管振宏,于鎮(zhèn)洋,喬志軍,周 濤
(天津工業(yè)大學(xué) 機(jī)械工程學(xué)院,天津 300387)
銅基復(fù)合材料以其優(yōu)異的力學(xué)和物理性能,包括高抗拉強(qiáng)度、優(yōu)異的耐磨性和良好的導(dǎo)熱性而受到廣泛的關(guān)注[1]。隨著材料科學(xué)的發(fā)展,具有獨(dú)特力學(xué)性能的新型材料為銅基復(fù)合材料提供了更多的增強(qiáng)材料選擇。石墨烯是2004年發(fā)現(xiàn)的單碳原子二維材料,由于其超高的強(qiáng)度和優(yōu)良的電學(xué)性能,被認(rèn)為是金屬基復(fù)合材料中最佳的增強(qiáng)相材料[2-4]。然而,石墨烯與金屬基體之間存在著潤濕性差、界面結(jié)合力弱、較難分散等問題。為實(shí)現(xiàn)增強(qiáng)相與基體之間的有效連接,ZHANG等[5]以氯化鈉作為輔助模板,利用其顆粒間形成的面-面接觸結(jié)構(gòu),可以在其孔隙內(nèi)原位合成內(nèi)嵌于三維石墨烯網(wǎng)絡(luò)的碳納米管復(fù)合增強(qiáng)相。該方法在石墨烯構(gòu)成的細(xì)小網(wǎng)格內(nèi)限制了銅基體晶粒長大,細(xì)化了晶粒并以網(wǎng)狀石墨烯骨架提升了復(fù)合材料的綜合力學(xué)性能。其中1.15 vol.% CNT-GN/Cu復(fù)合材料屈服強(qiáng)度和維氏硬度分別為343 MPa和1.15 GPa,較純Cu提升了87.4%和27.8%,而電導(dǎo)率僅有86.6% IACS。XIONG等[6]提出了一種制備石墨烯/銅復(fù)合材料的新型浸透工藝,其中石墨烯因其優(yōu)異的力學(xué)性能而被選為“磚”,而銅金屬因其具有一定可塑性易于成型而被選為“砂漿”。利用這種“磚和砂漿”的微觀結(jié)構(gòu),使含有1.2 vol.%氧化還原石墨烯的銅基復(fù)合材料拉伸強(qiáng)度和楊氏模量分別增加到(308±10)MPa和(109±4)GPa,比純Cu高出了~41%和~12%,并且電導(dǎo)率高達(dá)97.58% IACS。CAO等[7]受貝殼的生物結(jié)構(gòu)啟發(fā),先用球磨技術(shù)將銅粉壓片再涂上聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA),經(jīng)化學(xué)氣相沉積(CVD)法原位生長石墨烯后,在重力作用和銅片徑向比大的特點(diǎn)下自組裝成類貝殼結(jié)構(gòu),最后熱壓成型。該方法制備的復(fù)合材料中石墨烯的含量達(dá)到2.5%時(shí),拉伸強(qiáng)度和楊氏模量分別增加到(378±8)MPa和(135±4)GPa,比純Cu高出了~73%和~25%,同時(shí)保證了電導(dǎo)率維持在93.8% IACS。為了發(fā)揮石墨烯單層面上的高導(dǎo)電性,需要其在銅基體上生長保證原位結(jié)合性。在這些研究的基礎(chǔ)上,優(yōu)化生長連續(xù)的三維結(jié)構(gòu)石墨烯,且防止堆積生長成厚層石墨影響其功能的發(fā)揮,開展研究優(yōu)化在銅基體內(nèi)特殊結(jié)構(gòu)三維石墨烯的連續(xù)原位生長對(duì)復(fù)合材料性能的提升具有重要的意義。
本研究以Cu-Mn合金為原材料,采用脫合金化制備納米多孔Cu,經(jīng)CVD法在其表面生長石墨烯,最后通過輥壓和燒結(jié)工藝制備了力學(xué)和電學(xué)性能優(yōu)良的石墨烯/銅基復(fù)合材料。同時(shí)研究了石墨烯生長溫度和沉積時(shí)間對(duì)復(fù)合材料導(dǎo)電性和力學(xué)性能的影響,并分析其影響原因。
所用原料包括:電解銅(純度為99.9%)、電解錳(純度為99.5%)、鹽酸(HCl)、無水乙醇(C2H6O2)、去離子H2O、Ar、H2、CH4等(試劑均為分析純)。
將電解Cu和電解Mn按原子比為33∶67配置后,置于感應(yīng)熔煉爐中熔煉制備Cu-Mn合金鑄錠,后放于馬弗爐中850 ℃保溫10 h進(jìn)行均勻化處理,并進(jìn)行淬水快冷獲得前驅(qū)體Cu33Mn67合金塊體。將固溶處理后的合金樣品軋制成約1.5 mm的薄片,置于0.3 mol/L的HCl溶液中抽真空腐蝕5 h去合金化得到納米多孔Cu,然后用酒精清洗并真空干燥后,放置在管式爐的石英管內(nèi),在Ar和H2氣氛下常壓升到一定溫度;Ar和H2流量保持在100 sccm,升溫速率設(shè)置為10 ℃/min;當(dāng)?shù)竭_(dá)目標(biāo)溫度時(shí),通入氣流量為10 sccm的CH4進(jìn)行裂解生長石墨烯,一定時(shí)間后關(guān)閉CH4和H2,在Ar保護(hù)下用風(fēng)扇快速降溫,最后經(jīng)多次輥壓和相同溫度燒結(jié)工藝處理得到致密的復(fù)合材料。其工藝流程如圖1所示。
