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基于饋源固定的雙頻掃描反射陣設(shè)計

2022-02-24 04:24何清明
無線電工程 2022年2期
關(guān)鍵詞:饋源波束指向

張 瑩,左 樂,李 洋,何清明

(電子信息控制重點實驗室,四川 成都 610036)

0 引言

自20世紀末電磁超材料出現(xiàn)以來,其獨特的電磁性能為工程電磁學(xué)尤其是天線技術(shù)提供了廣闊的可能性和自由度[1-4]。對于在雷達、制導(dǎo)、電子戰(zhàn)和通信系統(tǒng)中廣泛應(yīng)用的高增益天線,傳統(tǒng)的反射面天線由于利用反射反向的金屬材料,僅能通過幾何形狀來實現(xiàn)相位補償,因此反射面為非平面的拋物面,剖面高度較高?;诔牧霞夹g(shù)的平面反射陣,利用超材料反射系數(shù)可設(shè)計的原理,采用不同反射相位的散射體代替?zhèn)鹘y(tǒng)金屬,結(jié)合了陣列天線和反射面天線的優(yōu)點,具有剖面低、結(jié)構(gòu)簡單和易集成等特點。反射陣通過調(diào)節(jié)入射場相位實現(xiàn)對輻射場的控制,由多個超材料反射單元組成,每個反射單元提供一個相位補償量,使饋源發(fā)射的電磁波在反射陣單元所在平面形成等相,從而產(chǎn)生高增益、窄波束輻射[5-6]。

由于高增益天線的波束寬度較窄,為實現(xiàn)更寬空域的波束覆蓋,反射陣天線需具備掃描性能。且伴隨著衛(wèi)星通信技術(shù)的發(fā)展,針對1.575 GHz的GPS頻段及2.4 GHz的藍牙、WiFi頻段的雙頻掃描反射陣需求日益突出。文獻[7]總結(jié)了反射陣天線的掃描方法,常見實現(xiàn)反射陣波束掃描的技術(shù)手段主要分為2類:第1類通過移動饋源以實現(xiàn)波束掃描[8-10],這類方法對于饋源設(shè)備量大、難以移動場景無法應(yīng)用;第2類通過獨立調(diào)節(jié)反射陣單元相位,以達到波束掃描的目的[11- 16],典型的調(diào)節(jié)方式為電控形式的PIN管、FET管或可變電容等,這類方法由于控制參數(shù)較多,導(dǎo)致設(shè)計復(fù)雜度提升,且結(jié)構(gòu)復(fù)雜、可靠性低、價格昂貴,同時由于加入大量的有源器件,使其損耗較大,影響反射陣天線效率。文獻[17]設(shè)計了一種旋轉(zhuǎn)反射面實現(xiàn)波束掃描的反射陣,但只進行了單頻設(shè)計,且未對掃描原理進行闡述。相對于單頻反射陣,雙頻反射陣波束掃描的設(shè)計難度更大。由于雙頻在掃描時所需的相位變量不同,若獨立調(diào)節(jié)反射陣單元相位,則控制變量多而繁雜,系統(tǒng)復(fù)雜度急劇上升。

本文通過旋轉(zhuǎn)反射陣面實現(xiàn)了雙頻波束掃描,僅一個控制參數(shù)即可實現(xiàn)雙頻波束掃描,具有系統(tǒng)復(fù)雜度低、可靠性高、易安裝和損耗低等優(yōu)點。通過對旋轉(zhuǎn)前后反射陣口面相位分布的理論分析,結(jié)合陣列天線理論,推導(dǎo)出波束掃描角與陣面旋轉(zhuǎn)角的解析關(guān)系。對解析表達式的進一步分析表明,形成的相位分布具備寬帶特性,即通過旋轉(zhuǎn)反射陣陣面實現(xiàn)波束掃描的方法是一種寬帶方法,既可以應(yīng)用在寬帶掃描反射陣中,又可以應(yīng)用在多頻或雙頻反射陣中。隨后采用反射陣陣列理論[18]對本文提出的掃描方法進行驗證。利用25×25單元的雙頻掃描反射陣進行設(shè)計驗證,并在1.575,2.4 GHz頻段獲得了良好的掃描特性。

