劉曉薇
用磁聚焦法測(cè)量電子荷質(zhì)比的誤差分析
劉曉薇
由于電子的質(zhì)量非常小,用直接測(cè)量的方法很難將其測(cè)量準(zhǔn)確。然而電子的電量是已知的,只要用實(shí)驗(yàn)的方法測(cè)量出電子電量與電子質(zhì)量的比值 (荷質(zhì)比),電子的質(zhì)量就可以確定了。荷質(zhì)比是電子的最基本屬性,是電子的一個(gè)重要參數(shù),在近代物理學(xué)發(fā)展中具有重大意義[1]。磁聚焦法是測(cè)定電子荷質(zhì)比的有效方法,而該方法會(huì)產(chǎn)生一定的誤差,筆者通過物理實(shí)驗(yàn),對(duì)測(cè)量的核質(zhì)比進(jìn)行了誤差分析。
該實(shí)驗(yàn)使用SJ-SS-II型電子束實(shí)驗(yàn)儀。實(shí)驗(yàn)儀的核心是一只示波管,它安裝在一個(gè)長直螺線管中。螺線管通電時(shí)可以產(chǎn)生一個(gè)均勻的軸向磁場(chǎng),并與電子束平行。而在長直螺線管外靠近示波管的偏轉(zhuǎn)電極附近,還安裝了一對(duì)亥姆霍茲線圈。通電時(shí)產(chǎn)生一個(gè)均勻的且與電子束垂直的磁場(chǎng),可使電子束產(chǎn)生磁偏轉(zhuǎn)。在示波管的陰極與陽極之間,加有直流高壓 。
1.電子速度垂直于磁場(chǎng)
設(shè)電子e在均勻磁場(chǎng)中以勻速v運(yùn)動(dòng),且運(yùn)動(dòng)方向垂直于磁場(chǎng)B時(shí),在洛侖茲力f=-ev×B 作用下,做圓周運(yùn)動(dòng),可得式(1)(2),其中R為圓周半徑。
如果條件不變,電子將周而復(fù)始地做圓周運(yùn)動(dòng)??傻贸鲭娮拥膱A周運(yùn)動(dòng)周期T:
由式(3)可知,周期T只與磁場(chǎng)B有關(guān),而與速度v無關(guān)。這個(gè)結(jié)論說明:當(dāng)若干個(gè)電子在均勻磁場(chǎng)中以不同的速度同時(shí)從某處出發(fā)時(shí),只要這些速度(大小不等)都垂直于磁場(chǎng)B,那么在經(jīng)歷了不同的圓周運(yùn)動(dòng)后,仍會(huì)同時(shí)在原出發(fā)地相聚。只是速度大的電子圓周運(yùn)動(dòng)的半徑R大,速度小的電子圓周運(yùn)動(dòng)半徑小[2]。
2.電子速度與磁場(chǎng)成任一角度
如果電子速度分量//v大小相等,則其運(yùn)動(dòng)的螺距l(xiāng)就相同[3]。這個(gè)重要結(jié)論說明,如果在一個(gè)均勻磁場(chǎng)中有一個(gè)電子源源源不斷地向外提供電子,那么不論這些電子具有怎樣的初始速度方向,它們都沿著磁場(chǎng)方向作不同的螺旋運(yùn)動(dòng),而只要保持它們磁場(chǎng)方向的速度分量v//相等,它們就具有相同的螺距。這就是說,在沿磁場(chǎng)方向與電子源相距l(xiāng)處,電子要聚焦在一起,這就是電子在均勻磁場(chǎng)中的旋進(jìn)聚焦現(xiàn)象。
當(dāng)v與B平行時(shí),磁場(chǎng)對(duì)電子的運(yùn)動(dòng)和聚焦均不產(chǎn)生影響。
3.利用示波管的電子束磁聚焦測(cè)定電子的荷質(zhì)比e/m
圖1 示波管結(jié)構(gòu)
只要加速電壓V2確定,電子沿磁場(chǎng)方向的速度分量也是確定的。而且電子經(jīng)過第一陽極A1后,由于第二陽極和兩對(duì)偏轉(zhuǎn)板(X軸和Y軸偏轉(zhuǎn)板)與A1同電位,電子在第二陽極A2至熒光屏之間將不再受電場(chǎng)力的作用,電子的//v將不再改變。將式(4)進(jìn)行變形,則
