cè)試時(shí)間的50%以上。隨著并行處理技術(shù)的引入,并行測(cè)試逐漸替代了串行測(cè)試。

并行測(cè)試是指自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)在同一時(shí)間內(nèi)完成多個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)處理、多項(xiàng)測(cè)試任務(wù)等。根據(jù)并行測(cè)試的對(duì)象不同,可將并行測(cè)試分為不同情況:在同一時(shí)間內(nèi)完成多個(gè)UUT的測(cè)試,即多UUT的并行測(cè)試;在單個(gè)UUT上同步或異步地運(yùn)行多個(gè)測(cè)試任務(wù),同時(shí)完成UUT多項(xiàng)參數(shù)的測(cè)試,即單個(gè)UUT內(nèi)部的并行測(cè)試。

并行自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)即采用了并行測(cè)試技術(shù)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。并行測(cè)試技術(shù)通過(guò)對(duì)系統(tǒng)資源的并行利用,大大提高了系統(tǒng)的測(cè)試效率和性價(jià)比。并行測(cè)試系統(tǒng)在同一時(shí)間內(nèi)完成多個(gè)UUT的測(cè)試,大大提高了系統(tǒng)的吞吐率,減少了測(cè)試時(shí)間。一定時(shí)間內(nèi),在執(zhí)行兩個(gè)測(cè)試任務(wù)時(shí),并行測(cè)試要比傳統(tǒng)順序測(cè)試效率提高50%;并行測(cè)試減少儀器的空閑時(shí)間、充分利用儀器資源,大大提高儀器的使用效率,從而提高系統(tǒng)的性價(jià)比。并行測(cè)試中測(cè)試任務(wù)不斷地運(yùn)行,并發(fā)出占用儀器的申請(qǐng),儀器一旦空閑就會(huì)再次被新的測(cè)試任務(wù)申請(qǐng)使用。在最理想的狀態(tài)下,整個(gè)測(cè)試過(guò)程中儀器一直處于工作狀態(tài)。

1并行測(cè)試概述

1.1并行自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)性能評(píng)估

系統(tǒng)性能需要評(píng)估的指標(biāo)有很多種,常見(jiàn)的有系統(tǒng)的吞吐率(throughput)即系統(tǒng)在單位時(shí)間內(nèi)處理作業(yè)的平均數(shù),以及資源的利用率即資源處于忙狀態(tài)的時(shí)間比等等。自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)經(jīng)常需要對(duì)被測(cè)件進(jìn)行數(shù)十次的循環(huán)測(cè)試,測(cè)試花費(fèi)時(shí)間是系統(tǒng)性能的一個(gè)重要指標(biāo),因此本文主要通過(guò)測(cè)試時(shí)間這一指標(biāo)來(lái)對(duì)并行測(cè)試系統(tǒng)的性能進(jìn)行評(píng)估。

1.2并行自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)任務(wù)調(diào)度策略

在系統(tǒng)中,各個(gè)任務(wù)可以并行或串行的執(zhí)行。傳統(tǒng)的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)采用串行測(cè)試技術(shù),測(cè)試任務(wù)之間根據(jù)測(cè)試順序依次調(diào)用,并不需要任何調(diào)度的策略。一旦自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)采用并行測(cè)試技術(shù),測(cè)試任務(wù)的調(diào)度順序直接影響系統(tǒng)的性能,因此測(cè)試任務(wù)之間一般有一定的優(yōu)先次序約束。任務(wù)調(diào)度的目標(biāo)是要在滿足一定的性能指標(biāo)和優(yōu)先約束關(guān)系的前提下,將可并行執(zhí)行的任務(wù)按適當(dāng)分配策略確定一種分派和執(zhí)行順序,合理分配到CPU上有序地執(zhí)行,以達(dá)到優(yōu)化的目的。

因此,實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試的關(guān)鍵是設(shè)計(jì)良好的任務(wù)調(diào)度策略,按照系統(tǒng)資源的需求,分析并行測(cè)試的可能和效果。

1.3并行測(cè)試種類

1.3.1多UUT并行測(cè)試

多UUT并行測(cè)試是同時(shí)并行測(cè)試多個(gè)UUT。這類并行測(cè)試需要有足夠多的測(cè)試資源對(duì)每個(gè)UUT進(jìn)行并行測(cè)試。