1 理論推導(dǎo)

本文提及的反射陣結(jié)構(gòu)及坐標示意如圖1所示,這里假設(shè)饋源的波束指向為反射陣面中心位置,且反射陣面與xoy面的初始偏饋角為θ0。

圖1 掃描反射陣結(jié)構(gòu)示意

反射陣天線通過反射陣單元的相位補償,實現(xiàn)理想的輻射特性。反射陣天線的補償相位公式為:

Φr=-Φ1+Φb=kRi+Φb,

(1)

其補償相位包含兩部分,第一部分Φ1為由饋源到反射陣單元的相位延遲;k為空氣中的傳播常數(shù);Ri為反射陣單元到饋源的空間距離;Φb為實現(xiàn)波束指向的相位分布。此時,饋源到反射陣面不同位置的相位延遲為:

Φ1=-k[x2+(lcosθ0)2+(f-lsinθ0)2]1/2,

(2)

式中,f為焦距;x和l分別為反射陣單元在x,y軸的坐標值。

根據(jù)陣列天線理論[5],波束指向θb方向時的陣列單元相位分布滿足:

Φb=klsin(θb-θ0)+Φ0,

(3)

式中,Φ0為固有相位,為一常數(shù)。

根據(jù)反射陣工作原理,反射陣單元的相位補償量為:

Φr=klsin(θb-θ0)+Φ0+

k[x2+(lcosθ0)2+(f-lsinθ0)2]1/2。

(4)

當反射陣面具備如上的補償相位時,由饋源發(fā)出的球面波經(jīng)反射陣面后的相位分布為:

Φs1=klsin(θb-θ0)+Φ0。

(5)

由陣列天線理論可知,此時反射陣的最大輻射方向為θb。至此,反射陣面的相位分布已固化。當反射陣面繞x軸旋轉(zhuǎn)θs時,從饋源到反射陣面的相位延遲變?yōu)椋?/p>

Φ2=-k[x2+(lcos(θ0+θs))2+(f-lsin(θ0+θs))2]1/2。

(6)

此時,由饋源發(fā)出的球面波經(jīng)反射陣面后的相位分布為:

Φs2=klsin(θb-θ0)+Φ0+

k[x2+(lcosθ0)2+(f-lsinθ0)2]1/2-

k[x2+(lcos(θ0+θs))2+(f-lsin(θ0+θs))2]1/2。

(7)

當θ0較小,將式(2)進行二階泰勒展開,近似為:

(8)

(9)

式中,ri為每一個反射陣單元距離坐標原點,即反射面中心的距離。由此可見,此擾動系數(shù)與反射陣單元位置、焦徑比和反射面旋轉(zhuǎn)角度有關(guān)。在反射陣中心位置ri=0,擾動系數(shù)Wi=1,隨著單元遠離中心區(qū)域呈現(xiàn)下降趨勢,邊緣處最小。對于邊緣處單元,ri≈D/2,D為反射陣口徑尺寸,因此邊緣單元的擾動系數(shù)與焦徑比呈正比,焦徑比越大,擾動系數(shù)越接近于1。以反射陣單元中間一列為例,圖2給出了當θs=15°時,不同焦徑比條件下各單元對應(yīng)的擾動系數(shù)變化曲線。分析曲線可以看出,焦徑比越大,全空域范圍內(nèi)擾動系數(shù)越接近于1。同時由于反射陣單元幅度從中心向邊緣遞減,因此對合成波束指向起主要作用的單元集中在中心區(qū)域。由圖2可以看出,當焦徑比大于0.7時,中間區(qū)域單元的擾動系數(shù)近似為1。綜上所述,對于長焦反射陣,為了分析方便,可將此擾動系數(shù)近似為1,即:

圖2 不同焦徑比的擾動系數(shù)

Φs2?klsin(θb-θ0)+Φ0+klsinθs。

(10)

當θb及θ0較小時,根據(jù)三角函數(shù)的和差化積及半角公式,又可做如下近似:

