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不同偏壓下半導(dǎo)體器件能帶圖的繪制研究

2024-11-25 00:00:00郝雯菲鄒莉張振東張浩天殷超鵬宋曉娜孟慶端
科技資訊 2024年20期

摘要:能帶圖在半導(dǎo)體物理與器件的學(xué)習(xí)中占據(jù)重要地位。深入分析PN(PNJunction)結(jié)在零偏、正偏和反偏電壓下能帶圖的區(qū)別與聯(lián)系,得到PN結(jié)能帶圖繪制的一般規(guī)律,并推廣這個(gè)一般規(guī)律。把金半(MetalSemiconductor,MS)接觸結(jié)構(gòu)當(dāng)作PN結(jié)的特例直接套用PN結(jié)中總結(jié)的規(guī)律,得到MS結(jié)構(gòu)的能帶圖。再利用介質(zhì)中的電位移連續(xù)性直接得到金屬-氧化物-半導(dǎo)體(MetalOxideSemiconductor,MOS)結(jié)的能帶圖,認(rèn)為總結(jié)的規(guī)律好學(xué)易用,可推廣。

關(guān)鍵詞:PN結(jié)MS結(jié)MOS結(jié)正反偏能帶圖

ResearchontheDrawingofEnergyBandDiagramofSemiconductorDevicesUnderDifferentBiasVoltages

HAOWenfeiZOULiZHANGZhendongZHANGHaotianYINChaopeng

SONGXiaonaMENGQingduan*

CollegeofInformationEngineering,HenanUniversityofScienceandTechnology,Luoyang,He’nanProvince,471000China

Abstract:Banddiagramplaysanimportantroleinthestudyofsemiconductorphysicsanddevices.ThedifferenceandrelationshipbetweentheenergybanddiagramsofPNJunction(PN)junctionsunderbias,forwardandreversebiasvoltagesareanalyzedindepth,andthegenerallawofPNjunctionbanddiagramdrawingisobtained,andthisgenerallawispromoted.TheMetalSemiconductor(MS)contactstructureisregardedasaspecialcaseofthePNjunctionandtherulessummarizedinthePNjunctionaredirectlyappliedtoobtaintheenergybanddiagramoftheMSstructure.TheenergybanddiagramoftheMetalOxideSemiconductor(MOS)junctionisdirectlyobtainedbyusingtheelectricaldisplacementcontinuityinthereusemedium,anditisbelievedthatthesummarizedlawiseasytolearnandeasytouse,andcanbepromoted.

KeyWords:PNjunction;MSjunction;MOSjunction;Forwardandreversebias;Energybanddiagram

PN(PNJunction)結(jié)和金屬-氧化物-半導(dǎo)體(MetalOxideSemiconductor,MOS)結(jié)構(gòu)是半導(dǎo)體器件中的兩種基本結(jié)構(gòu),它們?cè)诠怆娖骷图呻娐返阮I(lǐng)域有著廣泛應(yīng)用。正確繪制能帶圖對(duì)理解半導(dǎo)體器件的工作原理起著決定性的作用,可以幫助人們深入理解器件的導(dǎo)電特性、擊穿特性以及載流子輸運(yùn)等核心物理過程[1]。本文以PN結(jié)正、反偏下的能帶圖繪制為例,得到PN結(jié)在正、反偏下能帶圖繪制的一般規(guī)則。將金半(MetalSemiconductor,MS)接觸作為PN結(jié)的特例,同時(shí)借助電介質(zhì)中電位移連續(xù)的約束,直接得到MOS結(jié)構(gòu)在正、反偏下的能帶圖。這一構(gòu)想從具體例子得到一般規(guī)律,再演繹到特殊實(shí)例,可歸納,可演繹,能夠提升對(duì)器件工作原理的深入理解,具有指導(dǎo)意義。

1模型的建立

1.1正反偏條件下PN結(jié)能帶圖的繪制

PN結(jié)能帶圖的繪制規(guī)則:(1)接觸前P型半導(dǎo)體和N型半導(dǎo)體能帶圖的繪制;(2)接觸后二者具有統(tǒng)一的費(fèi)米能級(jí),即以P型半導(dǎo)體為基準(zhǔn),把N型半導(dǎo)體的能帶圖往下平移,使二者的費(fèi)米能級(jí)保持在同一水平位置[2];(3)在空間電荷區(qū)處,能帶圖以反“S”形連接兩側(cè)的P型半導(dǎo)體和N型半導(dǎo)體,即可得到空間電荷區(qū)中電子應(yīng)遵循的電勢(shì)能()分布;(4)把往下平移即可得到,最后即可得到完整的PN結(jié)在零偏下的能帶圖,如圖1(a)所示。

