陳志豪,盧敏,李澤強,李偉
(1. 南京航空航天大學 機電學院,江蘇 南京 210016;2. 洛陽軸承研究所有限公司,河南 洛陽 471039;3. 中國航空工業(yè)集團公司金城南京機電液壓工程研究中心,江蘇 南京 211100)
直升機的三大運動部件分別是發(fā)動機、傳動系統(tǒng)和旋翼系統(tǒng)。傳動系統(tǒng)連接發(fā)動機與旋翼系統(tǒng),以實現(xiàn)動力的有效傳遞。因此,傳動系統(tǒng)的力學性能與可靠性是直升機整體運行性能的關鍵點。斜撐離合器作為傳動系統(tǒng)的重要部件之一,具有質量輕、承載能力大、離合可靠的特點。因此大量裝載于直升機傳動系統(tǒng)中,實現(xiàn)發(fā)動機與主減速器的離合,起到單向傳遞轉矩的作用。
在斜撐離合器相關的研究方面,國內外學者作了相關的理論和技術探討,研究內容主要集中于結構設計、動力學特性、摩擦磨損、表面涂層等方面。如KISH J[1]在報告中給出了離合器的詳細設計理論與計算方法,并列出了幾種常用的斜撐塊規(guī)格。ZHANG F等[2]提出了一種漸開線與偏心圓弧相結合的楔形型面,在增加承載力的同時減少了接觸應力。HUANG C等[3-4]運用非線性迭代方法計算斜撐塊法向接觸力,并以此修正斜撐塊幾何型面,達到均衡接觸應力的目的。LIU Z H等[5]運用行星齒輪模型模擬離合器結構件的運動,并借助Hunt-Crossley接觸沖擊理論計算滾道和斜撐塊的接觸應力,據(jù)此進行離合器的設計與分析。QING M H等[6-7]通過ADAMS軟件建模仿真,證實了制造誤差將導致離合器承載能力的下降,并提出了離合器磨損失效的判定標準。JIANG Y Y等[8]運用化學氣相沉積技術提高斜撐塊表面的耐磨性,低循環(huán)疲勞壽命測試結果顯示,相比物理氣相沉積法,壽命提高了5倍。朱楚等[9]分析了楔塊與內環(huán)滾道表面磨損量對離合器自鎖、總徑向變形、楔塊的接觸角、接觸應力等力學性能參數(shù)的影響。嚴宏志等[10]采用分解法及坐標變換建立了楔塊質心位置模型,采用ADAMS軟件建立了斜撐離合器動力學模型,研究了不同質心位置的楔塊對接觸力及離合器接合、脫開性能的影響規(guī)律。韓紅雨等[11]根據(jù)離合器的設計需求,研制了測試離合器單項靜態(tài)性能的試驗機,能夠進行離合器承載能力和滑溜角的測量。
上述前人的研究工作,對離合器的設計制造具有良好的參考作用,但在一些重要的基礎性細節(jié)方面,如斜撐塊的有效升程方面缺乏相應的討論和研究。因此,專業(yè)人員在進行離合器的相關設計與計算時,大多直接參考標準斜撐塊的推薦值,以此作為設計依據(jù)和校核標準。事實上,斜撐塊有效升程會隨著離合器的結構差異而不同,若采用統(tǒng)一的推薦數(shù)據(jù)來校核新設計的離合器結構,其結果是不準確的。
以常用的圓弧型斜撐塊為研究對象,考察其運動特征,得出有效升程的優(yōu)化策略。在此基礎上,借鑒軸承運動學原理和凸輪輪廓設計中的反轉法,分別提出相應的求解算法計算離合器的有效升程。最后,選取若干標準楔塊為對象,對本文的優(yōu)化策略和算法進行相互驗證與對比??梢灶A見,有效升程的優(yōu)化與準確計算,是離合器正向設計的重要組成部分,對估算離合器的極限載荷也有重要的意義。
圓弧型面的斜撐塊,其與滾道接觸的上下兩個弧面,是由兩個偏心圓弧組成,如圖1(a)所示。隨著發(fā)動機轉矩載荷的施加,斜撐塊從Q點和C點開始楔入傳動。若不斷增大載荷,則斜撐塊逐漸翻轉至最大升程,即圖1(b)中的Q′和C′邊界點,直至翻越失效。此時斜撐塊翻轉達到的最大高度與初始楔合高度之間的差值,被稱為斜撐塊的升程[1]。(說明:圖1(b)中的虛線為內外滾道受斜撐塊擠壓變形前的初始位置)
