李　輝　劉　鯤

(安徽師范大學(xué)物理與電子信息學(xué)院，蕪湖 241000)

0　引言

微電流是指小于10-5A的電流。微電流檢測(cè)屬于微弱信號(hào)檢測(cè)的一個(gè)分支，是一門針對(duì)噪聲的技術(shù)，它注重的是如何抑制噪聲和提高信噪比。該技術(shù)在偵察、電化學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、天文學(xué)和地學(xué)等許多領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用；是發(fā)展高新技術(shù)，探索自然規(guī)律的重要手段，對(duì)推動(dòng)相關(guān)領(lǐng)域的科研具有重要的意義[1]。

本文將采用基于超低偏置電流運(yùn)放的二級(jí)放大調(diào)理電路，輔以Guards環(huán)保護(hù)與輸入電纜屏蔽電容歸環(huán)技術(shù)，再配合超高分辨率ADC器件，設(shè)計(jì)一種在較大的測(cè)量范圍內(nèi)具有良好的線性，同時(shí)分辨率較高的pA級(jí)通用弱電流檢測(cè)系統(tǒng)。

1　總體設(shè)計(jì)

整個(gè)弱電流檢測(cè)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)如圖1所示，pA級(jí)的弱電流信號(hào)首先利用極低偏置運(yùn)放LMP7721作I/V轉(zhuǎn)換，然后由低輸入電流運(yùn)放LMC6001放大到適宜AD轉(zhuǎn)換的電平；最后經(jīng)高精度ADC器件ADS1211與MCU完成數(shù)據(jù)采集與處理。實(shí)測(cè)結(jié)果既可由系統(tǒng)自帶的LCD顯示，或通過(guò)串口等通信接口在上位機(jī)描繪實(shí)時(shí)的電流曲線。

圖1　弱電流檢測(cè)系統(tǒng)原理圖

1.1　放大電路設(shè)計(jì)

I/V轉(zhuǎn)換與二級(jí)放大電路如圖2所示。其中I/V轉(zhuǎn)換與放大電路是弱電流檢測(cè)系統(tǒng)的極其重要的核心部分，其轉(zhuǎn)換增益和噪聲性能直接決定待測(cè)弱信號(hào)在數(shù)據(jù)采集時(shí)的幅度和信噪比，從而直接影響檢測(cè)的精度和分辨力。I/V轉(zhuǎn)換采用NI公司的極低偏置運(yùn)放LMP7721，該運(yùn)放具有不超過(guò)20fA的偏置電流和26μV的偏置電壓，且溫度特性良好(<1.5μV/°C)；而不超過(guò)2mA的額定電源電流使其適用于便攜式應(yīng)用。目前LMP7721在光電、生化檢測(cè)等弱信號(hào)檢測(cè)領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用[2]。

為了獲得很大的轉(zhuǎn)換增益，反饋電阻應(yīng)具有很大的阻值(GΩ量級(jí))。而超高阻不僅具有制作成本高昂，溫濕度系數(shù)大等缺點(diǎn)；而且超高電阻往往分布電容大，造成很長(zhǎng)的響應(yīng)與測(cè)試等待時(shí)間[3]。此處第一級(jí)的I/V轉(zhuǎn)換電路采用T型電阻網(wǎng)絡(luò)，可以大大降低反饋電阻的阻值[4]，輸出電壓Uo滿足：

其中Ii為輸入的pA級(jí)弱電流，通過(guò)合理選擇T型網(wǎng)絡(luò)的阻值，可將pA級(jí)電流轉(zhuǎn)換成mV級(jí)電壓。

待測(cè)弱電流由屏蔽電纜輸入，通常屏蔽層接地，這樣雖然可以保護(hù)弱信號(hào)不受外界電磁場(chǎng)的干擾，但屏蔽電纜的芯線與屏蔽層之間不可避免的存在分布電阻和電容。該分布電阻可能接近放大器的輸入電阻，而分布電容往往可以大于放大器的輸入電容；如果屏蔽電纜的分布電阻和電容與地相連，在弱信號(hào)源內(nèi)阻很大時(shí)將對(duì)微弱信號(hào)的檢測(cè)帶來(lái)不利的影響。為了避免這種影響，可以采用屏蔽電纜歸環(huán)技術(shù)：將芯線傳輸?shù)男盘?hào)1:1放大后驅(qū)動(dòng)屏蔽電纜的屏蔽層，如圖2所示。這就意味著屏蔽層接到一個(gè)低內(nèi)阻的電壓源上，此時(shí)屏蔽電纜抗干擾的效果不變，但由于芯線上的電壓Ui等于屏蔽層上的電壓Uo，電纜分布電阻RL和電容CL中的電流為0，相當(dāng)于RL和CL不存在，不再對(duì)屏蔽電纜芯線上的弱信號(hào)產(chǎn)生影響[4]。