Φs2?klsin(θb-θ0+θs)+Φ0。

(11)

由式(11)可見,當反射陣面繞x軸旋轉(zhuǎn)θs時,其波束指向也偏轉(zhuǎn)了θs。同時應(yīng)當注意,根據(jù)陣列天線理論,此波束偏轉(zhuǎn)是相對于反射陣面法線方向,而由于反射陣面相對于xoy面已經(jīng)旋轉(zhuǎn)了θs,因此相對于xoy面,波束共偏轉(zhuǎn)了2θs??梢酝扑愠?,在保持反射陣饋源不動的情況下,僅旋轉(zhuǎn)反射陣面可以實現(xiàn)反射陣的波束掃描,且反射陣旋轉(zhuǎn)θs,其波束指向近似偏轉(zhuǎn)了2θs,這說明反射陣面的旋轉(zhuǎn)范圍為波束掃描范圍的一半,波束掃描的速度是反射陣面旋轉(zhuǎn)速度的2倍。

根據(jù)陣列天線理論可知,隨著反射陣陣面旋轉(zhuǎn)其掃描波束在不同頻點的指向相同,即波束偏轉(zhuǎn)與頻率無關(guān),因此通過旋轉(zhuǎn)反射陣陣面實現(xiàn)波束掃描的方法是一種寬帶方法。掃描方法的寬帶特性意味著其既可以應(yīng)用在寬帶掃描反射陣中,又可以應(yīng)用在多頻或雙頻反射陣中,掃描方法的寬帶特性是實現(xiàn)雙頻反射陣的必要條件。

2 方法驗證

本文提出了一種適用于雙頻平面反射陣的波束掃描方法,并進行了理論推導(dǎo)。利用反射陣陣列理論[18]對上述掃描方法進行數(shù)值驗證,以論證此掃描方法與本文設(shè)計需求的符合性。

2.1 掃描驗證

首先,與上節(jié)推導(dǎo)假設(shè)一致,選取θb為較小值進行驗證。這里選取的反射陣焦徑比f/D為0.85,初始偏饋角θ0為15°,初始波束指向θb為0°。圖3(a)給出了初始波束指向θb為0°時反射陣方向圖隨旋轉(zhuǎn)角的變化情況。由此可知,隨著反射陣面的旋轉(zhuǎn),其波束指向隨之偏轉(zhuǎn),實現(xiàn)了反射陣的波束掃描。其次,反射陣旋轉(zhuǎn)10°,其波束指向偏轉(zhuǎn)了20°,反射陣旋轉(zhuǎn)20°,其波束偏轉(zhuǎn)了40°,即掃描波束偏轉(zhuǎn)量近似為反射陣面旋轉(zhuǎn)角度的2倍,與上節(jié)的推導(dǎo)一致。

其次,為了驗證此掃描方法的普適性,對θb非較小值情況進行驗證。圖3(b)給出了初始波束指向θb為30°時的情況。此時,當反射陣不旋轉(zhuǎn)時最大波束指向為30°??梢婋S著反射陣面的旋轉(zhuǎn),其波束指向依然隨之發(fā)生偏轉(zhuǎn),證明此方法在θb非較小值時依然可實現(xiàn)波束掃描。當反射陣旋轉(zhuǎn)15°,波束指向約為60°;當反射陣旋轉(zhuǎn)-15°,其波束指向約為0°,即波束偏轉(zhuǎn)量仍然近似為反射陣面旋轉(zhuǎn)角度的2倍??梢?,上節(jié)結(jié)論不僅適用于θb較小的情況,而是具有普適性。

(a) θb=0°

2.2 雙頻驗證

理論推導(dǎo)揭示了該方法具有寬帶特性,可應(yīng)用于雙頻設(shè)計。本小節(jié)給出雙頻數(shù)值驗證。圖4(a)給出初始波束指向θb為30°,反射陣旋轉(zhuǎn)前雙頻的歸一化方向圖,圖4(b)給出反射陣旋轉(zhuǎn)-15°后,雙頻的歸一化方向圖。由此可見,隨著反射陣面的旋轉(zhuǎn),雙頻的波束指向一同隨之發(fā)生偏轉(zhuǎn),且旋轉(zhuǎn)前后雙頻的波束指向相同,驗證了本文提出的掃描方法可應(yīng)用于雙頻掃描反射陣設(shè)計。