PN結(jié)兩端加反向電壓,與內(nèi)建電場的方向一致,增強(qiáng)了空間電荷區(qū)的電場,使空間電荷區(qū)展寬,勢(shì)壘高度也由零偏時(shí)的增加到,反向電壓的施加打破了零偏時(shí)載流子擴(kuò)散與漂移之間的動(dòng)態(tài)平衡,使得漂移運(yùn)動(dòng)強(qiáng)于擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)。勢(shì)壘高度也由e增高為(+),空間電荷區(qū)的費(fèi)米能級(jí)之差,這里低于??臻g電荷區(qū)兩側(cè),少子從空間電荷區(qū)邊界處的最小值逐步增加到遠(yuǎn)離邊界處半導(dǎo)體中的正常值,空間電荷區(qū)兩側(cè)少子分布是指數(shù)的,在能帶圖上顯示為準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)與X呈線性關(guān)系[3]。如圖1(b)所示。

反偏時(shí),PN結(jié)的能帶圖從零偏時(shí)的三段過渡到反偏時(shí)的五段,即在零偏時(shí)PN結(jié)空間電荷區(qū)的兩側(cè)添加了兩個(gè)少子擴(kuò)散區(qū),這里少子從P和N區(qū)分別向空間電荷區(qū)擴(kuò)散。空間電荷區(qū)的電場增強(qiáng)了,表現(xiàn)為空間電荷區(qū)和的斜率的絕對(duì)值更大,斜率的符號(hào)表示電場的方向與坐標(biāo)系方向的異同。由此認(rèn)為反偏就是外加電場與內(nèi)建電場方向保持一致的狀態(tài)[4]。

正偏時(shí),外加電場與內(nèi)建電場相反,疊加的結(jié)果削弱了空間電荷區(qū)的電場。在少子擴(kuò)散區(qū)中,準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)隨位置呈線性變化[5],如圖1(c)所示。

1.2PN結(jié)正反偏能帶圖繪制規(guī)則“五段論”

(1)接觸前,分別繪制P型和N型半導(dǎo)體的能帶圖。

(2)接觸后,如果沒有外加偏壓,PN結(jié)具有統(tǒng)一的費(fèi)米能級(jí)。

(3)空間電荷區(qū)能帶圖的繪制,沿對(duì)稱軸劈開拋物線,取其右半部分,把左側(cè)部分沿水平軸翻轉(zhuǎn)180°,把反轉(zhuǎn)后的部分往右平移至PN結(jié)的界面處,與拋物線的右半部分相連接,隨后在連接處沿水平軸翻轉(zhuǎn)180°得到反形“S”結(jié)構(gòu)。把反形“S”結(jié)構(gòu)連接兩邊的P型、N型半導(dǎo)體的能帶圖,即得到零篇下PN結(jié)能帶圖繪制的三段論。反形“S”曲線的繪制也可采用如下的判據(jù),接觸后半導(dǎo)體表面的電子濃度如果比體內(nèi)的電子濃度低,則半導(dǎo)體表面的能帶相對(duì)于體內(nèi)往上彎曲,反之則往下彎曲。半導(dǎo)體表面電子濃度的增減由接觸前費(fèi)米能級(jí)的相對(duì)位置決定,電子從費(fèi)米能級(jí)高的地方流入費(fèi)米能級(jí)低位置。

(4)施加偏壓后,PN結(jié)處于非平衡狀態(tài),空間電荷區(qū)統(tǒng)一的費(fèi)米能級(jí)分裂成電子和空穴的準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí),其中多子的準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)維持不變,少子的準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)大幅偏離零偏時(shí)系統(tǒng)的費(fèi)米能級(jí),準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)之差即為外加偏壓與電荷的乘積。反偏時(shí),相對(duì)于下移,正偏時(shí),則相對(duì)于移。

(5)在空間電荷區(qū)的兩側(cè),形成兩個(gè)少子擴(kuò)散區(qū),少子擴(kuò)散區(qū)的兩側(cè)為中性區(qū),在少子擴(kuò)散區(qū),少子的準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)隨坐標(biāo)呈線性關(guān)系,向中性區(qū)費(fèi)米能級(jí)靠攏。

