《理化檢驗-化學(xué)分冊》雜志在近年來開展專題報道的基礎(chǔ)上,擬在2021年繼續(xù)于第5,7,9期分別推出“串聯(lián)質(zhì)譜法”、“電感耦合等離子體質(zhì)譜法”和“X 射線熒光光譜法”等3個專題報道,熱忱歡迎相關(guān)領(lǐng)域的學(xué)者和科研人員踴躍投稿。

內(nèi)容涉及:

1)串聯(lián)質(zhì)譜法(MS/MS) MS/MS分辨率高、定性定量能力強、分析速率快、功能強大。本專題主要關(guān)注MS/MS 在食品、化工、環(huán)境、能源、運動醫(yī)學(xué)、刑事科學(xué)技術(shù)、生命科學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域中的基礎(chǔ)研究、產(chǎn)品質(zhì)量控制和檢驗監(jiān)測等方面的最新應(yīng)用研究或評述。

2)電感耦合等離子體質(zhì)譜法(ICP-MS) ICPMS因其具有檢出限低、靈敏度高、選擇性高、多元素同時定性定量分析、線性范圍寬、分析時間短、進(jìn)樣量小、應(yīng)用范圍廣等諸多優(yōu)點,近年來在材料、地質(zhì)礦產(chǎn)、環(huán)境、食品、醫(yī)學(xué)衛(wèi)生等領(lǐng)域的超痕量元素分析方面得到了大量應(yīng)用。本專題聚焦ICP-MS,也關(guān)注激光剝蝕電感耦合等離子體質(zhì)譜法(LAICP-MS)和輝光放電質(zhì)譜法(GD-MS)等方面的文章。

3)X 射線熒光光譜法(XRFS) XRFS具有譜線簡單、分析速率快、能進(jìn)行多元素同時分析等優(yōu)點,可廣泛用于冶金、地礦、環(huán)境、高純物質(zhì)、電子電器中有害物質(zhì)、食品等領(lǐng)域,已被越來越多的國際標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)、行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)等列為標(biāo)準(zhǔn)分析方法。本專題將關(guān)注XRFS 的制樣方法、試驗參數(shù)的選擇、定性圖譜解析、基體效應(yīng)及譜線干擾的消除和XRFS在化學(xué)計量學(xué)中的應(yīng)用等。

綜述性文章要求能總結(jié)上述領(lǐng)域的研究現(xiàn)狀、評價研究進(jìn)展、提出前瞻性的發(fā)展方向;研究性文章要求能反映上述領(lǐng)域的最新研究成果;應(yīng)用性文章要求能注重技術(shù)手段、方法新穎、內(nèi)容清晰,具有實際推廣價值。

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