楊 博，滕 飛，張智昊，李 勇，陳小娟，宋凝芳

（1.北京控制工程研究所，北京 100190；2.北京航空航天大學(xué)，北京 100191）

光纖陀螺是基于光學(xué)Sagnac 效應(yīng)發(fā)展成熟的一款全固態(tài)、高可靠和高精度慣性儀表。目前，干涉式光纖陀螺已在航天、航空和航海領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是在航天器的姿態(tài)控制方面，光纖陀螺能夠?qū)崿F(xiàn)慣性空間姿態(tài)信息的準(zhǔn)確、全面獲取，為航天器的控制提供全方位的數(shù)據(jù)以提升整個(gè)控制系統(tǒng)的精度和穩(wěn)定性[1-5]。

目前，國(guó)際上以美國(guó)的Honeywell 公司、法國(guó)Ixblue 公司、俄羅斯Optilink 公司等為典型代表的宇航級(jí)光纖陀螺產(chǎn)品供應(yīng)商相繼開(kāi)發(fā)出適用不同應(yīng)用需求的光纖陀螺產(chǎn)品，在通信、導(dǎo)航和遙感衛(wèi)星領(lǐng)域得到了大量的應(yīng)用。以美國(guó)為例，2016年有報(bào)道稱(chēng)Honeywell 公司研制的最高精度光纖陀螺的零偏穩(wěn)定性已達(dá)到0.00003°/h、隨機(jī)游走0.000016°/h[6]。歐洲的光纖陀螺研發(fā)工作主要集中在法國(guó)，其中法國(guó)Ixblue 公司和歐洲空客防務(wù)航天公司（ADS）聯(lián)合研制的Astrix200 為一款四通道IMU 產(chǎn)品，采用分體式單通道結(jié)構(gòu)組成3 斜裝1 正裝產(chǎn)品，組件重量約7.5 kg、精度0.0005°/h 的技術(shù)指標(biāo)，并在Pleiades 衛(wèi)星等型號(hào)上得到推廣應(yīng)用[7]。俄羅斯在宇航級(jí)高精度光纖陀螺的研制方面采用的是一體化單通道設(shè)計(jì)理念，通過(guò)對(duì)單軸的光路和檢測(cè)電路進(jìn)行優(yōu)化后，SRS5000 單通道產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)Φ250 mm×45 mm 尺寸下隨機(jī)游走系數(shù)優(yōu)于0.00015°/h 的指標(biāo)，并基于此開(kāi)發(fā)出了3 正交、3 斜裝捷聯(lián)慣導(dǎo)系統(tǒng)[8]。

光子晶體光纖的基本原理是通過(guò)對(duì)周期性的微結(jié)構(gòu)孔進(jìn)行優(yōu)化以實(shí)現(xiàn)高雙折射、弱溫度相關(guān)性等光學(xué)性能，基于其典型結(jié)構(gòu)特性，在光纖制作過(guò)程中僅需一種材料，因此不涉及到普通保偏光纖由摻雜帶來(lái)的損耗在輻照環(huán)境下急劇增大的缺點(diǎn)[9-11]。這種特性在空間領(lǐng)域能夠顯著提升光纖陀螺的抗輻照性從而提升壽命。而在近年來(lái)，隨著我國(guó)偵察、測(cè)繪等遙感衛(wèi)星平臺(tái)的對(duì)地分辨率逐步提高，為了保證衛(wèi)星平臺(tái)的高穩(wěn)定度，需要光纖陀螺具有較高的測(cè)量精度，同時(shí)還需盡量減小測(cè)量噪聲并提高分辨率。另一方面，為了進(jìn)一步提升敏感器的在軌壽命，需要光纖陀螺在輻照和復(fù)雜溫變環(huán)境下具備較強(qiáng)的適應(yīng)性。

針對(duì)此，本文提出開(kāi)展高精度光子晶體光纖陀螺技術(shù)研究，通過(guò)對(duì)實(shí)芯光子晶體光纖的特性進(jìn)行優(yōu)化，完成高性能光子晶體光纖的設(shè)計(jì)、拉制及光子晶體光纖環(huán)的繞制，同時(shí)對(duì)限制陀螺精度提升的檢測(cè)方法進(jìn)行優(yōu)化，實(shí)現(xiàn)零漂優(yōu)于0.001°/h 的技術(shù)指標(biāo)，并開(kāi)展在軌性能驗(yàn)證。

