劉星汛,程先友,黃承祖
(1.北京無線電計(jì)量測試研究所,北京 100039;2.防化研究院國民核生化災(zāi)害防護(hù)國家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,北京 102205)
天線平面近場測量[1-3]是根據(jù)平面波展開理論,采用一個特性已知的探頭,在待測天線近場區(qū)的特定口面場進(jìn)行掃描,采集掃描面上的幅度和相位信息,采用付氏算法[4,5]將近場幅度相位還原成遠(yuǎn)場輻射方向圖。 平面近場測量要求口面場采樣點(diǎn)的定位誤差為λ/50~λ/100 之間,一般機(jī)械掃描架定位精度在(0.02~0.05) mm 左右,目前大部分平面近場測量系統(tǒng)的測量頻率在110 GHz 以下,北京無線電計(jì)量測試研究所研發(fā)了機(jī)械臂平面近場天線測試系統(tǒng)[6-8]實(shí)現(xiàn)了(110~170) GHz 的天線平面近場校準(zhǔn)。
(110~170) GHz 天線平面近場測量系統(tǒng)示意圖如圖1 所示,由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、毫米波控制器、矢網(wǎng)擴(kuò)頻模塊、六軸機(jī)械臂系統(tǒng)、六自由度平臺和掃描探頭等硬件組成。
圖1 (110~170)GHz 天線平面近場測量系統(tǒng)示意圖Fig.1 Schematic diagram of antenna plane near?field measurement system with frequency (110~170)GHz
射頻硬件系統(tǒng)由矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,毫米波控制器以及(110~170) GHz 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擴(kuò)頻模塊組成,用于發(fā)射和接收(110~170) GHz 天線校準(zhǔn)所需的電磁波信號。 毫米波控制器將矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀輸出的本振信號分為兩路,分別輸出給發(fā)射擴(kuò)頻模塊和接收擴(kuò)頻模塊。 控制器內(nèi)部集成放大器,用于調(diào)整本振鏈路上的信號增益,為擴(kuò)頻模塊的混頻提供適當(dāng)功率的本振輸入信號。 (110 ~170) GHz矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擴(kuò)頻模塊,射頻輸入頻率為(9.1~14.2) GHz,經(jīng)過12 次倍頻,產(chǎn)生(110~170) GHz 射頻信號,射頻信號輸入功率必須滿足(8~10) dBm。
六軸機(jī)械臂系統(tǒng)可以實(shí)現(xiàn)六自由度的坐標(biāo)位置移動,可以自由地實(shí)現(xiàn)三維空間的x,y,z 軸方向的平面運(yùn)動,俯仰、旋轉(zhuǎn)等各種復(fù)雜的運(yùn)動軌跡,從而完成天線近場測量的特定軌跡掃描。
采用激光跟蹤儀對機(jī)械臂定位精度進(jìn)行測試驗(yàn)證,將激光跟蹤儀的靶標(biāo)固定在機(jī)械臂的前端,激光跟蹤儀的主機(jī)實(shí)時跟蹤靶標(biāo),如圖2 所示,控制機(jī)械臂按照設(shè)定的軌跡進(jìn)行平面近場掃描,機(jī)械臂每次移動時帶動靶標(biāo)的位置移動,機(jī)械臂按步進(jìn)運(yùn)動到新的位置穩(wěn)定后,將機(jī)械臂位置回到機(jī)械零位,激光跟蹤儀捕獲到靶標(biāo)的坐標(biāo),記錄在SA 軟件中,重復(fù)6 次,記錄6 次機(jī)械臂的機(jī)械零位。 設(shè)置機(jī)械臂人工坐標(biāo)軸,重新調(diào)整機(jī)械臂到一個固定的位置,將這個位置設(shè)為零位,記錄此時靶標(biāo)的坐標(biāo)。 任意運(yùn)動機(jī)械臂一段時間后,重新讓機(jī)械臂回到人工零位的位置,記錄靶標(biāo)的位置坐標(biāo),重復(fù)6 次,記錄6 次人工零位的位置,計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)偏差作為機(jī)械臂重復(fù)定位誤差。 機(jī)械臂重復(fù)定位在X,Y 方向位置最大偏差均為0.02 mm,滿足小于0.035 mm(λ/50)的要求。
圖2 激光跟蹤儀標(biāo)定場景圖Fig.2 Scene diagram of laser tracker calibration
