何烈相 劉 洋 吳彥兵
(廣東生益科技股份有限公司,廣東 東莞 523808)
全球正在經(jīng)歷新一代信息技術(shù)革命,隨著5G、云計(jì)算、大數(shù)據(jù)和人工智能等技術(shù)應(yīng)用加快,數(shù)字經(jīng)濟(jì)蓬勃發(fā)展,在數(shù)據(jù)流量處于高速增長(zhǎng)階段的情況下,如果數(shù)據(jù)傳輸效率不提升,則會(huì)造成擁堵。國(guó)際一線大廠如Google、Facebook、Amazon以及國(guó)內(nèi)的互聯(lián)網(wǎng)服務(wù)商(ISP),如百度、阿里、騰訊、新浪等都在積極的建設(shè)數(shù)據(jù)中心,應(yīng)對(duì)未來(lái)持續(xù)成長(zhǎng)的龐大云端服務(wù)需求。因此需要大量基礎(chǔ)設(shè)施的支撐,服務(wù)器就是其中重要的核心設(shè)備之一。
隨著以Intel芯片為主導(dǎo)的服務(wù)器產(chǎn)品成為發(fā)展趨勢(shì),服務(wù)器平臺(tái)升級(jí)將帶動(dòng)整個(gè)服務(wù)器行業(yè)進(jìn)入上行周期,而印制電路板(PCB)以及其關(guān)鍵原材料覆銅板(CCL)作為承載服務(wù)器內(nèi)各種走線的關(guān)鍵基材,除了服務(wù)器周期帶來(lái)的量增邏輯,同時(shí)還存在服務(wù)器平臺(tái)升級(jí)帶來(lái)的價(jià)增邏輯。
新一代服務(wù)器平臺(tái)以Eagle Stream服務(wù)器平臺(tái)為例,屆時(shí)主要端口的傳輸速率將會(huì)由現(xiàn)在Whitley平臺(tái)的16 Gbps上升到32 Gbps,Intel也提出了對(duì)應(yīng)的基材電路傳輸?shù)牟迦霌p耗(IL:Insertion Loss)要求(見(jiàn)表1所示),IL<-0.96 dB/in@16 GHz。
表1 Eagle Stream服務(wù)器平臺(tái)對(duì)插入損耗要求表
為了滿足Eagle Stream服務(wù)器平臺(tái)甚低插入損耗的要求,覆銅板業(yè)界的主流是選擇聚苯醚(PPO)樹(shù)脂作為技術(shù)路線,但PPO成本高,供應(yīng)來(lái)源單一,而另外一條雙馬來(lái)酰亞胺(BMI)樹(shù)脂路線存在PCB加工過(guò)程鉆刀磨損大問(wèn)題,本文重點(diǎn)介紹了一款特殊環(huán)氧樹(shù)脂固化體系,搭配第三代反轉(zhuǎn)箔(RTF)銅箔而開(kāi)發(fā)的甚低(Very low loss)級(jí)別高速領(lǐng)域的覆銅板(Synamic6GX),介紹其關(guān)鍵性能、電性能、可靠性等,該板材可以滿足下一代Eagle Stream服務(wù)器產(chǎn)品的應(yīng)用需求。
特殊環(huán)氧樹(shù)脂、改性樹(shù)脂、固化劑、填料、阻燃劑、溶劑、玻纖布、銅箔等。
根據(jù)設(shè)計(jì)好的實(shí)驗(yàn)配方,稱取一定量環(huán)氧樹(shù)脂、改性樹(shù)脂、固化劑、阻燃劑和溶劑共混攪拌制得均勻膠液;調(diào)整好上膠機(jī)夾軸間隙、轉(zhuǎn)速,使用E-玻纖布作為增強(qiáng)材料,浸以配好的膠液,均勻上膠。將浸過(guò)膠液的玻纖布放入設(shè)定好烘烤條件的烘箱,烘成半固化黏結(jié)片。然后將制得的黏結(jié)片根據(jù)不同板材厚度的要求疊加,兩面覆以銅箔,置于真空壓機(jī)中壓制成覆銅板。