如果可以通過(guò)開關(guān)系統(tǒng)的切換實(shí)現(xiàn)多個(gè)UUT的測(cè)試共享,那么就可以減少測(cè)試資源的需求,提高系統(tǒng)的性價(jià)比。但測(cè)試資源是共享的,必須對(duì)資源的使用進(jìn)行協(xié)調(diào),要在適當(dāng)時(shí)間分配適當(dāng)?shù)馁Y源給某一UUT。如果測(cè)試資源是專用的,那么就不存在這種資源調(diào)配的復(fù)雜性。

多個(gè)UUT并行測(cè)試中,每個(gè)UUT的測(cè)試內(nèi)部仍為串行測(cè)試。

1.3.2單UUT并行測(cè)試

單UUT并行測(cè)試是在一個(gè)UUT內(nèi)同時(shí)進(jìn)行多個(gè)測(cè)試。

當(dāng)UUT的各個(gè)測(cè)試功能之間關(guān)聯(lián)性不太強(qiáng)時(shí),可以進(jìn)行多測(cè)試功能的并行測(cè)試,但在每個(gè)測(cè)試功能內(nèi)部,仍為串行測(cè)試。這種測(cè)試有可能需要更多的測(cè)試資源,例如要測(cè)量多個(gè)電阻器的阻值,那么就需要同樣多的數(shù)字多用表對(duì)其進(jìn)行并行測(cè)試。

計(jì)算機(jī)科學(xué)中的并行執(zhí)行程序也是一種并行測(cè)試,即同一項(xiàng)測(cè)試中并行執(zhí)行多個(gè)測(cè)試步驟或動(dòng)作。在這類測(cè)試中,測(cè)試動(dòng)作是同時(shí)完成的,增加了測(cè)試系統(tǒng)軟件的復(fù)雜性。

1.4并行測(cè)試系統(tǒng)架構(gòu)

根據(jù)并行測(cè)試的實(shí)現(xiàn)方式,并行測(cè)試系統(tǒng)可劃分為兩類基本架構(gòu)形式:一類是多處理器的并行測(cè)試結(jié)構(gòu),具有兩個(gè)以上的處理器,在各自操作系統(tǒng)的控制下,通過(guò)高速通信網(wǎng)絡(luò)、共享的主存或輸入/輸出子系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試,對(duì)系統(tǒng)的軟硬件都有較高的要求;另一類是在單處理器上實(shí)現(xiàn)的并行測(cè)試結(jié)構(gòu),通過(guò)對(duì)不同測(cè)試任務(wù)的調(diào)度來(lái)分配單個(gè)處理器處理任務(wù)的時(shí)間,從而實(shí)現(xiàn)并行測(cè)試,主要通過(guò)軟件設(shè)計(jì)來(lái)實(shí)現(xiàn)。

1.4.1多處理器并行測(cè)試結(jié)構(gòu)

多處理器的并行測(cè)試結(jié)構(gòu)中,根據(jù)處理器之間的關(guān)系分為分布式和主從處理器結(jié)構(gòu)。分布式并行測(cè)試結(jié)構(gòu)中的每臺(tái)計(jì)算機(jī)均可獨(dú)立高效地執(zhí)行測(cè)試任務(wù),主要通過(guò)網(wǎng)絡(luò)來(lái)實(shí)現(xiàn)測(cè)試同步和儀器、數(shù)據(jù)共享;主從處理器結(jié)構(gòu)中,從處理機(jī)與主處理器并行工作,從處理機(jī)分擔(dān)主處理器的部分工作,減輕主處理器的負(fù)擔(dān),提高測(cè)試效率。

1.4.2單處理器并行測(cè)試結(jié)構(gòu)

單處理器的并行測(cè)試主要通過(guò)軟件的多進(jìn)程或多線程實(shí)現(xiàn)。

多進(jìn)程結(jié)構(gòu)是單個(gè)處理器中有多個(gè)進(jìn)程同時(shí)執(zhí)行測(cè)試任務(wù)的結(jié)構(gòu),通過(guò)CPU在進(jìn)程間的切換來(lái)完成并行測(cè)試任務(wù)。在多進(jìn)程結(jié)構(gòu)中應(yīng)由操作系統(tǒng)來(lái)隔離每個(gè)進(jìn)程的內(nèi)存地址空間,防止出現(xiàn)一個(gè)進(jìn)程故障導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)崩潰的現(xiàn)象。