圖1 斜撐塊的升程
有效升程關系式為
Sr=Hmax-Hnom
(1)
進一步可得,在給定斜撐塊寬度b的條件下,斜撐塊在臨界翻轉時,若斜撐塊內外圓弧的邊界點分別與內軸和外套同時接觸(圖1(b)中所示狀態(tài)),則斜撐塊的升程將取得最大值。此時斜撐塊內外圓弧的分布必須是均衡的,若任意圓弧提前達到翻轉極限,則不能取得升程最大值。下面以此論斷作為斜撐塊有效升程的優(yōu)化策略與依據(jù),提出兩種方法從理論上求解離合器斜撐塊的有效升程。
如圖2所示,隨著轉矩載荷的施加,斜撐塊從Q點和C點開始楔入傳動。若不斷增大載荷,則斜撐塊在內外滾道之間逐漸滾動翻轉。離合器部件一般由內外滾道、斜撐塊、保持架、阻尼彈簧等結構件組成。因此,在運動特征和結構特征兩方面,斜撐離合器與滾動軸承都具有較強的相似性,進而可參照軸承的運動學原理[12],得出斜撐塊運動規(guī)律:在斜撐塊楔入滾道傳動至臨界翻轉的過程中,斜撐塊相對于內軸的滾動行程與斜撐塊相對于外套的滾動行程相等,即存在弧長CC′=QQ′,可改寫為運動學關系式
圖2 斜撐塊的結構與參數(shù)
ri·θi=r0·θ0
(2)
在圖2中,ri、r0、α、b、Z5個參數(shù)與J0相匹配,作為斜撐塊的規(guī)格常數(shù)。其中ri、r0為斜撐塊的內外圓弧型面的半徑;α、b和Z分別為斜撐塊的中心角、寬度和圓心距;J0為斜撐塊的規(guī)格參數(shù)。設A、B和O分別為斜撐塊內外圓弧和滾道的中心;Di、D0為內外圓弧中心分別向斜撐塊邊線作垂線的垂足點;Q′、C′分別為內、外圓弧與滾道的翻轉接觸邊界點。進一步地,設Ri、R0為內軸、外套的半徑;設L0D為斜撐塊外圓弧圓心至邊線的垂直距離。設φ分別為兩圓弧中心A、B與滾道中心O連線之間的夾角;設Ω為斜撐塊的轉角。此外,設θi、θ0為斜撐塊翻轉至邊界點時的轉角;設βi、β0為斜撐塊內外圓弧邊界點所在半徑與斜撐塊寬度方向的夾角。下面推導上述參數(shù)之間的關系。
考察斜撐塊的結構與楔合特點,在ΔOAB中存在余弦關系式
(3)
和正弦關系式
(4)
另外,容易得出:
Ω=∠OAB-π/2-α
(5)
式(3)-式(5)表達了斜撐塊結構參數(shù)及相關變量之間的數(shù)量關系。在此基礎上,可進一步得到
(6)
和寬度b關系式
b=ricosβi+Zcosα+r0cosβ0
(7)
由式(2)-式(7)可求得轉角θi、θ0,進一步得到邊距L0D。可以得出,參數(shù)L0D的意義在于:選定斜撐塊規(guī)格參數(shù)和內外滾道半徑后,可運用等行程法求得邊距參數(shù)L0D,使得離合器的有效升程取得優(yōu)化值。
另外,在ΔOAB中存在余弦關系式
(8)
由此可以得到Q、C兩點距離
(9)
最終,根據(jù)式(1)可得結構優(yōu)化后的斜撐塊最大升程值:
(10)
式中Sry1為等行程法所得斜撐塊有效升程。
在用作圖法設計凸輪輪廓曲線時[14],常采用反轉法設計凸輪的輪廓曲線,其基本原理是假設凸輪相對靜止不動,而頂桿繞凸輪中心作等角速度旋轉運動。由于頂桿的尖頂始終與凸輪輪廓曲線接觸,因此尖頂?shù)倪\動軌跡就是凸輪的輪廓曲線。斜撐塊與凸輪都類屬于偏心旋轉結構,且在運動過程中始終與相鄰結構件存在邊緣接觸行為。因此,離合器的正向設計與研究,可借鑒凸輪的相關理論與方法。
圖3 仿凸輪反轉算法
在圖3中,φ′為旋轉后圓心連線的新夾角;t為內圓弧圓心至斜撐塊對應邊緣的距離;類似地,L0T為斜撐塊外圓弧圓心至邊線的垂直距離,其他參數(shù)的意義與圖2相同。在ΔQ′BDi中,存在關系式
