張 軍,羅德昌,丁鵬飛
(安徽理工大學 機械工程學院,安徽 淮南 232001)
壓電阻抗(electro-mechanical impedance,EMI)技術是一種結(jié)構健康監(jiān)測技術,在結(jié)構損傷識別的研究領域應用廣泛;與傳統(tǒng)的健康診斷技術相比,其具有操作簡單、結(jié)果直觀準確的優(yōu)點。
近年來,國內(nèi)外的學者將壓電阻抗技術應用到機械結(jié)構損傷研究中,并且取得了一定的研究成果。王濤等學者[1-5]針對工程應用中螺栓松動問題,進行了基于壓電阻抗技術的螺栓松動監(jiān)測實驗;陶娟等[6]驗證了將壓電阻抗法應用于構造地震預測的可行性;張軍等[7]針對小型直流電機工作時出現(xiàn)的振動噪聲問題,通過實驗確定了同頻共振是噪聲產(chǎn)生的原因;段磊光等[8]針對固體推進劑的老化的問題,構建了基于線粘彈桿的結(jié)構一維機電耦合模型,并對模型進行了數(shù)值計算及試驗驗證;陳剛等[9]針對導管架平臺節(jié)點受循環(huán)載荷影響易受到疲勞損傷導致破壞問題,對導管架平臺上的典型的節(jié)點進行了疲勞加載試驗;邵俊華等[10]探究了采用壓電阻抗中峰值頻率變化表征金屬材料彈性變形狀態(tài)的方法的可行性;XU D Y等[11]提出了基于諧振頻率的標量損傷度量方法,對結(jié)構不同位置的裂紋進行了分析;WU Y G等[12]建立了壓電陶瓷換能器與結(jié)構間機電耦合的三維數(shù)值模型,并與實驗結(jié)果進行了對比驗證;S MASMOUDI等[13]將壓電傳感器埋入復合材料中,通過實驗驗證了壓電傳感器會對復合材料的力學性能產(chǎn)生影響。
質(zhì)量流量計是準確且高效的流量測量儀表,但要想檢測其高信號自振頻率仍十分困難的。因此,為了防止其自振頻率過高,質(zhì)量流量計U型管(以下簡稱U型管)的管壁一般都設計得比較薄,但這會導致U型管易受到外界振動的干擾,影響質(zhì)量流量計的性能。
本文通過對U型管施加一定頻率的動態(tài)信號,模擬其在正常工作狀況下所受到的外界干擾,再利用實驗的方法對其阻抗(導納)頻譜的變化進行研究。
EMI技術主要是通過壓電材料的機電耦合效應來工作的,其采用PZT4型壓電陶瓷片;對粘貼于結(jié)構上的PZT4施加激勵,使結(jié)構產(chǎn)生機械振動,然后通過壓電效應在PZT4內(nèi)產(chǎn)生電信號,測量分析PZT4與結(jié)構耦合電阻抗來獲得結(jié)構的機械阻抗,從而實現(xiàn)對結(jié)構固有屬性的研究[14]。
1、2、3對應x、y、z坐標軸方向,4、5、6對應繞x、y、z軸旋轉(zhuǎn)方向。
其正壓電方程[15]為:
(1)
逆壓電方程為:
(2)
單自由度彈簧-質(zhì)量-阻尼(spring-mass-damper,SMD)系統(tǒng)如圖1所示。
圖1 單自由度SMD系統(tǒng)模型
系統(tǒng)的激振力F,機械阻抗ZS和響應位移X的關系可表示為:
(3)
(4)
(5)
聯(lián)立上式可得:
(6)
F=-KDX
(7)
式中:C—系統(tǒng)阻尼,N/(mm·s-1);m—系統(tǒng)質(zhì)量,g;ω—激振頻率,Hz;ωn—系統(tǒng)諧振頻率,Hz;j—虛數(shù)單位。
PZT4與單自由度SMD系統(tǒng)耦合模型如圖2所示。
圖2 PZT4與SMD系統(tǒng)耦合模型
耦合模型的振動位移為:
(8)
(9)
PZT4自由狀態(tài)時的振動位移為:
(10)
PZT4的機械阻抗為:
(11)
PZT4的電導納為:
(12)
(13)
PZT4的電阻抗為:
(14)
由上述結(jié)果可知,PZT4與結(jié)構耦合的電阻抗主要受PZT4自身特性以及耦合系統(tǒng)的機械阻抗的影響。
筆者搭建的聲音采集處理實驗平臺如圖3所示。
圖3 聲音采集處理實驗平臺
圖3中,實驗平臺由聲級計、NI高速數(shù)據(jù)采集卡以及電腦組成,電腦內(nèi)裝有LabVIEW可視化聲音采集及處理軟件。