圖2　I/V轉(zhuǎn)換與二級(jí)放大

由于輸入電流太微弱(pA級(jí))，輸入端的漏電保護(hù)就格外重要。由于油污、潮濕等原因，PCB板的電阻率下降，板上其它位置與輸入端之間的電位差就可能產(chǎn)生漏電流，而漏電流在很多弱信號(hào)檢測(cè)的應(yīng)用中是不可忽略的[5]。為了抑制漏電流，可以采用Guarding方法，其基本原理就是：在敏感引腳外圍設(shè)置保護(hù)環(huán)，且保護(hù)環(huán)的偏置電壓與敏感引腳相同，這樣漏電流就會(huì)通過(guò)保護(hù)環(huán)流向模擬地，因而不會(huì)對(duì)輸入產(chǎn)生干擾。由于輸入端采用反相放大模式，所以可以將保護(hù)環(huán)連接到LMP7721的同相輸入引腳(VIN+)，如圖2所示[6]，這將使保護(hù)環(huán)偏置為運(yùn)放的基準(zhǔn)電壓(如VDD/2或地)；而且LMP7721的管腳封裝將同相反相輸入端都置于左側(cè)，這使得保護(hù)環(huán)很容易設(shè)計(jì)。

第二級(jí)放大使用NI公司的低輸入電流運(yùn)放LMC6001，其最大電流和輸出偏置分別為25fA和350μV，能滿足mV級(jí)電壓放大的需要。為了補(bǔ)償運(yùn)放的輸入端電容，可以在反饋電阻Rf的兩端添加反饋電容Cf，且滿足[7]：

由于輸入電容Cin往往不可確知，所以可以通過(guò)實(shí)驗(yàn)對(duì)Cf進(jìn)行微調(diào)以獲得較好的響應(yīng)特性。

1.2　高分辨率數(shù)據(jù)采集電路

數(shù)據(jù)采集之前為消除工頻干擾的影響，需要在二級(jí)運(yùn)放輸出端和A/D轉(zhuǎn)換器之間加入雙T型50Hz帶阻濾波器將這個(gè)主要干擾成分濾除，如圖3所示，通過(guò)調(diào)節(jié)第一級(jí)運(yùn)放的可變電阻，可得到較好的50Hz限波特性，如圖4所示。

圖3　數(shù)據(jù)采集模塊

圖4　50Hz濾波器限波特性

設(shè)計(jì)高精度信號(hào)采集系統(tǒng)，必須對(duì)待測(cè)信號(hào)進(jìn)行高分辨率的模數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)，本文選用BB公司的24bit高精度ADC器件ADS1211。ADS1211為Delta-Sigma型ADC，1000Hz采樣率以內(nèi)擁有20位以上的有效分辨率；片內(nèi)可編程放大器提供1～16倍的增益，能夠滿足不同量程的需要；內(nèi)置三階數(shù)字濾波器提供抗混疊濾波功能，且外部控制器可通過(guò)設(shè)置片內(nèi)寄存器進(jìn)行多種校準(zhǔn)[8]。當(dāng)輸入量程為5V時(shí)，采樣分辨率理論值達(dá)到5000/220≈0.005mV。ADS1211的配置電路如圖3所示。其中SDOUT為轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)輸出，SDIO為配置參數(shù)的輸入，SCLK為串行時(shí)鐘，可以方便的與MCU的串口進(jìn)行通信。

在布線時(shí)為了避免數(shù)字電源的噪聲對(duì)模擬部分的干擾，最好采用雙電源；必須采用單電源時(shí)，可在模擬與數(shù)字供電端之間接入10Ω電阻，與去耦電容一起起到濾波作用。同樣的，模擬地和數(shù)字地也應(yīng)該分別鋪設(shè)，單點(diǎn)連接。

