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特征函數(shù)的性質(zhì)在實變函數(shù)中的應(yīng)用

2018-12-14 11:11石秀文
邢臺學(xué)院學(xué)報 2018年4期
關(guān)鍵詞:特征函數(shù)基數(shù)子集

石秀文

(邢臺學(xué)院,河北邢臺 054001)

在實變函數(shù)中討論集合的基數(shù)與對等、可測函數(shù)及函數(shù)的積分等問題時,常常用到特征函數(shù),如果熟悉特征函數(shù)常用性質(zhì),并能熟練掌握應(yīng)用特征函數(shù)的性質(zhì)解決問題的一般思想,有助于提高學(xué)生分析問題和解決問題的能力。下面將探討利用特征函數(shù)的性質(zhì)解決實變函數(shù)中某些問題中一般思想方法。

1 特征函數(shù)及常用的一些性質(zhì)

1.1 特征函數(shù)的定義

顯然,若A是可測集S的可測子集,φA(x)則是S上非負可測函數(shù),也是可積函數(shù)且

1.2 常用的幾個特征函數(shù)的性質(zhì)

性質(zhì) 1:設(shè) A,B?S,則 A?B?φA(x) ≤φB(x),x∈S(單調(diào)性),φA(x)=φB(x),x∈S?A=B(一對一性質(zhì))。

性質(zhì)2:(特征函數(shù)與簡單函數(shù)的關(guān)系) 若f(x)=ci,x∈Ei,i=1,2…n,是 E 上的簡單函數(shù),則 f(x)互不相交。

性質(zhì)4:(積分等式)若f(x)在可測集E的可測子集E0及收斂,可測子集列En上可積,則有等式

2 特征函數(shù)性質(zhì)的應(yīng)用

2.1 “一對一性質(zhì)”在集合對等問題中的應(yīng)用

集合的基數(shù)是集合的重要屬性,研究集合的基數(shù)是通過集合對等的關(guān)系來確定,建立集合間的——對應(yīng)關(guān)系是確定對等的基本方法,如果難于建立集合間的一一對應(yīng)關(guān)系,常用Bernstein定理來判斷對等并確定其基數(shù)。特征函數(shù)與集合間的一對一性質(zhì),對討論某些集合間對等有著重要的作用。

例1:設(shè)S是可數(shù)集,S的所有子集構(gòu)成的集合為2S,求2S的基數(shù)。

解:由集合對等與基數(shù)的定義可知:對等集合的所有子集構(gòu)成的集合族仍對等。不妨設(shè)為非負有理數(shù)集合為 S= {r1,r2,…rn,…… },?A∈2S,令

設(shè) φA(rn)=an,n=1,2,3,……;令 x=0.a1,a2,a3……,則 0≤x=0.a1,a2,a3……<1,即 x∈[0,1]。

由一對一性質(zhì),2S與 [0,1]的一個子集對等,所以(c為[0,1]的基數(shù))。

反之,對?x∈[0,1],可表示為唯一的無限小數(shù)0.b1,b2,b3……,可設(shè)對應(yīng)的非負有理數(shù)構(gòu)成的集

顯然,此映射是一對一的,故 [0,1]與2S的一個子集對等,所以綜上。

由此可見,通常討論某集的所有子集構(gòu)成的集合2S的基數(shù)問題或集合族與其他集合對等問題時,可考慮應(yīng)用定義在S上關(guān)于其子集的特征函數(shù),通過特征函數(shù)“一對一”性質(zhì),建立2S與相關(guān)集合或其子集的一一對應(yīng)關(guān)系來解決問題。

2.2 可測函數(shù)與特征函數(shù)的關(guān)系的應(yīng)用

可測函數(shù)與簡單函數(shù)的關(guān)系:f(x)是可測集E?Rn上可測函數(shù)的充要條件是存在一列簡單函數(shù)ψm(x),使得

而由性質(zhì)2可知簡單函數(shù)ψm(x)是一組特征函數(shù)的線性和。因此,討論可測函數(shù)問題,就可以歸結(jié)為最簡單的特征函數(shù)問題,“由特征函數(shù)到簡單函數(shù),再向一般可測函數(shù)過度,這在許多場合都是行之有效的辦法。”