參照IPC標(biāo)準(zhǔn)及生益科技企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)方法,對(duì)由上述制成的覆銅板進(jìn)行性能測(cè)試,主要測(cè)試項(xiàng)目及儀器如下。
(1)玻璃化轉(zhuǎn)變溫度Tg:差示掃描量熱儀(DSC),升溫速率20 ℃/min,氮?dú)獗Wo(hù);
(2)熱分解溫度Td:熱重分析法(TGA);
(3)Z-CTE及熱分層時(shí)間T300:熱機(jī)械分析法(TMA);
(4)介電常數(shù)與介質(zhì)損耗因子:帶狀線法(10 GHz)、平板電容法(1 GHz);
(5)層間結(jié)合力:剝離強(qiáng)度測(cè)試儀;
(6)熱導(dǎo)率:熱阻儀,按ASTM D5470標(biāo)準(zhǔn);
(7)銅箔剝離強(qiáng)度:剝離強(qiáng)度測(cè)試儀,按IPC-TM-650方法;
(8)燃燒性:燃燒試驗(yàn)箱(UL94)。
(1)帶狀線損耗:Delta-L測(cè)試方法(網(wǎng)絡(luò)分析儀);
(2)多層板耐熱性:切片分析(光學(xué)顯微鏡);
(3)CAF(耐離子遷移)性能:溫度85 ℃,濕度85%,電壓50 V(絕緣電阻在線測(cè)試系統(tǒng))。
研制的高耐熱性、低傳輸損耗的覆銅板(Synamic6GX)具有優(yōu)異的綜合性能,具體如表2所示。
表2 覆銅板(Synamic6 GX)基本性能表
如圖1所示,開(kāi)發(fā)品具有Tg(DSC)為174.5 ℃,可滿足PCB的無(wú)鹵高Tg要求。
圖1 覆銅板Tg測(cè)試曲線圖
如圖2所示,開(kāi)發(fā)品具有Td(5%loss)高達(dá)400.5 ℃,可滿足PCB的無(wú)鉛焊接要求。
圖2 覆銅板Td(5% loss)測(cè)試曲線圖
如圖3所示,開(kāi)發(fā)品具有較長(zhǎng)的熱分層時(shí)間,T300大于60 min,說(shuō)明板材具有優(yōu)異的耐熱性能,可滿足PCB加工中抗樹(shù)脂分層。
圖3 覆銅板T300(帶銅)測(cè)試曲線圖
如圖4所示,開(kāi)發(fā)品具有較低的熱膨脹系數(shù):其中α1(50~130 ℃ CTE):31.3×10-6/℃,α2(200~260 ℃ CTE):202.7×10-6/℃,50~260 ℃的膨脹百分比:2.34%。板材具有較高的尺寸穩(wěn)定性,有利于其在PCB加工過(guò)程中的順利定位。
圖4 覆銅板Z-CTE測(cè)試曲線圖
3.3.1 信號(hào)完整性(SI)性能
為實(shí)現(xiàn)較低Dk,最主要的手段是降低基材的Df性能,本配方體系經(jīng)過(guò)實(shí)驗(yàn)優(yōu)化,在10 GHz最低的Df可以達(dá)到0.0050,基本已經(jīng)是環(huán)氧樹(shù)脂體系Df極限值。
與此同時(shí),隨著信號(hào)頻率的增大,高速信號(hào)在傳輸線的銅箔表面產(chǎn)生的“趨膚效應(yīng)”越來(lái)越顯著[1],從而使導(dǎo)體損耗增加。按照傳統(tǒng)服務(wù)器搭配的普通RTF銅箔,帶狀線插入損耗無(wú)法滿足Eagle Stream服務(wù)器平臺(tái)的要求。故本文采用不同等級(jí)銅箔與板材搭配研究,以尋求成本較低,同時(shí)滿足SI電性能要求的方案。