(a) 旋轉(zhuǎn)前

3 雙頻掃描反射陣設(shè)計

設(shè)計的雙頻掃描反射陣與上一小節(jié)參數(shù)保持一致,焦徑比f/D為0.85,初始角度θ0為15°,初始波束指向θb為30°。此雙頻反射陣包含了25×25單元,單元呈矩形周期分布,排布間距為60 mm,本文提出的波束掃描方法可適用于多種極化,為了簡便,此處采用垂直極化進行驗證。

單元設(shè)計如圖5所示,單元圖形印制于介電常數(shù)為2.55的印制板上,印制板厚度為2 mm,印制板距離金屬底板的高度為10 mm,單元周期為60 mm。印制圖形為4個寬度為1 mm的圓環(huán),最外環(huán)外半徑為R1,與之相鄰的圓環(huán)外半徑為0.9×R1,通過改變R1的大小以控制低頻相位;第3個圓環(huán)外半徑為R2,最內(nèi)環(huán)外半徑為0.8×R2,通過改變R2的大小以控制高頻相位。圖6(a)給出低頻相位隨R1變化曲線,圖6(b)給出高頻相位隨R2變化曲線,可以看出該單元在2個頻率相位變化范圍均超過360°,滿足雙頻設(shè)計要求,可用于雙頻反射陣設(shè)計。

圖5 反射陣單元示意

(a) 1.575 GHz

根據(jù)式(4)分別計算雙頻所需的補償相位,在不同位置根據(jù)圖6的相位隨尺寸變化曲線選取合適的參數(shù),形成反射陣面如圖7所示。

圖7 反射陣面示意

利用全波算法進行仿真驗證,圖8給出掃描方向圖。當反射陣不旋轉(zhuǎn)時,天線雙頻波束指向均為30°,當反射陣旋轉(zhuǎn)15°,波束在雙頻均掃描至60°,當反射陣旋轉(zhuǎn)-15°,波束在雙頻均掃描至0°,即通過旋轉(zhuǎn)反射陣面實現(xiàn)了雙頻波束掃描,且雙頻的掃描波束指向相一致,與上節(jié)結(jié)論一致。

(a) 1.575 GHz

為進一步驗證此設(shè)計方法,加工實物進行測試驗證。圖9給出雙頻掃描反射陣實物照片。圖10和圖11給出實測結(jié)果與仿真結(jié)果的對比曲線,可見實測結(jié)果與仿真結(jié)果基本吻合,有效地驗證了本文設(shè)計方法的有效性。

圖9 雙頻掃描反射陣實物照片

(a) 0°

(a) 0°

根據(jù)第一節(jié)的理論推導(dǎo),旋轉(zhuǎn)反射陣面相位變化具有連續(xù)性,可知掃描波束也具有連續(xù)性,其增益變化也具有連續(xù)性。表1給出典型掃描角度波束增益值,可以看出,該雙頻掃描反射陣在60°空域范圍內(nèi)掃描波束增益下降小于2 dB,具有良好的雙頻掃描特性。

表1 波束增益值匯總

4 結(jié)束語

本文設(shè)計了一種基于饋源固定的雙頻掃描反射陣,定量對波束掃描方法進行了理論分析,并給出推導(dǎo)過程。通過分析可知該方法具有掃描速度快、寬帶等特性。利用此方法進行雙頻掃描反射陣設(shè)計,并通過25×25單元的雙頻掃描反射陣對此設(shè)計方法進行了驗證,最終在60°空域范圍內(nèi)獲得了良好的雙頻掃描特性,有效地證明了本文設(shè)計方法適用于雙頻掃描反射陣的設(shè)計。

提出的波束掃描方法具有寬帶特性,可進一步基于此方法進行饋源固定的多頻及寬帶反射陣設(shè)計。

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