1 光子晶體光纖陀螺原理及設(shè)計(jì)

光子晶體光纖陀螺的基本原理如圖1所示，組成上包括敏感環(huán)組件、光源組件和檢測(cè)電路等。光源組件包括ASE 光源和耦合器，敏感環(huán)組件包括光電調(diào)制器和光纖環(huán)等，其中光纖環(huán)由光子晶體光纖繞制而成。檢測(cè)電路以FPGA 為核心進(jìn)行閉環(huán)檢測(cè)，基本原理是通過(guò)檢測(cè)光纖環(huán)中順逆時(shí)針光波由旋轉(zhuǎn)引起的光程差，經(jīng)數(shù)字電路處理后得到外界的角速率信息。

圖1 光子晶體光纖陀螺原理簡(jiǎn)圖Fig.1 Schematic diagram of photonic crystal fiber gyroscopes

光子晶體光纖陀螺與保偏光纖陀螺的最大區(qū)別是采用光子晶體光纖進(jìn)行超長(zhǎng)距離光纖環(huán)的繞制，同時(shí)為了滿足宇航領(lǐng)域復(fù)雜環(huán)境工況對(duì)高精度和高可靠性的需求，產(chǎn)品在開(kāi)發(fā)過(guò)程中重點(diǎn)從如下方面開(kāi)展設(shè)計(jì)工作：

1.1 光子晶體光纖及光纖環(huán)

光子晶體光纖是通過(guò)在光纖端面設(shè)計(jì)不同排布方式的空氣孔以實(shí)現(xiàn)具有特定特性的特種光纖，作為近些年來(lái)逐步發(fā)展成熟的新一代光纖類(lèi)型，光子晶體光纖以其潛在的抗輻照、溫度弱敏感特性在宇航領(lǐng)域具有巨大的潛在應(yīng)用前景。光子晶體光纖在工程應(yīng)用方面不可避免地要跟保偏光纖熔接，因此兩種光纖的模場(chǎng)匹配是重點(diǎn)考慮對(duì)象，為了解決模場(chǎng)不匹配帶來(lái)的損耗增大、可靠性差的難題，需要對(duì)光子晶體光纖的模場(chǎng)和雙折射進(jìn)行分析，結(jié)合工程化需求完成光子晶體光纖的端面設(shè)計(jì)。由于光波在光子晶體光纖中的傳輸同樣遵循電磁場(chǎng)的基本定律，即Maxwell 方程組：

式(1)-(4)中，ρ為電荷密度：B、H、D和E分別表示磁感強(qiáng)度、磁場(chǎng)強(qiáng)度、電感強(qiáng)度和電場(chǎng)強(qiáng)度。為此，本文基于矢量有限元模型，對(duì)Maxwell 方程組進(jìn)行求解，并加入邊界條件后可對(duì)光子晶體光纖的模場(chǎng)特性進(jìn)行分析。通過(guò)對(duì)光子晶體光纖的端面進(jìn)行建模，得到了如式(5)所示的模場(chǎng)面積：

在式(5)中，Et為求解得到的光纖截面電場(chǎng)分布，S為光纖的截面面積。

光子晶體光纖的雙折射B可以表示如下：

本文提出的光子晶體光纖結(jié)構(gòu)如圖2(a)所示，通過(guò)矢量有限元方法對(duì)模場(chǎng)分布進(jìn)行了仿真分析及優(yōu)化，實(shí)現(xiàn)了模場(chǎng)直徑小于8 μm 的技術(shù)指標(biāo)?；诖?，還開(kāi)展了實(shí)芯光子晶體光纖的拉直，端面實(shí)物照片如圖2(b)所示。測(cè)試結(jié)果表明，光子晶體光纖的串音實(shí)測(cè)值＜-24 dB/km、損耗＜1.1 dB/km。

圖2 實(shí)芯光子晶體光纖Fig.2 Solid-core photonic crystal fiber

根據(jù)理論分析，光纖陀螺的精度受限于散粒噪聲、光源相對(duì)強(qiáng)度噪聲、暗電流和探測(cè)器熱噪聲，四類(lèi)噪聲源產(chǎn)生的機(jī)理各異，各自為獨(dú)立隨機(jī)過(guò)程，滿足功率疊加原理。隨機(jī)游走系數(shù)RWC 如式(7)所示。