多線程結(jié)構(gòu)是一個(gè)進(jìn)程中的多個(gè)線程同時(shí)執(zhí)行測(cè)試任務(wù)的結(jié)構(gòu),主要是通過(guò)線程間的切換來(lái)完成并行測(cè)試任務(wù)。多線程結(jié)構(gòu)中,并行測(cè)試程序在一個(gè)進(jìn)程中執(zhí)行,這個(gè)進(jìn)程擁有一個(gè)簡(jiǎn)單內(nèi)存地址。進(jìn)程有一個(gè)主線程,其只有一個(gè)控制流程來(lái)控制所有步驟的執(zhí)行,其他線程為從線程,主線程可以創(chuàng)建或刪除其他不同的線程來(lái)完成并行測(cè)試任務(wù)。

在工程應(yīng)用中,尤其是大型測(cè)試系統(tǒng)中,被測(cè)試對(duì)象復(fù)雜,且其參數(shù)測(cè)試繁瑣,往往混合使用上述集中并行測(cè)試方式,如在系統(tǒng)級(jí)建立分布式并行測(cè)試結(jié)構(gòu),然后在每個(gè)子測(cè)試節(jié)點(diǎn)中再建立多進(jìn)程結(jié)構(gòu),每個(gè)進(jìn)程中又是多線程結(jié)構(gòu)。

2并行測(cè)試在導(dǎo)彈測(cè)試中的應(yīng)用分析

在導(dǎo)彈測(cè)試系統(tǒng)中,用來(lái)進(jìn)行參數(shù)測(cè)試的儀器是系統(tǒng)的組成部分之一;同時(shí),用來(lái)進(jìn)行環(huán)境目標(biāo)模擬的各類目標(biāo)模擬器、高度模擬器是系統(tǒng)中價(jià)格最昂貴的組成部分;用來(lái)進(jìn)行電源、氣源供給的模擬部分則是系統(tǒng)中體積最龐大的部分。并行測(cè)試在導(dǎo)彈測(cè)試中的應(yīng)用效能分析,從以上三個(gè)組成部分來(lái)看,有不同的效果。

采用多UUT并行對(duì)導(dǎo)彈測(cè)試來(lái)說(shuō),可以減少儀器的空閑時(shí)間,提高儀器的使用效率,但由于導(dǎo)彈測(cè)試對(duì)目標(biāo)模擬器、高度模擬器的獨(dú)占性,對(duì)電源、氣源供應(yīng)的持續(xù)要求,通常要求目標(biāo)模擬器、高度模擬器的通道數(shù)增加,要求電源、氣源的能力增加,這就大大增加了系統(tǒng)的經(jīng)濟(jì)成本,對(duì)整個(gè)系統(tǒng)的性價(jià)比來(lái)說(shuō)不一定是最優(yōu)的。

采用單UUT測(cè)試內(nèi)部的并行測(cè)試方法則可以避免上述問(wèn)題,是工程上常用的方法。主要有多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目的并行測(cè)試、同一測(cè)試項(xiàng)目?jī)?nèi)部多個(gè)參數(shù)的同時(shí)采集及多個(gè)數(shù)據(jù)的同步處理等。這就需要盡可能詳盡地分析不同測(cè)試項(xiàng)目之間并行測(cè)試的可行性、不同參數(shù)同時(shí)測(cè)試有無(wú)資源沖突等,在軟件設(shè)計(jì)上采用多線程等,并確保在不增加系統(tǒng)需求的基礎(chǔ)上實(shí)現(xiàn)更高效率的測(cè)試。

3某紅外導(dǎo)彈并行測(cè)試實(shí)現(xiàn)

某導(dǎo)彈為紅外制導(dǎo)格斗彈,地面測(cè)試采用分步驟方式進(jìn)行,不同步驟之間關(guān)聯(lián)性不強(qiáng),可以根據(jù)操作人員的需要自由選擇。原有的設(shè)備為串行測(cè)試,逐項(xiàng)完成全部測(cè)試需要24 min左右。