(11)
和關系式∠ABO′=π-∠Q′BDi-α;在ΔO′AB中,存在關系式
(12)
b=L0T+Zcosα+t
(13)
(14)
同理,根據(jù)式(1)與式(10)可得結構優(yōu)化后的斜撐塊最大升程值,設為Sry2。顯然,Sry2為仿凸輪反轉法計算所得的斜撐塊有效升程。
文獻[2]中的斜撐塊規(guī)格與參數(shù),是當前離合器設計與制造的主要參考對象,其相關原始數(shù)據(jù)如表1所示??疾毂疚年P于有效升程的兩種算法,需增設內外滾道的半徑參數(shù)Ri和R0,并據(jù)此分別求得邊距L0D和L0T,最終得到有效升程Sry1和Sry2。將以上參數(shù)與結果數(shù)據(jù)合并列于表2中。表1、表2中的基本斜撐塊規(guī)格J0分成A、B、C三種,分別為A=6.300 0 mm;B=8.331 0 mm;C=12.700 0 mm。
表1 常用斜撐塊參數(shù)
表2 實例新增參數(shù)與有效升程
分析表1和表2數(shù)據(jù)以及文中的分析與推導,可以得出以下幾點:
1)斜撐塊的結構參數(shù)需進行適當調整。在表1的原始參數(shù)中,應增設邊距參數(shù),同時求解有效升程。其原因在于:寬度參數(shù)與邊距參數(shù)結合,才能使得斜撐塊的結構完全定形,這對于正向設計是非常重要的;兩種求解算法表明,有效升程與內外滾道半徑也是密切相關的。因此它本質上是一個變量,表1中的有效升程應歸類為推薦值。
2)斜撐塊的結構優(yōu)化策略是有效的。在不改變原始結構參數(shù)的條件下,僅在寬度方向增設邊距參數(shù),使斜撐塊內外圓弧面與對應滾道的有效楔合弧長合理分配,當斜撐塊受載翻轉時內外圓弧邊界點同為翻轉接觸點,從而獲得最大升程。表2中的結果驗證了此優(yōu)化策略的有效性:相比表1中的推薦值,兩者的平均增長率分別達到了34.274%、36.099%和22.557%。在前人的文獻中對此結構細節(jié)的研究較少,但對離合器的整體性能來說,卻是非常重要的。
3)等行程算法與仿凸輪反轉算法相互驗證,結果表明兩種算法是可行的?;谖闹械膬?yōu)化策略,借鑒軸承及凸輪的運動學原理和設計方法,分別對斜撐塊結構特征進行解析,推導出有效升程的計算方法和新的邊距參數(shù)。將表2中兩種算法得到的升程進行對比,相對偏差只有0.081%、0.089%和1.336%。即兩種算法所得結果非常接近,離散性很小,因此它們是有效且相對準確的。
4)文中的兩種算法是有一定誤差的。首先,等行程算法基于滾動軸承中圓球形滾子的運動特征,但斜撐塊的結構是基于兩個偏心的圓弧,楔合翻轉過程中的內外滾道和斜撐塊本身都發(fā)生擠壓變形,以致離合器的各結構參數(shù)發(fā)生變化,因此計算結果也相應存在誤差。這里參考形位公差中圓度的確定方法,來進行斜撐塊誤差的度量,可表示為關系式
(15)
式中ε為斜撐塊的圓度誤差。下面將優(yōu)化后的3種標準斜撐塊的ε值列于表3中。
表3 斜撐塊的圓度誤差
可見,斜撐塊的圓度誤差在5%左右,這是導致有效升程的求解結果具有一定誤差的原因。其次,仿凸輪反轉算法將斜撐塊視為剛體,以致變形集中發(fā)生于內軸,故據(jù)此求解的結果與實際變形也存在差異,因此也是有一定誤差的。
本文提出的關于斜撐離合器有效升程的優(yōu)化策略及求解算法,是以圓弧型面的離合器為研究對象的。但鑒于摩擦式離合器工作原理的相似性,本文所涉及的原理和算法可以覆蓋強制約束和全相位兩種類型的離合器結構,也可以覆蓋諸如阿基米德螺線型面和對數(shù)螺線型面等其他結構形式的離合器。