式(7)中各個(gè)參數(shù)的物理量意義如表1所示。

表1 仿真參數(shù)Tab.1 Simulation parameters

基于光子晶體光纖長(zhǎng)壽命的潛力，本文開(kāi)展了光子晶體光纖技術(shù)在0.001°/h 光纖陀螺產(chǎn)品中的應(yīng)用研究，由于產(chǎn)品精度與LD 密切相關(guān)，光纖環(huán)的尺寸受產(chǎn)品結(jié)構(gòu)及體積約束，為了在盡可能提升精度的同時(shí)保證產(chǎn)品的緊湊性設(shè)計(jì)，同時(shí)實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的可制造性，本文通過(guò)式(7)對(duì)產(chǎn)品的精度進(jìn)行了理論分析，分析了隨機(jī)游走系數(shù)與光纖長(zhǎng)度的關(guān)系如圖3(a)所示。當(dāng)光纖長(zhǎng)度為 3800 m 時(shí)，隨機(jī)游走系數(shù)為9.812×10-5°/。據(jù)此，設(shè)計(jì)的光纖環(huán)尺寸如圖3(b)所示，高度和寬度分別為22 mm 和11 mm。

圖3 光纖環(huán)設(shè)計(jì)Fig.3 Design of fiber ring

0.001°/h 精度產(chǎn)品需繞制數(shù)公里長(zhǎng)的光子晶體光纖，因此需開(kāi)展超長(zhǎng)距離光子晶體光纖環(huán)繞制技術(shù)研究。繞環(huán)時(shí)如果光纖張力過(guò)大或控制不穩(wěn)會(huì)使光纖環(huán)內(nèi)部產(chǎn)生寄生應(yīng)力，甚至破壞光子晶體光纖的特性，使得偏振串音增加，帶來(lái)強(qiáng)度或相位噪聲，導(dǎo)致光纖環(huán)性能下降。張力的控制主要難點(diǎn)在于繞環(huán)全過(guò)程無(wú)法保持張力穩(wěn)定，尤其是在每層的邊緣或換層時(shí)張力有一個(gè)突變，導(dǎo)致光纖環(huán)性能變差。通過(guò)優(yōu)化張力控制方法，保證繞環(huán)過(guò)程中張力精確、穩(wěn)定。針對(duì)此，項(xiàng)目組完成了精確動(dòng)態(tài)張力控制方法的研究及脫骨架光纖環(huán)繞制工藝的改進(jìn)，最終完成3800 m 光子晶體光纖環(huán)的繞制，實(shí)物照片如圖4(b)所示。

圖4 光子晶體光纖環(huán)照片F(xiàn)ig.4 Photos of photonic crystal fiber ring

1.2 高功率ASE 光源

在高精度光子晶體光纖陀螺中，光子晶體光纖的損耗與傳統(tǒng)保偏光纖相比仍然較大，因此為了保證到達(dá)檢測(cè)電路的光信號(hào)滿足高信噪比檢測(cè)的要求，同時(shí)保證光譜的對(duì)稱(chēng)性，從而降低非互易相移，對(duì)ASE 光源提出了功率大于5 mW、光譜應(yīng)為高斯型的應(yīng)用需求，本文針對(duì)此提出開(kāi)展介質(zhì)薄膜濾波技術(shù)在雙程前向ASE 光源結(jié)構(gòu)中的應(yīng)用研究，通過(guò)設(shè)計(jì)光學(xué)濾波器實(shí)現(xiàn)高斯譜型，從而有效抑制典型“雙峰”光譜由環(huán)境波動(dòng)導(dǎo)致的性能波動(dòng)。

ASE 光源的原理框圖如圖5(a)所示，組成上包括泵浦激光器、波分復(fù)用器、摻鉺光纖、反射鏡和隔離器五個(gè)光學(xué)器件。本文通過(guò)對(duì)摻鉺光纖的長(zhǎng)度和泵浦激光器的功率進(jìn)行優(yōu)化，得到了如圖5(b)所示的典型“雙峰”光譜，同時(shí)為了得到高斯型光譜，采用介質(zhì)薄膜濾波技術(shù)設(shè)計(jì)了光學(xué)濾波器以實(shí)現(xiàn)光譜整形。