圖1 三維互通網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)石墨烯/銅基復(fù)合材料制備流程
采用X射線衍射儀(XRD,DX2000)分析前驅(qū)體合金的物相組成,采用場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡(SEM,S-4800)觀察樣品去合金化和生長石墨烯后的表面形貌,采用高分辨率透射電子顯微鏡(TEM,Tecnai F20)觀察碳產(chǎn)物的微觀形貌結(jié)構(gòu)及成分分析,采用拉曼光譜分析儀(Raman,XploRA PLUS)確定石墨烯的存在及其生長質(zhì)量。
采用渦流導(dǎo)電儀(FQR-7501A)測(cè)量復(fù)合材料的電導(dǎo)率,并根據(jù)測(cè)得的電導(dǎo)率值和國際退火銅標(biāo)準(zhǔn)(IACS)計(jì)算出材料的IACS電導(dǎo)率;在顯微硬度計(jì)(HV-1000)上測(cè)定試樣的維氏硬度值,載荷為9.8 N,加載時(shí)間為10 s,每個(gè)樣品取10次測(cè)量平均值;在通用材料測(cè)試儀(Instron-5969)上進(jìn)行拉伸測(cè)試。
圖2顯示Cu33Mn67前驅(qū)體合金為單相合金固溶體結(jié)構(gòu),衍射峰如圖所示。與純Cu相比較,Cu33Mn67合金的衍射峰明顯向左偏移,說明Cu33Mn67合金的晶格常數(shù)比純Cu的晶格常數(shù)偏大,這是由于部分取代Cu原子位置的Mn具有更大的原子尺寸[8]。而脫合金化后納米多孔Cu的衍射峰分別為對(duì)應(yīng)fcc相的(111),(200)及(220)晶面三強(qiáng)峰,與標(biāo)準(zhǔn)Cu的衍射峰相一致,且無氧化物雜質(zhì)峰。
圖2 前驅(qū)體Cu33Mn67合金與去合金化的納米多孔Cu的XRD圖譜
從圖3(a)可見,去合金化后的納米多孔Cu(NPC)得到了均勻分布的雙連續(xù)納米多孔結(jié)構(gòu),平均孔徑尺寸為70~90 nm,平均系帶尺寸為80 nm左右;圖3(b),(c)可以看出經(jīng)過高溫生長,不通氣體碳源的多孔Cu系帶尺寸明顯增大,平均尺寸為4~5 μm,孔洞基本消失;而經(jīng)氣體碳源裂解生長石墨烯的多孔Cu表面覆蓋了一層光滑的薄膜物質(zhì),有效的限制了多孔Cu晶粒長大,平均系帶尺寸為1~2 μm。經(jīng)基體去除后,由圖3(d)說明該實(shí)驗(yàn)條件下石墨烯均勻分布在多孔Cu表面并沿著多孔Cu骨架連續(xù)生長。圖3(e)中的石墨烯薄膜表面殘留的黑色物質(zhì)為未完全腐蝕掉的Cu,由此體現(xiàn)了石墨烯和Cu之間良好的界面結(jié)合性,并且該薄膜還表現(xiàn)出了石墨烯特有的平面褶皺特性。
為了探究石墨烯生長溫度的影響,選擇在750~850 ℃生長20 min,然后快速降溫。從圖4拉曼光譜圖中可以看出,3條曲線在1371及1580 cm-1處含有明顯的石墨烯特征峰,這證實(shí)了在不同溫度條件下均有石墨烯生成。此外,1371 cm-1處D峰表征石墨烯的晶格缺陷,它反映了石墨層片的無序性,缺陷越多,D峰強(qiáng)度越高;1580 cm-1處G峰是碳sp2結(jié)構(gòu)的特征峰,反映石墨烯的對(duì)稱性和結(jié)晶程度;D峰與G峰強(qiáng)度比值代表石墨烯的晶格缺陷數(shù)量[9]。在本實(shí)驗(yàn)中,在750、800和850 ℃條件下制備的石墨烯ID/IG分別為0.74、0.67和0.73。所以,在800 ℃制備的石墨烯結(jié)晶度較高,缺陷較小。
圖4 不同生長溫度制備的石墨烯拉曼光譜圖