例 2:設(shè) f1(x)、f2(y)分別是 E1?Rp、E2?RqS上可測函數(shù),證明:f1(x)×f2(y)是 E1×E2?Rp×Rq上可測函數(shù)。

解析:證明有具體表達式函數(shù)的可測性,用定義直接證明較為簡便;證明抽象函數(shù)可測性,可考慮用“可測函數(shù)與特征函數(shù)的關(guān)系”進行推理論證。

設(shè)f(x,y)=f1(x)×f2(y)

(1)若fi(x)是可測子集Ei上特征函數(shù),則f(x,y)是E1×E2上特征函數(shù),可測集上特征函數(shù)是可測函數(shù),故結(jié)論成立。

(2)若fi(x)是Ei簡單函數(shù),則f(x,y)是E1×E2上簡單函數(shù)(易證),故是可測函數(shù)。

(3)fi(x)是一般可測函數(shù),由可測函數(shù)與簡單函數(shù)的關(guān)系,存在簡單函數(shù)列 gm(x),hm(y),使得:f1

令 ψm(x,y)=gm(x)×hm(y),也是 E1×E2上簡單函列,且

故結(jié)論成立。

此例證明思路是由簡單到復(fù)雜,即由特征函數(shù)成立——簡單函數(shù)成立——一般可測函數(shù)成立,這種由特征函數(shù)逐漸遞進到一般可測函數(shù)的證明,是實變函數(shù)中常用的方法。

2.3 特征函數(shù)積分性質(zhì)的應(yīng)用

設(shè)f在E及其可測子集E0上可積,常用的兩個等式:若存在,由控制收斂定理及極限性質(zhì):

證明:對任意可測子集A?E,φA(x) 在E有界可積,故由A的任意性可知:

可見利用等式(1)通過特征函數(shù)巧妙的將E上的積分轉(zhuǎn)化為其任何子集上的積分使其為零,體現(xiàn)了特征函數(shù)在積分問題中的作用。一般的,當(dāng)涉及到某集合上的積分與之子集上的積分關(guān)系時,可考慮應(yīng)用這一性質(zhì)進行轉(zhuǎn)化。

例4:設(shè)函數(shù)f在E上可積,可測集列En?存在,則

(2) 由可積性知,f在En上可測,而[a,b],故 f在 [a,b]上可測.構(gòu)造函數(shù)列:fn(x)=φEn則fn(x)在E上可測,由En?En+1,由特征函數(shù)單調(diào)性,可知 fn(x)≤fn+1(x),所以 fn(x)→f(x)于E。

例6:若設(shè)f,g在可測集E上非負可測,則對?a∈R1,mE(f≥a)=mE(g≥a),則

解析:E=E[x;f(x)≥0]=E[x,g(x)≥0],

(2) 否則f,g在E上幾乎處處有限(不妨設(shè)處處有限),由已知條件可知:mE(a≤f≤b)=mE(a≤f)-mE(b≤f)=mE(a≤g≤b),?a,b∈R1。于是?n,令 En=E[0≤f≤n]=E[0≤g≤n],F(xiàn)n=E[n≤f]=E[n≤g],E=En∪Fn

?n,將En作互不相交分解:其中,令 Fn=En,n2*,由集En,k的特征函數(shù)來構(gòu)造E上單調(diào)遞增簡單函數(shù)列:(x),則?x∈E,?n,使得f(x)∈[0,n]

此例中,利用特征函數(shù)構(gòu)造如上的簡單函數(shù)列,該函數(shù)列在E上收斂于可測函數(shù)f(x),這是實變函數(shù)中特征函數(shù)應(yīng)用的一個典型的方法,對討論某些可測函數(shù)與積分問題有著重要作用。

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