圖5 ASE 光源方案Fig.5 Schematic diagram of ASE source

介質(zhì)薄膜濾波器的原理是基于光的干涉現(xiàn)象，光信號(hào)在入射到介質(zhì)表面時(shí)其透過(guò)率、反射率隨著波長(zhǎng)和介質(zhì)厚度發(fā)生改變，透射原理如圖6所示。

圖6 介質(zhì)薄膜濾波原理圖Fig.6 Schematic diagram of thin film filter

通過(guò)對(duì)“雙峰”光譜進(jìn)行分析，結(jié)合介質(zhì)薄膜濾波原理設(shè)計(jì)了如圖6(c)所示透射譜的濾波器方案，并實(shí)現(xiàn)了在ASE 光源上的性能驗(yàn)證，光功率在6.3 mW以上，實(shí)測(cè)光譜如圖7所示：光源譜寬和中心波長(zhǎng)分別為11.7024 nm 和1557.9671 nm。

圖7 高斯型ASE 光源Fig.7 ASE source with Gauss type

1.3 閉環(huán)檢測(cè)方案

本文中提出的檢測(cè)電路原理框圖如圖8所示，經(jīng)探測(cè)器采集到的信號(hào)由ADC 采集后進(jìn)入FPGA 進(jìn)行檢測(cè)算法處理，之后經(jīng)DAC1 輸出給Y 波導(dǎo)進(jìn)行調(diào)制。同時(shí)，設(shè)計(jì)時(shí)采用了一塊輔助DAC2 進(jìn)行DAC1 參考電壓的調(diào)諧以補(bǔ)償Y 波導(dǎo)半波電壓波動(dòng)帶來(lái)的誤差。本方案中，經(jīng)解調(diào)算法處理后的信號(hào)通過(guò)后放加載在Y 波導(dǎo)上，從而實(shí)現(xiàn)高精度閉環(huán)控制。最終，F(xiàn)PGA實(shí)現(xiàn)外界角速率的算法解調(diào)并通過(guò)RS422 串口輸出。

圖8 閉環(huán)檢測(cè)方案Fig.8 Scheme of closed-loop detection

2 研制、驗(yàn)證及應(yīng)用

針對(duì)光子晶體光纖的潛在優(yōu)勢(shì)，在2015～2021年開(kāi)展了光子晶體光纖陀螺技術(shù)的專(zhuān)項(xiàng)試驗(yàn)驗(yàn)證。

2.1 研制試驗(yàn)及性能驗(yàn)證

2.1.1 熔點(diǎn)可靠性驗(yàn)證

裝配過(guò)程中需要進(jìn)行光子晶體光纖與普通保偏光纖的熔接，為了實(shí)現(xiàn)兩種光纖熔接時(shí)的高可靠、低損耗特性，通過(guò)對(duì)熔接機(jī)放電時(shí)間、放電強(qiáng)度進(jìn)行綜合優(yōu)化，實(shí)現(xiàn)高可靠熔接，并制作了8 個(gè)雙熔點(diǎn)子樣（如圖9所示）進(jìn)行可靠性試驗(yàn)，重點(diǎn)對(duì)由雙熔點(diǎn)損耗、串音在經(jīng)歷熱循環(huán)和熱真空試驗(yàn)后的特性進(jìn)行摸底，8 個(gè)雙熔點(diǎn)子樣在經(jīng)歷100.5 次熱循環(huán)（-35 ℃～70 ℃，1 高溫1 低溫計(jì)為1 次循環(huán)，試驗(yàn)結(jié)束后升溫到高溫結(jié)束為0.5 次循環(huán)）和50.5 次熱真空（-35 ℃～70 ℃，≤6.65×10-3Pa）試驗(yàn)后，偏振串音仍能滿足＜-20 dB，且每個(gè)雙熔點(diǎn)的損耗無(wú)明顯波動(dòng)，通過(guò)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行對(duì)比可以看出，雙熔點(diǎn)的損耗均＜0.2 dB。

圖9 可靠性試驗(yàn)（熔點(diǎn)子樣）Fig.9 Reliability test（Splice sample）

2.1.2 微弱信號(hào)檢測(cè)與噪聲抑制技術(shù)