根據(jù)前文分析,不同的測(cè)試功能之間關(guān)聯(lián)性不強(qiáng)是進(jìn)行并行測(cè)試的條件之一。據(jù)此,以該紅外導(dǎo)彈為測(cè)試對(duì)象,通過(guò)導(dǎo)彈的X型放置使得多個(gè)測(cè)試信號(hào)可以并行測(cè)試,同時(shí)對(duì)不同的測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行組合,使得能夠合并進(jìn)行的測(cè)試項(xiàng)目采用并行測(cè)試的方式進(jìn)行,可以將測(cè)試時(shí)間縮短50%以上,大大提高了測(cè)試效率。

3.1某紅外導(dǎo)彈測(cè)試項(xiàng)目

某紅外導(dǎo)彈測(cè)試分Ⅰ通道(導(dǎo)彈的左、右舵面即Ⅱ、Ⅳ舵面呈水平狀態(tài),從導(dǎo)彈尾部看,Ⅰ通道在正上方)和Ⅱ通道(導(dǎo)彈的上、下舵面即Ⅰ、Ⅲ舵面呈水平狀態(tài),從導(dǎo)彈尾部看,Ⅱ通道在正上方)兩種狀態(tài),現(xiàn)在引入第三種狀態(tài)(導(dǎo)彈的左、右舵面和上、下舵面呈X狀態(tài))稱為X通道狀態(tài),三種通道狀態(tài)如圖1所示。

某紅外導(dǎo)彈的測(cè)試項(xiàng)目包括:

a.供電致冷測(cè)試;

b.電氣延遲測(cè)試;

c.轉(zhuǎn)速下降測(cè)試;

d.變流機(jī)測(cè)試:

e.連續(xù)性測(cè)試:

f.對(duì)稱性測(cè)試:

g.氣動(dòng)延遲測(cè)試;

h.同軸一致性測(cè)試:

i.制導(dǎo)測(cè)試;

j.近目標(biāo)測(cè)試;

k.操縱常數(shù)測(cè)試;

l.解除保險(xiǎn)測(cè)試;

m.遠(yuǎn)目標(biāo)測(cè)試:

n.引信測(cè)試(引信1、引信2、引信3和引信4)。

其中,從i項(xiàng)至m項(xiàng),均要進(jìn)行I通道和Ⅱ通道測(cè)試。

3.2測(cè)試項(xiàng)目及與通道設(shè)置的關(guān)系分析

3.2.1供電致冷測(cè)試

測(cè)試中,首先檢查導(dǎo)彈的直流和交流供電電源,檢測(cè)合格后向?qū)椆╇?、供氣;監(jiān)測(cè)導(dǎo)彈輸出的F信號(hào)幅值、AGC信號(hào)幅值和PIPS信號(hào)頻率,判斷導(dǎo)彈致冷是否合格。

該項(xiàng)測(cè)試與導(dǎo)彈通道放置狀態(tài)無(wú)關(guān),測(cè)試時(shí)間小于120 s。

3.2.2電氣延遲測(cè)試

測(cè)試中,向?qū)棸l(fā)出sD(安全距離)啟動(dòng)信號(hào),記錄導(dǎo)彈SD1和SD2信號(hào)出現(xiàn)時(shí)間。

該項(xiàng)測(cè)試與導(dǎo)彈通道放置狀態(tài)無(wú)關(guān),測(cè)試時(shí)間為10 s。

電氣延遲是導(dǎo)彈正常工作必經(jīng)的一個(gè)狀態(tài),在自動(dòng)測(cè)試時(shí)可以結(jié)合制導(dǎo)檢測(cè)。

3.2.3轉(zhuǎn)速下降測(cè)試

測(cè)試中,停止向?qū)椡夤┙涣麟娫?0 s,測(cè)試斷電前和斷電10 s后陀螺轉(zhuǎn)速之差,判斷差值是否合格。

該項(xiàng)測(cè)試與導(dǎo)彈通道放置狀態(tài)無(wú)關(guān),測(cè)試時(shí)間為15 s。

測(cè)試可以放在供電致冷檢測(cè)中完成,由于探測(cè)器致冷慢,陀螺啟動(dòng)快,在陀螺達(dá)到正常轉(zhuǎn)速后,隨即進(jìn)行該項(xiàng)測(cè)試,測(cè)試完畢繼續(xù)給陀螺供電進(jìn)行后續(xù)測(cè)試。

