黃國慶 陳 杰 陳之初 冷用斌 葉愷容
(中國科學(xué)院上海應(yīng)用物理研究所 上海 201800)
發(fā)射度是衡量性能優(yōu)劣的一個重要參數(shù),上海光源(SSRF)儲存環(huán)利用X-ray針孔相機(jī)實現(xiàn)該參數(shù)的測量及束斑尺寸的實時監(jiān)測。上海光源儲存環(huán)的設(shè)計指標(biāo)為 3.9 nm·rad,如何實施小發(fā)射度測量至關(guān)重要。束流發(fā)射度與束流整體橫向振蕩的性質(zhì)密切聯(lián)系,束流相橢圓在不同位置的面積不變,但形狀不同,所以儲存環(huán)中束流截面的包絡(luò)呈起伏狀且隨位置變化。這種位置特性完全決定于相橢圓的形狀,即決定于Twiss 參數(shù)。Lattice參數(shù)β由位置探測器測得,另外,需精確測量束流截面。根據(jù)瑞利判據(jù),分辨率受到光源波長的限制,若使用可見光測量束團(tuán)尺寸,其衍射效應(yīng)非常明顯,簡單的成像系統(tǒng)測量誤差很大,采用X-ray成像系統(tǒng)測量束團(tuán)尺寸,可提高分辨率[1,2]。我們除采用可見光的雙縫干涉法外[3],還采用 X-ray針孔相機(jī)系統(tǒng)測量儲存環(huán)發(fā)射度。該系統(tǒng)主要由X-ray引出前端、衰減片、小孔、靶片和相機(jī)等構(gòu)成,控制和數(shù)據(jù)采集基于NI的PXI總線實現(xiàn),采用LabVIEW軟件編寫。整個數(shù)據(jù)采集處理部分通過 EPICS Shared Memory IOCcore技術(shù)實現(xiàn)與控制系統(tǒng)的無縫連接。
圖1 X-ray針孔相機(jī)系統(tǒng)框圖Fig.1 Configuration of the X-ray pinhole camera system.
X-ray針孔相機(jī)系統(tǒng)框圖如圖1,為降低成本和便于系統(tǒng)調(diào)整,其中小孔平臺、靶片及相機(jī)都在大氣中。
系統(tǒng)位于注入點起的第二塊偏轉(zhuǎn)磁鐵后,運行中,通過測量束團(tuán)的尺寸,可計算出發(fā)射度。為提高系統(tǒng)的放大倍數(shù),在能安裝下設(shè)備的基礎(chǔ)上盡量減小物距,增加像距。目前光源點到小孔的距離為6.19 m;受建筑墻的限制,小孔到放置相機(jī)點的距離最長為9.25 m,故系統(tǒng)的光學(xué)放大倍數(shù)為1.5倍。
發(fā)射度ε將由CCD相機(jī)得到的束流截面(RMS)尺寸σi(i=x,y分別對應(yīng)束團(tuán)水平、垂直截面尺寸)及相關(guān)的Lattice參數(shù)β、色散函數(shù)η、能散σε由以下公式獲得[4]:
由于各種測量誤差的存在,按下式所得最終的測量值sm是幾種分布的綜合效應(yīng)[5]。
其中,sr為真正的束團(tuán)尺寸值,sc為相機(jī)景深和色散等因素引起的束團(tuán)尺寸的偏差,sd為小孔衍射產(chǎn)生的偏差,sp為小孔的幾何尺寸產(chǎn)生的偏差。數(shù)據(jù)處理中,將點擴(kuò)散函數(shù)反卷積進(jìn)行數(shù)據(jù)重建扣除影響。
在整個系統(tǒng)的部件設(shè)計中,如何考慮將各部分對測量值的影響降到最小,下文分別予以介紹。
引出前端的主要作用是將彎鐵處0.8°線的X射線從儲存環(huán)中引出。其與儲存環(huán)的真空管道相連,要求具有超高真空度(儲存環(huán)真空設(shè)計指標(biāo):1.33×10?7Pa)及安全、可靠,由 400 L離子泵和升華泵確保引出前端的高真空。
引出窗要確保通過大部分X-ray,故越薄越好;但引出窗得忍受一個大氣壓的壓差,也不宜太薄,并有足夠的機(jī)械強(qiáng)度。引出窗通常用輕金屬材料,如鋁、鈹,我們的引出窗是厚度為1 mm鋁。鋁窗吸收低能 X-ray,會有可觀溫度,需進(jìn)行水冷卻。300 mA流強(qiáng)下,X-ray經(jīng)過引出窗后的譜線如圖2。
圖2 X-ray經(jīng)過引出窗后的譜線Fig.2 X-ray spectrum through the aluminum window.
同時,用引出窗前端開孔的錐型吸收塊,吸收0.8°線外的X-ray射線,以減小到達(dá)鋁窗的功率,還加有水冷保護(hù)真空管道。引出前端裝有加入聯(lián)鎖保護(hù)氣動閥,以防止引出前端損壞而影響儲存環(huán)真空。氣動閥前安裝有光閘,一旦漏氣,其與氣動閥一起關(guān)閉,以保護(hù)氣動閥。整個引出前端的機(jī)械設(shè)計如圖3所示。
圖3 引出前端總圖Fig.3 Schematic view of the front-end for X-ray emission.
