崔國龍,姚文進(jìn),鄭 宇
(南京理工大學(xué) 智能彈藥技術(shù)國防重點(diǎn)學(xué)科實(shí)驗(yàn)室, 南京 210094)
在現(xiàn)代化、信息化戰(zhàn)爭背景下,電子目標(biāo)成為戰(zhàn)爭中不可忽視的一類目標(biāo),殺爆彈主要?dú)坏谋_擊波作為常規(guī)毀傷元對電子目標(biāo)的毀傷受到了大量學(xué)者關(guān)注。在電子目標(biāo)毀傷方面,任秀敏[1]研究了沖擊波對相控天線的毀傷。譚波[2]等研究了艦艇艙內(nèi)設(shè)備的毀傷評估。安凱[3]研究了破片對航天器內(nèi)部設(shè)備的毀傷。吳凡達(dá)等[4]研究了含能戰(zhàn)斗部對電子設(shè)備的失能毀傷。馬艷麗[5]研究了破片、沖擊波對雷達(dá)目標(biāo)的毀傷。王丹等[6]建立了爆破彈藥對裝甲車通訊設(shè)備的毀傷律模型。在裝藥空爆產(chǎn)生的沖擊波威力參數(shù)計(jì)算方面,Sadovskyi[7]、Brode[8]相繼提出對爆炸沖擊波壓力的經(jīng)驗(yàn)計(jì)算公式及其適用范圍。Clare Knock等[9]對長徑比為4的圓柱形裝藥的軸向沖擊波峰值超壓進(jìn)行了預(yù)測,結(jié)合沖擊波超壓傳感器的超壓數(shù)據(jù),擬合得到軸向沖擊波超壓及比沖量的經(jīng)驗(yàn)計(jì)算公式。Knock[10]基于長徑比大于2的圓柱形藥柱沖擊波超壓、比沖量經(jīng)驗(yàn)公式的基礎(chǔ)上,通過B炸藥、Pentolite以及PE4的空爆試驗(yàn),擬合得到適用于任意長徑比的圓柱形裝藥的超壓預(yù)測公式。侯俊亮等[11]通過AUTODYN軟件對不同形狀和長徑比的沖擊波進(jìn)行了數(shù)值仿真與分析,得出等效球形裝藥公式,并通過試驗(yàn)進(jìn)行了驗(yàn)證。段曉瑜等[12]研究了不同炸藥在空氣中的爆炸沖擊波在地面的反射超壓,通過對試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合,得出了炸藥在空氣中的爆炸沖擊波地面反射超壓公式。聶源等[13]通過歐拉流體力學(xué)軟件SPEED修正超壓計(jì)算公式中的修正因子,并通過校驗(yàn)獲得了動爆條件下沖擊波計(jì)算公式。易仰賢[14]運(yùn)用幾何方法分析確定了空中爆炸沖擊波馬赫反射的起點(diǎn),給出了地面上馬赫反射峰值超壓的近似計(jì)算公式。
電臺作為最常用的通訊設(shè)備之一,受到常規(guī)彈藥爆炸沖擊波作用后,其生存能力對戰(zhàn)時(shí)通訊具有重要的影響,因此,不失去一般性,本文中以簡化電臺模型為研究對象,采用試驗(yàn)方法,分析爆炸產(chǎn)生的沖擊波對模擬電臺靶標(biāo)的毀傷效應(yīng)。
隨著電子技術(shù)的發(fā)展,電臺從模擬電路逐步發(fā)展到數(shù)字電路,并進(jìn)入軟件無線電架構(gòu)方式實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)電臺的功能。電臺主要由供電裝置、信號處理裝置、發(fā)射裝置、接收裝置組成,對電臺進(jìn)行等效設(shè)計(jì),使用軟件無線電架構(gòu)模擬電臺電路。
基于電臺主要功能的分析,將電臺等效為4個(gè)主要模塊,分別是電源模塊、數(shù)字模擬模塊、本振&發(fā)射模塊、接收模塊。
數(shù)字模擬模塊包括:基帶信號產(chǎn)生、中頻放大、中頻濾波、基帶信號檢測和發(fā)射中頻檢測功能,并提供數(shù)字電路運(yùn)行指示;本振&發(fā)射模塊包括:上變頻、本振、射頻濾波、功率放大、上變頻檢測、本振檢測和發(fā)射射頻檢測功能;接收模塊包括:低噪放、射頻濾波、下變頻、接收射頻檢測和下變頻檢測功能;電源模塊:將外部電源轉(zhuǎn)換為電臺內(nèi)各模塊電源,并提供電源指示。針對電臺電路,試驗(yàn)?zāi)M電路包括電臺電路以上4個(gè)模塊,并根據(jù)測試目的和要求,在相關(guān)位置增加測試電路,以此來驗(yàn)證和評估電路功能是否正常。試驗(yàn)采用的模擬電路模塊框圖如圖1。