測量軟件,控制儀器和六軸機(jī)械臂,配合完成平面近場掃描測量,該軟件可以調(diào)節(jié)六軸機(jī)械臂每個運(yùn)動軸的坐標(biāo)位置并實(shí)時顯示,可以調(diào)節(jié)機(jī)械臂運(yùn)動步長、運(yùn)動速度以及顯示機(jī)械臂伺服控制系統(tǒng)的開關(guān)狀態(tài)。 天線平面近場測量的核心是近遠(yuǎn)場變換算法以及探頭補(bǔ)償算法,在軟件界面上設(shè)置掃描面X 方向上的掃描位置點(diǎn)數(shù),設(shè)置掃描步長,軟件自動計(jì)算出掃描面的大小以及掃描總點(diǎn)數(shù)以及所需時長,軟件還將實(shí)時顯示掃描面上近場幅度相位的數(shù)據(jù)采集進(jìn)度以及幅度相位的數(shù)據(jù)曲線,如圖3 所示,為天線方向圖近場測量后,在后臺文件夾里自動生成各個測量頻率點(diǎn)的數(shù)據(jù)表,選擇需要顯示的頻率點(diǎn)將對應(yīng)的數(shù)據(jù)表導(dǎo)入軟件中,點(diǎn)擊畫方向圖按鈕,屏幕上將自動顯示方向圖曲線。
圖3 測量軟件界面圖Fig.3 Interface diagram of measurement software
選擇標(biāo)準(zhǔn)增益喇叭天線為待測天線,天線口徑為210 mm×170 mm,內(nèi)徑為150 mm ×110 mm,按圖4 所示連接矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,(110~170)GHz 擴(kuò)頻模塊。 根據(jù)待測天線的口徑尺寸,確定天線的近場測試距離為5λ。 如果測試距離太遠(yuǎn),為了覆蓋所有主瓣能量需要加大掃描面,將導(dǎo)致測試時間加長,如果測試距離太近,天線與探頭耦合因素會影響結(jié)果的準(zhǔn)確性。 因此折中確定天線與掃描探頭的正對距離為50 mm,當(dāng)中心點(diǎn)的幅度比邊沿點(diǎn)幅度大30 dB 以上,表示掃描面能夠覆蓋天線主波束的所有能量,校準(zhǔn)參數(shù)設(shè)置如下:
圖4 天線校準(zhǔn)示意圖Fig.4 Schematic diagram of antenna calibration
1)待測天線類別:喇叭天線
2)測試頻率f/GHz:110,140,170;
3)測試距離d/mm:50;
4)測試步進(jìn)t/mm:0.8;
5)掃描面范圍S/mm2:96 ×96;
6)采樣點(diǎn)數(shù)N:121 ×121。
將探頭采集的近場掃描面上采樣點(diǎn)幅度和相位進(jìn)行云圖顯示,如圖5 所示,幅度云圖呈現(xiàn)清晰的單峰狀,中間場強(qiáng)幅度大,往邊沿逐步變小的趨勢,相位云圖呈現(xiàn)一圈一圈的環(huán)狀,此特征符合標(biāo)準(zhǔn)增益喇叭天線典型的口面近場特點(diǎn)。 因此,本次測量采集的近場幅度相位數(shù)值有效,可以用于近遠(yuǎn)場變換的遠(yuǎn)場方向圖反演。 從相位近場云圖來看,掃描面邊緣地區(qū)的相位圖形呈現(xiàn)馬賽克似的模糊形態(tài),是因?yàn)殡S著頻率越高,相位測量誤差將變大,且這種現(xiàn)象將越來越明顯。
圖5 掃描面幅度相位分布云圖Fig.5 Cloud chart of amplitude and phase distribution on scanning surface
以上近場測量的幅度相位數(shù)據(jù)文件,通過近遠(yuǎn)場變換算法得到標(biāo)準(zhǔn)增益喇叭天線的遠(yuǎn)場方向圖,將此圖與遠(yuǎn)場直接測量的天線方向圖進(jìn)行比較,其對比曲線如圖6 所示:在(110~170) GHz 頻段內(nèi),天線主瓣不管在E 面還是H 面平面近場和遠(yuǎn)場測量結(jié)果非常一致,頻率低的點(diǎn)副瓣偏差比頻率高的點(diǎn)要大,因?yàn)樘炀€在頻率低時,方向圖波束更寬,平面近場掃描面截?cái)嗾`差將導(dǎo)致還原后的副瓣方向圖能量部分丟失,因此平面近場還原的方向圖副瓣位置準(zhǔn)確但在幅度上有一定差別,110 GHz 測量結(jié)果的第一副瓣幅度偏差大約0.25 dB,第二副瓣幅度偏差較大,140 GHz 和170 GHz 頻點(diǎn),近場測量的主瓣和第一第二副瓣與遠(yuǎn)場非常接近。 第三副瓣只有170 GHz 平面近場與遠(yuǎn)場測量結(jié)果相近,頻率相對較低的測量差距比較大。 如果要減少平面近場副瓣測量的偏差,就需要采集更大的采樣面數(shù)據(jù)點(diǎn)。
圖6 平面近場與遠(yuǎn)場測量方向圖結(jié)果對比曲線圖Fig.6 Comparison curves of plane near?field and far?field measurement pattern results
將平面近場測量的天線方向圖結(jié)果與采用遠(yuǎn)場方法測量的結(jié)果進(jìn)行比較,主瓣方向圖一致性較好,最大偏差0.25 dB 左右,旁瓣由于受平面近場采樣面截?cái)嗾`差的影響,方向圖越寬,其旁瓣受采樣面截?cái)嗾`差影響越大,頻率越高方向圖越窄,近場測量的反演結(jié)果與遠(yuǎn)場實(shí)測結(jié)果越接近。 因此,170 GHz比110 GHz 測量的結(jié)果更接近遠(yuǎn)場實(shí)測值。 從結(jié)果來看,采樣面采樣點(diǎn)測量相位20 °以內(nèi)的偏差并不影響近場測量結(jié)果,該平面近場天線測試系統(tǒng)能用于(110~170) GHz 頻率天線方向圖的測量。