光路中裝有銅材料的梯形衰減片,通過步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動選擇不同的衰減厚度,作高通濾波,僅使大于某能量的X射線通過。在大流強(qiáng)情況下,可調(diào)節(jié)衰減片以避免實驗站成像的飽和,小能散也可提高分辯率。
上海光源的束團(tuán)橫向尺寸為μm級,則針孔相機(jī)系統(tǒng)中的小孔也是μm級,這給加工帶來很大難度。另外,要求小孔有一定厚度,以阻擋未穿過小孔的X-ray。綜合考慮,我們采用3 mm×25 mm×10 mm鎢塊疊放組成水平-垂直的狹縫,構(gòu)成多個小孔陣列(圖4)。此法加工簡單、小孔尺寸精確可控;但小孔是近似的孔徑,在縱向有一定厚度,并非理論上的理想小孔。
圖4 小孔結(jié)構(gòu)Fig.4 Configuration of the pinhole.
為使小孔準(zhǔn)確平行于X-ray方向,小孔安裝在一個四維可調(diào)的精密步進(jìn)電機(jī)移動平臺上(日本西格碼公司),精度1 μm,可通過計算機(jī)RS232口實現(xiàn)遠(yuǎn)程控制。X-ray在小孔處的光斑遠(yuǎn)大于小孔的尺寸,則小孔支架及地基的微小抖動對小孔成像的光斑尺寸影響可予忽略。
X-ray針孔相機(jī)的成像系統(tǒng)若為專用 X-ray相機(jī),固然結(jié)構(gòu)簡單,但成本很高。我們采用如圖 1所示的靶片加可見光相機(jī)模式,結(jié)構(gòu)雖較復(fù)雜,但成本低、靈活、易更換靶片和其他部件。靶片為YAG晶體,其靈敏度和分辨率均高。靶片和相機(jī)整體安裝在水平-垂直移動的電動平臺上,便于遠(yuǎn)程遙控尋找X-ray圖像。鏡頭采用固定放大2倍的鏡頭,先用手動微調(diào)機(jī)構(gòu)聚焦靶片,只要靶片上對應(yīng)的位置找到了 X-ray,相機(jī)上就可看到清晰的光斑圖像??刂坪筒杉h(yuǎn)程實現(xiàn),以避免現(xiàn)場環(huán)境對人體的傷害。
該針孔相機(jī)系統(tǒng)通過美國NI公司的PXI總線設(shè)備實現(xiàn)電機(jī)的遠(yuǎn)程控制和圖像采集,軟件在Windows 平臺上用 LabVIEW 編寫,通過 Shared Memory IOCcore[5]技術(shù)實現(xiàn)EPICS 的數(shù)據(jù)接口,完成LabVIEW 應(yīng)用程序和控制系統(tǒng)間的數(shù)據(jù)交換。
軟件包括衰減片步進(jìn)電機(jī)的控制、小孔四維移動平臺的控制、靶片和相機(jī)的二維移動平臺的控制、圖像采集和處理、數(shù)據(jù)擬合和分析及EPICS 數(shù)據(jù)接口部分。
用不同的小孔觀察光斑,確定50 μm×20 μm的小孔對應(yīng)的光斑較理想(圖5)。經(jīng)高斯擬合,采集到的光斑的水平和垂直尺寸(RMS)分別為 160.22 μm和38.78 μm,由式(2)求出真實束團(tuán)尺寸,得到加速器的水平發(fā)射度為3.37 nm·rad。X-ray針孔相機(jī)系統(tǒng)建成后,長時間監(jiān)測了引出窗溫度,由圖 6,最大流強(qiáng)(300 mA)時,溫度≤36°,說明引出該前端是安全的。
圖5 束團(tuán)光斑Fig.5 Image of the beam in the storage ring.
圖6 引出前端溫度隨流強(qiáng)的變化Fig.6 Temperature on front-end vs current of the storage ring.
上海光源儲存環(huán)X-ray針孔相機(jī)系統(tǒng),主要用于儲存環(huán)發(fā)射度測量。前期運行情況表明,引出前端是安全可靠的,整個系統(tǒng)可穩(wěn)定可靠地工作,可實時看到束團(tuán)的光斑情況,實時計算出束團(tuán)尺寸和發(fā)射度,給儲存環(huán)調(diào)試和運行帶來了便利。
1 Thomas C A, Rehm G. An X-ray pinhole camera system for diamond, DIPAC2005, 2005. 93–95
2 Bergstrom J C, Vogt J M. Nucl Instrum Methods Phys Res Section A, 2008, 587(2): 441–457
3 Corbett J, Cheng W. Interferometer beam size measurements in SPEAR3, PAC2009
4 Thomas C, Rehm G. Phys Rev ST Accel Beams, 2010,13(2): 022805
5 Elleaume P, Fortgang C. J Synchrotron Rad,1995, 2(5):209–214