高精度光子晶體光纖陀螺光路損耗增加，導(dǎo)致到達(dá)探測(cè)器信號(hào)的信噪比降低，影響陀螺精度。此外，宇航級(jí)檢測(cè)電路選用的高等級(jí)元器件干擾抑制能力降低，同樣影響陀螺精度。為保證陀螺精度，需專(zhuān)門(mén)開(kāi)展微弱信號(hào)檢測(cè)技術(shù)研究，設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了基于SiP 的光纖陀螺專(zhuān)用集成芯片，實(shí)現(xiàn)了分立器件到SiP 芯片在高精度光纖陀螺產(chǎn)品級(jí)的性能驗(yàn)證，芯片與檢測(cè)電路實(shí)物圖如圖10所示。

圖10 全國(guó)產(chǎn)化性能驗(yàn)證Fig.10 Localization performance verification

通過(guò)采用芯片集成技術(shù)，降低了電路分布電容，同時(shí)可以有效縮短去耦和濾波電容與集成芯片的距離，實(shí)現(xiàn)了階梯波信號(hào)和探測(cè)器信號(hào)串?dāng)_及電路噪聲的有效抑制，使用分立器件搭建的驗(yàn)證電路與集成芯片的測(cè)試曲線如圖11所示。

圖11 陀螺采集數(shù)據(jù)Fig.11 Data of gyroscope

2.1.3 工程化設(shè)計(jì)

在光纖陀螺研制初期，為了實(shí)現(xiàn)小型化、低功耗的緊湊型產(chǎn)品，光路和電路在方案設(shè)計(jì)時(shí)采用了一體化設(shè)計(jì)思路，以光電探測(cè)器為例，早期的產(chǎn)品設(shè)計(jì)時(shí)光電探測(cè)器直接焊接于PCB 板上，光電器件、電路板、結(jié)構(gòu)和光纖存在嚴(yán)重混裝，在批量研制時(shí)存在裝配復(fù)雜、光纖易損傷及調(diào)測(cè)試時(shí)光路電路無(wú)法解耦的難題。針對(duì)此，本文對(duì)光電探測(cè)器的微弱信號(hào)進(jìn)行分析，設(shè)計(jì)專(zhuān)用降噪方法，將檢測(cè)電路與探測(cè)器物理解耦，實(shí)現(xiàn)光路組件和檢測(cè)電路的完全獨(dú)立研制、裝配。圖12為光電分離方案的示意圖，將單通道產(chǎn)品按照模塊化研制，劃分為光路組件和檢測(cè)電路兩部分，裝配時(shí)光路和電路之間的連接采用甩線電連接的方式，這樣在產(chǎn)品批量研制時(shí)能夠獨(dú)立開(kāi)展各部分的生產(chǎn)、篩選和裝配，保證可測(cè)試性和一致性。

圖12 單通道產(chǎn)品光電分離實(shí)物及隨機(jī)游走測(cè)試曲線Fig.12 Photos and RWC test of single axis gyroscope

基于此，研制了3 斜裝構(gòu)型的光子晶體光纖陀螺組件，并開(kāi)展了熱力分析。整機(jī)的一階諧振頻率約為748.83 Hz，結(jié)構(gòu)整體可靠，剛度和強(qiáng)度均能滿足衛(wèi)星的應(yīng)用需求；熱仿真表明，當(dāng)環(huán)境溫度為45 ℃時(shí)，整機(jī)的溫度范圍為45 ℃～46.41 ℃，整機(jī)散熱特性較好，如圖13所示。

圖13 光子晶體光纖陀螺組合件特性分析Fig.13 Characteristic analysis of 3S inertial core unit

2.2 在軌驗(yàn)證

2.2.1 天舟一號(hào)貨運(yùn)飛船

在驗(yàn)證了真空條件下光子晶體光纖空氣孔、熔點(diǎn)等可靠性的前提下，分階段開(kāi)展了光子晶體光纖技術(shù)的在軌應(yīng)用驗(yàn)證。2017年4月20日19 時(shí)41 分，樣機(jī)隨天舟一號(hào)貨運(yùn)飛船在海南文昌成功發(fā)射。4月29日，光子晶體光纖陀螺開(kāi)展了在軌加斷電檢查和性能驗(yàn)證，在軌遙測(cè)判讀表明，光子晶體光纖陀螺工作狀態(tài)良好，初步驗(yàn)證了光子晶體光纖在真空環(huán)境下的適應(yīng)性。圖14(b)為在軌遙測(cè)數(shù)據(jù)，通過(guò)對(duì)比，光子晶體光纖陀螺在軌噪聲水平與實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果相當(dāng)。