1.3PN結(jié)正反偏能帶圖繪制規(guī)則的應(yīng)用

1.3.1實(shí)例1:金半接觸

當(dāng)PN結(jié)中P區(qū)的摻雜濃度接近原子濃度時(shí),其導(dǎo)電性接近于金屬,所以MS結(jié)可以看作PN結(jié)的一個(gè)特例。運(yùn)用上述PN結(jié)的繪制規(guī)則,很容易就能得到各種偏壓下金半接觸的能帶圖。重?fù)诫s的P型半導(dǎo)體直接用費(fèi)米能級(jí)替換,即把費(fèi)米能級(jí)放置于P型半導(dǎo)體能帶圖中的處。對(duì)于重?fù)诫s的P型半導(dǎo)體來說,電子的流出與流入與自身的多子濃度相比,可以忽略,故此重?fù)诫sP型半導(dǎo)體中的能帶不發(fā)生彎曲[6]。

金屬(重?fù)诫sP型半導(dǎo)體)與N型半導(dǎo)體接觸時(shí),接觸前,若金屬費(fèi)米能級(jí)的位置低于N型半導(dǎo)體費(fèi)米能級(jí)的位置,則電子從N型半導(dǎo)體流入金屬,接觸后,N型半導(dǎo)體表面的能帶相對(duì)于體內(nèi)往上彎曲,像PN結(jié)能帶圖中N型區(qū)的能帶圖那樣。接觸后,把PN結(jié)能帶圖中P型區(qū)一側(cè)直接用費(fèi)米能級(jí)替換就得到了零偏時(shí)金屬與N型半導(dǎo)體接觸后的能帶圖,如圖2(a)所示。同理,加偏壓時(shí),把重?fù)诫s部分用費(fèi)米能級(jí)直接替換就得到了金半接觸在不同偏壓下的能帶圖[7]。替換后的能帶圖如圖2(b)和2(c)所示。

1.3.1實(shí)例2:金屬-氧化物-半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)

在MS結(jié)的基礎(chǔ)上,在界面處添加一層氧化物絕緣層,就把MS結(jié)轉(zhuǎn)變?yōu)镸OS結(jié)。表面勢(shì)及空間電荷區(qū)內(nèi)的電荷分布情況隨金屬與半導(dǎo)體間的增加而變化,基本上可歸納為堆積、耗盡和反型三種情況。根據(jù)金半接觸正反偏下的繪制規(guī)則及介質(zhì)的電位移連續(xù)性(交界處氧化層導(dǎo)帶底斜率與氧化層介電常數(shù)的乘積等于交界處半導(dǎo)體導(dǎo)帶底斜率與半導(dǎo)體介電常數(shù)的乘積),即可畫出正反偏下MOS結(jié)的能帶圖。

當(dāng)金屬與半導(dǎo)體之間加正電壓時(shí),表面層形成多數(shù)載流子電子的堆積如圖3(a)所示,耗盡狀態(tài)是反型的前一個(gè)過程,先多子耗盡,當(dāng)金屬與半導(dǎo)體間加不太高的負(fù)電壓時(shí),即反偏,如圖3(b)所示,當(dāng)負(fù)電壓進(jìn)一步增大,表面層內(nèi)形成由少數(shù)載流子堆積的反型層,表面處的能帶相較于體內(nèi)進(jìn)一步向下彎曲,只需把耗盡時(shí)的能帶圖讓能帶進(jìn)一步彎曲即可,如圖3(c)。

2結(jié)語

PN結(jié)施加偏壓后,能帶圖變?yōu)椤拔宥握摗?,電子擴(kuò)散區(qū)和空穴擴(kuò)散區(qū)兩側(cè)的能帶圖為接觸前P型、N型半導(dǎo)體的能帶圖;電子擴(kuò)散區(qū)與空穴擴(kuò)散區(qū)的能帶圖為準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí)與中性P區(qū)、N區(qū)距離的線性表達(dá);空間電荷區(qū)內(nèi)的能帶圖為二次曲線或更高次的曲線,取決于摻雜分布,總體線型呈現(xiàn)反“S”型。繪制金半接觸的能帶圖直接套用PN結(jié)的規(guī)律,而金屬-氧化物-半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)的能帶圖根據(jù)金半接觸正反偏下的繪制規(guī)則及介質(zhì)的電位移連續(xù)性可直接繪出。

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