3.2.4變流機(jī)測(cè)試

測(cè)試中,停止向?qū)椡夤┙涣麟姡瑫r(shí)發(fā)出ST(變流機(jī))啟動(dòng)信號(hào),啟動(dòng)導(dǎo)彈變流機(jī)工作,該狀態(tài)持續(xù)20 s,在這期間監(jiān)測(cè)陀螺頻率變化情況。

該項(xiàng)測(cè)試與導(dǎo)彈通道放置狀態(tài)無(wú)關(guān),測(cè)試時(shí)間為30 s。

3.2.5連續(xù)性測(cè)試

測(cè)試主要檢查導(dǎo)彈電纜插座之間連續(xù)性,以及導(dǎo)彈兩種內(nèi)供電電壓的幅度和紋波。

該項(xiàng)測(cè)試與導(dǎo)彈通道放置狀態(tài)無(wú)關(guān),測(cè)試時(shí)間為15 s,可與變流機(jī)或同軸一致性測(cè)試同時(shí)進(jìn)行。

3.2.6對(duì)稱性測(cè)試

測(cè)試中,主要測(cè)試E指令(EU和ED、EL和ER)、N指令(NU和ND、NL和NR)之間的信號(hào)波形對(duì)稱情況。

該項(xiàng)測(cè)試與導(dǎo)彈通道放置狀態(tài)無(wú)關(guān),測(cè)試時(shí)間為60 s。

在原測(cè)試中,由于測(cè)試資源所限,只能順次檢測(cè)EU和ED、EL和ER、NU和ND、NL和NR四對(duì)指令信號(hào)波形,每對(duì)信號(hào)用時(shí)10 s,共用時(shí)40s。實(shí)際上這些信號(hào)在導(dǎo)彈工作時(shí)是同時(shí)存在的,可以同時(shí)并行采集,測(cè)試用時(shí)小于20 s。

3.2.7氣動(dòng)延遲測(cè)試

測(cè)試中,主要測(cè)試從開始供伺服氮?dú)獾蕉婷嬗酗@著反應(yīng)的時(shí)間差。

該項(xiàng)測(cè)試與導(dǎo)彈通道放置狀態(tài)無(wú)關(guān),測(cè)試時(shí)間為30 s。

3.2.8同軸一致性測(cè)試

測(cè)試中,主要測(cè)試位標(biāo)器位置信號(hào)的相位以及E指令(EU)所表征的極限環(huán)頻率。

該項(xiàng)測(cè)試與導(dǎo)彈通道放置狀態(tài)無(wú)關(guān),測(cè)試時(shí)間為25 s。

3.2.9制導(dǎo)測(cè)試

測(cè)試中。主要測(cè)試導(dǎo)彈跟蹤過(guò)程中相應(yīng)的N指令(NU,ND,NR,NL),以及在目標(biāo)偏離導(dǎo)彈軸線±30°和0°時(shí),位標(biāo)器角解算器輸出的方位信號(hào)(sin,sincos,sinsin)。

導(dǎo)彈Ⅰ通道狀態(tài)或Ⅱ通道狀態(tài)時(shí),目標(biāo)在水平面上左右運(yùn)動(dòng)和導(dǎo)彈“左、右”機(jī)動(dòng)或“上、下”機(jī)動(dòng)方向平行,只引起與其運(yùn)動(dòng)方向垂直的舵控指令輸出,另一方向的舵控指令輸出很小,即導(dǎo)彈Ⅰ通道狀態(tài)時(shí),目標(biāo)向右側(cè)運(yùn)動(dòng)測(cè)NU指令,向左側(cè)運(yùn)動(dòng)測(cè)ND指令;導(dǎo)彈Ⅱ通道狀態(tài)時(shí),目標(biāo)向右側(cè)運(yùn)動(dòng)測(cè)NR指令,向左側(cè)運(yùn)動(dòng)測(cè)NL指令。