將V2及B值代入上式,可得電子的荷質(zhì)比。對(duì)于SJSS-II型電子束實(shí)驗(yàn)儀來說,B是螺線管中磁場(chǎng)的平均值,與電流I的關(guān)系可表示為:
K為每臺(tái)儀器的常數(shù),由儀器出廠時(shí)給定。對(duì)于SJ-SS-II型電子束實(shí)驗(yàn)儀來說,B可取螺線管中部的磁場(chǎng)值,如式(8):
代入式(6),得
其中d是示波管的陽極到熒光屏之間的距離。對(duì)于不同的儀器,這些參數(shù)在出廠時(shí)是略有差別的。
1.實(shí)驗(yàn)步驟
(1)閱讀儀器的使用說明,按正向聚焦接線圖插入導(dǎo)連線。
(2)將儀器面板“功能選擇”開關(guān)旋至“磁聚”處,此時(shí)儀器處于磁聚焦工作狀態(tài)。
(3)接通總電源,預(yù)熱數(shù)分鐘,V2分別取800 V,1 000 V,1 200 V,調(diào)節(jié)勵(lì)磁電流,使光斑聚焦,記下三次聚焦時(shí)的勵(lì)磁電流讀數(shù)。
(4)關(guān)閉總電源約數(shù)分鐘,改為反向聚焦接線,重復(fù)步驟(3)。
2.記錄數(shù)據(jù)和處理結(jié)果(見表1和表2)
表1 測(cè)得的勵(lì)磁電流的值以及平均值
表2 荷質(zhì)比及誤差
3.誤差分析
(1)由螺距l(xiāng)引起的誤差。從小到大調(diào)節(jié)螺線管內(nèi)的電流I,使得電子束在熒光屏上出現(xiàn)“第一次聚焦”時(shí),是利用ld≈進(jìn)行計(jì)算的,l是B和V2的函數(shù),而實(shí)驗(yàn)中使用的螺線管的長度是有限的,螺線管內(nèi)磁場(chǎng)分布是不均勻的,計(jì)算中B是螺線管中磁場(chǎng)的平均值。另外,陰極電子相互之間存在斥力,造成電子束的擴(kuò)張,這也使得在實(shí)際聚焦時(shí)B的值產(chǎn)生偏差,所以螺距l(xiāng)的值是不精確的。
而地磁場(chǎng)的數(shù)量級(jí)為10-5T,所以,地磁場(chǎng)對(duì)本實(shí)驗(yàn)結(jié)果也存在微小的影響。
利用磁聚焦法測(cè)量電子荷質(zhì)比的實(shí)驗(yàn)中,從實(shí)驗(yàn)結(jié)果來看,磁聚焦法測(cè)量電子荷質(zhì)比的誤差相對(duì)較小。在磁聚焦法測(cè)量電子荷質(zhì)比的實(shí)驗(yàn)中,誤差主要是在中間的公式推導(dǎo)中所做的近似產(chǎn)生的,另外,地磁場(chǎng)也對(duì)荷質(zhì)比產(chǎn)生輕微的影響。通過實(shí)驗(yàn)以及對(duì)結(jié)果的誤差分析可知,利用磁聚焦法測(cè)量電子荷質(zhì)比的方法誤差相對(duì)較小,能夠得到比較理想的結(jié)果。
[1] 王光輝,徐世昌,馬仁,張鐵軍.利用磁聚焦法測(cè)量電子比荷的誤差分析[J].大學(xué)物理,2005,24(3):54-55.
[2] 何捷,陳繼康,金昌祚.基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)[M].南京:南京師范大學(xué)出版社,2003.
[3] 熊永紅.大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)[M].武漢:華中科技大學(xué)出版社,2004.
(本欄責(zé)任編輯/安健)
2012-06-04
劉曉薇,本科,高級(jí)講師。
大連輕工業(yè)學(xué)校。