＊曹 峰

（黑龍江省地質礦產(chǎn)測試應用研究所 黑龍江 150036）

X熒光微區(qū)分析在巖礦鑒定工作中的應用

＊曹 峰

（黑龍江省地質礦產(chǎn)測試應用研究所 黑龍江 150036）

本文利用日本理學公司推出的帶微區(qū)分析功能的ZSX PrimusⅡ型X射線熒光光譜儀對事先選定的幾個礦石樣品進行微區(qū)分析，通過事先建立的定性分析方法，得到了礦石測量點的化學成分含量，為巖礦鑒定工作提供一種快速、便捷的分析方法和輔助手段。

微區(qū)分析；巖礦鑒定

所謂微區(qū)分析是指在固體樣品的某一微小區(qū)域直接進行成分分析或利用各種微束或探針技術來直接（原位）分析在光學顯微鏡下所選的微區(qū)物質進行化學成分分析的一種分析技術。目前已經(jīng)廣泛應用的微區(qū)分析儀器有電子探針、離子探針、激光探針、掃描電子顯微鏡、俄歇電子譜儀等，這些分析技術在礦石鑒定方面發(fā)揮著重要作用。盡管探針等技術可定量或半定量測定元素含量，但是其測定的樣品需要制備成探針片，絕大部分地質樣品不導電，因此需要在真空下進行預處理（噴碳），而且礦石結晶水含量對測定結果影響大，特別是在測定普通光片時，抽真空時間非常長，使其在巖礦鑒定的應用上受到了一定的限制。而X射線熒光光譜儀微區(qū)分析具有譜線簡單、干擾少、穩(wěn)定性好、制樣簡單、方法簡便、分析范圍寬、適應性廣、無損分析、測定結果準確可靠等優(yōu)點，測量面積還可以根據(jù)需要鑒定的礦物的大小進行調整，實現(xiàn)原位測定。

X熒光光譜儀的分析范圍很廣，從F～U均能夠做出定性或半定量的分析，在微區(qū)分析中，凡是含量大于十萬分之一（0．001×10-2）均可以給出半定量的結果。并且微區(qū)分布分析有三種測量模式：點分析、線分析和面分析。在點分析中點測量直徑為30μm?？梢詫χ付ㄎ恢眠M行定點分析。在線分析和面分析中，通過測量指定位置，可以得到元素分布數(shù)據(jù)。為巖礦鑒定提供有利的數(shù)據(jù)支持。

1.實驗部分

(1)儀器

日本理學ZSX Primus Ⅱ型波長色散X射線熒光光譜儀，儀器各項參數(shù)見表1。

表1 儀器參數(shù)

(2)分析元素的測量條件

分析元素的測量條件見表2。

表2 分析元素的測量條件

參數(shù)名稱 參數(shù)值X射線管 端窗型Rh靶材4kV工作電壓20kV～60kV工作電流2mA～160mA鈹窗厚度30μm視野光欄 0.5mm～30mm

注：PHA為脈沖高度分析器，元素均選用Kа譜線，濾光片為無，衰減器為1/1。

(3)樣品的選擇

本文選擇有代表性的礦石樣品作為代表，磁鐵礦。

Application of X-fluorescence Micro Zone Analysis in Rock-mineral Determination Work

Cao Feng
（Heilongjiang Test and Application Research Institute of Geology and Mineral Resources, Heilongjiang, 150036）

In this paper, it makes use of the ZSX Primus type of X-ray fluorescence spectrometer with micro zone analysis function launched by Japan Rigaka to take micro zone analysis of the several selected ore samples, besides, through the pre-established qualitative analysis methods, we got the chemical composition content of ore measurement point, which provides a rapid and convenient analysis method and auxiliary means for rock-mineral determination work.

micro zone analysis；rock-mineral determination

2.結果和討論

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