當(dāng)導(dǎo)彈X通道狀態(tài)時(shí),目標(biāo)在水平面上左右運(yùn)動(dòng)和導(dǎo)彈“左、右”機(jī)動(dòng)或“上、下”機(jī)動(dòng)方向成45°夾角,導(dǎo)彈“左或右”和“上或下”舵控指令均有正常輸出,可以同時(shí)測(cè)試兩組舵控指令。測(cè)試方法如下:當(dāng)導(dǎo)彈X通道狀態(tài)時(shí),目標(biāo)向右運(yùn)動(dòng)時(shí)可以測(cè)試NU和NR指令,目標(biāo)向左運(yùn)動(dòng)時(shí)可以測(cè)試ND和NL指令,目標(biāo)一個(gè)左右運(yùn)動(dòng)循環(huán)可以測(cè)到4個(gè)舵控指令。

從對(duì)導(dǎo)彈角解算器功能檢測(cè)角度來(lái)說(shuō),Ⅰ,Ⅱ通道和X通道兩種情況都能檢驗(yàn)該功能是否正常,區(qū)別僅在于測(cè)試結(jié)果的合格判定范圍需要進(jìn)行一定的換算。

制導(dǎo)測(cè)試流程如圖2所示。

3.2.10近目標(biāo)測(cè)試

測(cè)試中,主要測(cè)試在近目標(biāo)跟蹤狀態(tài)下導(dǎo)彈的跟蹤性能,測(cè)試時(shí)間為35 s。

該項(xiàng)目的測(cè)試判據(jù)有F,AGC信號(hào)幅值和導(dǎo)彈跟蹤狀態(tài)。F,AGC信號(hào)幅值與導(dǎo)彈處于Ⅰ,Ⅱ通道或X通道無(wú)關(guān);導(dǎo)彈跟蹤狀態(tài)與導(dǎo)彈“制導(dǎo)”項(xiàng)目分析相似,在X通道狀態(tài)可同時(shí)考察Ⅰ,Ⅱ通道跟蹤控制能力。

3.2.11操縱常數(shù)測(cè)試

測(cè)試中,主要測(cè)試導(dǎo)彈超前偏置回路工作狀況。該項(xiàng)測(cè)試與制導(dǎo)測(cè)試相似,當(dāng)導(dǎo)彈在Ⅰ通道狀態(tài)或Ⅱ通道狀態(tài)測(cè)試時(shí),目標(biāo)只相對(duì)一對(duì)舵控制通道有偏置,當(dāng)目標(biāo)偏移30°進(jìn)行彈目接近模擬時(shí),只有一對(duì)舵有超前偏置響應(yīng);當(dāng)導(dǎo)彈在X通道狀態(tài)測(cè)試時(shí),會(huì)同時(shí)有兩對(duì)舵進(jìn)行響應(yīng),同時(shí)采集兩路響應(yīng),可以加快測(cè)試速度。

當(dāng)導(dǎo)彈X通道放置時(shí),由于有兩對(duì)舵進(jìn)行超前偏置設(shè)置,而舵控氣源流量有限,使得舵輸出力矩稍微有一些滯后,時(shí)間常數(shù)由均值60 ms增大到76 ms,但從舵控效果來(lái)說(shuō),由于兩對(duì)舵都起作用,導(dǎo)彈的超前偏置效果并未變差。

3.2.12解除保險(xiǎn)測(cè)試

測(cè)試中,主要測(cè)試解除保險(xiǎn)電路工作時(shí)序,測(cè)試時(shí)間為46 s。

目標(biāo)是否進(jìn)入解除保險(xiǎn)環(huán)帶只與目標(biāo)和導(dǎo)彈縱軸軸線的夾角有關(guān)系,與導(dǎo)彈處于Ⅰ,Ⅱ通道或X通道無(wú)關(guān),可以在X通道狀態(tài)檢測(cè)導(dǎo)彈的這項(xiàng)特性。

3.2.13遠(yuǎn)目標(biāo)測(cè)試

測(cè)試中,主要測(cè)試在遠(yuǎn)目標(biāo)跟蹤狀態(tài)下導(dǎo)彈的跟蹤性能,測(cè)試時(shí)間為35 s(含目標(biāo)降溫時(shí)間)。