由表1可知,隨石墨烯生長溫度的升高,復(fù)合材料硬度和導(dǎo)電性都呈先增后減的趨勢(shì)。對(duì)比相同制備工藝的純Cu樣品(升溫至800 ℃,保溫20 min,石墨烯含量為0 wt%),800 ℃時(shí)制備的復(fù)合材料硬度提高了26.5%,但電導(dǎo)率相比純Cu下降了5.4% IACS。這是因?yàn)槭┑募尤胍鹆私饘倩w的微觀結(jié)構(gòu)變化。其中復(fù)合材料力學(xué)性能的提升是由于石墨烯與銅基體之間存在部分熱膨脹失配[10],在石墨烯與Cu的界面附近產(chǎn)生了一個(gè)高位錯(cuò)密度的塑性區(qū)[10-11],提高了復(fù)合材料的力學(xué)性能。而引起電導(dǎo)率變化的原因是石墨烯與銅基體之間存在相界,這種界面對(duì)電子的傳輸起到散射的作用[12],從而引起電阻增加,復(fù)合材料電導(dǎo)率下降。
表1 不同石墨烯生長溫度對(duì)復(fù)合材料性能的影響
圖5為800 ℃時(shí),不同沉積條件制備的石墨烯拉曼光譜圖。從圖可見,3條曲線均存在石墨烯特征峰,即分別位于1350和1580 cm-1的D峰和G峰,這證實(shí)在不同溫度條件下均有石墨烯生成。隨著沉積時(shí)間的增加,D峰與G峰的峰強(qiáng)比先減小后增大,沉積時(shí)間為25 min時(shí)ID/IG最小,其比值為0.43,說明此時(shí)生長出的石墨烯缺陷最少。從圖6中也可以看出,復(fù)合材料的拉伸強(qiáng)度先增大后減小,沉積25 min時(shí)拉伸強(qiáng)度達(dá)到最高值330 MPa,比純Cu(升溫至800 ℃,保溫25 min,石墨烯含量為0 wt%)提高了34.69%,說明此條件下生長出的石墨烯對(duì)銅基體的強(qiáng)度有顯著的增強(qiáng)效果。
圖5 不同沉積時(shí)間制備的石墨烯拉曼光譜圖
圖6 不同石墨烯沉積時(shí)間制備的復(fù)合材料和純Cu的拉伸應(yīng)力-應(yīng)變曲線
由表2可知,在一定溫度下,隨著沉積時(shí)間的延長,復(fù)合材料的硬度和導(dǎo)電性都呈先增后減的趨勢(shì)。當(dāng)生長溫度為800 ℃,沉積時(shí)間為25 min時(shí),得到了高質(zhì)量、大面積的三維網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)少層石墨烯,石墨烯增強(qiáng)銅基體的性能達(dá)到了最好。此時(shí),復(fù)合材料的硬度和強(qiáng)度相比純Cu分別提高了38%和34.69%,電導(dǎo)率達(dá)到了93.5% IACS。首先,石墨烯具有超高的硬度和電荷載流子遷移率,原位生長使石墨烯均勻分散于銅基體中,從而起到第二相粒子增強(qiáng)效果;其次石墨烯與銅基體表面結(jié)合良好且不易變形,不僅能在微觀尺度范圍限制銅晶粒在高溫下長大,實(shí)現(xiàn)細(xì)晶強(qiáng)化作用,而且可以減小電子邊界散射產(chǎn)生的界面阻力[13]。另外,石墨烯與銅基體的熱膨脹系數(shù)相差非常大,所以在溫度升高時(shí)相互之間會(huì)存在一定熱失配,在復(fù)合材料的制備過程中,存在于界面之間的熱失配會(huì)產(chǎn)生熱應(yīng)力,從而導(dǎo)致在石墨烯與Cu的界面處形成高位錯(cuò)密度的塑性區(qū),使銅基體的力學(xué)性能得到一定程度的強(qiáng)化。
表2 不同石墨烯沉積時(shí)間對(duì)復(fù)合材料性能的影響
本實(shí)驗(yàn)以Cu-Mn合金為原料,經(jīng)去合金化腐蝕和CVD法以及輥壓燒結(jié)工藝成功制備出了高導(dǎo)電性和高硬度的石墨烯/銅基復(fù)合材料。制備出的銅基復(fù)合材料中的石墨烯不僅保持了完整連續(xù)的三維互通網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),而且與銅基體之間有著良好的界面結(jié)合,此結(jié)果主要?dú)w因于:(1)納米多孔Cu不僅具有催化作用,而且在石墨烯的生長過程中提供了更多的附著位點(diǎn),有效地減少了石墨烯團(tuán)聚現(xiàn)象的發(fā)生并輔助其在銅基體表面鋪展生長;(2)CVD法制備出的石墨烯質(zhì)量高,實(shí)驗(yàn)條件可控,石墨烯和銅基體之間界面結(jié)合良好;(3)高質(zhì)量的三維互通網(wǎng)絡(luò)石墨烯發(fā)揮了額外的電子輸運(yùn)途徑和承載力。綜合以上條件使得制備出的銅基復(fù)合材料導(dǎo)電性保持在93.5% IACS的情況下,硬度和抗拉強(qiáng)度分別達(dá)到了55.2 HV和330 MPa,相比純Cu分別提高了38%和34.69%。
材料科學(xué)與工程學(xué)報(bào)2021年4期