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陣列二極管測試裝置的研制

2018-03-30 02:26:56劉邦勇
電子技術(shù)與軟件工程 2017年16期
關(guān)鍵詞:自動測試控制板高電平

劉邦勇

摘要

隨著陣列二極管在電子設(shè)備的應(yīng)用越來越廣泛,相應(yīng)的測試需求、測試效率和測試可靠性要求越來越高。文章介紹了一種基于STS8103A半導(dǎo)體測試儀的陣列二極管連續(xù)自動測試裝置,闡述了自動測試裝置的工作原理,控制電路、測試轉(zhuǎn)換電路、測試夾具的設(shè)計思路,以及測試裝置的試驗驗證情況。該裝置實現(xiàn)了陣列二極管的批量自動測試,大大提高了測試效率和測試可靠性。

【關(guān)鍵問】陣列二極管 自動連續(xù)測試 STS8103A測試儀

在電子元器件的檢測篩選中,陣列二極管的連續(xù)自動測試一直是實驗室測試中的難題。目前實驗室將陣列二極管中進行分段獨立測試,但測試效率極低。當(dāng)對器件引腳定義不熟,測試過程容易造成引腳接錯,增加測試風(fēng)險。所以應(yīng)該研究更簡便的技術(shù),為此本項目選擇了陣列二極管的自動連續(xù)測試作為研究對象。

1 裝置原理

陣列二極管自動連續(xù)測試系統(tǒng)由STS8103A半導(dǎo)體分立器件測試儀、控制板、測試轉(zhuǎn)換板、試驗板和電源板組成。被測器件放在試驗板中,通過測試轉(zhuǎn)換板與STS8103A測試儀相連接進行測試??刂瓢甯鶕?jù)STS8103A測試儀的PASS或FAIL輸出信號,控制STS8103A測試儀的TEST開關(guān)和測試轉(zhuǎn)換板的繼電器組,使STS8103A測試儀能夠自動順序測試陣列中的每個器件。測試原理如圖1所示。

2 部件設(shè)計

2.1 控制板設(shè)計

陣列二極管自動連續(xù)測試都是基于STS8103A分立器件測試系統(tǒng)開展的,根據(jù)設(shè)備輸出端的設(shè)計。為了檢測和控制STS8103A測試儀的工作狀態(tài),需要在它的顯示板上接入4根導(dǎo)線,即PASS信號線、FAIL信號線、TEST線和地線。PASS線和FAIL線的另一端連接到控制板的三極管T1和T2基極,其射極輸出接到單片機的P1.0和P1.1輸入端。

在器件測試之前,單片機的輸出控制線選擇試驗板上陣列器件的第一個。按下控制板上的TEST鍵后,單片機2.0端輸出高電平到三極管T3基極,使T3飽和導(dǎo)通,繼電器J1導(dǎo)通,從而使STS8103A測試儀的測試端TEST接地,測試儀開始對第一個器件進行電性能和參數(shù)的測試。當(dāng)STS8103A測試儀的PASS或FAIL指示燈亮?xí)r,單片機P1.0或P1.1端就接收到高電平,表示STS8103A測試儀已經(jīng)完成當(dāng)前器件的測試工作,單片機就輸出控制信號到測試轉(zhuǎn)換板,轉(zhuǎn)換連接到下一個器件,然后再輸出高電平到T3,以接通繼電器J1和STS8103A測試儀的TEST鍵,使測試儀繼續(xù)測試下一個器件。

2.2 控制板的程序框圖

測試前先設(shè)置通道數(shù)M,也就是陣列器件中二極管的數(shù)量,然后按下控制板上的測試鍵“Test”,單片機P2.0端輸出高電平,延時50ms后再輸出低電平,這是模擬操作者在STS8103A測試儀上按下2個“Test”鍵的時間。而后檢測單片機P1.0或P1.1端是否為高電平,以判斷測試是否完畢,如完畢,則單片機就關(guān)閉該通道,接入下一通道進行測試,直至器件測試完畢(M=0)。接入下一通道后延時10ms,是因為選擇的繼電器AW3029的動作時間約5ms,為保證測試的穩(wěn)定可靠性,選擇延時10ms等待繼電器動作完成后再能進行測試。

2.3 測試轉(zhuǎn)換板和測試板設(shè)計

在STS8103A測試儀共有三個輸出端,即三極管的三個電極:基極b、發(fā)射極e和集電極c。為了后續(xù)可以從陣列二極管測試擴展到陣列晶體管的測試,所以在測試轉(zhuǎn)換板和測試板的設(shè)計上共設(shè)計了三組線路同時切換。但在該項目中只用其中兩組資源。STS8103A測試儀是采用四端連接方式,即晶體管的每一個極均為電壓和電流2個端子進行連接,以減少測試導(dǎo)線內(nèi)阻的影響,提高測試數(shù)據(jù)的精度。所以STS8103A測試儀上有6根引線與其相連,再加上測試儀器的外殼地線,共7根線與晶體三極管相連。

2.4 測試夾具設(shè)計

根據(jù)測試轉(zhuǎn)換板的原理畫出了測試夾具原理,如圖2所示。

3 結(jié)果驗證

為驗證該測試夾具的可靠性,制定了一套驗證試驗流程,步驟如下:購買器件并編號→用單獨測試的方法測試并保存數(shù)據(jù)記錄測試時間→用新做的測試夾具測試并保存數(shù)據(jù)記錄測試時間→用兩種測試數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)及時間對比。

3.1 測試結(jié)果驗證

為了驗證測試裝置的可靠性選擇了多種器件進行驗證,列舉了其中一種器件(型號為:SM110501K)數(shù)據(jù)做對比。從兩組數(shù)據(jù)的對比可以看出兩組數(shù)據(jù)基本一致,誤差小于1%,在5%的測量不確定度范圍內(nèi),證明自動測試裝置測試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確、可靠和有效。

3.2 測試時間比對

為了驗證該項目可以達到提高測試效率效果,采用不同人員用同一型號器件(SM110501K)使用兩種測試方法進行測試,測試時間表如表1所示。

由表1可知,項目前測試單只器件的平均時間在50s左右,項目完成后采用新研制測試夾具連續(xù)測試,單只器件平均測試時間最大為7.5s,實際測試時間已經(jīng)達到項目的預(yù)期效果。

4 結(jié)論

該測試裝置的建立解決了實驗室陣列二級管器件的測試問題,此項設(shè)計的創(chuàng)新可大幅度的提高工作效率、縮短測試時間,使元器件的篩選周期得到有效的控制,通過這個篩選裝置的建立,能有效控制元器件的質(zhì)量可靠性,提高元器件的可檢測比例,節(jié)約元器件在整機中失效帶來的成本,也提高了實驗室篩選檢測人員的技術(shù)水平,為今后相關(guān)技術(shù)的發(fā)展和深化提供了寶貴的經(jīng)驗。

參考文獻

[1]GB/T4023-1997.半導(dǎo)體器件分立器件[S].北京:中國標(biāo)準(zhǔn)出版社,1998.

[2]孫青.電子元器件可靠性工程[M].北京:電子工業(yè)出版社,2002.

[3]北京華峰STS8103分立器件測試系統(tǒng)用戶手冊[Z].北京:北京華峰測控技術(shù)有限公司.

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