2.1.1 實驗方法和步驟
實驗方法和步驟如下:首先對U型管進行激振,使U型管發(fā)出聲音,通過聲級計測量將聲音信號轉(zhuǎn)換為電信號;再由高速采集卡將聲級計的數(shù)據(jù)返回電腦上,通過LabVIEW程序?qū)崿F(xiàn)可視化,并經(jīng)過快速傅里葉變換將時域信號變?yōu)轭l域信號;最后經(jīng)過數(shù)據(jù)處理得到實驗圖像。
2.1.2 實驗結(jié)果與分析
聲音實驗結(jié)果如圖4所示。
圖4中,U型管在2 070 Hz、2 440 Hz、3 102 Hz、5 300 Hz處的波峰較為明顯,這些頻率即為U型管的固有模態(tài)頻率。由于外界干擾會影響采集到的聲音信號,得到的波形雜亂,并且實驗需要對U型管進行敲擊,敲擊力度的大小會對實驗結(jié)果產(chǎn)生影響。
圖4 聲音實驗結(jié)果圖像
為了排除外界因素對實驗的干擾,筆者將通過EMI技術對U型管的模態(tài)頻率進行進一步的研究。
在激勵頻率確定的情況下,阻抗值的大小受到PZT4和耦合結(jié)構體的機械阻抗影響,本次實驗主要觀察PZT4和U型管耦合時阻抗的變化。
2.2.1 實驗方法步驟
此處搭建的阻抗實驗平臺以及阻抗實驗原理圖如圖5所示。
圖5 阻抗實驗平臺以及實驗原理圖
圖5中,阻抗實驗平臺主要由WK6500B精密阻抗儀、PZT4壓電片、U型管以及導線組成;實驗所需其他器材還包括導電銀膠、硬化劑、丙酮以及電焊臺等。
實驗步驟如下:(1)打磨U型管的表面,并用丙酮擦拭,將導電銀膠和硬化劑按比例混合均勻后,涂抹在U型管的表面,粘貼PZT4-1并輕輕按壓使PZT4-1與U型管接觸完全;(2)等待PZT4-2與U型管表面粘貼牢固后,在PZT4-1和U型管表面分別焊接一根引出導線通過夾具連接阻抗儀;(3)設定實驗測量相關參數(shù),進行實驗;(4)將實驗結(jié)果分類做好標記,用Origin繪制實驗所得的阻抗頻譜圖。
2.2.2 實驗結(jié)果與分析
筆者對U型管進行了阻抗模態(tài)實驗,得到的阻抗頻譜如圖6所示。
圖6 阻抗實驗頻譜圖
當掃頻頻率接近管件的固有頻率時,會發(fā)現(xiàn)共振現(xiàn)象,能聽到U型管發(fā)出尖銳的鳴叫聲。
由實驗得到U型管模態(tài)頻率如表1所示。
表1 阻抗試驗的模態(tài)頻率
觀察表1中的頻率值可知,聲學實驗中得到的頻率,在阻抗實驗中都能得到相應頻率與此對應;對比聲音實驗可知,阻抗實驗的圖形較為穩(wěn)定,沒有過多雜亂的波形,阻抗峰值點突變也比較明顯,且得到的共振頻率點也比較多,實驗結(jié)果更準確。
在阻抗實驗中,PZT4片要粘貼在U型管上,但粘貼PZT4可能會對其固有特性產(chǎn)生影響。因此,本次實驗就要對U型管進行模態(tài)分析,分析其未粘貼PZT4時的模態(tài)頻率。
通過模態(tài)分析得到的模態(tài)頻率如表2所示。
表2 模態(tài)分析的模態(tài)頻率
U型管的應力主要集中在管壁處,越靠近管道口應力越大,因此,在粘貼PZT4片時,沿管道方向粘貼對U型管的激振效果好。
將阻抗試驗數(shù)據(jù)和模態(tài)實驗數(shù)據(jù)進行對比,其數(shù)據(jù)對比圖如圖7所示。
圖7 實驗數(shù)據(jù)對比圖
由圖7可知:阻抗實驗與模態(tài)實驗得到的各階頻率基本一致;由此可見,粘貼PZT4對U型管的模態(tài)頻率的影響較小,通過阻抗實驗獲得U型管模態(tài)頻率的方法是可行的。
大多數(shù)機械結(jié)構的工作環(huán)境都有一定的干擾,在這種狀態(tài)下檢測結(jié)構健康狀態(tài)是有困難的。
此處通過對U型管施加動態(tài)信號模擬其在正常工作所受的干擾,所搭建的施加動信號的阻抗實驗平臺以及實驗原理圖,如圖8所示。
圖8 加載動態(tài)信號的阻抗實驗平臺以及實驗原理圖
對U型管施加正弦動態(tài)信號,觀察其阻抗(導納)的變化,驗證EMI技術應用在動態(tài)信號激勵實驗中的可行性。