銅箔影響材料電性能的因素有:粗糙度、比表面積、銅瘤顆粒大小、鍍層金屬元素等,其中粗糙度是非常重要的一項(xiàng)性能指標(biāo),圖5為我們從銅箔粗糙度維度對(duì)銅箔進(jìn)行分級(jí)。
圖5 按粗糙度對(duì)銅箔分級(jí)
由表3可知,隨著銅箔粗糙度降低,材料的損耗越低,通過(guò)研究表明,Synamic6GX板材的0.10 mm芯板(core)和0.125 mm PP搭配RTF3等級(jí)銅箔,在16 GHz頻率下插入損耗為-0.89 dB/in,可以滿足Eagle Stream平臺(tái)的損耗要求,且其電性能表現(xiàn)與HVLP2基本相當(dāng),但RTF3銅箔成本優(yōu)勢(shì)明顯。
表3 使用不同粗糙度銅箔的損耗性能表
本文發(fā)現(xiàn)RTF3的粗糙度相對(duì)RTF2只下降了0.2 μm,但損耗下降了5%。在使用電子顯微鏡觀察其截面形貌,發(fā)現(xiàn)RTF3銅箔采用了塊狀晶體結(jié)構(gòu)(如圖6所示),這與常規(guī)采用柱狀結(jié)晶結(jié)構(gòu)的RTF2銅箔(如圖7所示)是不同的。
圖6 塊狀結(jié)晶RTF3銅箔圖
圖7 柱狀結(jié)晶RTF2銅箔圖
電信號(hào)在銅箔內(nèi)傳輸時(shí),會(huì)被晶界折射和反射而發(fā)生電信號(hào)損失,從這方面講塊狀結(jié)晶相比傳統(tǒng)的枝狀結(jié)晶優(yōu)勢(shì)明顯。針對(duì)Synamic6GX搭配不同的晶體結(jié)構(gòu)RTF3銅箔進(jìn)行損耗研究,表4的結(jié)果表明,RTF3銅箔使用塊狀結(jié)晶銅箔相對(duì)于柱狀結(jié)晶損耗降低1.5%。
表4 銅箔不同晶體結(jié)構(gòu)對(duì)損耗影響
3.3.2 多層板耐熱性
高多層PCB的耐熱可靠性除了與原材料覆銅板的耐熱性相關(guān)外,與PCB的加工也有較大關(guān)系。在同等條件下,PCB層數(shù)越高,厚度越大,內(nèi)層銅厚度越厚,節(jié)距越小,對(duì)基材耐熱性要求更高[2]。本文采用新開(kāi)發(fā)的覆銅板制作成26層3.8 mm厚度的高多層PCB,內(nèi)層含有4層70 μm(2 oz)厚銅,最小節(jié)距(pitch)0.6 mm BGA做5次無(wú)鉛回流處理。制作切片,使用光學(xué)顯微鏡對(duì)板材內(nèi)部形貌進(jìn)行觀察,結(jié)果無(wú)分層、爆板或裂紋等缺陷出現(xiàn),表現(xiàn)出良好的耐熱可靠性,見(jiàn)圖8所示。
圖8 26 L板5次無(wú)鉛回流處理后的切片圖
3.3.3 耐離子遷移性能
耐離子遷移性能以CAF為代表,圖9為CAF性能測(cè)試圖。模型為26 L多層板,內(nèi)含4層70 μm銅箔,測(cè)試條件為溫度85 ℃,濕度85%,電壓為50 V,從圖9可以看出,在經(jīng)過(guò)1000 h的測(cè)試后,最小0.6 mm節(jié)距的通道其電阻均在108 Ω以上,表明CAF性能良好。
圖9 26 L PCB的Anti-CAF測(cè)試
本文研究開(kāi)發(fā)了一款甚低損耗級(jí)別的覆銅板(Synamic6GX)及黏結(jié)片材料,該材料具有較高Tg、較高的耐熱性和耐CAF性,甚低的介質(zhì)損耗和插入損耗,可滿足新一代服務(wù)器平臺(tái)Eagle Stream服務(wù)器平臺(tái)對(duì)應(yīng)高多層PCB的耐熱性和信號(hào)完整性的需求。