1.3　電源與布線

系統(tǒng)的電源噪聲來(lái)源于供電電源、電源轉(zhuǎn)換芯片以及數(shù)字電源對(duì)模擬電源的干擾。因此，除了選用低噪聲的電源轉(zhuǎn)換器件與干電池電源外，應(yīng)盡可能對(duì)模擬和數(shù)字部分單獨(dú)供電，如必須采用一個(gè)電源，則應(yīng)將模擬和數(shù)字供電端之間利用感性磁珠加以隔離[9]。

影響系統(tǒng)噪聲的另一個(gè)主要因素是電路板的布局布線和材料工藝。模擬和數(shù)字電路應(yīng)分開(kāi)布局，對(duì)應(yīng)的地層也應(yīng)分開(kāi)鋪設(shè)，單點(diǎn)連接；電源線應(yīng)有足夠的寬度以保證較低的分布電阻和電感；電阻和電容應(yīng)選用噪聲低的金屬膜電阻和鉭電容，而電路板需采用高絕緣介質(zhì)的銅箔板，如CEM-3等，且安裝完成后需用無(wú)水乙醇清潔并保持干燥[10]。

2　實(shí)驗(yàn)測(cè)試

為了檢驗(yàn)系統(tǒng)的弱電流檢測(cè)能力，首先進(jìn)行小量程電流檢測(cè)實(shí)驗(yàn)(0～20pA)，然后進(jìn)行大量程電流檢測(cè)(0～2400pA)，結(jié)果分別如圖5和圖6所示。圖中可看出：在大小量程之下檢測(cè)系統(tǒng)都具有良好的線性；在小量程檢測(cè)時(shí)，最小可檢測(cè)電流為2pA，分辨率優(yōu)于1pA，達(dá)到了預(yù)期的設(shè)計(jì)要求。

圖5　小量程電流檢測(cè)

圖6　大量程電流檢測(cè)

3　結(jié)論

實(shí)現(xiàn)pA級(jí)的弱電流檢測(cè)，關(guān)鍵在于最大限度的減小檢測(cè)系統(tǒng)引入的干擾和雜散電流，同時(shí)提高AD轉(zhuǎn)換的分辨率。本文采用基于低偏置電流運(yùn)放LMP7721的二級(jí)放大調(diào)理電路，輔以Guards環(huán)保護(hù)與屏蔽電纜歸環(huán)技術(shù)，再配合后端的超高分辨率ADC器件ADS1211，設(shè)計(jì)了一種在較大的測(cè)量范圍內(nèi)具有良好性能的pA級(jí)弱電流檢測(cè)系統(tǒng)。系統(tǒng)將數(shù)字和模擬部分分開(kāi)布局與鋪地，同時(shí)隔離數(shù)字電源對(duì)模擬電源的干擾。實(shí)驗(yàn)表明系統(tǒng)在大小量程都具有良好的線性；在小量程檢測(cè)時(shí)，最小可檢測(cè)電流為2pA，分辨率優(yōu)于1pA，達(dá)到了預(yù)期要求。

[1]王衛(wèi)勛.微電流檢測(cè)方法的研究[D].西安理工大學(xué)碩士論文，2007

[2]National Semiconductor Corporation.LMP7721 Multi-Function Evaluation Board Users’Guide[R].http://www.national.com，2010

[3]松井彥邦(日)著，鄧學(xué)譯.OP放大器應(yīng)用技巧100例[M].北京：科學(xué)出版社，2006

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[5]鄭建明，黃利華.電路漏電流形成及預(yù)防[J].航天制造技術(shù)，2006(4)

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[7]National Semiconductor Corporation.LMC662 CMOS Dual Operational Amplifier[R].www.national.com，2003

[8]Burr-Brown Corporation.24-Bit ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER ADS1211[R].http://www.burr-brown.com，2007

[9]John Ardizzoni.A Practical Guide to High-Speed Printed-Circuit-Board Layout[R].http://www.analog.com/analogdialogue，2005

[10]黃書偉，盧申林，錢毓清.印制電路板的可靠性設(shè)計(jì)[M].北京：國(guó)防工業(yè)出版社，2004