根據(jù)施加動態(tài)信號頻率值的大小,對共振區(qū)施加動態(tài)信號的研究,可分為共振頻率與非共振頻率研究;施加頻率為2 500 Hz、3 442 Hz(共振頻率)、2 700 Hz、3 000 Hz(非共振頻率)。
加載動態(tài)信號后導納頻譜如圖9所示。
圖9 導納頻譜圖
由圖9可以看出:加載動態(tài)信號后,導納圖像會出現(xiàn)范圍不等的波動現(xiàn)象,這是由于導納曲線的上下波動造成的;激勵頻率越大,其導納值波動越大,但是僅通過導納頻譜圖想要區(qū)別出施加共振頻率還是非共振頻率是有困難的,需要通過數(shù)學方法分析,引入導納均方根偏差法對實驗前后導納值的偏差進行統(tǒng)計,以此來研究施加動態(tài)信號對U型管導納值的影響。
定義影響指標MI[16]如下:
(15)
不同頻率的影響指標圖如圖10所示。
圖10 不同頻率的影響指標圖
共振信號的影響指標大于非共振信號,所以施加共振信號時,對U型管導納的影響大于施加非共振信號時的影響;在實驗過程中,施加共振信號,當掃頻頻率接近所加頻率時,會聽見管件發(fā)出刺耳的聲音,而施加非共振信號在實驗過程中沒有發(fā)出刺耳的尖叫聲。
低頻非共振區(qū)頻率范圍為f≤2 kHz,此處設定阻抗儀的頻率掃頻范圍為100 Hz~1 100 Hz,依次設定好函數(shù)信號頻率為200 Hz、300 Hz、400 Hz、500 Hz,施加動態(tài)信號進行實驗。
在實驗過程中,筆者發(fā)現(xiàn)導納圖像變化規(guī)律不明顯,故以阻抗值為研究參數(shù),進行數(shù)據(jù)處理,繪制的阻抗頻譜圖如圖11所示。
圖11 阻抗頻譜圖
圖11中,施加低頻動態(tài)信號后,U型管的阻抗曲線在所加的動態(tài)信號附近阻抗值會發(fā)生突變,且隨著所加頻率值的增加阻抗突變的峰值在減小,在200 Hz左右的共振效果最好。
設定函數(shù)信號器的發(fā)生頻率為40 kHz、50 kHz、60 kHz、70 kHz,對U型管進行施加動態(tài)信號阻抗實驗。實驗阻抗頻譜圖如圖12所示。
圖12 阻抗頻譜圖
圖12中,加載高頻非共振信號后,U型管的整體阻抗值變大,但相較于在共振段、低頻非共振段,阻抗值沒有明顯的突變,所以在高頻非共振區(qū)施加動態(tài)信號對U型管的影響較小。
綜上所述,施加頻率信號會影響U型管的阻抗。在共振區(qū),施加共振信號后,當掃頻頻率接近信號頻率時,會出現(xiàn)明顯的共振現(xiàn)象,通過分析對比發(fā)現(xiàn)施加共振頻率信號對U型管導納的影響比施加非共振頻率信號的大;在低頻非共振區(qū),施加動態(tài)頻率信號,U型管的阻抗值會增大,在所加的動態(tài)頻率信號處U型管的阻抗會發(fā)生突變,在該信號頻率處也會發(fā)生共振,且200 Hz處的共振效果好;在高頻非共振區(qū),加載高頻非共振信號,阻抗值變大,整個過程中并未發(fā)現(xiàn)明顯共振現(xiàn)象,所以對U型管的影響較小。
本文以質(zhì)量流量計U型管為研究對象,對其進行加載動態(tài)信號后的壓電阻抗實驗,驗證將EMI技術應用于動態(tài)信號激勵U型管中研究的可行性,得到如下結(jié)論:
(1)通過對比阻抗實驗和模態(tài)實驗得到的模態(tài)頻率,阻抗實驗與模態(tài)實驗結(jié)果一致,驗證了粘貼的PZT對U型管的頻率特性的影響較小,同時驗證了通過阻抗實驗獲得U型管模態(tài)頻率是可行的;
(2)通過對U型管施加動態(tài)信號發(fā)現(xiàn),當頻率在200 Hz處時U型管有明顯的共振現(xiàn)象;
(3)在共振區(qū)施加動態(tài)信號,對U型管的固有屬性都有一定的影響。施加共振信號后影響指標達到了0.8以上,而非共振信號的影響指標在0.5左右,所以共振信號對U型管導納的影響大于施加非共振信號時的影響,驗證了EMI技術在動態(tài)信號激勵下的U型管固有特性研究的可行性及有效性。