圖14 天舟一號(hào)搭載驗(yàn)證Fig.14 On orbit verification of Tian-zhou-1

2.2.2 實(shí)踐二十衛(wèi)星搭載

為進(jìn)一步驗(yàn)證光子晶體光纖在高精度光纖陀螺產(chǎn)品中的應(yīng)用潛力，2019年12月27日，單通道光子晶體光纖陀螺隨實(shí)踐二十號(hào)衛(wèi)星開(kāi)展在軌整體性能評(píng)估，驗(yàn)證超長(zhǎng)光子晶體光纖環(huán)和光電分離方案在空間環(huán)境下的適應(yīng)性，截至目前，產(chǎn)品已在軌24 個(gè)月，圖15(b)為在軌數(shù)據(jù)，在軌評(píng)估精度為0.00194°/h。

圖15 SJ-20 驗(yàn)證Fig.15 On board verification of SJ-20

2.2.3 新技術(shù)驗(yàn)證七號(hào)衛(wèi)星搭載

通過(guò)天舟一號(hào)貨運(yùn)飛船和實(shí)踐二十衛(wèi)星對(duì)光子晶體光纖陀螺核心技術(shù)的驗(yàn)證表明，高精度光子晶體光纖陀螺已經(jīng)具備空間應(yīng)用的技術(shù)狀態(tài)。

2020年12月22日，高精度光子晶體光纖陀螺3S組件隨新技術(shù)驗(yàn)證七號(hào)衛(wèi)星完成首飛，并實(shí)現(xiàn)衛(wèi)星姿態(tài)的高精度測(cè)量及控制，通過(guò)分析衛(wèi)星三軸姿態(tài)的穩(wěn)定度可得出如下結(jié)論：使用3S 高精度光子晶體光纖陀螺組件定姿時(shí)，整星的三軸姿態(tài)穩(wěn)定度約為0.000046°/s～0.000055°/s（3σ），優(yōu)于其他姿態(tài)敏感器的控制精度，充分驗(yàn)證高精度光子晶體光纖陀螺在衛(wèi)星姿態(tài)控制方面應(yīng)用的可能性。

圖16 衛(wèi)星三軸姿態(tài)角速度誤差Fig.16 Three axis attitude angular velocity error

3 結(jié) 論

本文針對(duì)超長(zhǎng)壽命衛(wèi)星應(yīng)用需求，開(kāi)展光子晶體光纖技術(shù)在高精度光纖陀螺產(chǎn)品方面的應(yīng)用研究，完成了低損耗、高可靠光子晶體光纖的研制，并開(kāi)展熔點(diǎn)可靠性、超長(zhǎng)距離光子晶體光纖環(huán)和高性能光電分離檢測(cè)方案的在軌驗(yàn)證，實(shí)現(xiàn)了衛(wèi)星姿態(tài)的高精度測(cè)量及控制，充分驗(yàn)證了光子晶體光纖在高精度光纖陀螺產(chǎn)品工程化方面的可靠性，具備在超長(zhǎng)壽命衛(wèi)星平臺(tái)推廣應(yīng)用的條件。針對(duì)此，后續(xù)擬從如下方面開(kāi)展光子晶體光纖陀螺技術(shù)的進(jìn)一步研究：（1）從衛(wèi)星對(duì)慣性姿態(tài)敏感器10～20年壽命的應(yīng)用需求，進(jìn)一步完善光子晶體光纖環(huán)的空間適應(yīng)性設(shè)計(jì)，積累抗輻照數(shù)據(jù)，全面提升產(chǎn)品的整體性能；（2）開(kāi)展光子晶體光纖技術(shù)在超高精度光纖陀螺中的應(yīng)用研究，并推廣應(yīng)用于高分辨率遙感衛(wèi)星平臺(tái)。