該項(xiàng)合格判據(jù)中F信號(hào)幅值、AGC信號(hào)幅值、極限環(huán)頻率與Ⅰ,Ⅱ通道或X通道無(wú)關(guān);導(dǎo)彈跟蹤狀態(tài)與導(dǎo)彈“制導(dǎo)”項(xiàng)目分析相似,在X通道狀態(tài)可以同時(shí)考察Ⅰ,Ⅱ通道跟蹤控制能力。

3.2.14引信測(cè)試

引信測(cè)試分為4個(gè)分項(xiàng)進(jìn)行:引信1、引信2、引信3和引信4。

在原有設(shè)備中,各項(xiàng)目靠按鈕進(jìn)行選擇,結(jié)果靠指示燈顯示,為了比較清楚地反映引信不同側(cè)面的功能,分成單獨(dú)的4項(xiàng)進(jìn)行測(cè)試,這要求項(xiàng)目之間重復(fù)設(shè)置SD等測(cè)試準(zhǔn)備信號(hào)。目前完成4項(xiàng)測(cè)試用時(shí)為140 s。

設(shè)備引入計(jì)算機(jī)后,操作顯示界面豐富,有條件在一次SD準(zhǔn)備情況下完成相應(yīng)的有目標(biāo)測(cè)試內(nèi)容,并清楚地顯示測(cè)試結(jié)果;自炸功能測(cè)試則必須再啟動(dòng)一次SD方可完成。

因此,可在上述4個(gè)分項(xiàng)單獨(dú)測(cè)試基礎(chǔ)上增加自動(dòng)測(cè)試選項(xiàng),綜合上述測(cè)試內(nèi)容,減少重復(fù)設(shè)置,從而加快測(cè)試速度。改進(jìn)后可以在90 s內(nèi)完成引信測(cè)試。

3.3并行測(cè)試實(shí)現(xiàn)結(jié)果

根據(jù)上述測(cè)試試驗(yàn)分析,對(duì)采取并行測(cè)試前后某紅外導(dǎo)彈的測(cè)試時(shí)間進(jìn)行統(tǒng)計(jì),如表1所示。

由表1看出,原來(lái)的測(cè)試時(shí)間為1 400 s(不包括Ⅰ,Ⅱ兩個(gè)通道調(diào)的兩次調(diào)環(huán)帶時(shí)間和通道轉(zhuǎn)換時(shí)間)。采用了并行測(cè)試策略后,完成全部測(cè)試的時(shí)間為531 s(未計(jì)算一次調(diào)換帶時(shí)間)。測(cè)試時(shí)間大大縮短,測(cè)試效率得到提高。

4結(jié)論

本文對(duì)并行測(cè)試在某紅外導(dǎo)彈中的應(yīng)用進(jìn)行了初步探索和工程實(shí)現(xiàn),通過(guò)對(duì)多個(gè)測(cè)試項(xiàng)目的并行進(jìn)行,及每個(gè)測(cè)試項(xiàng)目?jī)?nèi)的多個(gè)測(cè)試參數(shù)的并行測(cè)試,可降低50%以上的測(cè)試時(shí)間,有效提高了導(dǎo)彈測(cè)試的效率,具有一定的工程實(shí)踐意義。這種在單UUT內(nèi)部的測(cè)試對(duì)軟件實(shí)現(xiàn)有一定的要求,對(duì)系統(tǒng)的硬件資源則不做新的要求,因而性價(jià)比較高,適合系統(tǒng)資源已經(jīng)固定、無(wú)法做大的改變的設(shè)備。

對(duì)多UUT的并行測(cè)試來(lái)說(shuō),由于對(duì)資源的要求較高,實(shí)現(xiàn)起來(lái)尚有一定的技術(shù)困難。多UUT的并行測(cè)試將是并行測(cè)試發(fā)展需要解決的問(wèn)題之一,也是未來(lái)并行測(cè)試的研究重點(diǎn),對(duì)全面提高測(cè)試質(zhì)量,優(yōu)化武器系統(tǒng)的維護(hù)保障具有重要的意義。

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