圖1 試驗(yàn)?zāi)M電路模塊框圖Fig.1 Block diagram of test analog circuit module
模塊獨(dú)立結(jié)構(gòu)封裝設(shè)計(jì),采用型材鋁殼,堅(jiān)固耐用兼顧成本,電源連接擬采用接線端子連接器,模擬射頻采用同軸射頻線纜。4個(gè)模塊及連接狀態(tài)如圖2所示。
圖2 模塊連接狀態(tài)圖Fig.2 Module connection diagram
為了研究沖擊波超壓對模擬電臺靶標(biāo)的毀傷,對裝藥沖擊波理論超壓進(jìn)行計(jì)算。沖擊波峰值超壓計(jì)算,通常根據(jù)爆炸相似律通過實(shí)驗(yàn)建立經(jīng)驗(yàn)公式,因此在本次理論計(jì)算中沖擊波超壓計(jì)算使用Henrych公式[15],用于計(jì)算裸裝藥沖擊波超壓值。
(1)
(2)
(3)
式(1)~(3)中:ΔPm為沖擊波峰值超壓(MPa);r為距爆心的距離(m);me為TNT炸藥質(zhì)量(kg)。
試驗(yàn)選取入射超壓峰值0.9 MPa、0.7 MPa、0.5 MPa、0.3 MPa、0.2 MPa、0.1 MPa、0.05 MPa、0.02 MPa,通過超壓經(jīng)驗(yàn)公式計(jì)算距離如表1所示。
表1 試驗(yàn)距離與入射超壓
由于測試使用與地面等高壁面超壓傳感器,因此測得超壓為斜反射超壓。對沖擊波超壓斜反射進(jìn)行計(jì)算[16]。
正反射(φ0=0°),有:
(4)
式(4)中:Δp2為正反射沖擊波超壓;Δp1為入射沖擊波超壓;p0為大氣壓。
正規(guī)斜反射φ0<φcr,由試驗(yàn)可知,入射波壓力小于0.3 MPa時(shí),反射波的壓力與入射角無關(guān),仍可根據(jù)式(4)計(jì)算。
對于馬赫反射(φcr<φ0<90°),有:
Δpm=ΔpmG(1+cosφ0)
(5)
1≤r≤10-15
(6)
其中,ΔpmG為地面爆炸時(shí)空氣沖擊波的峰值超壓。
試驗(yàn)中測量3組壁面反射超壓,距爆心直線距離分別為0.92 m、1 m、1.88 m,根據(jù)勾股定理,入射角分別為40.6°、45°、68.1°,均大于馬赫反射臨界角。
通過計(jì)算,得到3個(gè)點(diǎn)斜反射超壓大小,如表2所示。
表2 斜反射理論超壓
試驗(yàn)采用φ70 mm×70 mm TNT藥柱,藥柱質(zhì)量為439 g,裸藥柱對不同距離處模擬電臺靶標(biāo)進(jìn)行沖擊波毀傷試驗(yàn)。
使用吊繩將藥柱吊起,保證炸高為0.7 m。將靶標(biāo)根據(jù)理論計(jì)算超壓大小分布在藥柱四周不同位置,在靶標(biāo)后方加裝混凝土墩,用粗鐵絲固定靶標(biāo),保證沖擊波作用下靶標(biāo)不發(fā)生位移。
由于靶標(biāo)位置過于密集,因此使用相同質(zhì)量與密度φ70 mm×70 mm TNT藥柱,將試驗(yàn)分為2次進(jìn)行,試驗(yàn)布置如圖3所示。
圖3 試驗(yàn)布置示意圖Fig.3 Schematic diagram of test layout
靶標(biāo)由4個(gè)模塊組成,因此將4模塊平面分布于0.7 m高,使靶標(biāo)整體位于與裝藥中心距離地面高度相同位置,靶標(biāo)布置如圖4所示。試驗(yàn)實(shí)際布置如圖5所示。
圖4 靶標(biāo)布置示意圖Fig.4 Target layout diagram
圖5 試驗(yàn)實(shí)際布置場景圖Fig.5 Test layout
試驗(yàn)中測得3組超壓數(shù)據(jù),0.92 m處超壓峰值為1.82 MPa,1 m處超壓峰值為1.5 MPa,1.88 m處超壓峰值為0.28 MPa。其超壓曲線如圖6所示。
圖6 試驗(yàn)測得斜反射超壓曲線Fig.6 Test measured oblique reflection overpressure curve
將試驗(yàn)實(shí)測超壓與理論計(jì)算超壓列表,如表3所示。
表3 理論計(jì)算與試驗(yàn)實(shí)測值
理論與試驗(yàn)數(shù)據(jù)誤差最大為8%,可能是未考慮到爆炸產(chǎn)生的環(huán)境變化以及受到超壓傳感器測量精確程度的影響,因此試驗(yàn)數(shù)據(jù)在誤差允許范圍內(nèi),可以認(rèn)為理論計(jì)算是準(zhǔn)確的。
試驗(yàn)靶標(biāo)共選取了8個(gè)點(diǎn),對模擬電臺靶標(biāo)爆炸沖擊波毀傷進(jìn)行研究。
5.2.10.3~0.9 MPa
靶標(biāo)在入射超壓為0.3~0.9 MPa時(shí)電路外殼脫落,內(nèi)部電路芯片剝落,接口與連接線損壞,此時(shí)模擬電臺設(shè)備出現(xiàn)結(jié)構(gòu)破壞,且隨作用于設(shè)備表面沖擊波超壓的增大,結(jié)構(gòu)破壞程度越嚴(yán)重。試驗(yàn)結(jié)果表明,當(dāng)入射超壓為0.3~0.9 MPa,模擬電臺結(jié)構(gòu)損壞,完全無法正常工作,定義為重度毀傷。試驗(yàn)后靶標(biāo)毀傷情況如圖7所示。
圖7 試驗(yàn)后靶標(biāo)毀傷效果圖Fig.7 Target damage after test
5.2.20.2 MPa
當(dāng)沖擊波超壓為0.2 MPa時(shí),靶標(biāo)外部殼體出現(xiàn)較大變形,電源模塊的電路板可正常工作,但輸出接口完全損壞,不能為其他模塊供電,功能完全喪失;基帶模塊、接收模塊、發(fā)射模塊電路板上芯片與其他部件完全毀傷,模擬電臺失去功能,被完全毀傷。試驗(yàn)后靶標(biāo)毀傷情況如圖8所示。
圖8 0.2 MPa靶標(biāo)毀傷效果圖Fig.8 Damage of 0.2 MPa target
5.2.30.05~0.1 MPa
靶標(biāo)外部殼體被沖擊波損壞,接口未受損,電源模塊、基帶模塊可正常工作,接收模塊與發(fā)射模塊內(nèi)部電路部分芯片被毀傷,僅有少部分功能可正常工作。模擬電臺作用部分受損,受到輕度毀傷。試驗(yàn)后靶標(biāo)毀傷情況如圖9所示。
圖9 試驗(yàn)后靶標(biāo)毀傷效果圖Fig.9 Target damage after test
5.2.40.02 MPa
靶標(biāo)結(jié)構(gòu)完整無明顯變形,外部殼體與內(nèi)部電路均無毀傷,模擬電臺可正常工作,無毀傷。試驗(yàn)后靶標(biāo)毀傷情況如圖10所示。
圖10 試驗(yàn)后靶標(biāo)毀傷效果圖Fig.10 Target damage after test
1) 沖擊波對靶標(biāo)的毀傷程度隨著超壓的增大而增大,其中,沖擊波超壓約為0.2 MPa時(shí),電源模塊接口損壞,其他模塊的芯片與部件完全毀傷,功能完全喪失;當(dāng)沖擊波超壓在0.05~0.1 MPa時(shí),試驗(yàn)電路部分模塊喪失功能;沖擊波超壓低于0.02 MPa時(shí),結(jié)構(gòu)與內(nèi)部部件均無破壞,功能正常。
2) 試驗(yàn)中靶標(biāo)外部殼體受損較內(nèi)部電路更加嚴(yán)重,采用合理的外殼體防護(hù)結(jié)構(gòu)及內(nèi)部緩沖結(jié)構(gòu)防護(hù),可有效降低作用域電子元器件及封裝的沖擊載荷,降低沖擊波對電子部件的毀傷程度。
3) 研究結(jié)果可供爆炸沖擊波對典型電子靶標(biāo)的毀傷效果評估參考。